专利名称：深盲孔缺陷测量器的制作方法
技术领域：
深盲孔缺陷测量器 技术领域本测量器是用于测量机械构件上深盲孔孔壁缺陷的辅 助测量装置。
技术背景在机械零件上加工深盲孔，在盲孔内壁上会存在加工 的缺陷，由于盲孔较深，测量工具无法到达缺陷处，无法测出缺陷的 程度，只能靠各方面专家观察后，进行定性分析，确定零件的使用或 报废，这种定性分析往往会造成较大的浪费。
发明内容本发明创造的目的是提供一种提高对深盲孔内壁上的 缺陷测量精度的辅助测量装置的深盲孔缺陷测量器；本发明创造的目 的是通过下述的技术方案实现的；深盲孔缺陷测量器，其特征在于由 筒体、活塞、定位件构成，筒体制成管状，在管体壁上制出槽口，将 活塞安装在筒体内，在活塞的外端头处安装定位件。
本发明创造的优点由于筒体制成管状，其一端头可以直达盲孔 内壁上的缺陷处，将胶膜从筒体内推留在缺陷处，待胶膜固化后取出 胶膜，在胶膜表面留有缺陷相对应的凸凹状结构，测量出凸凹状结构 的最大长度或深度、再测出最大直径，将测得的数据提供给设计者进 行定量分析，该测量器解决了测量工具无法达到缺陷处，无法测量缺 陷的难题。
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图1是深盲孔缺陷测量器结构示意图。
具体实施方式
深盲孔缺陷测量器由筒体4、活塞2、定位件 1构成，筒体制成管状，在筒体壁上制出槽口 3，将活塞安装在筒体 内，在活塞的外端头处安装定位件；定位件可以固定在活塞一端头处， 也可以制成在活塞上可调整移动的结构，定位件可以适应深度不同的 盲孔定位用，同时可以作为手握的构件；当使用深盲孔缺陷测量器时， 将手调型加聚硅印膜搅拌型胶膜材料(Si Lagum Light胶膜材料 产地德国)按说明书将分别放置的胶液、固化剂按1: 1的比例从筒 体制出的槽口挤入筒体内，快速搅拌均匀，在光源照亮下将深盲孔缺 陷测量器平移送入到被测的深盲孔的缺陷处，推动活塞，将胶膜材料 推到缺陷处，将深盲孔缺陷测量器取出，待一个小时后，胶膜材料固 化完成，取出胶膜，对胶膜上形成的缺陷的凸凹状结构进行测量，可 心较准确的测出缺陷尺寸，供定量分析用。光源5，可以外设光源， 也可以安装在该测量器上。
权利要求1、深盲孔缺陷测量器，其特征在于由筒体、活塞、定位件构成，筒体制成管状，在管体壁上制出槽口，将活塞安装在筒体内，在活塞的外端头处安装定位件。
专利摘要深盲孔缺陷测量器，是测量机械构件上深盲孔孔壁缺陷的辅助测量装置，深盲孔缺陷测量器由筒体、活塞、定位件构成，筒体制成管状，在筒体壁上制出槽口，将活塞安装在筒体内，在活塞的外端头处安装定位件；其优点是测量工具的辅助测量装置，解决测量工具无法达到深盲孔内缺陷处，无法测出缺陷的程度，能实现对深盲孔缺陷的测量，为定量分析提供较准确的数据。
文档编号G01N19/00GK201177595SQ200820011368
公开日2009年1月7日 申请日期2008年2月29日 优先权日2008年2月29日
发明者熊颖波 申请人:沈阳飞机工业(集团)有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
