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专利名称：液晶盒厚测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及液晶显示技术领域，特别是涉及一种液晶盒厚测量装置。
技术背景·目前在手动测量液晶面板(即panel板)的厚度时，需要打开液晶盒的安全门在光学测量机台上进行测量，手动目视找寻液晶面板上的标记。这种测量方法安全性较差，并且目视寻找不是很精确；人进入机台带来大量的微尘，会降低机台内部的光学系统测量的精度和使用寿命。荧光笔中关键的紫外荧光油墨的原理是在油墨中加入具有紫外线激发的可见荧·光化(络)合物。通过吸收的光能，产生原子的能级跃迁，再释放吸收的额外能量。防伪特征是指在紫外光(波长为200nm 400nm)照射下发出红、黄、绿、蓝(波长为400nm 800nm)的可见光。此油墨有有色和无色之分，有长波(波长为365nm)和短波(波长为254nm)两种。荧光颜料是有机络合物，研磨细化，发光率高，通常是无色或浅白色，在紫外光照射下，方呈现出各种颜色的可见光。按激发光源的波长不同，又可分为短波紫外线激发荧光颜料和长波紫外线激发颜料。上述荧光笔的原理和特点。

实用新型内容(一)要解决的技术问题本实用新型要解决的技术问题是如何提高液晶盒厚测量过程中的安全性，并如何避免对测量光学元件的损坏。(二)技术方案为了解决上述技术问题，本实用新型提供的一种液晶盒厚测量装置，所述测量装置包括光学测量机台、UV LED灯和定位系统，所述UV LED灯和定位系统分别设于所述光学测量机台上，所述定位系统用于液晶盒测量点的定位。进一步地，所述定位系统包括第一摄像头、第二摄像头和驱动机构，所述第一摄像头和第二摄像头分别可转动地安装在所述UV LED灯的两侧，所述驱动机构用于驱动所述第一摄像头和第二摄像头的转动。进一步地，所述第一摄像头的视野范围为10cmX10cm。进一步地,所述第二摄像头的视野范围为lcmXlcm。进一步地,所述弟一摄像头和弟_■摄像头为感光摄像头。进一步地，所述驱动机构为电机或气缸或液压缸。进一步地，所述测量装置还包括水平调节机构，所述光学测量机台可移动地安装在所述水平调节机构上。进一步地，所述水平调节机构包括水平导轨，所述光学测量机台可移动地安装在所述水平导轨上。进一步地，所述水平导轨为磁悬浮导轨。[0016]进一步地，所述水平调节机构还包括支架，所述水平导轨设于所述支架上。(三)有益效果上述技术方案所提供的一种液晶盒厚测量装置，利用紫外荧光点可以在UV LED光的照射下发出波长荧光效应，且其光谱范围在液晶盒厚测量使用的光谱范围以外，这样可以确保不会影响到液晶盒厚的测量，可确保测量精度；且由于UV LED灯为冷光源，不会产生热量对液晶盒的热敏感机台造成影响。进一步地，采用大小视野双摄像头的定位系统，可确保液晶盒厚测量准确的同时，操作人员可以不必打开安全门进行寻找测量位置，降低人操作人员进入机台所带来的微尘，有效的提高设备的安全性和操作人员的安全；用紫外荧·光标记笔标记不会对液晶面板造成损坏。

图1是本实用新型实施例一液晶盒厚测量装置的结构示意图；图2是本实用新型实施例二液晶盒厚测量装置的结构示意图；图3是本实施例实施例二液晶盒厚测量装置的结构不意图。其中，1、光学测量机台；2、UV LED灯；31、第一摄像头；32、第二摄像头；41、水平导轨；42、支架。
具体实施方式
以下结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式
作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。实施例一如图1所示，本实用新型的一种液晶盒厚测量装置，该测量装置包括光学测量机台1、UV LED灯2和定位系统，UV LED灯2和定位系统分别设于光学测量机台I上，定位系统用于液晶盒测量点的定位。本实用新型在测量液晶盒厚时，利用紫外荧光标记笔对液晶盒基板进行标识，UVLED灯2用于补光，通过UV LED灯2进行照射产生荧光效应，并采用定位系统对液晶盒进行精确定位并测量其厚度，操作人员测量时不必打开液晶盒的安全门，不会对液晶面板造成损坏，降低操作人员进入机台所带来的微尘，可有效地提高设备的安全性和操作人员的安全。具体地，本实施例的定位系统包括第一摄像头31、第二摄像头32和驱动机构，第一摄像头31和第二摄像头32分别通过旋转轴可转动地安装在UV LED灯2的两侧，驱动机构与第一摄像头31和第二摄像头32连接，用于驱动第一摄像头31和第二摄像头32的转动，该驱动机构可采用电机或气缸或液压缸，其中，电机的控制精度最高。其中，第一摄像头31和弟_■摄像头32米用感光摄像头，可为CMOS摄像头或CCD摄像头或其它感光摄像头。具体地，第一摄像头31的视野范围为IOcmX IOcm,为大视野摄像头；第二摄像头32的视野范围为=IcmXlcm，为小视野摄像头。本实施例中利用大、小视野双摄像头的定位系统，可确保液晶盒测量点的精确定位。其中，第一摄像头31可由电机驱动在竖直方向上旋转180°，第二摄像头32可由电机驱动在竖直方向上旋转180°。[0030]实施例二如图2所示，本实施例与实施例一的区别在于测量装置还包括水平调节机构，光学测量机台I可移动地安装在该水平调节机构上。水平调节机构包括水平导轨41，光学测量机台可移动地安装在该水平导轨41上。优选地，该水平导轨41为磁悬浮导轨。上述技术方案所提供的一种液晶盒厚测量装置的具体工作过程为1、将要液晶盒的测量点用紫外荧光标记笔进行标定；2、打开UV LED灯2，当UV LED灯2光源照射到紫外荧光标记笔记位置，会发出特·定波长荧光，第一摄像头31和第二摄像头32会感光定位到标记位置进行测量定位；·3、电机驱动摄像头作位置调整，通过旋转轴实现摄像头180度的角度旋转，同时通过调节水平调节机构实现摄像头在水平导轨上的水平运动，调节好摄像头的测量位置后，将摄像头固定在液晶盒的测量轴上；4、米用弟一摄像头31粗对位手动搜寻标记，米用弟_■摄像头32细对位自动寻标记；5、操作时，首先用视野较大的第一摄像头31手动找到大概标记的位置，然后采用视野较小的第二摄像头32进行细对位，C⑶镜头扑捉标记位置；该双摄像头，第一摄像头31用来观察轴的运动，手动进行粗对位的条件，小视野的第二摄像头32进行细对位。实施例三如图3所示，本实施例与实施例二的区别在于水平调节机构还包括支架42，水平导轨41设于支架42上，可提高光学测量机构在水平导轨41上运动时的承载作用。本实用新型的液晶盒厚测量装置，利用紫外荧光点可以在UVLED光的照射下发出波长荧光效应，且其光谱范围在液晶盒厚测量使用的光谱范围以外，这样可以确保不会影响到液晶盒厚的测量，可确保测量精度；且由于UV LED灯为冷光源，不会产生热量对液晶盒的热敏感机台造成影响。进一步地，采用大小视野双摄像头的定位系统，可确保液晶盒厚测量准确的同时，操作人员可以不必打开安全门进行寻找测量位置，降低人操作人员进入机台所带来的微尘，有效的提高设备的安全性和操作人员的安全；用紫外荧光标记笔标记不会对液晶面板造成损坏。以上所述仅是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型技术原理的前提下，还可以做出若干改进和替换，这些改进和替换也应视为本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种液晶盒厚测量装置，其特征在于，所述测量装置包括光学测量机台、UV LED灯和定位系统，所述UV LED灯和定位系统分别设于所述光学测量机台上，所述定位系统用于液晶盒测量点的定位。
2.如权利要求1所述的液晶盒厚测量装置，其特征在于，所述定位系统包括第一摄像头、第二摄像头和驱动机构，所述第一摄像头和第二摄像头分别可转动地安装在所述UVLED灯的两侧，所述驱动机构用于驱动所述第一摄像头和第二摄像头的转动。
3.如权利要求2所述的液晶盒厚测量装置，其特征在于，所述第一摄像头的视野范围为IOcmX IOcm0
4.如权利要求2所述的液晶盒厚测量装置，其特征在于，所述第二摄像头的视野范围为IcmX 1cm。
5.如权利要求2所述的液晶盒厚测量装置，其特征在于，所述第一摄像头和第二摄像头为感光摄像头。
6.如权利要求2所述的液晶盒厚测量装置，其特征在于，所述驱动机构为电机或气缸或液压缸。
7.如权利要求1所述的液晶盒厚测量装置，其特征在于，所述测量装置还包括水平调节机构，所述光学测量机台可移动地安装在所述水平调节机构上。
8.如权利要求7所述的液晶盒厚测量装置，其特征在于，所述水平调节机构包括水平导轨，所述光学测量机台可移动地安装在所述水平导轨上。
9.如权利要求8所述的液晶盒厚测量装置，其特征在于，所述水平导轨为磁悬浮导轨。
10.如权利要求8所述的液晶盒厚测量装置，其特征在于，所述水平调节机构还包括支架，所述水平导轨设于所述支架上。
专利摘要本实用新型涉及液晶显示技术，公开了一种液晶盒厚测量装置，该装置包括光学测量机台、UV LED灯和定位系统，所述UV LED灯和定位系统分别设于所述光学测量机台上，所述定位系统用于液晶盒测量点的定位。本实用新型利用紫外荧光点可以在UV LED光的照射下发出波长荧光效应，且其光谱范围在液晶盒厚测量使用的光谱范围以外，这样可以确保不会影响到液晶盒厚的测量，可确保测量精度；且由于UV LED灯为冷光源，不会产生热量对液晶盒的热敏感机台造成影响。进一步地，采用大小视野双摄像头的定位系统，可确保液晶盒厚测量准确的同时，有效的提高设备的安全性和操作人员的安全。
文档编号G01B11/06GK202854449SQ201220595409
公开日2013年4月3日 申请日期2012年11月12日 优先权日2012年11月12日
发明者井杨坤, 刘庆, 王允杰, 郁志忠, 吴为民 申请人:京东方科技集团股份有限公司, 合肥京东方光电科技有限公司