专利名称：一种微电流检测装置的制作方法
技术领域：
—种微电流检测装置技术领域[0001 ] 本实用新型涉及微电流检测技术领域，特别涉及一种微电流检测装置。
背景技术：
[0002]在电力输送和应用过程中，经常需要对电流进行严格监控，目前对小电流的检测 的一个有效途径就是是通过光纤电流传感器，但是目前的光纤电流传感器灵敏度和稳定性 不可兼得，提高灵敏度要以牺牲稳定性为前提，成为该领域的难点之一。发明内容[0003]为了克服上述现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种微电流检测装 置，具有结构简单使用方便的特点。[0004]基于此，本实用新型采用的技术方案是:[0005]—种微电流检测装置,包括圆柱磁体I,在圆柱磁体I上与磁场方向垂直缠绕有光 栅2,光栅2上涂覆金属导电层,金属导电层在光栅2的入射光一端接电流输入端子4,金属 导电层在光栅2的出射光一端接电流输出端子5,光栅2的出射光一端接信号处理�？�3。[0006]与现有技术相比，本实用新型具有良好的稳定性和灵敏度，同时大幅降低了成本。
[0007]附图为本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
[0008]
以下结合附图和实施例对本实用新型进行更详尽的说明。[0009]如图所示，本实用新型为一种微电流检测装置，包括圆柱磁体1，在圆柱磁体I上 与磁场方向垂直缠绕有光栅2,光栅2上涂覆金属导电层,金属导电层在光栅2的入射光一 端接电流输入端子4,金属导电层在光栅2的出射光一端接电流输出端子5,光栅2的出射 光一端接信号处理模块3。[0010]本实用新型的工作过程是:[0011]将待测电流从电流输入端子4接入，从电流输出端子5接出，带有金属导电层的光 栅2既作为光载体，又作为电导体，通电后，光栅2受到磁场作用力发生形变，该形变会使其 反射波的峰值波长发生一定的位移，信号处理�？�3根据该位移量即可得到相应的待测电 流大小。
权利要求1.一种微电流检测装置，其特征在于，包括圆柱磁体(1)，在圆柱磁体(I)上与磁场方 向垂直缠绕有光栅(2),光栅(2)上涂覆金属导电层,金属导电层在光栅(2)的入射光一端 接电流输入端子(4 ),金属导电层在光栅(2 )的出射光一端接电流输出端子(5 ),光栅(2 )的 出射光一端接信号处理�？�(3)。
专利摘要一种微电流检测装置，包括圆柱磁体，在圆柱磁体上与磁场方向垂直缠绕有光栅，光栅上涂覆金属导电层，金属导电层在光栅的入射光一端接电流输入端子，金属导电层在光栅的出射光一端接电流输出端子，光栅的出射光一端接信号处理�？椋臼涤眯滦途哂辛己玫奈榷ㄐ院土槊舳龋贝蠓档土顺杀�。
文档编号G01R19/00GK202975112SQ201220584179
公开日2013年6月5日 申请日期2012年11月7日 优先权日2012年11月7日
发明者马达斌 申请人:马达斌
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