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专利名称：液晶基板的瑕疵显示点精确定位方法
技术领域：
本发明是与液晶基板上的瑕疵显示点定位技术有关，特别是指可精准定位出瑕疵显示点的修补位置的一种液晶基板的瑕疵显示点精确定位方法。
背景技术：
液晶基板在制造过程中，难免会产生瑕疵显示点(坏点、亮点)，而瑕疵显示点的瑕疵，通常是发生在显示点本身所具有的晶体管与其他部位间的连接部位发生问题，业者通常会再以一修补装置(激光、热压等技术)来将之修补，在修补时，是针对瑕疵显示点靠近于晶体管附近的位置进行修补。在一般情形下，由于瑕疵显示点本身即非正常，且瑕疵的种类繁多，因此无法以正常显示点的影像为定位标准来对瑕疵显示点进行定位，导致无法精确的定位至晶体管附近的瑕疵位置，因而无法以电脑自动化定位运作。目前，是以人工透过摄影设备放大的方式来目视瑕疵显示点的瑕疵位置，再以点灯机定位，以方便进行修补，不仅耗时耗力，更无法降低成本。

发明内容
本发明的主要目的即在提供一种液晶基板的瑕疵显示点精确定位方法，其可适用于自动化设备来进行定位，解决了现有技术无法自动化的问题。
为达成上述目的，依据本发明所提供的一种液晶基板的瑕疵显示点精确定位方法，包含有下列步骤A、建立一比对样式，该比对样式是由液晶基板上的一个正常显示点以及其周围正常显示点所形成，于该周围正常显示点中选择其中二正常显示点做为比对点，该二比对点之间在X轴及Y轴上至少有一轴具有距离差，并定义出位于中央的正常显示点与该二比对点间的距离差；B、依前所定义的比对样式，于液晶基板上的瑕疵显示点周围与该二比对点相同位置的的正常显示点做为基准，比对出瑕疵显示点的精确位置；由上述步骤，可利用瑕疵显示点周围的正常显示点来定位出瑕疵显示点的精确位置。
为了详细说明本发明的特点所在，兹举以下一较佳实施例并配合图式说明如后


图1是本发明第一较佳实施例的示意图，显示液晶基板上显示点的排列状态；图2是本发明第一较佳实施例的比对样式示意图；图3是本发明第一较佳实施例的瑕疵点比对示意图；图4(A)至图4(O)是本发明第一较佳实施例的比对样式示意图，显示各种可能的比对样式；图5是本发明第一较佳实施例的另一比对样式示意图。
具体实施例方式
请参阅图1至图3，本发明一较佳实施例所提供的一种液晶基板的瑕疵显示点精确定位方法，主要包含有下列步骤A、建立一比对样式11，如图1所示，该比对样式11是由液晶基板上的一个正常显示点5以及其周围8个正常显示点(左上1、上2、右上3、左4、右6、左下7、下8、右下9)所形成的3X3格状矩阵，其中，各该正常显示点1-9具有一晶体管T可供定位之用；如图2所示，于该周围正常显示点中选择其中二正常显示点1、9做为比对点C1、C2，本实施例中是为显示点1及显示点9，该比对点C1、C2之间在X轴及Y轴上均具有距离差，并定义出位于中央的正常显示点5与该二比对点C1、C2间的距离差，-该中央正常显示点5的晶体管T的座标X5，Y5可由下列公式算出X5＝(X1+X9)/2(式1)Y5＝(Y1+Y9)/2(式2)B、依前所定义的比对样式11，如图3所示，于液晶基板上的瑕疵显示点25周围与该二比对点C1、C2相同位置的的正常显示点21、29做为基准，其中，各该正常显示点21、29及瑕疵显示点25均具有一晶体管T可供定位之用，由各该晶体管T配合前揭二公式(式1及式2)比对出瑕疵显示点25的精确位置；由上述步骤可知，本发明是先定义出如图2所示的正常显示点的比对样式11，再将该比对样式11比对瑕疵显示点25周围的正常显示点21-29(不包含25)，以定位出瑕疵显示点25的晶体管T的精确位置，进而方便进行后续相关的修补动作。
请再参阅图4，本发明在步骤A中所定义的比对样式11，并不以对角位置的显示点1对显示点9为限，图4(A)-(O)所示的比对样式11，亦适用于本发明所提供的方法，仅须在公式上略做调整，例如以图4(A)而言，其仅X轴有距离差，Y轴则无X5＝(X4+X6)/2Y5＝(Y4+Y6)/2以图4(D)而言X5＝(X1+X6)/2Y5＝Y6由图4(A)-(O)中可看出，有多种搭配均能适用于本发明所提供的方法。
请再参阅图5，本发明在步骤A中所定义的比对样式30，亦不仅限于搭配中央正常显示点35周围的8个正常显示点31-39不包含35)，亦可搭配使用更外围的显示点，同样可产生对瑕疵显示点精准定位的效果。
经由上述的步骤，本发明可产生的优点为利用对瑕疵显示点周围的正常显示点来精确定位出瑕疵显示点的位置，而正常显示点的形态是属固定，可用来供电脑自动化定位使用，解决了现有技术中因为瑕疵点本身形态不固定而无法自动化定位的问题。
权利要求
1.一种液晶基板的瑕疵显示点精确定位方法，其特征在于包含有下列步骤A、建立一比对样式，该比对样式是由液晶基板上的一个正常显示点以及其周围正常显示点所形成，于该周围正常显示点中选择其中二正常显示点做为比对点，该二比对点之间在X轴及Y轴上至少有一轴具有距离差，并定义出位于中央的正常显示点与该二比对点间的距离差；B、依前所定义的比对样式，于液晶基板上的瑕疵显示点周围与该二比对点相同位置的的正常显示点做为基准，比对出瑕疵显示点的精确位置；由上述步骤，可利用瑕疵显示点周围的正常显示点来定位出瑕疵显示点的精确位置。
2.依据权利要求1所述的液晶基板的瑕疵显示点精确定位方法，其特征在于所述各正常显示点及瑕疵显示点均具有一晶体管可供定位之用。
3.依据权利要求1所述的液晶基板的瑕疵显示点精确定位方法，其特征在于所述该比对样式是为中央正常显示点与周围8个正常显示点左上、上、右上、左、右、左下、下、右下所形成的3×3格状矩阵。
4.依据权利要求1所述的液晶基板的瑕疵显示点精确定位方法，其特征在于做为比对点的该二正常显示点之间，在X轴及Y轴上均具有距离差。
全文摘要
本发明一种液晶基板的瑕疵显示点精确定位方法，包含有下列步骤A.建立一比对样式，该比对样式是由液晶基板上的一个正常显示点以及其周围正常显示点所形成，于该周围正常显示点中选择其中二正常显示点做为比对点，该二比对点之间在X轴及Y轴上至少有一轴具有距离差，并定义出位于中央的正常显示点与该二比对点间的距离差；B.依前所定义的比对样式，于液晶基板上的瑕疵显示点周围与该二比对点相同位置的正常显示点做为基准，比对出瑕疵显示点的精确位置；由上述步骤，可利用瑕疵显示点周围的正常显示点来定位出瑕疵显示点的精确位置。
文档编号G01N21/88GK1731241SQ20041005596
公开日2006年2月8日 申请日期2004年8月4日 优先权日2004年8月4日
发明者王正宇, 萧贤德, 李炳寰 申请人:东捷科技股份有限公司