专利名称：一种可调角度块辅助测量装置及测量方法
技术领域：
本发明涉及一种测量装置，尤其涉及一种可调角度块辅助测量装置及测量方法，专用于测量手表表壳的足面到耳孔之间距离。
背景技术：
在手表加工领域中，需要对表壳足头上的足面到耳孔的距离进行测量，以便表带能够精确的安装在足头上。但由于表壳属于精密器械，且整体尺寸较�。忝娴蕉椎木嗬肽岩圆饬浚送猓忝嬗氡砜侵魈逯洳⒎瞧叫谢虼怪钡墓叵担庵智榭黾泳缌司凡饬康睦�。实际生产过程中，如果采用人工夹持表壳进行测量，会出现夹持不稳的问题，以至于操作人员在测量中无法找平，难以保证测量尺寸的精确。即使研发一种专门测量足面到耳孔的距离的装置，也只能对一种固定尺寸的表壳进行测量，对于其他尺寸的表壳无法使用；如果根据每一种表壳尺寸而制作一个测量装置，需要制作的测量装置的数量非常多，占用空间大且不易保管，增加了制作成本。
发明内容
本发明为了解决上述技术问题，提供一种可调角度块辅助测量装置及测量方法，它具有使用简便、节省成本等优点。为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案。—种可调角度块辅助测量装置，包括基座、可调块、销轴、滑槽和刻度盘，所述基座包括依次固定连接的第一底块、第一中块和上块；所述可调块包括固定连接的第二底块和第二中块，所述第二中块与上块通过销轴铰接；所述第一中块的侧面固定有刻度盘，所述刻度盘上刻有角度，所述第二中块的侧面上刻有对齐线，对齐线能够对准刻度盘上的刻度；所述第二中块与滑槽的一端固定，滑槽能够通过调节螺钉固定在第一中块的侧面。所述刻度盘上的角度为0-90°。作为本发明的进一步改进，所述可调角度块辅助测量装置还包括垫块，垫块放置在第二底块和第二中块的交界处，并靠在第二中块上，表壳通过垫块放置在可调块上。进一步地，可调角度块辅助测量装置还包括第一磁铁，所述垫块为第二磁铁，表壳固定在第一磁铁和第二磁铁之间，通过第一磁铁和第二磁铁的引力加强固定。所述第二磁铁的重量为表壳重量的7-20倍，便于第二磁铁稳定放置，进而防止表壳移动。本发明还提供了一种可调角度块辅助测量装置的测量方法，工作过程为:步骤(I )，根据被测表壳足面与表壳的角度，调整可调块的位置，调节对齐线对齐的刻度盘上的刻度，使足面与水平方向平行，旋紧调节螺钉固定可调块；步骤(2)，选择合适圆棒穿入被测表壳的耳孔，并把被测表壳放于可调块上；步骤(3)，把量表表针放于圆棒顶端，并旋转量表表圈，使其归零；
步骤(4)，将量表放于被测表壳的足面上，读出量表数值，减去耳孔半径，即是要测量值。作为进一步改进，所述步骤(I)之前，还包括:将垫块放置在可调块上；进一步地，所述步骤(2)中，在把被测表壳放于可调块上后，还包括将第一磁铁与第二磁铁吸合的步骤。本发明的有益效果:通过找平足面，能够准确地测量足面至耳孔中心的精确距离，表带能够精确的安装在足头上；另外，本发明能够适用于多种尺寸表壳的测量，占用空间小且容易保存，节省了制造成本。
图1是本发明实施例1的整体结构示意图。图2是本发明实施例1的侧面结构示意图。图3是本发明实施例2的侧面结构示意图。其中，1、基座；2、可调块；3、销轴；4、滑槽；5、刻度盘；6、第一底块；7、第一中块；
8、上块；9、第二底块；10、第二中块；11、对齐线；12、调节螺钉；13、垫块；14、表壳；15、圆棒，16、足面；17、第一磁铁；18、第二磁铁。
具体实施例方式下面结合附图与实施例对本发明作进一步说明。实施例1:如图1-图2所示，一种可调角度块辅助测量装置，包括基座1、可调块2、销轴3、滑槽4和刻度盘5，所述基座I包括依次固定连接的第一底块6、第一中块7和上块8 ;所述可调块2包括固定连接的第二底块9和第二中块10，所述第二中块10与上块8通过销轴3铰接；所述第一中块7的侧面固定有刻度盘5，所述刻度盘5上刻有0-90°的角度，所述第二中块10的侧面上刻有对齐线11，对齐线11能够对准刻度盘5上的刻度；所述第二中块10与滑槽4的一端固定，滑槽4能够通过调节螺钉12固定在第一中块7的侧面。所述可调角度块辅助测量装置还包括垫块13，垫块13放置在第二底块9和第二中块10的交界处，并靠在第二中块10上，表壳14通过垫块13放置在可调块2上。本实施例的工作过程为:步骤(I )，将垫块13放置在可调块2上；步骤(2)，根据足面16与表壳14的角度，调整可调块2的位置，调节对齐线11对齐的刻度盘5上的刻度，使足面16与水平方向平行，旋紧调节螺钉12固定可调块2 ；步骤(3)，选择合适圆棒15穿入表壳14的耳孔，并把表壳14放于可调块2上；步骤(4)，把量表表针放于圆棒15顶端，并旋转量表表圈，使其归零；步骤(5)，将量表放于表壳14的足面16上，读出量表数值，减去耳孔半径，即是要测量值。实施例2:如图3所示，与实施例1不同的是，所述第二磁铁18代替了垫块13，不但起到了垫块13的作用，而且与第一磁铁17吸合，将表壳14牢固固定在第一磁铁17和第二磁铁18之间。本实施例的工作过程为:步骤(I )，将第二磁铁18放置在可调块2上；步骤(2)，根据足面16与表壳14的角度，调整可调块2的位置，调节对齐线11对齐的刻度盘5上的刻度，使足面16与水平方向平行，旋紧调节螺钉12固定可调块2 ；步骤(3)，选择合适圆棒15穿入表壳14的耳孔，并把表壳14放于可调块2上，将第一磁铁17与第二磁铁18吸合；步骤(4)，把量表表针放于圆棒15顶端，并旋转量表表圈，使其归零；步骤(5)，将量表放于表壳14的足面16上，读出量表数值，减去耳孔半径，即是要测量值。上述虽然结合附图对本发明的具体实施方式
进行了描述，但并非对本发明保护范围的限制，所属领域技术人员应该明白，在本发明的技术方案的基础上，本领域技术人员不需要付出创造性劳动即可做出的各种修改或变形仍在本发明的保护范围以内。
权利要求
1.一种可调角度块辅助测量装置，其特征是，包括基座、可调块、销轴、滑槽和刻度盘，所述基座包括依次固定连接的第一底块、第一中块和上块；所述可调块包括固定连接的第二底块和第二中块，所述第二中块与上块通过销轴铰接；所述第一中块的侧面固定有刻度盘，所述刻度盘上刻有角度，所述第二中块的侧面上刻有对齐线，对齐线能够对准刻度盘上的刻度；所述第二中块与滑槽的一端固定，滑槽能够通过调节螺钉固定在第一中块的侧面。
2.如权利要求1所述的可调角度块辅助测量装置，其特征是，所述刻度盘上的角度为0-90。。
3.如权利要求1所述的可调角度块辅助测量装置，其特征是，所述可调角度块辅助测量装置还包括垫块，垫块放置在第二底块和第二中块的交界处，并靠在第二中块上，表壳通过垫块放置在可调块上。
4.如权利要求3所述的可调角度块辅助测量装置，其特征是，可调角度块辅助测量装置还包括第一磁铁，所述垫块为第二磁铁，表壳固定在第一磁铁和第二磁铁之间。
5.如权利要求4所述的可调角度块辅助测量装置，其特征是，所述第二磁铁的重量为表壳重量的7-20倍。
6.如权利要求1所述的可调角度块辅助测量装置的测量方法，其特征是，工作过程为: 步骤(I )，根据被测表壳足头与表壳的角度，调整可调块的位置，调节对齐线对齐的刻度盘上的刻度，使足面与水平方向平行，旋紧调节螺钉固定可调块； 步骤(2)，选择合适圆棒穿入被测表壳的耳孔，并把被测表壳放于可调块上； 步骤(3 )，把量表表针放于圆棒顶端，并旋转量表表圈，使其归零； 步骤(4)，将量表放于被测表壳的足面上，读出量表数值，减去耳孔半径，即是要测量值。
7.如权利要求6所述的可调角度块辅助测量装置的测量方法，其特征是，所述步骤(I)之前，还包括:将垫块放置在可调块上。
8.如权利要求7所述的可调角度块辅助测量装置的测量方法，其特征是，可调角度块辅助测量装置还包括第一磁铁，所述垫块为第二磁铁，所述步骤(2)中，在把被测表壳放于可调块上后，还包括将第一磁铁与第二磁铁吸合的步骤。
全文摘要
本发明公开了一种可调角度块辅助测量装置，包括基座、可调块、销轴、滑槽和刻度盘，所述基座包括依次固定连接的第一底块、第一中块和上块；所述可调块包括固定连接的第二底块和第二中块，所述第二中块与上块通过销轴铰接；所述第一中块的侧面固定有刻度盘，所述刻度盘上刻有角度，所述第二中块的侧面上刻有对齐线，对齐线能够对准刻度盘上的刻度；所述第二中块与滑槽的一端固定，滑槽能够通过调节螺钉固定在第一中块的侧面。本发明还公开了一种可调角度块辅助测量装置的测量方法。本发明通过找平足面，能够准确地测量足面至耳孔中心的精确距离，表带能够精确的安装在足头上，适用于多种尺寸表壳的测量，占用空间小且容易保存，节省制造成本。
文档编号G01B5/14GK103162595SQ201310087159
公开日2013年6月19日 申请日期2013年3月18日 优先权日2013年3月18日
发明者杨冰, 孙建光, 朱波, 彭涛, 高倩 申请人:山东东星表业有限公司
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