专利名称：对主机进行振动测试的测量系统及其方法
技术领域：
本发明涉及ー种振动测试的系统与相关方法，尤其涉及一种对单一主机进行振动测试的系统及其相关方法。
背景技术：
对ー主机(服务器)进行振动测试的传统方法是将多个主机安装于ー机柜内，且该机柜通过一载台设置于ー测试平台上，据此进行振动测试。举例来说，传统振动测试的流程为一信号采集器(data acquisition device)输出ー初始功率频谱密度(PowerSpectrum Density, PSD)至该测试平台，以使该测试平台依据该初始功率频谱密度产生振动，接着将ー加速计(accelerometer)安装于该测试平台上,且该加速计将测量所得的參数值，例如一加速度值，传输至该信号采集器。最后该信号采集器可通过ー运算处理器比较 该參数值与该初始功率频谱密度，并通过分析该參数值与该初始功率频谱密度的差异产生反�。沟酶貌馐云教ㄋ恼穸煞细贸跏脊β势灯酌芏龋宕朔治龈弥骰诟贸跏脊β势灯酌芏鹊恼穸德氏率欠穹瞎娣吨�。然而传统的振动测试对机柜与多个主机同时进行振动测量，如此ー来便造成測量成本过高且测试时程冗长，故需要设计ー套新式的振动测量方法以提高效率、加快测试时程以有效降低測量成本。
发明内容
本发明提供一种对单一主机进行振动测试的系统及其相关方法，以解决上述的问题。本发明公开ー种对ー主机进行振动测试的方法，其包含有一信号米集器输出一初始功率频谱密度至一测试平台，以使该测试平台依据该初始功率频谱密度产生振动，其中该测试平台承载ー支架，且ー主机架设于该支架上；安装一第一加速计于该支架上；依据该第一加速计测量所得的数据产生一第一功率频谱密度；安装一第二加速计于该测试平台上；依据该第二加速计测量所得的数据产生一第二功率频谱密度；以及该信号采集器依据该第一功率频谱密度与该第二功率频谱密度以另执行单主机振动测试。本发明还公开该方法还包含有安装一第三加速计于该主机上；以及依据该第三加速计测量所得的数据输产生一第三功率频谱密度。本发明还公开该第三功率频谱密度为该第一功率频谱密度与该第二功率频谱密度的函数。本发明还公开依据该第一加速计将测量所得的数据产生该第一功率频谱密度包含有该第一加速计将测量所得的一第一參数值输出至该信号采集器；以及ー运算器自该信号采集器读取该第一參数值，以将其转换成该第一功率频谱密度。本发明还公开该运算器自该信号采集器读取该第一參数值以将其转换成该第一功率频谱密度包含有该运算器分析该初始功率频谱密度的一初始频率区间；该运算器依据该第一參数值输出ー频谱，且将该频谱依据该初始频率区间切分为多个次区间；该运算器将各次区间的面积除以各次区间的频带宽以得出多个參数；该运算器计算各次区间的ー中心频率；以及该运算器依据该多个參数与多个次区间的各中心频率产生该第一功率频谱
山I又O本发明还公开该信号采集器依据该第一功率频谱密度与该第二功率频谱密度以另执行单主机振动测试包含有安装该主机于一治具上，且将该治具置于该测试平台；安装一主机用加速计于该主机上；该信号采集器输出该第一功率频谱密度至该治具，以使该治具依据该第一功率频谱密度产生振动；该信号采集器输出该第二功率频谱密度至该测试平台，以使该测试平台依据该第二功率频谱密度产生振动；依据该主机用加速计测量所得的数据产生一验证用功率频谱密度；比较该验证用功率频谱密度与该第三功率频谱密度；以及依据该验证用功率频谱密度与该第三功率频谱密度的比较结果，产生一主机测试用功率频谱密度。本发明还公开比较该验证用功率频谱密度与该第三功率频谱密度包含有当该验证用功率频谱密度大于或等于该第三功率频谱密度吋，该验证用功率频谱密度作为该主机 测试用功率频谱密度。本发明还公开比较该验证用功率频谱密度与该第三功率频谱密度包含有当该验证用功率频谱密度小于该第三功率频谱密度时，对该验证用功率频谱密度进行增益；依据该增益后的验证用功率频谱密度，调整该第一功率频谱密度与该第二功率频谱密度；以及比较该增益后的验证用功率频谱密度与该第三功率频谱密度。本发明还公开ー种对ー主机进行振动测试的測量系统，其包含有一第一加速计，该第一加速计安装于一治具上，用以测量该治具的振动频率；一第二加速计，该第二加速计安装于ー测试平台上，用以测量该测试平台的振动频率，其中该治具设置于该测试平台上；一第三加速计，该第三加速计安装于ー主机上，用以测量该主机的振动频率，且该主机架设于该治具上；一信号采集器，其耦接于该第一加速计、该第二加速计与该第三加速计，该信号采集器用以分别输出ー第一功率频谱密度与一第二功率频谱密度至该治具与该测试平台；ー运算器，其电连接于该信号采集器，该运算器用来控制该信号采集器分别依据该第一加速计与该第二加速计测量所得的数据驱动该治具与该测试平台，且该运算器还用来比较该第三加速计测量所得的一第三功率频谱密度与一验证用功率频谱密度，并依据该比较结果执行一单主机振动测试。本发明可对单ー主机进行振动测量，且通过分析与比较相应的功率频谱密度，本发明的測量系统可正确地模拟出与多机系统振动测试(机柜与多台主机)具有相同可靠度的情境以供测试，也就是说可仅单独针对单一主机进行振动测量，而模拟出该单ー主机与其他主机共同架设于支架且设置于测试平台上的振动条件，如此ー来便无须再进行繁琐且耗费人力的机台架设动作。因此，本发明的对单ー主机进行振动测量的測量系统及其相关方法可有效地简化测试设备与缩短测试时程，故具有高效率及低成本的优点。
图I与图2分别为本发明实施例的測量系统于不同测试阶段的示意图。图3为本发明实施例的振动测试方法的第一阶段的流程图。图4为本发明实施例的函数转换方法的流程图。
图5为本发明实施例的振动测试方法的第二阶段的流程图。主要元件符号说明10 测量系统12 测试平台14 支架16 主机18 治具20 第一加速计22 第二加速计24 第三加速计26 信号采集器28 运算器步骤100、102、104、106、108、110、112、114、116 步骤200、202、204、206、208步骤300、302、304、306、308、310、312、314、316、318
具体实施例方式请參阅图I与图2，图I与图2分别为本发明实施例的一測量系统10于不同测试阶段的示意图。測量系统10首先用来对ー參考装置(多机型装置)进行振动测试以取得相关參数，并依据所取得的振动參数对ー待测装置(单机装置)进行振动测试，以使该单机测试可具有与多机测试相同或更佳的可靠度。该參考装置可包含有一测试平台12，一支架14，其安装于测试平台12上，以及多个主机16，其同时架设干支架14上。该待测装置可由测试平台12、単一主机16与一治具18所组成，其中测试平台12用来承载治具18，且主机16架设于治具18上。测量系统10包含有一第一加速计20、一第二加速计22、一第三加速计24、一信号采集器26，其耦接于第一加速计20、第二加速计22与第三加速计24，以及ー运算器28，其电连接于信号采集器26。当測量系统10对该參考装置进行振动测试吋，第一加速计20安装干支架14上，用以测量支架14的振动频率；第二加速计22安装于测试平台12上，用以测量测试平台12的振动频率；第三加速计24安装于主机16上，用以测量主机16的振动频率；信号采集器26用来输出ー初始振动频率至测试平台12，并接收第一加速计20、第二加速计22与第三加速计24測量所得的參数值；运算器28用来读取各加速计测量所得的一第一參数值、一第二參数值与一第三參数值，并将其转换成相对应的功率频谱密度(一第一功率频谱密度、一第二功率频谱密度与一第三功率频谱密度)。接着，測量系统10可依据前述功率频谱密度，对该待测装置进行振动测试，以取得单机测试所需的參数。在进行单机测试的前置作业方面，第一加速计20安装于治具18上，用以测量治具18的振动频率；第二加速计22安装于测试平台12上，用以测量测试平台12的振动频率；第三加速计24安装于主机16上，用以测量主机16的振动频率；信号采集器26用来分别输出该第一功率频谱密度与该第二功率频谱密度至治具18与测试平台12，并可选择性利用第一加速计20与第二加速计22測量所得的数据产生反�。匀繁Ｖ尉�18与测试平台12依据所输入的相对应功率频谱密度产生振动；信号采集器26还用来接收第三加速计24測量所得的一验证用功率频谱密度，且将该第三功率频谱密度与该验证用功率频谱密度进行分析比较，藉此获得符合设计规范的验证用功率频谱密度，用以执行ー单主机振动测试。请參阅图3，图3为本发明实施例的进行振动测试的方法的第一阶段的流程图。第一阶段的流程对同时设置有多个主机16的支架14进行振动测试，以取得所需參数。该方法包含有步骤100 :安装多个主机16于支架14上，且将支架14设置于测试平台12上。步骤102 :信号采集器26输出该初始功率频谱密度至测试平台12。步骤104 :安装第二加速计22于测试平台12，且第二加速计22将测量所得的该第ニ參数值输出至信号采集器26。步骤106 :运算器28自信号采集器26读取该第二參数值，以将其转换成该第二功率频谱密度。步骤108 :运算器28比较该初始功率频谱密度与该第二功率频谱密度的差异产生反�。宕丝刂菩藕挪杉�26以符合该初始功率频谱密度的模式驱动测试平台12产生振动。 步骤110 :安装第一加速计20干支架14上，且将测量所得的该第一參数值输出至信号米集器26。步骤112 :运算器28自信号采集器26读取该第一參数值，以将其转换成该第一功率频谱密度。步骤114 :安装第三加速计24于主机16上，且将测量所得的该第三參数值输出至信号米集器26。步骤116 :运算器28自信号采集器26读取该第三參数值，以将其转换成该第三功率频谱密度，其中该第三功率频谱密度可为该第一功率频谱密度与该第二功率频谱密度的函数。请參阅图4，图4为本发明实施例的函数转换方法的流程图。该函数转换方法用来将參数值转换成功率频谱密度，如步骤112 (或步骤106与步骤116)，其包含有步骤200 :运算器28分析该初始功率频谱密度的一初始频率区间。步骤202 :运算器28依据该第一參数值输出ー频谱，且将该频谱依据该初始频率区间切分为多个次区间。步骤204 :运算器28将各次区间的面积除以各次区间的频带宽以得出多个參数。步骤206 :运算器28计算各次区间的一中心频率。步骤208 :运算器28依据该多个參数与该多个次区间的各中心频率，产生该第一功率频谱密度。请參阅图5，图5为本发明实施例的进行振动测试的方法的第二阶段的流程图。第ニ阶段的流程系利用第一阶段流程所取得參数，对仅设置有单个主机16的治具18进行振动测试。该方法包含有步骤300 :安装单ー主机16于治具18上，且将治具18设置于测试平台12上。步骤302 :安装主机用加速计(可为第三加速计24)于主机16上。步骤304 :信号采集器26分别输出该第一功率频谱密度与该第二功率频谱密度至治具18与测试平台12，以使治具12与测试平台12分别依据该第一功率频谱密度与该第二功率频谱密度产生振动。步骤306 :主机用加速计(第三加速计24)将测量所得的參数值输出至信号采集器26。
步骤308 :运算器28自信号采集器26读取步骤306測量所得的该參数值，以将其转换成一验证用功率频谱密度。步骤310 :运算器28比较该验证用功率频谱密度与该第三功率频谱密度，当该验证用功率频谱密度大于或等于该第三功率频谱密度时，执行步骤312 ;当该验证用功率频谱密度小于该第三功率频谱密度时，执行步骤314。步骤312 :信号采集器26使用该验证用功率频谱密度以及该第一功率频谱密度与该第二功率频谱密度作为该主机测试用功率频谱密度，然后执行步骤318。步骤314 :运算器28对该验证用功率频谱密度进行增益，接着执行步骤316。步骤316 :运算器28依据该增益后的验证用功率频谱密度，相应地调整该第一功率频谱密度与该第二功率频谱密度，接着执行步骤310。步骤318:结束。 在此针对上述步骤进行详细说明。在振动测试的第一阶段中，是将第一加速计20、第二加速计22与第三加速计24分别设置于支架14、测试平台12与主机16上。首先，第二加速计22将测量所得的该第二參数值输出至信号采集器26，接着运算器28自信号采集器26读取该第二參数值且将其转换成该第二功率频谱密度。运算器28可用来比较该初始功率频谱密度与该第二功率频谱密度的差异以产生反�。逡匀繁２馐云教�12可以符合该初始功率频谱密度的模式产生振动。当完成前述步骤后，第一加速计20、第二加速计22与第三加速计24分别将测量所得的该第一參数值、该第二參数值与该第三參数值输出至信号采集器26，以使运算器28可自信号采集器26读取该參数值，而将其转换成相对应功率频谱密度并加以记录。以第一加速计20为例，运算器28先分析该初始功率频谱密度的该初始频率区间，其区间值可任意选择。接着运算器28将该第一參数值输出成该频谱图，例如以每赫兹的加速度平方值的格式输出ー加速度图，并将该频谱图依据该初始频率区间切分为多个次区间。运算器28计算出该频谱图的各次区间的面积后，再将该面积值除上各次区间的频带宽，藉以得出该多个參数。此外，运算器28计算各次区间的该中心频率，并套用该多个參数与多个次区间的各中心频率而产生该第一功率频谱密度。由干支架14与主机16安装于测试平台12上，故该第三功率频谱密度与该第一功率频谱密度以及该第二功率频谱密度为正相关，意即该第三功率频谱密度可为该第一功率频谱密度与该第二功率频谱密度的函数。因此测量系统10可利用该第一功率频谱密度、该第二功率频谱密度与该第三功率频谱密度执行振动测试的第二阶段。在振动测试的第二阶段中，第一加速计20、第二加速计22与第三加速计24(主机用加速计)分别设置于治具18、测试平台12与主机16上。信号采集器26输出该第一功率频谱密度与该第二功率频谱密度至治具18与测试平台12，以使治具12与测试平台12可依据该第一功率频谱密度与该第二功率频谱密度产生振动。接着第三加速计24将测量所得的參数值输出至信号采集器26，运算器28自信号采集器26读取该參数值，以将其转换成一验证用功率频谱密度。由于该參考装置与该待测装置的差异为承载主机16于测试平台12的ー载具的结构差异，因此测量系统10可利用运算器28比较该验证用功率频谱密度与该第三功率频谱密度，只要该验证用功率频谱密度大于该第三功率频谱密度，即表示该验证用功率频谱密度，以及与该验证用功率频谱密度正相关而相对调整的该第一功率频谱密度与该第二功率频谱密度可应用于该待测装置(测试平台12、主机16与治具18)，藉以获得相较该參考装置具有相等或更佳的可靠度。由此可知，当该验证用功率频谱密度大于该第三功率频谱密度时，信号采集器26可直接使用该验证用功率频谱密度以及该第一功率频谱密度与该第二功率频谱密度于振动测量的第二阶段作为该主机测试用功率频谱密度。反之若当该验证用功率频谱密度小于该第三功率频谱密度时，运算器28需对该验证用功率频谱密度逐步地进行增益，例如将该验证用功率频谱密度乘上I. 1，直至増益后的该验证用功率频谱密度经比较后大于该第三功率频谱密度，此时该第一功率频谱密度与该第二功率频谱密度可依据前述的正相关函数作相应调整，故该增益后的验证用功率频谱密度，以及经相应调整的该第一功率频谱密度与该第二功率频谱密度即可用来于振动测量的第二阶段作为该主机测试用功率频谱密度。综上所述，在振动测量的第一阶段中，由于功率频谱密度会随着传递路径的不同而有所改变，故当信号采集器输出该初始功率频谱密度(通过反馈而相等于该第二功率频谱密度)至测试平台时，支架以及主机所反应出来的功率频谱密度会与该初始功率频谱密 度有所不同，而分别呈现为该第一功率频谱密度与该第三功率频谱密度，且该第三功率频谱密度与该第一功率频谱密度以及该第二功率频谱密度为正相关，意即该初始功率频谱密度(该第二功率频谱密度)加大时，该第一功率频谱密度与该第三功率频谱密度会相应地放大；而当该初始功率频谱密度(该第二功率频谱密度)减弱时，该第一功率频谱密度与该第三功率频谱密度会相应地递减，因此测量系统可在振动测量的第一阶段中取得该第三功率频谱密度与该第一功率频谱密度以及该第二功率频谱密度间的函数关系式。接着，为了简化后续振动测试，測量系统还用来于振动测量的第二阶段取得单主机振动测试的函式參数。该待测装置是将安装有単一主机的治具置放在测试平台上。信号采集器分别输出该第一功率频谱密度与该第二功率频谱密度至治具与测试平台，用以模拟该參考装置(支架与测试平台)的振动情境，并同时测量主机所反应出来的功率频谱密度(该验证用功率频谱密度)。最后，通过比较该验证用功率频谱密度(于振动测量的第二阶段的主机上測量所得)与该第三功率频谱密度(于振动测量的第一阶段的主机上測量所得)的大�。磁卸蠝y量系统是否可使用在第一阶段所取得的该第一功率频谱密度以及该第二功率频谱密度进行后续的单机振动测试。如果该验证用功率频谱密度经比较后大于该第三，表示于第一阶段取得的该第一功率频谱密度以及该第二功率频谱密度可直接用来进行单机振动测试；反之若该验证用功率频谱密度经比较后小于该第三功率频谱密度，即表示主机在第二阶段于该验证用功率频谱密度的情境下无法达致与第一阶段相同的可靠度，故需对该验证用功率频谱密度进行增益，直至该增益后的验证用功率频谱密度大于该第三功率频谱密度，同时间第一阶段所取得的该第一功率频谱密度以及该第二功率频谱密度亦需作相应调整(一般来说，都是放大其值)，以使主机在第二阶段可利用该增益后的验证用功率频谱密度，以及经相应调整的该第一功率频谱密度以及该第二功率频谱密度的情境下达致与振动测量的第一阶段相同或更佳的可靠度，而达到初始设计的测试验证功效。相较于先前技术，本发明可对单ー主机进行振动测量，且通过分析与比较相应的功率频谱密度，本发明的測量系统可正确地模拟出与多机系统振动测试(机柜与多台主机)具有相同可靠度的情境以供测试，也就是说可仅单独针对单一主机进行振动测量，而模拟出该单ー主机与其他主机共同架设于支架且设置于测试平台上的振动条件，如此ー来便无须再进行繁琐且耗费人力的机台架设动作。因此，本发明的对单ー主机进行振动测量 的測量系统及其相关方法可有效地简化测试设备与缩短测试时程，故具有高效率及低成本的优点。以上所述仅为本发明的优选实施例，凡依本发明权利要求书所做的均等变化与修饰，皆应属本发明的涵盖范围。
权利要求
1.一种对一主机进行振动测试的方法，该主机架设于一支架上，该支架设置于一测试平台，且一第一加速计、一第二加速计与一第三加速计分别安装于该支架、该测试平台与该主机上，该方法包含有 一信号采集器输出一初始功率频谱密度至该测试平台，以使该测试平台依据该初始功率频谱密度产生振动； 依据该支架上的该第一加速计测量所得的数据产生一第一功率频谱密度； 依据该测试平台上的该第二加速计测量所得的数据产生一第二功率频谱密度；以及该信号采集器依据该第一功率频谱密度与该第二功率频谱密度以另执行单主机振动测试。
2.如权利要求I所述的方法，其还包含有 依据该主机上的该第三加速计测量所得的数据输产生一第三功率频谱密度。
3.如权利要求2所述的方法，其中该第三功率频谱密度为该第一功率频谱密度与该第二功率频谱密度的函数。
4.如权利要求I所述的方法，其中依据该第一加速计将测量所得的数据产生该第一功率频谱密度包含有 该第一加速计将测量所得的一第一参数值输出至该信号采集器；以及 一运算器自该信号采集器读取该第一参数值，以将其转换成该第一功率频谱密度。
5.如权利要求4所述的方法，其中该运算器自该信号采集器读取该第一参数值以将其转换成该第一功率频谱密度包含有 该运算器分析该初始功率频谱密度的一初始频率区间； 该运算器依据该第一参数值输出一频谱，且将该频谱依据该初始频率区间切分为多个次区间； 该运算器将各次区间的面积除以各次区间的频带宽以得出多个参数； 该运算器计算各次区间的一中心频率；以及 该运算器依据该多个参数与多个次区间的各中心频率，产生该第一功率频谱密度。
6.如权利要求I所述的方法，其还包含有 该第二加速计将测量所得的一第二参数值输出至该信号采集器； 一运算器自该信号采集器读取该第二参数值，以将其转换成该第二功率频谱密度以及 该运算器比较该初始功率频谱密度与该第二功率频谱密度的差异产生反馈，以控制该信号采集器以符合该初始功率频谱密度的模式驱动该测试平台。
7.如权利要求I或2所述的方法，其中该信号采集器依据该第一功率频谱密度与该第二功率频谱密度以另执行单主机振动测试包含有 该信号采集器输出该第一功率频谱密度至该测试平台上的一治具，以使该治具与该治具所承载的该主机依据该第一功率频谱密度产生振动； 该信号采集器输出该第二功率频谱密度至该测试平台，以使该测试平台依据该第二功率频谱密度产生振动； 依据该主机上的一主机用加速计测量所得的数据产生一验证用功率频谱密度； 比较该验证用功率频谱密度与该第三功率频谱密度；以及依据该验证用功率频谱密度与该第三功率频谱密度的比较结果，产生一主机测试用功率频谱密度。
8.如权利要求7所述的方法，其中依据该主机用加速计将测量所得的数据产生该验证用功率频谱密度包含有 该主机用加速计将测量所得的参数值输出至该信号采集器；以及 一运算器自该信号采集器读取该参数值，以将其转换成该验证用功率频谱密度。
9.如权利要求7所述的方法，其中比较该验证用功率频谱密度与该第三功率频谱密度包含有 当该验证用功率频谱密度大于或等于该第三功率频谱密度时，该验证用功率频谱密度作为该主机测试用功率频谱密度。
10.如权利要求7所述的方法，其中比较该验证用功率频谱密度与该第三功率频谱密度包含有 当该验证用功率频谱密度小于该第三功率频谱密度时，对该验证用功率频谱密度进行增益； 依据该增益后的验证用功率频谱密度，调整该第一功率频谱密度与该第二功率频谱密度；以及 比较该增益后的验证用功率频谱密度与该第三功率频谱密度。
11.一种对一主机进行振动测试的测量系统,其包含有 一第一加速计，该第一加速计安装于一治具上，用以测量该治具的振动频率； 一第二加速计，该第二加速计安装于一测试平台上，用以测量该测试平台的振动频率，其中该治具设置于该测试平台上； 一第三加速计，该第三加速计安装于一主机上，用以测量该主机的振动频率，且该主机架设于该治具上； 一信号采集器，其耦接于该第一加速计、该第二加速计与该第三加速计，该信号采集器用以分别输出一第一功率频谱密度与一第二功率频谱密度至该治具与该测试平台； 一运算器，其电连接于该信号采集器，该运算器用来控制该信号采集器分别依据该第一加速计与该第二加速计测量所得的数据驱动该治具与该测试平台，且该运算器还用来比较该第三加速计测量所得的一第三功率频谱密度与一验证用功率频谱密度，并依据该比较结果执行一单主机振动测试。
12.如权利要求11所述的测量系统，其中该第一加速计还用来安装于一支架上，且该第二加速计还用来安装于设置有该支架的该测试平台上，用以通过该信号采集器分别产生该第一功率频谱密度与该第二功率频谱密度。
13.如权利要求12所述的测量系统，其中该第三功率频谱密度为该第一功率频谱密度与该第二功率频谱密度的函数。
14.如权利要求11所述的测量系统，其中该运算器还用来自该信号采集器读取该第一加速计、该第二加速计与该第三加速计测量所得的数据，并将其转换成相对应的功率频谱密度
15.如权利要求11所述的测量系统，其中该运算器还用来于该验证用功率频谱密度大于或等于该第三功率频谱密度时，控制该信号采集器输出该验证用功率频谱密度以作为一主机测试用功率频谱密度。
16.如权利要求11所述的测量系统，其中该运算器还用来于该验证用功率频谱密度小于该第三功率频谱密度时，对该验证用功率频谱密度进行增益，且相应地调整该第一功率频谱密度与该第二功率频谱密度。
全文摘要
对主机进行振动测试的测量系统及其方法，该方法包含有一信号采集器输出一初始功率频谱密度(Power Spectrum Density)至一测试平台，以使该测试平台依据该初始功率频谱密度产生振动，其中该测试平台承载一支架，且一主机架设于该支架上；安装一第一加速计于该支架上；依据该第一加速计测量所得的数据产生一第一功率频谱密度；安装一第二加速计于该测试平台上；依据该第二加速计测量所得的数据产生一第二功率频谱密度；以及该信号采集器依据该第一功率频谱密度与该第二功率频谱密度以另执行单主机振动测试。
文档编号G01M7/02GK102809472SQ201110160020
公开日2012年12月5日 申请日期2011年6月15日 优先权日2011年6月2日
发明者林毅俊 申请人:纬创资通股份有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
