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卡座自动化检验测试装置制造方法

时间:2023-06-12    作者: 管理员

卡座自动化检验测试装置制造方法
【专利摘要】本实用新型涉及一种卡座自动化检验测试装置,其特征在于:包括测试装置本体、设置在本体上的下测试固定板和可上下滑动的上测试压板,所述下测试固定板上设有若干个用于定位支撑PCBA板的定位弹针和用于接触PCBA板底面待测触脚的测试探针,所述上测试压板下表面上设有用于接触PCBA板上卡座弹片的上测试探针。本实用新型无需操作者插卡和取卡动作,大大缩短测试时间,提高了生产效率。
【专利说明】卡座自动化检验测试装置
[0001]【技术领域】:
[0002]本实用新型涉及一种用于SM卡座、TF卡座或SAM卡座的自动化检验测试装置。
[0003]【背景技术】:
[0004]目前PCBA板上的卡座,通常需要采用直接插实物卡的方式进行测试,在PCBA板自动化检验测试时,每检测新PCBA板一次就要插拔实物卡一次,甚至要插拔几张实物卡12,测试完毕后,还要将实物卡取下,这样生产效率非常低下,且步骤繁琐。
[0005]实用新型内容:
[0006]本实用新型的目的在于提供一种卡座自动化检验测试装置,该卡座自动化检验测试装置不仅结构简单、设计合理,而且有利于减少插卡和取卡动作,大大缩短测试时间。
[0007]本实用新型卡座自动化检验测试装置,其特征在于:包括测试装置本体、设置在本体上的下测试固定板和可上下滑动的上测试压板,所述下测试固定板上设有若干个用于定位支撑PCBA板的定位弹针和用于接触PCBA板底面待测触脚的测试探针,所述上测试压板下表面上设有用于接触PCBA板上卡座弹片的测试探针。
[0008]上述上测试压板下表面上还设有刚性压杆。
[0009]上述上测试压板通过设在本体上的手动摇杆驱动其上下移动。
[0010]上述定位弹针上端部呈尖锐状,以与PCBA板上的通孔配合定位。
[0011]上述PCBA板的卡座为SM卡座、TF卡座或SAM卡座。
[0012]本实用新型卡座自动化检验测试装置工作原理:将PCBA板上的孔套进放置在测试装置上的定位弹针上,通过测试装置上的手动摇杆向下运动,带动上测试压板上的压杆和测试探针向下运动,在测试时,压杆向下运动,使PCBA板随定位弹针向下运动,从而PCBA板接触到固定在下测试固定板上的测试探针,导通电路,同时上测试压板上的测试探针也接触到PCBA板上卡座的弹片,从而无需操作者插卡和取卡动作,大大缩短测试时间,提高了生产效率。
[0013]【专利附图】

【附图说明】:
[0014]图1是本实用新型的立体图;
[0015]图2是本实用新型的局部立体放大图;
[0016]图3是卡座的构造立体图;
[0017]图4是本实用新型的局部立体放大图;
[0018]图5是图1侧视图。
[0019]【具体实施方式】:
[0020]下面参照附图结合实施例,对本实用新型作进一步的说明。
[0021]本实用新型卡座自动化检验测试装置,包括测试装置本体1、设置在本体I上的下测试固定板2和可上下滑动的上测试压板3,所述下测试固定板2上设有若干个用于定位支撑PCBA板4的定位弹针5和用于接触PCBA板4底面待测触脚的测试探针6,所述上测试压板下表面上设有用于接触PCBA板上卡座弹片7的上测试探针8。
[0022]本实用新型卡座自动化检验测试装置工作时,将PCBA板上的孔套进放置在测试装置上的定位弹针上,通过测试装置上的手动摇杆向下运动,带动上测试压板上的压杆和上测试探针向下运动,在测试时,压杆向下运动,使PCBA板随定位弹针向下运动,从而PCBA板接触到固定在下测试固定板上的测试探针,导通电路,同时上测试探针也接触到PCBA板上卡座的弹片,从而无需操作者插卡和取卡动作,大大缩短测试时间,提高了生产效率。
[0023]但上述测试装置存在一个不足,就是与测试探针接触的是弹片,在手动摇杆下移上测试压板的行程过大时,即会存在测试探针压坏卡座弹片7的风险,从而导致卡座失效,为了克服上述不足之处提供一种可控压缩行程,来避免卡座因测试过程损坏的装置,从而减小卡座损坏率,降低不良。即在上述上测试压板下表面上还设有刚性压杆9。
[0024]使用时,先调整好这个上测试压板最终位置线302,确保在手动摇杆10摇下后,上测试压板3的下表面在这个线上。
[0025]针对卡座11在PCBA板4上表面时,压杆9的高度为hl,卡座底座11的高度为h2,上测试探针8自然状态下高度为H1,在测试时我们仅需控制上测试探针Hl=hl-h2,其中hl,h2均可测量,即可确保弹片7在受压的深度小等于卡片12厚度。
[0026]针对卡座在PCBA板下表面时,因测试装置下测试固定板为固定状态,上测试压板3最终位置线302到下测试固定板表面的高度为h3,PCBA板厚为h4,下测试探针长度h5,我们可以得到卡座弹片7的干涉量为!12=111+114+112+115-113,其中111,112,113,114,115均可测量,即可得到H2的数值,控制H2,大于0,小于或等于卡片的厚度即可,其数值就是干涉量。若H2数值不符合,即可调整上测试压板最终位置线302,改变h3,直到适合位置。
[0027]为了便于滑动,上述上测试压板通过设在本体上的手动摇杆10驱动其上下移动。
[0028]上述定位弹针上端部呈尖锐状,以与PCBA板上的通孔配合定位。
[0029]为了适合于不同场合,上述PCBA板的卡座为SM卡座、TF卡座或SAM卡座11。
[0030]以上所述仅为本实用新型的较佳实施例,凡依本实用新型申请专利范围所做的均等变化与修饰,皆应属本实用新型的涵盖范围。
【权利要求】
1.一种卡座自动化检验测试装置,其特征在于:包括测试装置本体、设置在本体上的下测试固定板和可上下滑动的上测试压板,所述下测试固定板上设有若干个用于定位支撑PCBA板的定位弹针和用于接触PCBA板底面待测触脚的测试探针,所述上测试压板下表面上设有用于接触PCBA板上卡座弹片的测试探针。
2.根据权利要求1所述的卡座自动化检验测试装置,其特征在于:所述上测试压板下表面上还设有刚性压杆。
3.根据权利要求1或2所述的卡座自动化检验测试装置,其特征在于:所述上测试压板通过设在本体上的手动摇杆驱动其上下移动。
4.根据权利要求3所述的卡座自动化检验测试装置,其特征在于:所述定位弹针上端部呈尖锐状,以与PCBA板上的通孔配合定位。
5.根据权利要求4所述的卡座自动化检验测试装置,其特征在于:所述PCBA板的卡座为SM卡座、TF卡座或SAM卡座。
【文档编号】G01R31/00GK203551703SQ201320736736
【公开日】2014年4月16日 申请日期:2013年11月21日 优先权日:2013年11月21日
【发明者】潘瑞樟, 施锦才, 许宗庚 申请人:福建联迪商用设备有限公司

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