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专利名称：一种老化测试控制箱的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及乐器配件测试技术领域，特别是涉及一种老化测试控制箱。
背景技术：
乐器零件一般需要进行老化测试，特别是电子琴和钢琴等的琴键必须经过老化测试，验证琴键在整个工作时间内的质量的可靠性，为了在短时间内获得准确的测试结果，往往会使用专用的老化测试装置。目前，琴键老化测试多使用专用的老化测试装置，然而，现有的琴键专用老化测试装置每次测试琴键数目少，工作效率低，而且老化测试装置的结构较复杂、成本昂贵，难以大规模广泛应用
实用新型内容
本实用新型的目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种高效、快速及结构简单的老化测试控制箱。本实用新型的目的通过以下技术方案实现。一种老化测试控制箱，包括箱架、多个测试装置、控制器和测试参数显示器，箱架包括多个插座，控制器包括多个测试开关，测试装置、插座和测试开关的数目相同，插座与测试开关一一对应电连接；测试参数显示器与控制器电连接；琴键进行测试时，插座与测试装置一一对应电连接，测试装置与琴键连接。其中，箱架设有多个层架，多个层架相互平行设置，插座装设于层架上。其中，每个层架装设的插座数目相同。其中，控制器装设于箱架。本实用新型的有益效果一种老化测试控制箱，包括箱架、多个测试装置、控制器和测试参数显示器，箱架包括多个插座，控制器包括多个测试开关，测试装置、插座和测试开关的数目相同，插座与开关一一对应电连接，测试参数显示器和控制器电连接；琴键进行测试时，插座与测试装置一一对应电连接，测试装置与琴键连接。与现有技术相比，本实用新型能同时检测多个琴键，高效快速、而且测试数据准确、结构简单、操作方便及成本低廉。

利用附图对本实用新型做进一步说明，但附图中的内容不构成对本实用新型的任何限制。图I是本实用新型的一种老化测试控制箱的结构示意图。图I中包括有I箱架、2插座、3控制器、4层架。
具体实施方式
结合以下实施例对本实用新型作进一步说明。[0014]一种老化测试控制箱，如图I所示，包括箱架I、控制器3、多个测试装置和测试参数显示器，控制器3装设于箱架I，测试参数显示器与控制器3电连接，测试参数显示器用于显示琴键老化测试的结果。箱架I包括多个插座2和多个层架4，多个层架4相互平行设置，插座2装设于层架4上，每个层架4装设的插座2数目相同。琴键老化测试时，测试装置和琴键可放置于层架4上。本实施例中，控制器3包括多个测试开关，测试装置、插座2和测试开关的数目相同，插座2与测试开关一一对应电连接，琴键进行测试时，插座2与测试装置一一对应电连接，测试装置与琴键连接。本老化测试控制箱能同时检测多个琴键，高效快速、而且测试数据准确、结构简单、操作方便及成本低廉。最后应当说明的是，以上实施例仅用于说明本实用新型的技术方案而非对本实用新型保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本实用新型作了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的实质和范围。
权利要求1.一种老化测试控制箱，其特征在于包括箱架、多个测试装置、控制器和测试参数显示器，所述箱架包括多个插座，所述控制器包括多个测试开关，所述测试装置、插座和测试开关的数目相同，所述插座与所述测试开关一一对应电连接；所述测试参数显示器与所述控制器电连接；琴键进行测试时，所述插座与所述测试装置一一对应电连接，所述测试装置与琴键连接。
2.根据权利要求I所述的一种老化测试控制箱，其特征在于所述箱架设有多个层架，多个所述层架相互平行设置，所述插座装设于所述层架上。
3.根据权利要求2所述的一种老化测试控制箱，其特征在于每个所述层架装设的插座数目相同。
4.根据权利要求I所述的一种老化测试控制箱，其特征在于所述控制器装设于所述箱架。
专利摘要本实用新型涉及乐器配件测试技术领域，特别是涉及一种老化测试控制箱，其包括箱架、多个测试装置、控制器和测试参数显示器，箱架包括多个插座，控制器包括多个测试开关，测试装置、插座和测试开关的数目相同，插座与测试开关一一对应电连接；测试参数显示器和控制器电连接；琴键进行测试时，插座与测试装置一一对应电连接，测试装置与琴键连接。与现有技术相比，本实用新型能同时检测多个琴键，高效快速、而且测试数据准确、结构简单、操作方便及成本低廉。
文档编号G01D21/00GK202676199SQ201220337168
公开日2013年1月16日 申请日期2012年7月12日 优先权日2012年7月12日
发明者苏金龙 申请人:东莞市龙健电子有限公司