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Led驱动电路的高精度电流修调测试系统的制作方法

时间:2025-04-02    作者: 管理员

专利名称:Led驱动电路的高精度电流修调测试系统的制作方法
技术领域
本新型涉及电子电路领域,尤指一种电流的测试和修调系统。
背景技术
大功率LED Driver主要应用在照明、市政、景观等场合,市场巨大。大功率LEDDriver要求驱动电流精度高,而且电流绝对值较大,一般在300Ma左右。而实际在半导体工艺中又很难保证LED Driver电流的一致性,因此需要在晶圆阶段对LED Driver的电流做一个调整(即电流修调),以保证封装后的产品有较好的电流一致性。一般测试机的电流测量的量程和精度都有限,如果需要增加高精度电流测量仪表成本将相当高。3360P测试机是CHROMA公司开发的大规模集成电路专用测试机,它有128个数字通道、8个电源通道、16个精确测量通道、32个继电器控制通道、类似C语言的编程环境、支持TTL和GPIB通讯接口。但是3360P的电流测量最大量程48V IOOmA,或者是IOV 2A,而一般大功率LED Driver要·求条件为13V 300mA,而且精度也达不到要求。
发明内容本实用新型目的在于摒弃现有技术之缺点,提供一种简单的通过外挂高精度仪表提高测试精度的电流测试及修调系统。为解决上述技术问题,本新型采用的技术方案如下LED驱动电路的高精度电流修调测试系统,一被测IC分别与3360P测试机、安捷伦电表和修调电路连接,所述的3360P测试机与安捷伦电表连接,并且所述的3360P测试机与修调电路连接。进一步地,所述的3360P测试机与安捷伦电表是通过GPIB通信的。更进一步地,所述的修调电路包括总线控制芯片和继电器。本新型的有益效果是本实用新型通过外挂高精度仪表提高测试机的电流测试精度,做到成本低、精度高、开发周期快。

图I是本新型的结构示意图;图2是本新型的修调电路示意具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本新型作进一步详述LED驱动电路的高精度电流修调测试系统,一被测IC分别与3360P测试机、安捷伦电表和修调电路连接,所述的3360P测试机与安捷伦电表连接,并且所述的3360P测试机与修调电路连接。进一步地,所述的3360P测试机与安捷伦电表是通过GPIB通信的。[0014]更进一步地,所述的修调电路包括总线控制芯片和继电器。安捷伦电表是一个六位半精度的通用型数字万用表,具有高常模抑制的精密测量,从而弥补了测试机测量量程和精度不够的问题。3360P测试机在测量电流的最大量程只有48V/100mA,或者是10V/2A。受到这个量程的限制,导致很多LED驱动的器件无法进行测试(LED驱动器件多工作在IOV以上,300mA以上的电流),所以使用安捷伦34410A电表可以弥补这一缺陷,而且可以取得更好的量测精度。3360P的AD转换精度上选用了 4位半的模数芯片,而安捷伦达到了 6位半。所以在性能上更好。由于工艺的原因,在芯片在制作的过程中不可能使得所有的IC参数都完全相同,所以在芯片中加上部分修正电路,可以使得IC的参数更加集中稳定。IC修调的方法一般有三种,激光修调,熔丝修调和二极管修调。激光修调一般使用的时专用的激光修调系统,成本比较高。熔丝修调和二极管修调只需要简单的外围电路就可以完成修调,一般是修调电源+继电器控制,测试机只需要读取到34410A的测量值,如图2所示,然后根据测量值计算修调继电器的操作,就可以完成IC的修调。 以下提供本实用新型的测试流程如图I所示,开始的时候启动LED DriverCLED驱动电路)芯片,将LED Driver设定到驱动电流的输出状态,这时候,安捷伦33401A读取被测的LED Driver电流数据,测试机通过GPIB读取安捷伦33401A的驱动电流初始值后开始计算目标值与初始值的差异,并根据修调设计选择修调组合,再发出控制信号要求修调电路进行修调LED Driver,接着测试机再次通过GPIB读取安捷伦33401A修调后的驱动电流并判断,经过不断的修调后达到需要的目标电流。以上所述,仅是本新型的较佳实施例而已,并非对新型的技术范围作任何限制,故凡是依据本新型的技术实质对以上实施例所作的任何细微修改、等同变化与修饰,均仍属于本等同实用新型技术方案的范围内。
权利要求1.LED驱动电路的高精度电流修调测试系统,其特征在于,一被测IC分别与3360P测试机、安捷伦电表和修调电路连接,所述的3360P测试机与安捷伦电表连接,并且所述的3360P测试机与修调电路连接。
2.根据权利要求I所述的LED驱动电路的高精度电流修调测试系统,其特征在于所述的3360P测试机与安捷伦电表是通过GPIB通信的。
3.根据权利要求I所述的LED驱动电路的高精度电流修调测试系统,其特征在于所述的修调电路包括总线控制芯片和继电器。
专利摘要本新型提供了LED驱动电路的高精度电流修调测试系统,包括一被测IC分别与3360P测试机、安捷伦电表和修调电路连接,所述的3360P测试机与安捷伦电表连接,并且所述的3360P测试机与修调电路连接,本实用新型通过外挂高精度仪表提高测试机的电流测试精度,做到成本低、精度高、开发周期快。
文档编号G01R19/00GK202794299SQ20122038556
公开日2013年3月13日 申请日期2012年8月6日 优先权日2012年8月6日
发明者袁俊 申请人:东莞利扬微电子有限公司

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