专利名称：一种抗折抗压试验机测控系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种抗折抗压试验机测控系统，属于试验机测控技术领域。
背景技术：
传统的水泥胶砂抗折抗压试验中，水泥胶砂要 在抗折试验机与抗压试验机两种设备上分别进行，工效低，而且操作繁琐，设别购置成本高。随着我国建筑业和基础建设事业的蓬勃发展，带动了对水泥的巨大需求，所以，对用于测量混凝土性能的水泥胶砂抗折抗压一体试验机的需求也越来越大。我国试验机厂商虽然众多，但大多是中小企业，技术力量薄弱，无力自行开发试验机测控系统，往往采购专业厂商的试验机测控系统。
发明内容本实用新型所要解决的问题就是提供一种抗折抗压试验机测控系统，操控方便，降低试验机成本，大大提高试验效率。为解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案一种抗折抗压试验机测控系统，包括用于信号处理的测控�？橛胗糜谛藕欧糯蟮墓Ψ拍？椋霾饪啬？橛胨龉Ψ拍？橹渫ü怦钍迪中藕糯�。进一步的，所述测控�？榘–PU单元与信号接收单元，所述抗折抗压试验机的试验数据通过信号接收单元传输至所述CPU单元，所述CPU单元连接所述光耦。进一步的，所述信号接收单元包括抗折传感器接口与抗压传感器接口，所述抗折传感器接口通过AD转换电路连接所述CPU单元，所述抗压传感器接口通过所述AD转换电路连接所述CPU单元。进一步的,所述AD转换电路集成于所述CPU单元中，或者所述AD转换电路为ADC
转换器。进一步的，所述测控�？榛拱獭⑹牍芙涌�。本实用新型的有益效果现有抗折抗压一体化试验机电气设备中的测控部分和功率放大部分是分离的，这增加了电控柜的体积，也增加了电气设备布线难度，同时测控部分和功放电路间的连线容易松动，增加了设备事故隐患。本实用新型将测控系统中的测控�？楹凸Ψ拍？榉旁谝豢榈缏钒迳希伊秸咧涫褂霉怦罡衾耄晒λ跣×松璞柑寤⒃黾恿松璞缚煽啃�。
以下结合附图对本实用新型做进一步的说明图I为本实用新型的原理框图。
具体实施方式
参照
图1，一种抗折抗压试验机测控系统，包括用于信号处理的测控模块I与用于信号放大的功放�？�2，测控�？镮与功放模块2之间通过光耦3实现信号传输。使用光耦3不仅是为了测控�？镮与功放�？�2之间的隔离，成功缩小设备体积，且光耦自身还具有体积小、寿命长、无触点、抗干扰能力强的特点，增加设备可靠性。至于光耦的原理为本领域技术人员的公知常识，不再详述。测控�？镮包括CPU单元4与信号接收单元，抗折抗压试验机的试验数据通过信号接收单元传输至CPU单元4，CPU单元4连接光耦3，通过光耦3传输信号。优选的信号接收单元包括抗折传感器接口 7与抗压传感器接口 6,抗折传感器接口 7通过AD转换电路5连接CPU单元4，抗压传感器接口 6通过上述AD转换电路5连接CPU单元4。现有抗折抗压试验机测控系统的抗折和抗压信号通过两个独立的AD转换电路5采集，这样做增加了产品的成本，又增大了产品体积；也有采用单个传感器接口，试验过程中，通过轮流插拔抗折传感器与抗压传感器实现不同信号的采集，这样做增加了试验时的工作量，频繁插拔也致使传感器插头容易损坏。本实施例中，在测控�？镮中同时设置抗折传感器接口 7与抗压传感器接口 6，避免了试验过程中轮流插拔传感器的工作，简化试验步骤，且利用一个AD转换电路5实现抗压、抗折信号的转换，降低了产品成本、缩小了产品体积。上述的AD转换电 路5可以集成在CPU单元4，也可以是一个单独的ADC转换器。在上述实施例的基础上，测控�？镮还包括键盘、数码管接口 8，这样通过外部键盘或按钮可选择采集抗折信号或抗压信号，实现了单片AD双路采集技术，降低了产品成本、缩小了产品体积。应当认识到，上述实施例只是用来解释和说明本实用新型的特点，并非对本实用新型的限制，熟悉该项技艺的人士应该明白本实用新型包括但不限于附图和上面具体实施方式
中描述的内容，任何不偏离本实用新型的功能和结构原理的修改都将包括在权利要求书的范围中。
权利要求1.一种抗折抗压试验机测控系统，包括用于信号处理的测控�？橛胗糜谛藕欧糯蟮墓Ψ拍？椋涮卣髟谟谒霾饪啬？橛胨龉Ψ拍？橹渫ü怦钍迪中藕糯�。
2.根据权利要求I所述的一种抗折抗压试验机测控系统，其特征在于所述测控�？榘–PU单元与信号接收单元，所述抗折抗压试验机的试验数据通过信号接收单元传输至所述CPU单元，所述CPU单元连接所述光耦。
3.根据权利要求2所述的一种抗折抗压试验机测控系统，其特征在于所述信号接收单元包括抗折传感器接口与抗压传感器接口，所述抗折传感器接口通过AD转换电路连接所述CPU单元，所述抗压传感器接口通过所述AD转换电路连接所述CPU单元。
4.根据权利要求3所述的一种抗折抗压试验机测控系统，其特征在于所述AD转换电路集成于所述CPU单元中，或者所述AD转换电路为ADC转换器。
5.根据权利要求2所述的一种抗折抗压试验机测控系统，其特征在于所述测控�？榛拱�、数码管接口。
专利摘要本实用新型公开了一种抗折抗压试验机测控系统，包括用于信号处理的测控�？橛胗糜谛藕欧糯蟮墓Ψ拍？椋霾饪啬？橛胨龉Ψ拍？橹渫ü怦钍迪中藕糯�。本实用新型将测控系统中的测控�？楹凸Ψ拍？榉旁谝豢榈缏钒迳希伊秸咧涫褂霉怦罡衾耄晒λ跣×松璞柑寤⒃黾恿松璞缚煽啃�。
文档编号G01N3/00GK202548001SQ20122010285
公开日2012年11月21日 申请日期2012年3月19日 优先权日2012年3月19日
发明者沈波 申请人:杭州朗杰测控技术开发有限公司
专业数控铣床产品供应商
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