专利名称：一种集成电路四通道共享测量系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及集成电路测量技术，具体地，涉及ー种集成电路四通道共享测量系统。
背景技术：
目前，在集成电路测试行业中，测试效率及成本控制是评估ー款测试设备的ー个主要指标，而这两个系统指标相互制約。传统测试设备中，均选用两种模式进行工作第一种工作模式如图I所示，多路硬件驱动资源，所有驱动源通过矩阵开关共享同一测试通道，目前国产设备均采用该结构进行设计。采用该原理，可极大降低设备成本，但测试效率相对较低。第二种工作模式如图2所示，每路硬件驱动资源配置一路独立的測量通道，国外高端产品多采用此种设计方案。采用该原理，测试效率大幅提升，同时设备成本随之大幅提升。随着集成电路产业的飞速发展，集成电路产品中出现了大量在同一芯片中封装多颗器件的情况，如图3所示。面对此种芯片，若采用上述第一种工作模式，需要测试设备依次测试四颗器件，效率降低4倍；若采用上述第二种工作模式，则需配置4台设备进行测试，成本上涨4倍。在实现本实用新型的过程中，发明人发现现有技术中至少存在测试效率低、成本高与功能少等缺陷。
发明内容本实用新型的目的在于，针对上述问题，提出ー种集成电路四通道共享测量系统，以实现测试效率高、成本低与功能多的优点。为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是ー种集成电路四通道共享测量系统，包括并行设置的至少四组硬件驱动源、矩阵开关组K、以及并行设置的四组测量通道；所述至少四组硬件驱动源，通过矩阵开关组K，分别与四组测量通道电连接；所有硬件驱动源的电信号传输至矩阵开关组K，通过矩阵开关组K，实现任意四个硬件驱动源的同时测试。进ー步地，所述每组硬件驱动源，包括并行设置的四路硬件驱动源。进ー步地，在所有硬件驱动源中，当被测信号为一路硬件驱动源Al时，通过矩阵开关组K的分配，相应硬件驱动源的待测信号Al进入测量通道1，通过测量通道I输出用于被计算机直接读取的数据。进ー步地，在所有硬件驱动源中，当被测信号为四路硬件驱动源Al A4或少于四路硬件驱动源时，相应硬件驱动源的待测信号组通过矩阵开关组K，被分配至四个测量通道I 4，通过测量通道I 4分别输出用于被计算机直接读取的数据。[0013]进ー步地，在所有硬件驱动源中，当被测信号为不超过四路的任意硬件驱动源组合吋，通过矩阵开关组K，将每个待测信号指定至任意一个测量通道，通过相应的測量通道分别输出用于被计算机直接读取的数据。进ー步地，在所有硬件驱动源中，当被测信号为超过四路的任意硬件驱动源组合吋，矩阵开关组K将待测信号分配为四路一组进行測量，通过相应的測量通道分别输出用于被计算机直接读取的数据。本实用新型各实施例的集成电路四通道共享测量系统，由于包括并行设置的至少四组硬件驱动源、矩阵开关组、以及并行设置的四组测量通道；至少四组硬件驱动源，通过矩阵开关组，分别与四组测量通道电连接；所有硬件驱动源的电信号传输至矩阵开关组，通过矩阵开关组，可以实现任意四个硬件驱动源的同时测试；从而可以克服现有技术中测试效率低、成本高与功能少的缺陷，以实现测试效率高、成本低与功能多的优点。 本实用新型的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本实用新型而了解。本实用新型的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。下面通过附图和实施例，对本实用新型的技术方案做进ー步的详细描述。
附图用来提供对本实用新型的进ー步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制。在附图中图I为典型共享测量通道工作模式的工作原理示意图；图2为典型独立測量通道工作模式的工作原理示意图；图3为同一芯片中封装4颗器件的结构示意图；图4为本实用新型集成电路四通道共享测量系统的工作原理示意图；图5为LM324芯片的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。根据本实用新型实施例，提供了 ー种集成电路四通道共享测量系统。如图4和图5所示，本实施例包括并行设置的至少四组硬件驱动源、矩阵开关组K、以及并行设置的四组測量通道；该至少四组硬件驱动源，通过矩阵开关组K，分别与四组测量通道电连接；所有硬件驱动源的电信号传输至矩阵开关组K，通过矩阵开关组K，实现任意四个硬件驱动源的同时测试。每组硬件驱动源，包括并行设置的四路硬件驱动源。在上述实施例中，在所有硬件驱动源中，当被测信号为一路硬件驱动源Al时，通过矩阵开关组K的分配，相应硬件驱动源的待测信号Al进入测量通道I，通过测量通道I输出用于被计算机直接读取的数据；当被测信号为四路硬件驱动源Al A4或少于四路硬件驱动源时，相应硬件驱动源的待测信号组通过矩阵开关组K，被分配至四个测量通道I 4，通过测量通道I 4分别输出用于被计算机直接读取的数据；当被测信号为不超过四路的任意硬件驱动源组合时，通过矩阵开关组K，将每个待测信号指定至任意一个测量通道，通过相应的測量通道分别输出用于被计算机直接读取的数据；当被测信号为超过四路的任意硬件驱动源组合吋，矩阵开关组K将待测信号分配为四路一组进行測量，通过相应的測量通道分别输出用于被计算机直接读取的数据。上述实施例的集成电路四通道共享测量系统，属于基于集成电路测试系统的四通道共享测量技术，可有效的解决上述情况的成本与效率矛盾。四通道共享测量技术采用四个独立的測量通道，通过矩阵开关，将四个测量通道同时共享给多个硬件驱动源，从而实现4通道同时测量。如图4所示，所有硬件驱动源的电信号进入矩阵开关组，通过矩阵开关组，可实现任意四个硬件资源源的同时测试，测试效率与图2 —致。图4所示结构在工作中，假设被测信号为硬件驱动源Al，通过矩阵开关组K的分配，待测信号Al进入测量通道1，计算机可直接读取数据；当被测信号为硬件驱动源Al A4共四个时(或少于四个)，待测信号组通过矩阵开关组K被分配至測量通道I 4，计算 机可一次性读取数据；当被测信号为任意硬件驱动源组合时(信号数量不大于四个)，通过矩阵开关组，可将每个待测信号指定至任意一个测量通道，计算机一次性读取数据；当被测信号多于四个时，矩阵开关组可将待测信号分配为每四个ー组，由计算机同时读取四个测试数据。利用图4所示结构，可将测试设备的测试效率有效提高3 4倍。在エ业应用环境中，图4所不结构能大幅提闻LM324芯片的测试能力。以利用DL1000集成电路测试系统对LM324(參见图5)进行测试为例LM324芯片中包含四个功能完全相同的运算放大器，输出端为01 04,输入端为Al A4、B1 B4。DL1000测试系统的信号源可通过计算机指令直接驱动8个输入端，LM324的四个输出端通过矩阵开关组同时进入设备的四个测量通道，实现利用一套设备对四个运算放大器的同时测试。上述实施例的集成电路四通道共享测量系统，通过矩阵开关组实现任意四个硬件驱动源的同时测量。与现有技术方案相比，四通道共享测量技术可在最小成本下，实现测试效率大幅提高。针对图3类型集成电路，四通道共享测量技术与现有技术的测量效果如表I所示。表I :测试效率、成本对比表
技术方案测试效率设备成本~
共享测量通道工作模式(參见图 ) δ ) δ )
独立測量通道工作模式(參见图2)
集成电路四通道共享测量系统(參见图4)高(χ3. 5) 低(xl. 5)~注上表数据以测试本文图3所示芯片为例。表中数据以共享测量通道工作模式(參见图I)为基准(xl)进行测算，数据值表示倍数关系。最后应说明的是以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管參照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护 范围之内。
权利要求1.ー种集成电路四通道共享测量系统，其特征在于，包括并行设置的至少四组硬件驱动源、矩阵开关组(K)、以及并行设置的四组测量通道； 所述至少四组硬件驱动源，通过矩阵开关组(K)，分别与四组测量通道电连接；所有硬件驱动源的电信号传输至矩阵开关组(K)，通过矩阵开关组(K)，实现任意四个硬件驱动源的同时测试。
2.根据权利要求I所述的集成电路四通道共享测量系统，其特征在于，所述每组硬件驱动源，包括并行设置的四路硬件驱动源。
专利摘要本实用新型公开了一种集成电路四通道共享测量系统，包括并行设置的至少四组硬件驱动源、矩阵开关组(K)、以及并行设置的四组测量通道；所述至少四组硬件驱动源，通过矩阵开关组(K)，分别与四组测量通道电连接；所有硬件驱动源的电信号传输至矩阵开关组(K)，通过矩阵开关组(K)，实现任意四个硬件驱动源的同时测试。本实用新型所述集成电路四通道共享测量系统，可以克服现有技术中测试效率低、成本高与功能少等缺陷，以实现测试效率高、成本低与功能多的优点。
文档编号G01R31/28GK202600107SQ20122007437
公开日2012年12月12日 申请日期2012年3月2日 优先权日2012年3月2日
发明者周颖 申请人:北京信诺达科技有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
