专利名称：源复用测试方法
技术领域：
本发明涉及集成电路测试领域，尤其涉及一种源复用测试方法。
背景技术：
对集成电路的性能进行测试包括多个参数项目，只有所有参数项目均达到标准时，该集成电路才是合格产品。对于大多数参数项目的测试而言，测试机的电源的作用是提供驱动集成电路的电压，即使集成电路工作起来，此时，一个电源可同时连接两个以上的待测集成电路，即一个电源同时为两个以上的待测集成电路提供驱动电压，但是，对有些参数项目(例如集成电路的总电阻R。。，R。。=V。。/I。。)而言，测试机的电源本身就是一个测量的量， 即测试机的电源不仅提供驱动电压，还作为测量的量，此时，一个电源只能连接一个待测集成电路。同一次测试程序包含对待测集成电路的多个参数项目进行测试，一台测试机包含多个电源，对于大多数参数项目，一个电源可同时驱动两个以上的待测集成电路，此时，一台测试机可同时测试的待测集成电路的数量是电源数量的两倍以上，而对一些特殊参数项目，一个电源只能驱动一个待测集成电路，此时，一台测试机可同时测试的待测集成电路的数量等于电源的数量，这就存在一个冲突，为避免这个冲突，现有技术采取的做法是，在同一次测试程序中，一台测试机的待测集成电路的数量小于等于一台测试机所包含的电源的数量，例如，一台测试机包含16个电源，在同一次测试程序中，该测试机的待测集成电路小于等于16个。现有技术的测试方法，测试机的利用率没有达到最大化，特别是对于大批量集成电路产品的测试，现有技术的测试方法效率较低，花费时间较多。
发明内容
本发明的目的在于提供一种源复用测试方法，提高测试机的利用率，从而提高测试工作的效率，节省测试时间。为了达到上述的目的，本发明提供一种源复用测试方法，测试机的一个电源采用继电器与至少两个待测集成电路连接，该源复用测试方法包括以下步骤控制继电器，使电源从其对应的至少两个待测集成电路中选择出一个待测集成电路，并与该被选择的待测集成电路导通；对该被选择的待测集成电路进行本次参数项目的测试，并对测试结果进行统计；切换继电器，重复上述步骤，直至电源所对应的所有待测集成电路本次参数项目测试完毕。上述源复用测试方法，其中，所述测试结果是指待测集成电路通过本次参数项目的测试或者未通过本次参数项目的测试。上述源复用测试方法，其中，所述对测试结果进行统计是指统计待测集成电路本次参数项目的通过情况。上述源复用测试方法，其中，将测试机的待测集成电路分批，批数等于一个电源所对应的待测集成电路的数量，一个电源所对应的各个待测集成电路分别属于不同的批次。
上述源复用测试方法，其中，在所述控制继电器，使电源从其对应的至少两个待测集成电路中选择出一个待测集成电路，并与该被选择的待测集成电路导通步骤之前，还包括对待测集成电路的上一参数项目的测试结果进行分批统计的步骤，其中，所述分批统计是指根据测试机的待测集成电路的分批情况，对各批待测集成电路的上一参数项目的测试结果分别进行统计。 上述源复用测试方法，其中，在所述切换继电器，重复上述步骤，直至电源所对应的所有待测集成电路本次参数项目测试完毕步骤之后，还包括对所有待测集成电路的本次参数项目的测试结果进行整体统计的步骤。本发明中，测试机的一个电源采用继电器与至少两个待测集成电路连接，可实现该电源同时与两个以上的待测集成电路导通，或者该电源只与其中一个待测集成电路导通，本发明的源复用测试方法用于一个电源只能连接一个待测集成电路的参数项目的测试，使用本发明的源复用测试方法可实现同一次测试程序，一台测试机可同时测试至少两倍于一台测试机所包含的电源数量的待测集成电路，使测试机的利用率达到最大化，从而大大提高了测试工作的效率，节省了测试时间。
本发明的源复用测试方法由以下的实施例及附图给出。图1是本发明源复用测试方法的流程图。图加 2d是本发明实施例的继电器的电路原理图。图3是本发明一实施例中测试机的电源与待测集成电路连接的示意图。
具体实施例方式以下将结合图1 图3对本发明的源复用测试方法作进一步的详细描述。本发明中，测试机的每个电源采用继电器与至少两个待测集成电路连接，通过控制继电器的操作，可使电源与对应的多个待测集成电路同时导通，或者选择只与其中一个待测集成电路导通；本发明中，在同一次测试程序中，一台测试机连接的待测集成电路的数量等于一台测试机所包含的电源数量的两倍以上。参见图1，本发明的源复用测试方法包括以下步骤控制继电器，使电源从其对应的多个待测集成电路中选择出一个待测集成电路， 并与该被选择的待测集成电路导通；对该被选择的待测集成电路进行本次参数项目的测试，并对测试结果进行统计；切换继电器，重复上述步骤，直至电源所对应的所有待测集成电路本次参数项目测试完毕。本发明中，测试机的一个电源采用继电器与两个以上的待测集成电路连接，可实现该电源同时与两个以上的待测集成电路导通，或者该电源只与其中一个待测集成电路导通，本发明的源复用测试方法用于一个电源只能连接一个待测集成电路的参数项目的测试，使用本发明的源复用测试方法可实现同一次测试程序，一台测试机可同时测试至少两倍于一台测试机所包含的电源数量的待测集成电路，使测试机的利用率达到最大化，从而大大提高了测试工作的效率，节省了测试时间。现以一具体实施例详细说明本发明的源复用测试方法为简化描述，本实施例中，设定一个电源同时最多能驱动两个待测集成电路。图加所示为本实施例中的继电器的电路原理图，如图加所示，所述继电器由一个单刀单掷开关和一个单刀双掷开关组合而成，第一开关刀Kl可选择与第一连接端Sl或第二连接端S2连接，第二开关刀K2与所述第二连接端S2连接，所述第二开关刀K2可选择与所述第一连接端Sl连接或不连接，电源DSP与所述第一开关刀Kl连接，第一待测集成电路 DUTl与所述第一连接端Sl连接，第二待测集成电路DUT2与所述第二开关刀K2连接。当所述第一开关刀Kl和第二开关刀K2均与所述第一连接端Sl连接时，实现了所述电源DSP与所述第一待测集成电路DUTl和第二待测集成电路DUT2的连接，如图2b所示；当所述第一开关刀Kl与所述第一连接端Sl连接、所述第二开关刀K2选择不与所述第一连接端Sl连接时，实现了所述电源DSP与所述第一待测集成电路DUTl的连接，如图2c所示；当所述第一开关刀Kl与所述第二连接端S2连接、所述第二开关刀K2选择不与所述第一连接端Sl 连接时，实现了所述电源DSP与所述第二待测集成电路DUT2的连接，如图2d所示。参见图3，为了表述的简单和清楚，假设本实施例中一台测试机包含6个电源，它们分别是第一电源DSP1、第二电源DSP2、第三电源DSP3、第四电源DSP4、第五电源DSP5和第六电源DSP6，每个电源均采用上述继电器与两个待测集成电路200连接，这样，本实施例中，在同一次测试程序中，一台测试机可同时测试12个待测集成电路200，为标识、区分这12个待测集成电路200，对这12个待测集成电路200进行编号，保证与同一个电源对应的两个待测集成电路200，其中一个待测集成电路200的编号为偶数，另一个待测集成电路 200的编号为奇数，且每个待测集成电路200的编号都不相同，例如，采用自然数对这12个待测集成电路进行连续编号，这12个待测集成电路的编号分别为0、1、2、3、4、5、6、7、8、9、 10、11，如图3所示，与所述第一电源DSPl对应的两个待测集成电路的编号是0和1，与所述第二电源DSP2对应的两个待测集成电路的编号是2和3，与所述第三电源DSP 3对应的两个待测集成电路的编号是4和5，与所述第四电源DSP4对应的两个待测集成电路的编号是6和7，与所述第五电源DSP5对应的两个待测集成电路的编号是8和9，与所述第六电源 DSP6对应的两个待测集成电路的编号是10和11 ；假设同一次测试程序包含要测试3个参数项目，对于第一个参数项目的测试，一个电源可同时为两个待测集成电路提供驱动电压，对于第二个参数项目的测试，一个电源只能为一个待测集成电路提供驱动电压，对于第三个参数项目的测试，一个电源可同时为两个待测集成电路提供驱动电压。对于第一个参数项目，控制继电器(由测试机的后台服务器控制继电器)，使电源与对应两个待测集成电路均导通，6个继电器由同一个命令控制，即6个继电器完成相同操作，12个待测集成电路接通电源后，测试机同时对12个待测集成电路进行第一个参数项目的测试，并将测试结果发送给所述后台服务器，由所述后台服务器对测试结果进行统计，所述测试结果主要是指判断待测集成电路的第一个参数项目是否合格后得到的结论，即待测集成电路通过第一个参数项目的测试或者未通过第一个参数项目的测试，所述对测试结果进行统计主要是指统计待测集成电路第一个参数项目的通过情况，这里，对12个待测集成电路的第一个参数项目的测试结果进行整体统计，形成如表1所示的统计表
权利要求
1.一种源复用测试方法，其特征在于，测试机的一个电源采用继电器与至少两个待测集成电路连接，该源复用测试方法包括以下步骤控制继电器，使电源从其对应的至少两个待测集成电路中选择出一个待测集成电路， 并与该被选择的待测集成电路导通；对该被选择的待测集成电路进行本次参数项目的测试，并对测试结果进行统计；切换继电器，重复上述步骤，直至电源所对应的所有待测集成电路本次参数项目测试完毕。
2.如权利要求1所述的源复用测试方法，其特征在于，所述测试结果是指待测集成电路通过本次参数项目的测试或者未通过本次参数项目的测试。
3.如权利要求1所述的源复用测试方法，其特征在于，所述对测试结果进行统计是指统计待测集成电路本次参数项目的通过情况。
4.如权利要求1所述的源复用测试方法，其特征在于，将测试机的待测集成电路分批， 批数等于一个电源所对应的待测集成电路的数量，一个电源所对应的各个待测集成电路分别属于不同的批次。
5.如权利要求4中任一权利要求所述的源复用测试方法，其特征在于，在所述控制继电器，使电源从其对应的至少两个待测集成电路中选择出一个待测集成电路，并与该被选择的待测集成电路导通步骤之前，还包括对待测集成电路的上一参数项目的测试结果进行分批统计的步骤，其中，所述分批统计是指根据测试机的待测集成电路的分批情况，对各批待测集成电路的上一参数项目的测试结果分别进行统计。
6.如权利要求4 5中任一权利要求所述的源复用测试方法，其特征在于，在所述切换继电器，重复上述步骤，直至电源所对应的所有待测集成电路本次参数项目测试完毕步骤之后，还包括对所有待测集成电路的本次参数项目的测试结果进行整体统计的步骤。
全文摘要
本发明的源复用测试方法包括以下步骤控制继电器，使电源从其对应的至少两个待测集成电路中选择出一个待测集成电路，并与该被选择的待测集成电路导通；对该被选择的待测集成电路进行本次参数项目的测试，并对测试结果进行统计；切换继电器，重复上述步骤，直至电源所对应的所有待测集成电路本次参数项目测试完毕。本发明的源复用测试方法可提高测试机的利用率，从而提高测试工作的效率，节省测试时间。
文档编号G01R31/28GK102288898SQ20111012711
公开日2011年12月21日 申请日期2011年5月17日 优先权日2011年5月17日
发明者徐惠, 江鑫祯, 祁建华, 顾良波 申请人:上海华岭集成电路技术股份有限公司
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