一种用于锗晶体电阻率测量的测量架的制作方法
【专利摘要】一种用于锗晶体电阻率测量的测量架，底座中部设有互相平行的两条导轨，导轨上设有轴承，轴承之间通过连接板固定连接；底板通过回转轴承设置在连接板上；底板周缘设有若干立柱，立柱上端设有横臂，横臂可以自由移动，且由紧固螺丝固定在立柱上；横臂的前端套设有触头，通过横臂侧面的螺丝固定在横臂的前端；触头末端带有倾角，具有限位部；底座边缘设有竖杆、辅助架、微调螺杆、探针。本实用新型可使晶体头尾安全地固定�。岣吡瞬馐跃龋档土颂秸氲乃鸷某潭龋视糜诓煌叽绲恼嗑逋肺驳墓潭ǎ晒潭ㄖ本洞笥�5mm的任何锥角及平面晶体头尾，操作简单，方便实用，测试精度高，固定后的晶体可随意移动、转动，便于测量。
【专利说明】—种用于锗晶体电阻率测量的测量架
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及晶体测量【技术领域】，特别涉及一种用于锗晶体电阻率测量的测量架。
【背景技术】
[0002]锗晶体电阻率测试有严格的温度要求，测试前需将晶体置于恒温环境内进行恒定，待晶体温度在23°C ( ±0.5°C )时进行测试。
[0003]然而，锗晶体的头部呈圆锥形，锥角随着实际的晶体拉制需要而变化，还经常有不对称的情况发生，并且晶体的尺寸也不固定，另外，晶体的尾部也因为在拉制过程结束后，由于提断会粘连一部分液体，液体在晶体上凝固过程中，在重力的作用下，会在晶体尾部中心附近形成一个尖状突起，这样使晶体头部和尾部在测量电阻率时难以固定，用手把持会改变晶体温度而影响测试精度及结果。
实用新型内容
[0004]本实用新型的目的是提供一种用于锗晶体电阻率测量的测量架，其可以使晶体头尾安全地被固定�。岣卟馐跃龋档吞秸氲乃鸷某潭�。
[0005]为实现上述目的，本实用新型采取以下技术方案:
[0006]一种用于锗晶体电阻率测量的测量架，它包括底座，该底座中部设有互相平行的两条导轨，该导轨上设有轴承，两侧轴承之间通过连接板固定连接；一底板通过回转轴承设置在该连接板上；该底板周缘设有若干立柱，每个立柱上端都设有横臂，该横臂通过滑轨可以自由移动，且由紧固螺丝固定在该立柱上；该横臂的前端套设有触头，通过该横臂侧面的螺丝固定在该横臂的前端；该触头末端带有倾角，还具有呈L型的限位部；
[0007]该底座边缘设有竖杆，该竖杆上部套设有辅助架，辅助架末端设有微调螺杆，微调螺杆底端设有用于测试的探针，该探针位于该底板中部上方。
[0008]优选的，所述触头末端倾角为60°。
[0009]进一步的，所述触头末端设有微调螺丝，可以对该触头末端倾角进行1-2°的角度微调。
[0010]进一步的，所述触头末端斜面设有胶皮垫。
[0011]优选的，所述立柱为4个。
[0012]进一步的，所述立柱顶部通过环形的固定板固定连接，所述横臂设于该固定板上。
[0013]本实用新型的有益效果为:本实用新型可使晶体头尾可安全地固定�。岣吡瞬馐跃龋档土颂秸氲乃鸷某潭龋视糜诓煌叽绲恼嗑逋肺驳墓潭ǎ晒潭ㄖ本洞笥�5mm的任何锥角的晶体头尾，操作简单，方便实用，测试精度高，固定后的晶体可随意移动、转动，便于测量。
【专利附图】
【附图说明】[0014]图1是本实用新型的结构示意图。
【具体实施方式】
[0015]下面结合附图对本实用新型作进一步说明。
[0016]如图1所示，本实用新型提供一种用于锗晶体电阻率测量的测量架，用于固定锗晶体。该测量架包括底座1，该底座I中部设有互相平行的两条导轨2，该导轨2上设有轴承3，两侧轴承之间通过连接板(图未示)固定连接。一底板4通过回转轴承5设置在该连接板上。该底板4可以通过轴承3沿着该导轨2滑动，并且可以通过该回转轴承5在该连接板上转动。该底板4周缘设有若干立柱6，例如4个，每个立柱上端都设有横臂7，该横臂7通过滑轨8可以自由移动，且由紧固螺丝9固定在立柱6上。该横臂7的前端套设有触头10，通过横臂7侧面的螺丝11固定在横臂的前端。该触头10末端带有倾角，优选为60°，通过微调螺丝12可以微调2°。为了保护待测晶体，该触头10末端可以固定胶皮垫。为了固定晶体尾部，该触头10末端还具有呈L型的限位部101。
[0017]该底座I边缘设有竖杆13，该竖杆13上部套设有辅助架14，辅助架末端设有微调螺杆15，微调螺杆15底端设有用于测试的探针16。该探针16位于该底板4中部上方，通过该微调螺杆15可以沿底座I的竖杆13上下移动。
[0018]为了使测量架更加稳定，底板的立柱顶部通过环形的固定板固定连接，所述横臂设于该固定板上。
[0019]本实用新型使用时，当固定晶体头部的时候，推动横臂使横臂处在合适的位置后固定，松开触头的螺丝，让触头处于自由状态，将晶体头部向下，倒置放在触头的胶皮垫上，通过角度微调就会自动按照晶体头部锥角的角度来调整方向，使头部锥面与触头的胶皮垫紧密接触，便达到了固定晶体头部的目的。当固定晶体尾部的时候，让触头的微调螺丝全部松开使其到水平位置，通过触头上的限位部固定，将晶体尾放在上表面即可。
[0020]需要指出的是，上述实施方式仅仅是可能的实施例，是为了清楚地理解本实用新型的原理而提出的。可以在不背离本实用新型原理和范围的情况下对上述本实用新型的实施方式进行许多变化和修改。所有这些修改和变化都包括在本实用新型揭示的范围中，并且受到所附权利要求的保护。
【权利要求】
1.一种用于锗晶体电阻率测量的测量架，其特征在于，它包括底座，该底座中部设有互相平行的两条导轨，该导轨上设有轴承，两侧轴承之间通过连接板固定连接；一底板通过回转轴承设置在该连接板上；该底板周缘设有若干立柱，每个立柱上端都设有横臂，该横臂通过滑轨可以自由移动，且由紧固螺丝固定在该立柱上；该横臂的前端套设有触头，通过该横臂侧面的螺丝固定在该横臂的前端；该触头末端带有倾角，还具有呈L型的限位部； 该底座边缘设有竖杆，该竖杆上部套设有辅助架，辅助架末端设有微调螺杆，微调螺杆底端设有用于测试的探针，该探针位于该底板中部上方。
2.根据权利要求1所述的用于锗晶体电阻率测量的测量架，其特征在于，所述触头末端倾角为60°。
3.根据权利要求1或2所述的用于锗晶体电阻率测量的测量架，其特征在于，所述触头末端设有微调螺丝，可以对该触头末端倾角进行1-2°的角度微调。
4.根据权利要求3所述的用于锗晶体电阻率测量的测量架，其特征在于，所述触头末端斜面设有胶皮垫。
5.根据权利要求4所述的用于锗晶体电阻率测量的测量架，其特征在于，所述立柱为4个。
6.根据权利要求1所述的用于锗晶体电阻率测量的测量架，其特征在于，所述立柱顶部通过环形的固定板固定连接，所述横臂设于该固定板上。
【文档编号】G01R27/02GK203616393SQ201320830631
【公开日】2014年5月28日 申请日期:2013年12月16日 优先权日:2013年12月16日
【发明者】冯誉耀, 路桂新, 余花仙 申请人:北京国晶辉红外光学科技有限公司
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