推杆显微组织试样的制备方法
【专利摘要】本发明公开了一种推杆显微组织试样的制备方法。该制备方法具体步骤包括：首先，用双手直接握住推杆，在砂轮机上分别把球头端及球窝端分别磨出平面，再在球头端磨面的对面端头磨出定位台阶，然后分别切断推杆已经磨过的球头端及球窝端制成球头样件和球窝样件；其次，用手握紧球头样件的两端，一端以切割面为定位，另一端以定位台阶为定位，直接磨制后抛光样件；再次，用手握紧球窝样件的两端，一端以切割面为定位，另一端以凹球头的凹球面为定位，直接磨制后抛光样件。该制备方法通过在推杆球头磨出定位台阶，使得原来的一根推杆需要做成三个试样变成目前的两个试样，减小了推杆显微组织试样的制备步骤及难度，提高了制备效率。
【专利说明】推杆显微组织试样的制备方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及显微组织试样的制备领域，特别涉及一种推杆显微组织试样的制备方法。
【背景技术】
[0002]推杆的两端是经过感应淬火处理，即从两端面往杆的轴向方向淬硬范围是10?20mm，中间杆部是调质处理，因整条杆的处理方法不一样，故需要分别对两端及杆部做微观组织检验。
[0003]金相试样的制备流程:切割一粗磨(砂轮磨)一磨光(砂纸磨)一抛光。即以前的做法是:检验一根推杆的显微组织，需要把推杆分别切成三个试样，两端各一个，杆身一个。由于推杆的一端是球头，另一端是凹球头，因试样直径�。蛲返哪嵌宋薹ㄓ檬止ぶ苯游兆∈匝ブ疲缤�1所示，只有通过切割一段小于20_长的球头样件I后镶嵌(因镶嵌机镶试样的长度为20mm)才可以磨制；杆部及凹球头可以不通过镶嵌就可以直接磨制，因杆部两端已通过切割成平面；而凹球头那端头是凹球面(可起到定位作用)，另一端通过切割是平面，故手工也可以直接握住样件两头磨制。杆部的调质部分是在距离两端头部20mm以外，而镶嵌的直径只有20mm，因此，镶嵌的头部只能观察到头部的感应淬火段组织，杆部的调质组织无法观察，必须再另外制取一个杆部的试样。
[0004]球头无法用手工直接握住试样磨制，只能通过镶嵌磨制，提高了推杆显微组织试样的制备难度，降低了制备效率。另外，由于镶嵌机镶试样长度的限制，球头试样的切割长度只能观察到头部的感应淬火段组织，而杆部的调质组织无法观察(没有切割到杆部的调质组织部分)，必须再另外制取一个杆部的试样，同样增加了推杆显微组织试样的制备步骤，降低了制备效率。
【发明内容】
[0005]本发明的目的在于提供一种步骤简单合理，减小了推杆显微组织试样的制备步骤及难度，提高了制备效率的推杆显微组织试样的制备方法。
[0006]为实现上述目的，本发明提供了推杆显微组织试样的制备方法，所述推杆的两端分别设有球头端和球窝端，具体步骤包括:首先，用双手直接握住推杆，在砂轮机上分别把球头端及球窝端分别磨出平面，再在球头端磨面的对面端头磨出定位台阶，然后分别切断推杆已经磨过的球头端及球窝端制成球头样件和球窝样件；其次，用手握紧球头样件的两端，一端以切割面为定位，另一端以定位台阶为定位，直接磨制后抛光样件；再次，用手握紧球窝样件的两端，一端以切割面为定位，另一端以凹球头的凹球面为定位，直接磨制后抛光样件。
[0007]优选地，上述技术方案中，定位台阶的深度约2mm。
[0008]优选地，上述技术方案中，球头样件和球窝样件的轴向切割长度均为25?30mm。
[0009]与现有技术相比，本发明具有如下有益效果:该推杆显微组织试样的制备方法步骤简单合理，通过在推杆球头磨出定位台阶，使得原来的一根推杆需要做成三个试样变成目前的两个试样，且球头部分不需要镶嵌就可以直接磨制，减小了推杆显微组织试样的制备步骤及难度，提高了制备效率。
【专利附图】
【附图说明】
[0010]图1是现有推杆显微组织试样的制备方法的球头镶嵌示意图。
[0011]图2是根据本发明的推杆显微组织试样的制备方法的球头样件结构示意图。
[0012]图3是图2的A向结构示意图。
[0013]图4是根据本发明的推杆显微组织试样的制备方法的流程图。
[0014]主要附图标记说明:
[0015]1-球头样件，2-球头，21-球头端磨面，22-定位台阶，23-淬硬层组织，24-调质组织。
【具体实施方式】
[0016]下面结合附图，对本发明的【具体实施方式】进行详细描述，但应当理解本发明的保护范围并不受【具体实施方式】的限制。
[0017]除非另有其它明确表示，否则在整个说明书和权利要求书中，术语“包括”或其变换如“包含”或“包括有”等等将被理解为包括所陈述的元件或组成部分，而并未排除其它元件或其它组成部分。
[0018]如图4所示，根据本发明【具体实施方式】的推杆显微组织试样的制备方法主要是针对直径较小的推杆球头制样进行改进，具体步骤包括:
[0019]如图2所示，首先，用双手直接握住推杆，在砂轮机上分别把球头2及球窝端磨长为25?30mm平面，再在球头端磨面21的对面端头磨定位台阶22，该定位台阶22的深度约2_，再分别切断推杆已经磨过的两端(球头端及球窝端)制成球头样件和球窝样件，切割的轴向长度均为25?30mm。
[0020]其次，用手握紧球头样件的两端，一端以切割面为定位(握紧)，另一端以定位台阶22为定位(握紧)，直接磨制后抛光样件。
[0021]如图3所示，因球头样件的切割长度为25?30mm，故同一样件可以观察两个部位的组织，不论是球头段还是球窝段，都可以观察到杆端(球头端或球窝端)淬硬层组织23及杆部的调质组织24，也可以直接测量出淬硬层长度，使得原来的一根推杆需要做成三个试样才能观察到杆部调质组织，变成目前的两个试样。因直径小的球头样件用手是无法握紧的，进行砂轮磨制是相当困难，且容易被砂轮磨到手，操作安全性低，为了能把试样握紧，故在球头部增加定位台阶。
[0022]再次，用手握紧球窝样件的两端，一端以切割面为定位(握紧)，另一端以凹球头的凹球面为定位(握紧)，直接磨制后抛光样件。
[0023]综上，该推杆显微组织试样的制备方法步骤简单合理，通过在推杆球头磨出定位台阶，使得原来的一根推杆需要做成三个试样变成目前的两个试样，且球头部分不需要镶嵌就可以直接磨制，减小了推杆显微组织试样的制备步骤及难度，提高了制备效率。
[0024]前述对本发明的具体示例性实施方案的描述是为了说明和例证的目的。这些描述并非想将本发明限定为所公开的精确形式，并且很显然，根据上述教导，可以进行很多改变和变化。对示例性实施例进行选择和描述的目的在于解释本发明的特定原理及其实际应用，从而使得本领域的技术人员能够实现并利用本发明的各种不同的示例性实施方案以及各种不同的选择和改变。本发明的范围意在由权利要求书及其等同形式所限定。
【权利要求】
1.一种推杆显微组织试样的制备方法，所述推杆的两端分别设有球头端和球窝端，其特征在于，该制备方法包括以下步骤: 首先，用双手直接握住推杆，在砂轮机上分别把球头端及球窝端分别磨出平面，再在球头端磨面的对面端头磨出定位台阶，然后分别切断推杆已经磨过的球头端及球窝端，来制成球头样件和球窝样件； 其次，用手握紧球头样件的两端，一端以切割面为定位，另一端以定位台阶为定位，直接磨制后抛光样件； 再次，用手握紧球窝样件的两端，一端以切割面为定位，另一端以凹球头的凹球面为定位，直接磨制后抛光样件。
2.根据权利要求1所述的推杆显微组织试样的制备方法，其特征在于，所述定位台阶的深度约2mm。
3.根据权利要求1或2所述的推杆显微组织试样的制备方法，其特征在于，所述球头样件和球窝样件的轴向切割长度均为25?30mm。
【文档编号】G01N1/32GK103884568SQ201410134288
【公开日】2014年6月25日 申请日期:2014年4月2日 优先权日:2014年4月2日
【发明者】杨美全, 曾泳霖 申请人:广西玉柴机器股份有限公司
