专利名称：电阻测试仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种仪器，具体地说是涉及一种半导体器件电阻 测试仪。
背景技术：
在半导体生产过程中，需要对生产的半导体器件的性能进行检验， 测量其电阻是一项主要的指标，在现有的检验中所使用的是万用表， 操作工人需要双手拿表笔进行测量，由于半导体器件比缺薄�。� 拿住表笔又要测量很不方便，也容易产生误差电阻测试仪。 发明内容
本实用新型的目的就是针对上述存在的问题，提供一种操作方 便、测量准确、不易产生误差的。
本实用新型的是这样实现的电阻测试仪，包括测试板、电阻表、 测试触头和导线，其特征在于测试触头一端固定于测试板上，另一 端翘起，测试触头导线点连接电阻表；测试板上还具有固定半导体器 件的滑道。
本实用新型的有益效果是由于采取了以上结构，使得用这样的 电阻测试仪具有操作方便、劳动强度低、减少误差的优点。
图1是本实用新型电阻测试仪的结构示意图其中；1、测试板2、电阻表3、测试触头4、导线
5、滑道具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步的描述。
如图l所示电阻测试仪，包括测试板l、电阻表2、测试触头 3和导线4，其特征在于测试触头3 —端固定于测试板1上，另一 端翘起，测试触头3导线4连接电阻表2;测试板l上还具有固定半 导体器件的滑道5。
测量时，测试触头的翘起端接触半导体器件的要接触部位，半 导体器件可以在测试板上滑动。
为了大批测试，可以设置滑道5，使半导体器件位置固定，更准 确、方便、快捷。
权利要求1、电阻测试仪，包括测试板(1)、电阻表(2)、测试触头(3)和导线(4)，其特征在于测试触头(3)一端固定于测试板(1)上，另一端翘起，测试触头(3)导线(4)点连接电阻表(2)。
2、 根据权利要求1所述的电阻测试仪，其特征在于测试板(l) 上还具有固定半导体器件的滑道(5)。
专利摘要本实用新型涉及一种仪器，具体地说是涉及一种半导体器件电阻测试仪。电阻测试仪，包括测试板、电阻表、测试触头和导线，其特征在于测试触头一端固定于测试板上，另一端翘起，测试触头导线点连接电阻表；测试板上还具有固定半导体器件的滑道。由于采取了以上结构，使得用这样的电阻测试仪具有操作方便、劳动强度低、减少误差的优点。
文档编号G01R27/02GK201311454SQ20082022110
公开日2009年9月16日 申请日期2008年11月19日 优先权日2008年11月19日
发明者暖 宋, 张根清, 欧阳进民 申请人:河南久大电子电器有限公司
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