专利名称：电源老化测试的电子负载�？榧暗缭蠢匣馐韵低车闹谱鞣椒�
技术领域：
本发明涉及电源老化测试设备中的电子负载领域，特别涉及一种用于开关电源老化测试的可编程电子负载模块以及由许多这样的电子负载�？樽槌傻睦匣�、老化房等老化测试系统。
背景技术：
为了检验和提高电源产品的可靠性、稳定性和安全性，对电源产品进行老化测试已成为此类产品生产工艺流程中的一个重要环节。所谓“老化”是指仿真出一种高温的恶劣条件对电源产品进行长时间的满负荷测试(又叫烧机测试或煲机，英文称为:Burn-1nTest)，以模拟实际使用可能出现的恶劣条件来检验产品的性能。
传统的老化测试设备所使用假负载多以大功率电阻为主，也就第一代老化设备，其优点是成本低，简单。但由于电源产品的种类及规格繁多，同一家电源工厂往往会有很多个机型，而每种机型的输出规格又不尽相同，所需的假负载的阻抗及功率也不同，因此传统的电阻型老化设备的缺点也就越来越突出，主要表现如下: ①电阻阻值固定，可选规格少，很多需向工厂专门定制； ②电源规格多样，电阻无法精确匹配到老化所需的准确电流； ③电阻误差大，且温升后易产生偏差，无法确保产品100%负荷老化； ④调整负载大小需先计算，选择负载电阻只能获得近似电流值； ⑤老化过程无法自动监控，需人工逐一巡查，效率低且易漏查； ⑥无法记录老化过程参数，不便于品质追溯管理； ⑦无法生成老化报表，不便于产品品质的分析与评估； 针对于电阻型老化负载上述的突出缺点，出现了第二代的老化设备，即简易的可调节型模拟电子负载，虽然成本比第一代的产品要高很多，但可以根据产品的规格调节负载电流，克服产品换线时，老化设备需要更换相应电阻的痛苦，同时在一定程度上也提高了老化的精度和效率。第二代负载克服了第一代负载的前三个缺点，但后面4项缺点依然突出，无法满足现代化生产工艺的需求。虽然目前市面有很多标准的测试型电子负载仪器在性能和功能上完全可以满足老化要求，但这类仪器通常价格昂贵、体积庞大，而且其设计主要针对研发、工程、生产等测试用，难以实现上百个通道的系统组网用于大批量老化。发明内容
本发明的目的是为了克服目前电子负载的不足，设计一种智能的电源老化测试的电子负载�？橐约敖蛔檎庋牡缱痈涸啬？榧泄芾淼牡缭蠢匣馐韵低�。
本发明的技术方案是:电源老化测试的电子负载�？椋龅牡缱痈涸啬？榘ㄇ缏泛妥魑Ｄ飧涸氐囊蛔槌⌒в埽龅某⌒в艿脑础⒙┘直鹆拥奖焕匣牡缭吹氖涑龆擞氲刂洌龅那缏凡藕庞胨龅某⌒в艿恼ぜ嗔ü刂扑龅某⌒в艿恼ぜ缌骰蛘叩缪故迪侄员焕匣牡缭吹睦匣馐裕拱ǘ缘缱痈涸氐ピ锌刂频目刂乒芾硐低常龅目刂乒芾硐低嘲ㄎ⒋淼ピ�、反馈电路和与上位机通信的通信接口电路； 所述的反馈电路包括测试被老化的电源的电流检测电路和电压检测电路，所述的电流检测电路和电压检测电路检测的检测结果输入到所述的微处理器； 所述的微处理器接收到所述的反馈电路所检测到的电流和电压值，产生控制信号控制所述的驱动电路，由驱动电路驱动所述的场效应管，使所述的模拟负载为恒流或者恒压模式的模拟负载。
进一步的，上述的电源老化测试的电子负载�？橹�:还包括模式切换及控制电路，所述的模式切换及控制电路由微处理器输出的恒流或者恒压控制信号控制； 所述的模式切换电路包括恒压模式信号输出电路和恒流模式信号输出电路； 所述的控制电路包括恒流控制电路和恒压控制电路，所述的恒压控制电路包括比较器U503A，所述的比较器U503A的“ + ”端接被老化电源的输出端，“一”端接由所述的微处理器设置的参考电压，电源端与恒压模式信号相连，当恒压模式信号有效时，比较器U503A得电工作产生使所述的驱动电路在恒压模式工作的驱动信号接所述的驱动电路； 所述的恒流控制电路包括运算放大器U504A，所述的运算放大器U504A的“ + ”端接由所述的微处理器设置的参考电压，所述的比较器U504A的“一”端与输出端相连构成电压跟随器，电源端与所述的恒流模式信号相连，当恒流模式信号有效时，产生使所述的驱动电路在恒流模式工作的驱动信号接所述的驱动电路。
进一步的，上述的电源老化测试的电子负载模块中:在所述的恒压控制电路中，在所述的比较器U503A的“ + ”端与被老化电源的输出端之间还设置有由电阻R101、R102和R103组成分压电路，所述的电阻R102和R103并联连接在比较器U503A的“ + ”端与地之间，电阻RlOl串接在U503A的“ + ”端与被老化电源的输出端之间。
进一步的，上述的电源老化测试的电子负载�？橹�:所述的驱动电路包括运算放大器U101，交流负反馈电容C101，MOSFET驱动电阻R109及MOSFET栅极泄放电阻RllO ;所述的运算放大器UlOl的同相端接所述的恒流控制电路的恒流信号输出端或者通过单向隔离二极管DlOl接恒压控制电路的恒压信号输出端，单向隔离二极管DlOl的阳极接恒压控制电路的恒压信号输出端；所述的运算放大器UlOl的反相端通过交流负反馈电容ClOl接运算放大器UlOl的输出端，运算放大器UlOl的输出端通过MOSFET驱动电阻R109接作为假负载的MOSFET的栅极，MOSFET栅极泄放电阻RllO连接在运算放大器UlOl的输出端与地之间。
进一步的，上述的电源老化测试的电子负载�？橹�:在所述的恒流控制电路或者恒压控制电路的恒流或者恒压信号输出端与所述的运算放大器UlOl的同相端相接之前还分别设置有恒流控制信号分压电路和恒压控制信号分压电路； 所述的恒流控制信号分压电路包括分压电阻R107、R108和R105 ;所述的分压电阻R107串接在跟随器U504A的输出端与运算放大器UlOl的同相端之间，分压电阻R108和R105并联后连接在运算放大器UlOl的同相端与地之间； 所述的恒压控制信号分压电路包括分压电阻R104、R108和R105 ;所述的分压电阻R104串接在单向隔离二极管DlOl的阴极与运算放大器UlOl的同相端之间，分压电阻R108和R105并联后连接在运算放大器UlOl的同相端与地之间。
进一步的，上述的电源老化测试的电子负载�？橹�:所述的恒压模式信号输出电路包括三极管Q503和三极管Q504，所述的三极管Q503的集电极通过限流电阻R518接所述的三极管Q504的基极，所述的三极管Q503的基级通过限流电阻R517接所述的微处理器，所述的三极管Q503的发射极接地，所述的三极管Q504的发射极接系统电源，所述的三极管Q504集电极通过限流电阻R519驱动恒压模式指示灯，所述的恒压模式信号由所述的三极管Q504集电极引出； 恒流模式信号输出电路包括:三极管Q505、三极管Q506和三极管Q507 ;所述的三极管Q505的基极通过限流电阻R520接微处理器，三极管Q505的发射极接地，所述的三极管Q505的集电极通过限流电阻R521接系统电源；所述的三极管Q506的基极与所述的三极管Q505的集电极相连，三极管Q506的发射极接地，三极管Q506的集电极通过限流电阻R522接所述三极管Q507的基极，所述三极管Q507的发射极接系统电源，三极管Q507集电极通过限流电阻R523驱动恒流模式指示灯，恒流模式信号由三极管Q507集电极引出。
进一步的，上述的电源老化测试的电子负载�？橹�:还包括智能散热装置，所述的智能散热装置包括温度检测装置、风扇控制单元和风扇，所述的温度检测装置实时检测电子负载�？榈墓ぷ魑露龋龅奈露燃觳庾爸玫募觳庑藕欧至铰肥涑觯宦匪椭了龅姆缟瓤刂频ピ龅姆缟瓤刂频ピ谖露雀哂�45°C，启动风扇，在温度低于45°C时停止风扇；另一路送至所述的微控制器，当温度高于100°C时，负载�？橥Ｖ构ぷ鳎备涸啬？槲露鹊陀�100°C时，自动恢复工作。
本发明还设计了一种由一组电源老化测试的电子负载�？樽槌傻牡缭蠢匣馐韵低常孟低晨梢酝倍匀舾杀焕匣缭唇欣匣馐裕缮衔换骋豢刂坪图嗍樱允静⒓锹疾馐怨蹋迪值缭蠢匣馐宰远椭悄芑玫缭蠢匣馐韵低车募际醴桨甘�:该电源老化测试系统包括一组电源老化测试的电子负载�？椋鞯缭蠢匣馐缘牡缱痈涸啬？榈母鞲鐾ǖ婪直鸲员徊獾缭唇欣匣馐裕拱ㄉ衔换龅纳衔换直鹜üㄐ抛爸糜朊扛龅缭蠢匣馐缘牡缱痈涸啬？橄嗷チ樱邮彰扛龅缭蠢匣馐缘牡缱痈涸啬？樯洗牟馐宰刺畔⒑椭副晷畔ⅲ⒍圆馐宰刺畔⒑椭副晷畔⒔邢允竞痛娲�。
进一步的，上述的电源老化测试系统中:所述的上位机与每个电源老化测试的电子负载�？橹涞耐ㄐ抛爸梦觳酱型ㄐ抛爸茫ǚ直鹕柚迷谏衔换朊扛龅缭蠢匣馐缘牡缱痈涸啬？榈腞S - 485通信接口电路。
进一步的，上述的电源老化测试系统中:所述的每个电源老化测试的电子负载�？榈南低车缭赐骋簧柚�。
本发明结合标准型的电子负载及前两代老化负载的优、缺点专门针对电源老化测试的需求进行了优化设计，采用高性能MCU (微处理器)作为控制单元的核心，模块化设计。属于第三代的老化负载。其优点如下: ①同一�？樽疃嗑哂蠧C/CV/LED三种模式可�。嫒荻嘀值缭床罚� ②同一模块在规格范围内，电压/电流值可任意设定，精确匹配产品规格； ③负载模式及参数设置灵活快捷，可全局设定，即也可分区域或分层设定； ④产品老化参数实时监控，自动筛选异常产品并警报，可精确定位不良产品位置； ⑤负载设置范围宽，拉载精度高，可适应多种规格的电源产品； ⑥可以记录与追溯所有被测产品的电气性能，便于品质分析； ⑦电脑集中监控管理，可有效监管老化制程的品质； ⑧可自动生成老化表报，方便工程人员进行品质分析与评估； ⑨系统操作方便，一个人可以管理多个老化区域，节省人工成本； ⑩�？榛慕峁股杓疲奖阆低澄ぃ� 下面结合具体实施例对本发明作较为详细的描述。
图1为本发明实施例1电源老化测试的电子负载�？樵砜蛲�。
图2为本发明实施例1电源老化测试系统原理框图。
图3为本发明实施例1中使用的恒流/恒压模式切换电路原理图。
图4为本发明实施例1中使用的恒流/恒压模式控制电路及驱动电路原理图。
具体实施方式
实施例1，如图1、图2所示，本实施例是由一组电源老化测试的电子负载�？楹蜕衔换黄鹱槌傻牡缭蠢匣炕蛘呃匣档鹊缭蠢匣馐韵低常缤�2所示:该系统可以同时对若干被老化电源进行老化测试，由上位机统一控制和监视，显示并记录测试过程，实现电源老化测试自动化和智能化，该电源老化测试系统的技术方案是:该电源老化测试系统包括一组电源老化测试的电子负载�？椋鞯缭蠢匣馐缘牡缱痈涸啬？榉直鸲员徊獾缭唇欣匣馐裕拱ㄉ衔换衔换直鹜ü齊S - 485接口通信方式与每个电源老化测试的电子负载�？橄嗷チ樱邮彰扛龅缭蠢匣馐缘牡缱痈涸啬？樯洗牟馐宰刺畔⒑椭副晷畔ⅲ⒍圆馐宰刺畔⒑椭副晷畔⒔邢允竞痛娲�。
本实施例中，电源老化测试的电子负载�？槿缤�1所示，电源老化测试的电子负载�？榘ㄇ缏泛妥魑Ｄ飧涸氐囊蛔槌⌒в埽⌒в艿脑�、漏极分别连接到被老化的电源的输出端与地之间，驱动电路产生驱动信号与所述的场效应管的栅极相连，通过控制所述的场效应管的栅极电流或者电压实现对被老化的电源的老化测试，还包括对电子负载单元进行控制的控制管理系统，控制管理系统包括微处理单元、反馈电路和与上位机通信的通信接口电路；反馈电路包括测试被老化的电源的电流检测电路和电压检测电路，电流检测电路和电压检测电路检测的检测结果输入到所述的微处理器；微处理器接收到所述的反馈电路所检测到的电流和电压值，产生控制信号控制所述的驱动电路，由驱动电路驱动所述的场效应管，使所述的模拟负载为恒流或者恒压模式的模拟负载。在控制管理系统中还包括由微处理器控制的模式切换及控制电路，如图3、图4所示，模式切换及控制电路由微处理器输出的恒流或者恒压控制信号控制； 模式切换电路包括恒压模式信号CVPOW输出电路和恒流模式信号CCPOW输出电路；控制电路包括恒流控制电路和恒压控制电路，所述的恒压控制电路包括比较器U503A，所述的比较器U503A的“ + ”端接被老化电源的输出端，“一”端接由所述的微处理器设置的参考电压，电源端与恒压模式信号CVPOW相连，当恒压模式信号CVPOW有效时，比较器U503A得电工作产生使所述的驱动电路在恒压模式工作的驱动信号接所述的驱动电路； 同样，恒流控制电路包括电压跟随器U504A，电压跟随器U504A的“ + ”端与所述的比较器U503A的“一”端相连，即连接至由所述的微处理器设置的参考电压，由于U504A的“一”端与U504A的输出端相连，构成电压跟随器，其输出电压等于连接U504A同相输入端的由所述的微处理器设置的参考电压，电源端与恒流模式信号CCPOW相连，当恒流模式信号CCPOW有效时，产生使所述的驱动电路在恒流模式工作的驱动信号接驱动电路。恒压模式信号CVPOW输出电路包括三极管Q503和三极管Q504，所述的三极管Q503的集电极通过限流电阻R518接所述的三极管Q504的基极，所述的三极管Q503的基级通过限流电阻R517接所述的微处理器，所述的三极管Q503的发射极接地，所述的三极管Q504的发射极接系统电源，所述的三极管Q504集电极通过限流电阻R519驱动恒压模式指示灯，恒压模式信号CVPOW由所述的三极管Q504集电极引出。
恒流模式信号(CCPOW)输出电路包括:三极管Q505、三极管Q506和三极管Q507 ；所述的三极管Q505的基极通过限流电阻R520接微处理器，三极管Q505的发射极接地，所述的三极管Q505的集电极通过限流电阻R521接系统电源；所述的三极管Q506的基极与所述的三极管Q505的集电极连，三极管Q506的发射极接地，三极管Q506的集电极通过限流电阻R522接所述三极管Q507的基极，所述三极管Q507的发射极接系统电源，三极管Q507集电极通过限流电阻R523驱动恒流模式指示灯，恒流模式信号(CCPOW)由三极管Q507集电极引出。在本实施例的电源老化测试的电子负载�？橹谢拱ㄖ悄苌⑷茸爸茫悄苌⑷茸爸冒ㄎ露燃觳庾爸�、风扇控制单元和风扇，所述的温度检测装置实时检测电子负载�？榈墓ぷ魑露龋龅奈露燃觳庾爸玫募觳庑藕欧至铰肥涑觯宦匪椭了龅姆缟瓤刂频ピ龅姆缟瓤刂频ピ谖露雀哂�45°C，启动风扇，在温度低于45°C时停止风扇；另一路送至所述的微控制器，当温度高于100°C时，负载�？橥Ｖ构ぷ鳎蔽露鹊陀�100°C时，负载�？樽远指垂ぷ鳌�
具体的，本实施例中，电源老化测试的电子负载�？榈幕竟ぷ髟砣缦�: �？樵谧槌上低�(如老化车、老化房等)时，通过�？樯系摹暗刂仿胙≡窨亍备扛瞿？樯柚靡桓鑫ㄒ坏牡刂罚庋衔换憧梢跃范ㄎ坏矫扛瞿？榈拿恳桓鐾ǖ馈Ｏ低成系缭诵惺保衔换嵘璨⑾允久扛瞿？榈牧幼刺�。微处理器与RS-485通信电路之间采用光电隔离。由于上位机(电脑)的串行通信所使用标准接口通常为RS-232标准，因此�？橛肷衔换湫枰褂肦S232与RS485互相转换的光电隔离转换器。
模块上电后，等待上位机下发具体操作指令，在未收到指令之前�？榈母涸囟舜τ诠乇兆刺床换峤欣兀嗟庇诳纷刺�。上位机将拉载模式、电压、电流等参数通过通信接口下传到模块的微处理器，微处理器根据指令控制“模式切换”电路选择相应的拉载模式，同时根据指令给出相应的D/A (数/模)信号电平到“反馈控制”电路，“驱动电路”根据“模式切换”电路和“反馈控制”电路的参数去驱动场效应管(MOSFET)拉载。“电压检测”和“电流检测”电路实时的将从负载端采样到的电压和电流信号送到“A/D (模/数)转换器”进行数据采集，等待上位机读取。
“温度检测”电路实时检测�？樯⑷绕鞅砻娴墓ぷ魑露龋觳庑藕欧至铰肥涑觯宦匪椭痢胺缟瓤刂频ピ保蔽露雀哂�45°C，启动风扇进行强制制冷。当温度低于45°C时风扇停止，以降低产品功耗。另一路送至微处理器(MCU)，当温度高于100°C时，�？橥Ｖ估兀乇帐涑觯衔换不岣鱿嘤Φ南允�。当温度回落到100°C以下时，�？樽远指垂ぷ�。风扇控制和过温保护均设计有回差控制，防止控制电路在温度控制临界点来回动作，提闻了系统稳定性。
本框架结构的单个�？榭梢揽突枨笊杓瞥傻ネǖ篮腿我舛嗤ǖ朗畛＜挠械ネǖ�、2通道、4通道、8通道。单个�？榈墓β首畲罂梢宰龅�1KW。
�？橛肷衔换洳捎肦S-485串行隔离通信，降低了�？橛肽？橹涞母扇�。每个�？樯栌辛礁霾⒘�6位的5559 (与6位5557端子对接使用)端子作为通信接口，便于模块与模块之间的连接，简化系统总线的布局与走线。
�？椴捎�12V直流供电，电源接口采用两个4位的5559端子(与4位5557端子对接使用)并连，组成系统时，可由工业电源集中供电，简化系统安装及布线，使系统的配置及维护变得简单、灵活。负载输入接口使用20位的5559端子，与治具板(接口转换板)上的20位5557端子对接。
�？榈哪Ｊ角谢患翱刂频缏罚？榈哪Ｊ角谢挥赏�3所示的CC/CV模式切换电路与图4所示的CC/CV模式控制电路共同完成。当MCU输出的CC/CV控制信号为高电平时，�？槲阊�(CV)模式，用于老化恒流输出的电源，如充电器、LED驱动电源等；iMCU输出的CC/CV控制信号为低电平时，�？槲懔�(CC)模式，用于老化恒压输出的电源，如电源适配器、工业电源等。
具体控制原理:恒压模式时，MCU输出的CC/CV控制信号为高电平，图3所示的Q503、Q504导通，“CVP0W+”有正电源输出，给图4所示的运放U503A供电；此时，图3所示的Q505也因MCU输出高电平而导通，因此，Q506、Q507截止，“CCP0W+”无输出，故图4所示的运放U504A因无正电源供电而停止工作。由于U503A正常工作，其反相输入端“一”连接由所述微控制器设置的控制电压；被老化电源的输出电平经电阻R101、R102和R103分压后(即输出电平分量)连接到U503A的同相输入端“ + ”，若被老化电源的输出分量高于微控制器设置的控制电压，U503A第I脚输出高电平，经驱动电路放大后使作为假负载的场效应管(MOSFET)加深导通，内阻变�。贡焕匣缭吹氖涑龅缌髟黾樱捎谑褂煤阊鼓Ｊ浇欣匣牡缭矗涫涑隹刂莆懔髂Ｊ剑备涸氐缌鞔锏狡渖柚玫暮懔鞯闶保涫涑龅缌鞑辉僭隽冢涑龅缪箍枷陆�。当被老化电源的输出电压下降时，U503A同相端“ + ”的电压分量随之下降，当U503A同相端的电平低于其反相端的电平时，U503A输出为低电平，驱动电路输出减弱，使所述的作为假负载的场效应管导通深度变浅，内阻增大，被老化电源的输出电流相应减小。如此往复，经过短暂的调整之后，电路会进入一个稳定的平衡状态，使连接U503A同相端“ + ”的被老化电源的输出电压分量等于连接到U503A反相端“一”的微控制器设置的控制电压。此时，被老化电源的输出电压恒定在所设置的电压点上。从而实现�？椤癈V”模式拉载功能； 相反，恒流模式时，微控制器输出的CC/CV控制信号为低电平，Q503、Q504截止，“CVP0W+”无电压输出，U503A因无电源供电停止工作；同时，由于CC/CV控制信号为低电平，Q505也截止，而Q506基极由于上拉电阻R521接系统电源而导通，进而使PNP三极管Q507也导通，“CCP0W+”输出正电源，即U504A可以正常工作，其同相端连接微控制器设置的控制电压，其反相输入端与输出端相连构成电压跟随器，也就是说其第一脚输出的电压等于同相端“ + ”的输入电压，但电流得到放大，R106作为U504A的负载电阻跨接于输出端与地之间，提高控制电路的抗干扰能力。如图4所示，微控制器设置的控制电压“DA1”经电压跟随器U504A进行电流放大后，再经R107与R108和R105分压后送到驱动电路。所述的驱动电路包括，运算放大器UlOI，交流负反馈电容ClOl，MOSFET驱动电阻R109及MOSFET栅极泄放电阻R110。当微控制器设置的控制电压“DA1”为OV时，电压跟随器U504A输出也为0V，进而运算放大器UlOl输出也为0V，作为假负载的场效管MOSFET关断，即不拉载。当微控制器设置的控制电压“DA1”大于OV时，电压跟随器U504A输出相同电压，经R107与R108和R105分压后送到运算放大器UlOl的同相输入端，由于场效应管导通前电流采样电阻R115和R116两端的压降(也就是电流采样信号IS101)S 0V，经电Rlll连接至运算放大器UlOl的反相输入端，因此当控制电压信号“DA1”大于OV时，运算放大器UlOl的同相端电平高于反相端，输出为高电平，经驱动电阻R109驱动作为假负载的场效应管QlOl导通，对被老化电源进行拉载。当QlOl导通后，负载电流在取样电阻R115、R116两端产生压降，即电流采样信号“IS101”，由反馈电阻Rlll送到UlOl反相端。当电流采样信号“IS101”大于“DA1 ”的分量时，运算放大器输出电压降低，使QlOl导通深度变浅，内阻增大，减小负载电流，当DAl电平一定时，运算放大器进入稳定状态，使负载电流恒定在DAl所设定的电流点上，实现恒流拉载功能，也就是�？榇τ凇癈C”模式。
权利要求
1.电源老化测试的电子负载�？椋龅牡缱痈涸啬？榘ㄇ缏泛妥魑Ｄ飧涸氐囊蛔槌⌒в�(MOSFET)，所述的场效应管的源、漏极分别连接到被老化的电源的输出端与地之间，所述的驱动电路产生驱动信号与所述的场效应管的栅极相连，通过控制所述的场效应管的栅极电流或者电压实现对被老化的电源的老化测试，其特征在于:还包括对电子负载单元进行控制的控制管理系统，所述的控制管理系统包括微处理单元、反馈电路和与上位机通信的通信接口电路； 所述的反馈电路包括测试被老化的电源的电流检测电路和电压检测电路，所述的电流检测电路和电压检测电路检测的检测结果输入到所述的微处理器； 所述的微处理器接收到所述的反馈电路所检测到的电流和电压值，产生控制信号控制所述的驱动电路，由驱动电路驱动所述的场效应管，使所述的模拟负载为恒流或者恒压模式的模拟负载。
2.根据权利要求1所述的电源老化测试的电子负载�？椋涮卣髟谟�:还包括模式切换及控制电路，所述的模式切换及控制电路由微处理器输出的恒流或者恒压控制信号控制； 所述的模式切换电路包括恒压模式信号(CVPOW)输出电路和恒流模式信号(CCPOW)输出电路； 所述的控制电路包括恒流控制电路和恒压控制电路，所述的恒压控制电路包括比较器U503A，所述的比较器U503A的“ + ”端接被老化电源的输出端(L0AD1 +)，“一”端接由所述的微处理器设置的参考电压(DA1)，电源端与恒压模式信号(CVPOW)相连，当恒压模式信号(CVPOff)有效时，比较器U503A得电工作产生使所述的驱动电路在恒压模式工作的驱动信号接所述的驱动电路； 所述的恒流控制电路包括运算放大器U504A，所述的运算放大器U504A的“ + ”端接由所述的微处理器设置的参考电压(DAl )，所述的运算放大器U504A的“ 一 ”端与输出端相连构成电压跟随器，电源端与所述的恒流模式信号(CCPOW)相连，当恒流模式信号(CCPOW)有效时，产生使所述的驱动电路在恒流模式工作的驱动信号接所述的驱动电路。
3.根据权利要求2所述的电源老化测试的电子负载�？椋涮卣髟谟�:在所述的恒压控制电路中，在所述的比较器U503A的“ + ”端与被老化电源的输出端(L0ADI +)之间还设置有由电阻RlOl、R102和R103组成分压电路，所述的电阻R102和R103并联连接在比较器U503A的“ + ”端与地之间，电阻RlOl串接在U503A的“ + ”端与被老化电源的输出端(LOADI +)之间。
4.根据 权利要求2所述的电源老化测试的电子负载�？椋涮卣髟谟�:所述的驱动电路包括运算放大器U101，交流负反馈电容C101，M0SFET驱动电阻R109及MOSFET栅极泄放电阻RllO ;所述的运算放大器UlOl的同相端接所述的恒流控制电路的恒流信号输出端或者通过单向隔离二极管DlOl接恒压控制电路的恒压信号输出端，单向隔离二极管DlOl的阳极接恒压控制电路的恒压信号输出端；所述的运算放大器UlOl的反相端通过交流负反馈电容ClOl接运算放大器UlOl的输出端，运算放大器UlOl的输出端通过MOSFET驱动电阻R109接作为假负载的MOSFET的栅极，MOSFET栅极泄放电阻RllO连接在运算放大器UlOl的输出端与地之间。
5.根据权利要求4所述的电源老化测试的电子负载�？椋涮卣髟谟�:在所述的恒流控制电路或者恒压控制电路的恒流或者恒压信号输出端与所述的运算放大器UlOl的同相端相接之前还分别设置有恒流控制信号分压电路和恒压控制信号分压电路； 所述的恒流控制信号分压电路包括分压电阻R107、R108和R105 ;所述的分压电阻R107串接在跟随器U504A的输出端与运算放大器UlOl的同相端之间，分压电阻R108和R105并联后连接在运算放大器UlOl的同相端与地之间； 所述的恒压控制信号分压电路包括分压电阻R104、R108和R105 ;所述的分压电阻R104串接在单向隔离二极管DlOl的阴极与运算放大器UlOl的同相端之间，分压电阻R108和R105并联后连接在运算放大器UlOl的同相端与地之间。
6.根据权利要求2至4中任一所述的电源老化测试的电子负载�？椋涮卣髟谟�:所述的恒压模式信号(CVPOW)输出电路包括三极管Q503和三极管Q504，所述的三极管Q503的集电极通过限流电阻R518接所述的三极管Q504的基极，所述的三极管Q503的基级通过电阻R517接所述的微处理器，所述的三极管Q503的发射极接地，所述的三极管Q504的发射极接系统电源，所述的三极管Q504集电极通过限流电阻R519驱动恒压模式指示灯，所述的恒压模式信号(CVPOW)由所述的三极管Q504集电极引出； 恒流模式信号(CCPOW)输出电路包括:三极管Q505、三极管Q506和三极管Q507 ;所述的三极管Q505的基极通过限流电阻R520接微处理器，三极管Q505的发射极接地，所述的三极管Q505的集电极通过限流电阻R521接系统电源；所述的三极管Q506的基极与所述的三极管Q505的集电极相连，三极管Q506的发射极接地，三极管Q506的集电极通过限流电阻R522接所述三极管Q507的基极，所述三极管Q507的发射极接系统电源，三极管Q507集电极通过限流电阻R523驱动恒流模式指示灯，恒流模式信号(CCPOW)由三极管Q507集电极引出。
7.根据权利要求6所述的电源老化测试的电子负载�？椋涮卣髟谟�:还包括智能散热装置，所述的智能散热装置包括温度检测装置、风扇控制单元和风扇，所述的温度检测装置实时检测电子负载模块的工作温度，所述的温度检测装置的检测信号分两路输出，一路送至所述的风扇控制单元，所述的风扇控制单元在温度高于45°C，启动风扇，在温度低于45°C时停止风扇；另一路送至所述的微控制器，当温度高于100°C时，负载�？橥Ｖ构ぷ鳎备涸啬？槲露鹊陀�100°C时，自动恢复工作。
8.一种根据权利要求1 所述的电源老化测试的电子负载�？樽槌傻牡缭蠢匣馐韵低常玫缭蠢匣馐韵低嘲ㄒ蛔榈缭蠢匣馐缘牡缱痈涸啬？椋鞯缭蠢匣馐缘牡缱痈涸啬？榉直鸲员徊獾缭唇欣匣馐裕涮卣髟谟�:还包括上位机，所述的上位机分别通过通信装置与每个电源老化测试的电子负载�？橄嗷チ樱邮彰扛龅缭蠢匣馐缘牡缱痈涸啬？樯洗牟馐宰刺畔⒑椭副晷畔ⅲ⒍圆馐宰刺畔⒑椭副晷畔⒔邢允竞痛娲�。
9.根据权利要求8所述的电源老化测试系统，其特征在于:所述的上位机与每个电源老化测试的电子负载�？橹涞耐ㄐ抛爸梦觳酱型ㄐ抛爸茫ǚ直鹕柚迷谏衔换朊扛龅缭蠢匣馐缘牡缱痈涸啬？榈腞S - 485通信接口电路。
10.根据权利要求8所述的电源老化测试系统，其特征在于:所述的每个电源老化测试的电子负载�？榈南低车缭赐骋簧柚�。
全文摘要
本发明提供了电源老化测试的电子负载�？榧暗缭蠢匣馐韵低常玫缭蠢匣馐缘牡缱痈涸啬？樘峁┝艘恢钟蒑CU控制的智能电子负载�？椋孟低巢捎蒙衔换匀舾烧庋牡缭蠢匣馐缘牡缱痈涸啬？橥骋还芾恚⑼骋幌允竞痛娲ⅲ且恢种悄芑牡缭蠢匣低�。
文档编号G01R1/00GK103149386SQ20131006931
公开日2013年6月12日 申请日期2013年3月5日 优先权日2013年3月5日
发明者吴涛, 庞成, 黄明雄 申请人:深圳市中科源电子有限公司
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