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专利名称：一种ict测试探针的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种ICT测试探针。
背景技术：
一般情况下，电子产品在组装完所有电器元件后在安装外壳之前全部需要进行一次电气功能测试。以往的功能测试主要是单一的模式测试，一个工作位上只能测试一种电气性能，电子产品的功能越多需要测试工位就越多。通常的测试探针主要是固定在测试工作台上，使用和维护均不方便。为了解决这些问题，研制一种可一次性完成电气性能测试的 ICT测试探针无疑具有十分重要的现实意义。

实用新型内容为克服现有技术的不足，提供一种能一次性完成电气性能测试的ICT测试探针。为实现上述目的，本实用新型通过如下技术方案加以实现一种ICT测试探针，包括针管1，针管1形成一中空管，针管1的前端设有轴向的插道5，针管1的尾部设有凸台4 ；所述插道5内可以放置探针的针体2，针体2连接一探测头3 ；所述针管1的插道5可贯穿所述的针体2 ；所述探测头3的顶部呈齿口状或者探测头 3的顶部呈三角锥状。与现有技术相比，本实用新型的有益效果为能够在同一个工装夹具上实现一个电子产品所有电气功能的测试，提高了生产效率和节约了成本。

为便于理解本实用新型，特结合附图加以详细说明.图1是本实用新型针管的形状示意图；图2是本实用新型探测头(3)的顶部呈三角锥状的形状示意图；图3是本实用新型探测头(3)的顶部呈齿口状的形状示意图。
具体实施方式
为便于理解本实用新型，特结合附图具体实施例加以说明，但是本实施例不应看作是对本实用新型的任何限制。参照图1，一种ICT测试探针，包括针管1，针管1形成一中空管，针管1的前端设有轴向的插道5，针管1的尾部设有凸台4 ；所述插道5内可以放置探针的针体2，针体2连接一探测头3 ；所述针管1的插道5可贯穿所述的针体2 ；所述探测头3的顶部呈齿口状或者探测头3的顶部呈三角锥状，见图2、图3。在使用时，将针体2插于针管1的前端，测试时探测头3与测试点接触，针管1的后方连接导线，针管1通过导线与测试机相连。可根据不同测试点的类型可更换不同的探测头。
权利要求1.一种ICT测试探针，包括针管(1)，针管(1)形成一中空管，其特征在于针管(1)的前端设有轴向的插道(5)，针管(1)的尾部设有凸台；所述插道(5)内可以放置探针的针体O)，针体( 连接一探测头(3)。
2.根据权利要求1所述的一种ICT测试探针，其特征在于所述针管(1)的插道(5)可贯穿所述的针体O)。
3.根据权利要求1所述的一种ICT测试探针，其特征在于所述探测头(3)的顶部呈齿口状。
4.根据权利要求1所述的一种ICT测试探针，其特征在于所述探测头(3)的顶部呈三角锥状。
专利摘要本实用新型公开了一种ICT测试探针，包括针管(1)，针管(1)形成一中空管，针管(1)的前端设有轴向的插道(5)，针管(1)的尾部设有凸台(4)；所述插道(5)内可以放置探针的针体(2)，针体(2)连接一探测头(3)；所述针管(1)的插道(5)可贯穿所述的针体(2)；所述探测头(3)的顶部呈齿口状或者探测头(3)的顶部呈三角锥状，在使用时，将针体(2)插于针管(1)的前端，测试时探测头(3)与测试点接触，针管(1)的后方连接导线，针管(1)通过导线与测试机相连。根据不同测试点的类型可更换不同的探测头。
文档编号G01R1/067GK201993392SQ20102066446
公开日2011年9月28日 申请日期2010年12月17日 优先权日2010年12月17日
发明者周燕明, 沈芳珍 申请人:沈芳珍