专利名称：精密测角装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于光学测量技术领域，涉及一种基于偏振光的精密测角装置，尤其涉及一种基于双光路信号处理及压控放大实现精密测角装置。
背景技术：
光学测角方法由于具有非接触、高准确度和高灵敏度的特点而倍受人们的重视，应用越来越广泛。光学测角法除众所周知的光学分度头法和多面棱体法外，常用的还有光电编码器法、自准直法、声光调制法以及激光干涉法等。典型的设备有码盘(光电或光学码盘)、多齿分度台等设备。在距离较远的条件下(例如超过lm)，采用这些设备进行高精度测量的实现成本和难度大大增加，因而，其应用受到限制。利用偏振光进行角度测量可以攻克这一技术难点，其利用光路中偏振元件的旋转引起偏振光光强、相位或频差的变化，并基于光的偏振面对旋转的敏感性，可以方便地测量与偏振光束垂直的角位移，具有精度高、速度快且作用距离远等优点，因而在航天器对接、军用系统高精度测量、采矿和隧道开掘、生物医学等领域有广阔的应用前景。利用偏振光，可以直接应用马吕斯定律检测两个偏振片透光轴之间的夹角，但测量精度不高，这是因为目前尚无高精度测量偏振面旋转角的仪器，所以，必须将角度信号转换为光强度信号再进行测量。同时，微小角度变化引起的光强度变化并不明显，如果直接用光强度信号作为角度信号的载体，利用光电转换器件将光强度信号转变为直流电信号，那么微小的角度变化就会湮没在噪声与电信号漂移之中而检测不到；且采用直接检测检偏器投射或反射光强方法测量方位角信息时，由于光电器件漂移、放大电路性能等影响，测量精度难以提高。
实用新型内容为了解决背景技术中存在的技术问题，本实用新型提供了一种可提高系统测角精度、测角速度快、灵敏度高以及作用距离远的精密测角装置。本实用新型的技术解决方案是本实用新型提供了一种精密测角装置，其特殊之处在于所述精密测角装置包括偏振光信号发射单元以及设置在偏振光信号发射单元出射光路上的信号检测单元；所述偏振光信号发射单元包括光源、准直扩束镜、起偏器以及磁光调制器；所述准直扩束镜、起偏器以及磁光调制器依次设置在经光源的出射光路上。上述磁光调制器包括磁旋光玻璃以及环绕设置在磁旋光玻璃周围的调制线圈。上述信号检测单兀包括偏振分光镜、第一聚光镜、第二聚光镜、第一光电转换器以及第二光电转换器；所述光源依次经过准直扩束镜、起偏器以及磁光调制器入射至检偏器即偏振分光镜；所述偏振分光镜将入射光分为第一分束光以及第二分束光；所述第一分束光以及第二分束光为线偏振光，偏振方向相互垂直，传播方向成一定夹角；所述第一聚光镜以及第一光电转换器依次设置在第一分束光的光路上；所述第二聚光镜以及第二光电转换器依次设置在第二分束光的光路上；所述偏振分光镜(检偏器)是渥拉斯顿棱镜或偏振分束器。上述精密测角装置还包括与信号检测单元电性相连的双光路信号处理单元。上述双光路信号处理单元包括第一通道、第一滤波器、放大器、第二通道、第二滤波器、压控放大器、和运算处理单元、差运算处理单元、第一A / D转换器、精密放大器、第二A / D转换器、第三A / D转换器、DSP (频谱分析模块、计算控制�？橐约笆荽砟？�)、D / A转换器以及数据处理计算机；所述第一通道通过第一滤波器与放大器相连；所述第二通道通过第二滤波器与压控放大器相连；所述放大器与压控放大器并联后依次接入和运算处理单元以及差运算处理单元；所述和运算处理单元依次通过第一 A / D转换器、频谱分析�？�、计算控制模块以及D / A转换器接入压控放大器；所述和运算处理单元通过第三A / D转换器及数据处理�？榻尤胧荽砑扑慊凰霾钤怂愦淼ピ来瓮ü芊糯笃�、第二A / D转换器及数据处理�？榻尤胧荽砑扑慊�。本实用新型的优点是本实用新型提供了一种精密测角装置，采用调制偏振光技术，具体采用磁光调制技术，将光强度变化的频率作为角度信号的载体，从而使直接测量强度信号变为测量频率信号，通过信号处理来实现高精度角度测量；同时，为消除两路信号的放大比例对测角结果的影响，提高测角精度，采用双光路信号处理，使两路信号的放大比例趋向一致，由于可以采用相关处理及长时间积分的方式进行信号分析，对实时性要求并不高，所以可以达到很高的分析精度，进而是角度测量的精度可以提高到10"之内。本实用新型具有测角速度快、灵敏度高以及作用距离远等优点。
图1是本实用新型所提供的精密测角装置的结构示意图；图2是本实用新型所采用的双光路信号处理单元的结构示意图；其中1-偏振光信号发射单元；2_信号检测单元；11_光源；12_准直扩束镜；13_起偏器；14-磁旋光玻璃；15-磁光调制器；21_偏振分光镜；22_第一聚光镜；23_第二聚光镜；24-第一光电转换器；25_第二光电转换器。
具体实施方式
参见图1，本实用新型提供了 一种精密测角装置，该精密测角装置包括偏振光信号发射单元以及设置在偏振光信号发射单元出射光路上的信号检测单元；偏振光信号发射单元包括光源、准直扩束镜、起偏器以及磁光调制器；准直扩束镜、起偏器以及磁光调制器依次设置在经光源的出射光路上。磁光调制器包括磁旋光玻璃以及环绕设置在磁旋光玻璃周围的调制线圈。信号检测单兀包括偏振分光镜(检偏器)、第一聚光镜、第二聚光镜、第一光电转换器以及第二光电转换器；光源依次经过准直扩束镜、起偏器以及磁光调制器入射至偏振分光镜；偏振分光镜将入射光分为偏振方向相互垂直、传播方向成一定夹角的线偏振第一分束光以及第二分束光；第一聚光镜以及第一光电转换器依次设置在第一分束光的光路上；第二聚光镜以及第二光电转换器依次设置在第二分束光的光路上。[0018]参见图2，精密测角装置还包括与信号检测单元电性相连的双光路信号处理单元，双光路信号处理单元包括第一通道、第一滤波器、放大器、第二通道、第二滤波器、压控放大器、和运算处理单元、差运算处理单元、第一 A / D转换器、精密放大器、第二 A / D转换器、第三A / D转换器、DSP (频谱分析模块、计算控制�？�、数据处理模块)、D / A转换器以及数据处理计算机；第一通道通过第一滤波器与放大器相连；第二通道通过第二滤波器与压控放大器相连；放大器与压控放大器并联后依次接入和运算处理单元以及差运算处理单元；和运算处理单元依次通过第一 A / D转换器、频谱分析�？�、计算控制�？橐约癉 / A转换器接入压控放大器；和运算处理单元通过第三A / D转换器及数据处理�？榻尤胧荽砑扑慊徊钤怂愦淼ピ来瓮ü芊糯笃鳌⒌� 二A / D转换器及数据处理�？榻尤胧荽砑扑慊�。本实用新型在具体工作时，偏振光信号发射单元I中光源11发出的光强为IO的光束经过准直扩束镜12，从起偏器13中出射的光束为偏振方向和起偏器13的光轴平行的线偏振光，通过磁光调制器15中的磁旋光玻璃14时,产生法拉第磁光效应,偏振光矢量信号转换为偏振面随时间变化的信号，实现了偏振光信号的磁光调制，经过信号检测单兀中偏振分光镜21,分开的两束光分别被第一聚光镜22、第二聚光镜23汇聚到第一光电转换器件24以及第二光电转换器件25，转换为电信号输出。通过对两路光进行信号处理及压控放大，提高了系统测角精度。起偏器13与X轴夹角为45°，磁光调制器15对磁旋光玻璃14外加交变磁�。捎诜ɡ谛вΓ咂窆馔ü殴獠Ａ�14时,偏振面发生旋转,旋转角Θ = QtlSin ω , Θ 0是交流磁光调制角幅度，ω为磁光调制频率。通过检偏器即偏振分光镜21分为两束偏振面互相垂直、传播方向成一定夹角的线偏振光，第一光电探测器24以及第二光电探测器25分别探测光强值。理论输出信号Ip I2为I1 = I0 sin2(^- / 4 + Θ +a)1. —/0[l + sin la + 2Θ0 cos la cos co1- Θ: sin la cos 2col]
1,I2 =I0-11 ^ — /0[1 - sin 2a - 2Θ{) cos 2a cos co1. + sin 2a cos 2ω ]
2α为检偏器与X轴之间的方位角，为消除光强(光源波动)对测量的影响，作除法运算
/ -八,F = —-1 = si η Ia + 2Θ{) cos 2a cos ω - sin 2a cos 2an
T1 +I2由于是根据检测两路光强信号的大小来解算方位角a的。实际中由于检偏器偏振分光镜对光能的吸收，以及经过光电转换后，两个光电转换器件的光谱特性、光电转换效率等的差异，以及信号处理电路损耗的不同，都会对两路信号强度产生影响，使得两路信号的放大比例不同，直接影响测量精度。为消除两路信号的放大比例对测角结果的影响，提高测角精度，采用双光路信号处理，基本方法是采用一个压控放大电路进行信号放大，使两路信号的放大比例趋向一致。压控放大网络的基本工作原理是采用数字信号处理器对加法信号进行频谱分析，检查是否含有调制频率及其倍频成分，根据分析结果输出一个相应的控制电压，使通道2信号的放大倍率和通道I相同。由于可以采用相关处理及长时间积分的方式进行信号分析，对实时性要求并不高，所以，可以达到很高的分析精度，进而是角度测量的精度可以提高到10"之内。
权利要求1.一种精密测角装置，其特征在于所述精密测角装置包括偏振光信号发射单元以及设置在偏振光信号发射单元出射光路上的信号检测单元；所述偏振光信号发射单元包括光源、准直扩束镜、起偏器以及磁光调制器；所述准直扩束镜、起偏器以及磁光调制器依次设置在经光源的出射光路上。
2.根据权利要求1所述的精密测角装置，其特征在于所述磁光调制器包括磁旋光玻璃以及环绕设置在磁旋光玻璃周围的调制线圈。
3.根据权利要求2所述的精密测角装置，其特征在于所述信号检测单元包括偏振分光镜、第一聚光镜、第二聚光镜、第一光电转换器以及第二光电转换器；所述光源依次经过准直扩束镜、起偏器以及磁光调制器入射至偏振分光镜；所述偏振分光镜将入射光分为第一分束光以及第二分束光；所述第一分束光以及第二分束光为偏振方向相互垂直、传播方向成一定夹角的线偏振光；所述第一聚光镜以及第一光电转换器依次设置在第一分束光的光路上；所述第二聚光镜以及第二光电转换器依次设置在第二分束光的光路上。
4.根据权利要求1或2或3所述的精密测角装置，其特征在于所述精密测角装置还包括与信号检测单元电性相连的双光路信号处理单元。
5.根据权利要求4所述的精密测角装置，其特征在于所述双光路信号处理单元包括第一通道、第一滤波器、放大器、第二通道、第二滤波器、压控放大器、和运算处理单元、差运算处理单元、第一 A / D转换器、精密放大器、第二 A / D转换器、第三A / D转换器、频谱分析�？椤⒓扑憧刂颇？�、D / A转换器、数据处理�？橐约笆荽砑扑慊凰龅谝煌ǖ劳ü谝宦瞬ㄆ饔敕糯笃飨嗔凰龅诙ǖ劳ü诙瞬ㄆ饔胙箍胤糯笃飨嗔凰龇糯笃饔胙箍胤糯笃鞑⒘笠来谓尤牒驮怂愦淼ピ约安钤怂愦淼ピ凰龊驮怂愦淼ピ来瓮ü谝� A / D转换器、频谱分析�？�、计算控制�？橐约癉 / A转换器接入压控放大器；所述和运算处理单元通过第三A / D转换器及数据处理模块接入数据处理计算机；所述差运算处理单元依次通过精密放大器、第二 A / D转换器及数据处理模块接入数据处理计算机。
专利摘要本实用新型涉及精密测角的装置，该装置包括偏振光信号发射单元以及设置在偏振光信号发射单元出射光路上的信号检测单元；偏振光信号发射单元包括光源、准直扩束镜、起偏器以及磁光调制器；准直扩束镜、起偏器以及磁光调制器依次设置在经光源的出射光路上。本实用新型提供了一种可提高系统测角精度、测角速度快、灵敏度高以及作用距离远的精密测角装置。
文档编号G01B11/26GK202836523SQ20122049467
公开日2013年3月27日 申请日期2012年9月26日 优先权日2012年9月26日
发明者吴易明, 陆卫国, 李春艳, 肖茂森, 王海霞 申请人:中国科学院西安光学精密机械研究所
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