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专利名称：一种失效分析方法
技术领域：
本发明涉及一种失效分析方法。
技术背景
产品丧失规定的功能称为失效，判断失效的模式，查找失效原因和机理的对策的技术活动和管理活动称为失效分析。在常见的电路失效分析案例中，众多的失效案例面临着失效原因的证明困境，即如何运用失效分析中的工作成果来说服他人，导致了失效分析工作的失败，从而降低了失效原因判定的有效性。
因此，如何提高失效分析原因判定的有效性，提高失效分析工作的成功率，成为失效分析领域亟待解决的问题
发明内容
为解决现有失效分析工作，原因判定的有效性差，失效分析工作的成功率低的问题，本发明提供以下技术方案一种失效分析方法，该方法包括以下步骤 A、接收良品样品和不良品样品；B、对不良品的失效背景和失效现象进行归纳和总结；C、对不良品进行前期无损分析和失效定位汇总，失效机理预计，确定比对特征；D、结合预计失效机理和客户要求，设计分析方案；E、使用设计的分析方案分别对良品和不良品进行分析，分别确定比对特征的有无；F、根据良品和不良品比对特征的有无，确定出物证特征，判定出不良品的具体失效原因。
作为本发明的一种优选方案，所述失效分析方法还包括步骤G 进行模拟实验，验证失效机理。
作为本发明的另一种优选方案，所述步骤A中接收的良品样品数量和不良品样品数量都不少于3个。
作为本发明的又一种优选方案，所述步骤E中良品和不良品比对特征的有无状态包括T1 全部不良品都有该比对特征，全部良品都没有该比对特征；T2 部分不良品有该比对特征，全部良品都没有该比对特征；T3 全部不良品都有该比对特征，全部良品都有该比对特征；T4 部分不良品有该比对特征，全部良品都有该比对特征；T5 部分不良品有该比对特征，部分良品有该比对特征；T6 全部不良品有该比对特征，部分良品有该比对特征。
作为本发明的再一种优选方案，所述步骤E中，判断出比对特征有无的状态为Tl， 则可以直接进行步骤F。
作为本发明的再一种优选方案，所述步骤E中，判断出比对特征有无的状态为T2， 则需要优化分析手段，再次进行分析，如果再次分析判断出比对特征有无的状态为Tl，则可以直接进行步骤F，如果再次分析判断出比对特征有无的状态为T4，则按照判断出比对特征有无的状态为T4结果继续进行分析。
作为本发明的再一种优选方案，所述步骤E中，判断出比对特征有无的状态为T3， 则需要确定新的比对特征，设计新的分析方案，重复步骤E。
作为本发明的再一种优选方案，所述步骤E中，判断出比对特征有无的状态为T4， 则将不良品分为两部分，有比对特征的不良品为一部分，与全部良品共同构成状态Tl，可直接进行步骤F;没有比对特征的不良品为一部分，则构成状态T3，需要确定新的比对特征， 设计新的分析方案，重复步骤E。
作为本发明的再一种优选方案，所述步骤E中，判断出比对特征的有无状态为T5 或者T6，则需要确定新的比对特征，设计新的设计方案，重复步骤E。
作为本发明的再一种优选方案，所述失效分析方法还包括步骤H:给出分析结论及建议。
本发明有如下优点本发明方法通过将法学领域中的“同一认定原理”、“相对性原理”、“物质性原理”和“信息转移原理”运用到失效分析工作中，把针对不同失效模式的失效分析流程标准化，运用法学原理来整合失效分析全过程，从而能够在各项零散的证据之间实现相互验证，相对于其他的零散服务模式，对集成电路进行完整的失效分析，得出具有更强大的准确性和说服力的结论。


图1本发明方法分析步骤流程图。
具体实施方式
下面对该工艺实施例作详细阐述，以使本发明的优点和特征能更易于被本领域技术人员理解，从而对本发明的保护范围作出更为清楚明确的界定。
如图1所示实施步骤，本实施方式共提供两组实施例。
实施例1 某单位需要对出现自动拨号问题的手机进行失效分析，分别提供个6不良品样品(编号为Fl F6)和5个参考样品(编号为Rl R5)，其不良品样品中，R6的现象为一直自动拨号，即手机开机后6、7、8号键自动拨号，顺序不确定，频率不确定，直到手机没电自动关机，不良品样品Fl F5在检测时，偶尔出现6、7、8号键自动拨号现象。
进行前期无损检测和失效定位。将不良品样品置于85°C的环境中烘烤45分钟， 冷却至室温，手机加电源开机后，自动拨号现象仍然存在，由此说明自动拨号的因素仍然存在。将不良品样品手机外壳去掉，剥离手机按键键盘，加电源开机后，自动拨号的现象仍然存在，排除了手机按键键盘引发失效。由于自动拨号为6、7、8号键，而非单个的号码，通过手机的电路原理图可知，6、7、8号键有一个公共节点KPD_R3，由此推测，导致自动拨号的信号应该在6、7、8号键的公共节点KPD_R3上。
在开机后，用示波器测量不良品样品KPD_R3上的波形，发现KPD_R3上有异常信号，其异常信号受到邻近的R366/D15上的信号影响，二者出现的时间和频率十分相似；而对比良品手机，KPD_R3上与邻近的R366/D15没有这种相互影响，公共节点KPD_R3上不会出现这种异常信号。由此说明不良品手机R366/D15上的信号与KPD_R3信号有相互影响， 即对于自动拨号类的不良品手机，一旦开机，R366/D15就会产生信号，此时KPD_R3会同时产生信号，使KPD_R3上的信号由高电平(3V左右)变为低电平，相当于6、7、8号键产生自动拨号。
针对上述电学分析，对R366/D15与公共节点KPD_R3间进行电阻测量，结果如表1， 出现一直自动拨号手机F6的R366/D15与公共节点KPD_R3间电阻值比良品手机同一位置的电阻值低很多。
表1 R366/D15与公共节点KPD_R3间的电阻
权利要求
1.一种失效分析方法，其特征在于该方法包括以下步骤 A、接收良品样品和不良品样品；B、对不良品的失效背景和失效现象进行归纳和总结；C、对不良品进行前期无损分析和失效定位汇总，失效机理预计，确定比对特征；D、结合预计失效机理和客户要求，设计分析方案；E、使用设计的分析方案分别对良品和不良品进行分析，分别确定比对特征的有无；F、根据良品和不良品比对特征的有无，确定出物证特征，判定出不良品的具体失效原因，得出失效机理。
2.根据权利要求1所述的一种失效分析方法，其特征在于所述失效分析方法还包括步骤G 进行模拟实验，验证失效机理。
3.根据权利要求1所述的一种失效分析方法，其特征在于所述步骤A中接收的良品样品数量和不良品样品数量都不少于3个。
4.根据权利要求1所述的一种失效分析方法，其特征在于所述步骤E中良品和不良品比对特征的有无状态包括T1 全部不良品都有该比对特征，全部良品都没有该比对特征；T2 部分不良品有该比对特征，全部良品都没有该比对特征；T3 全部不良品都有该比对特征，全部良品都有该比对特征；T4 部分不良品有该比对特征，全部良品都有该比对特征；T5 部分不良品有该比对特征，部分良品有该比对特征；T6 全部不良品有该比对特征， 部分良品有该比对特征。
5.根据权利要求4所述的一种失效分析方法，其特征在于所述步骤E中，判断出比对特征有无的状态为Tl，则可以直接进行步骤F。
6.根据权利要求4所述的一种失效分析方法，其特征在于所述步骤E中，判断出比对特征有无的状态为T2，则需要优化分析手段，再次进行分析，如果再次分析判断出比对特征有无的状态为Tl，则可以直接进行步骤F，如果再次分析判断出比对特征有无的状态为T4， 则按照判断出比对特征有无的状态为T4结果继续进行分析。
7.根据权利要求4所述的一种失效分析方法，其特征在于所述步骤E中，判断出比对特征有无的状态为T3，则需要确定新的比对特征，设计新的分析方案，重复步骤E。
8.根据权利要求4所述的一种失效分析方法，其特征在于所述步骤E中，判断出比对特征有无的状态为T4，则将不良品分为两部分，有比对特征的不良品为一部分，与全部良品共同构成状态Tl，可直接进行步骤F;没有比对特征的不良品为一部分，则构成状态T3，需要确定新的比对特征，设计新的分析方案，重复步骤E。
9.根据权利要求4所述的一种失效分析方法，其特征在于所述步骤E中，判断出比对特征的有无状态为T5或者T6，则需要确定新的比对特征，设计新的设计方案，重复步骤E。
10.根据权利要求2所述的一种失效分析方法，其特征在于所述失效分析方法还包括步骤H 给出分析结论及建议。
全文摘要
本发明涉及失效分析领域。本发明提供了一种失效分析方法，包括以下步骤A、接收良品样品和不良品样品；B、对不良品的失效背景和失效现象进行归纳和总结；C、对不良品进行前期无损分析和失效定位汇总，确定比对特征；D、设计分析方案；E、使用设计的分析方案进行分析，分别确定比对特征的有无；F、根据良品和不良品比对特征的有无，确定出物证特征，判定出不良品的具体失效原因。本发明方法通过将法学领域中的“同一认定原理”、“相对性原理”、“物质性原理”和“信息转移原理”运用到失效分析工作中，运用法学原理来整合失效分析全过程，从而能够在各项零散的证据之间实现相互验证，得出具有更强大的准确性和说服力的结论。
文档编号G01R31/26GK102495309SQ20111038684
公开日2012年6月13日 申请日期2011年11月29日 优先权日2011年11月29日
发明者刘学森 申请人:苏州华碧微科检测技术有限公司