专利名称：一种浮球开关的密封性测试方法
技术领域：
本发明涉及浮球开关制造技术，尤其涉及一种浮球开关的密封性测试方法。
背景技术：
浮球开关用于感应液位变化，进而通过电缆线发送电信号用于系统的控制，是一种结构简单、使用方便的液位控制元器件，广泛地应用于各种家电、加湿器、喷绘机、医疗设备、医疗机械以及储液罐的液位检测、信号远传、开关报警等方面，还可适用于在各种有毒、 带酸碱腐蚀性的液体中使用。浮球开关的结构一般包括一封闭的壳体，壳体通常由两个半球体塑料热熔焊接而成，因而在壳体周边会有熔接部；壳体一端具有颈部开口，电缆线从颈部的开口接入壳体内部，与壳体内置的感应电路连接；在电缆线接入壳体时，通常需要将电缆线的外被与内部芯线的绝缘层剥离，露出内部的导体铜丝；电缆线接入之后向壳体颈部的结合部灌注密封液， 通过密封液密封壳体颈部与电缆线外被和铜丝之间的空隙，实现浮球开关腔体的完全密封。由于浮球开关长期工作于液体环境下，其密封性决定了浮球开关性能的优劣。然而，在实际生产过程中，浮球开关的壳体熔接部以及壳体与电缆线的结合部、电缆线内部、 密封液密封处经�？赡芑峤岷喜谎希蛘呤墙岷锨慷炔蛔悖贾峦度胧褂煤蠛芸斐鱿挚障�、 相互剥离、破损，外部的湿气或者液体沿着空隙流入电缆线和浮球开关壳体内部，导致电路故障损坏。因此，有必要在出厂时对上述部位进行密封性方面的检测。然而，在现有的浮球开关制造工艺中，尚缺乏有效的密封性检测手段，特别是现有的检测技术不能检测上述结合部位的结合强度，因此不能保证浮球开关密封性符合实际使用要求。
发明内容
针对现有技术中的上述问题，本发明提供了一种浮球开关的密封性测试方法，该方法通过在浮球开关壳体的内外形成一定压力差，观察在一定压力差下浮球开关外壳周边及结合部的密封性。本发明提供的密封性测试方法包括以下步骤将浮球开关的一部分或者全部以及部分电缆线置入盛水容器11中，并密闭于密闭容器10中；通过调节密封测试仪器来调节浮球开关壳体与电缆线的内部压力形成正压，或调节壳体以及电缆线外部的压力形成外部负压，或同时采用正压与负压结合的方式，从而造成内外压力差，进行密封测试；在压力差的原理下观察是否有气泡产生，分别测试浮球开关装置壳体周边密封性、导线与壳体之间的密封性、导线内部密封性、壳体颈部与线缆、密封液之间的密封性。密封液密封液
优选地，所述密封测试方法包括正压测试与负压测试。优选地，所述负压测试主要为A、B两种测试方法，所述正压测试主要为C、D、E三种测试方法。
优选地，所述负压测试方法A主要为，将浮球壳体2、内导线4、壳体颈部、密封液、 电缆线外被相接处6、壳体熔接处8完全置入水1中，并在密闭容器10中加入预设一定值的负压，使整个浮球开关壳体部分处于负压或真空状态，检测并观察浮球壳体2、壳体颈部、密封液、电缆线外被相接处6、壳体熔接处8、导体铜丝9处是否有连续气泡浮出水面，若没有连续气泡，此项密封测试合格。如有连续气泡，那么气泡出现的位置就表明对应检测位置产生密封不良问题。优选地，所述负压测试方法B主要为，将浮球壳体2、内导线4、插头或接线端子5、 壳体颈部、密封液、电缆线外被相接处6、壳体熔接处8完全置入水1中，并在密闭容器10中加入预设一定值的负压，使整个浮球开关壳体部分处于负压或真空状态，检测并观察浮球壳体2、内导线4、插头或接线端子5、壳体颈部、密封液、电缆线外被相接处6、电缆线外被7、 壳体熔接处8、导体铜丝9位置是否有连续气泡浮出水面，若无，此项密封测试合格。如有连续气泡，那么气泡出现的位置就表明对应检测位置产生密封不良问题。优选地，所述正压测试方法C主要为，将浮球壳体2、内导线4、壳体颈部、密封液、 电缆线外被相接处6、壳体熔接处8置入水1中，并对内导线4、电缆线外被7加入预设一定值的正压力气压，使产品处于正压或高压状态，检测并观察浮球壳体2、密封液3、内导线4、 壳体颈部、密封液、电缆线外被相接处6、电缆线外被7、壳体熔接处8、导体铜丝9是否有连续气泡浮出水面，若无，此项密封测试合格。如有连续气泡，那么气泡出现的位置就表明对应检测位置产生密封不良问题。优选地，所述正压测试方法D主要为，首先将浮球壳体2通过剖解或钻眼等方法使得浮球壳体2与水1相互事先渗透，对内导线4 (4的两端均露出水面)、电缆线外被7加入预设一定值的正压，使产品处于正压或高压状态，观察密封液3、内导线4、壳体颈部、密封液、电缆线外被相接处6、导体铜丝9是否有连续气泡浮出水面，若无，此项密封测试合格。 如有连续气泡，那么气泡出现的位置就表明对应检测位置产生密封不良问题。优选地，所述测试方法E，首先将浮球壳体2通过剖解或钻眼等方法使得浮球壳体 2与水1相互事先渗透，对内导线4(4的一端露出水面，一端浸入水中)、电缆线外被7加入预设一定值的正压，使产品处于正压或高压状态，观察密封液3、内导线4、壳体颈部、密封液、电缆线外被相接处6、电缆线外被7、导体铜丝9是否有连续气泡浮出水面，若无，此项密封测试合格。如有连续气泡，那么气泡出现的位置就表明对应检测位置产生密封不良问题。本发明的测试方法可以在不破坏浮球开关产品本体的情况下，准确测试产品的密封性能；并且能够实现一定内外压力差之下的密封性测试。本发明的测试方法操作简单、无破坏性，准确度高、成本低，效率高，对改善浮球开关制造工艺、增加产品可靠性具有重要作用。
图1是本发明实施例的浮球开关密封性测试的示意图
具体实施例方式为详细说明本发明的技术内容、构造特征、所实现目的及效果，以下结合具体实施方式
并配合附图详予说明。
对于浮球开关来说，其壳体周边的熔接处、各部件之间的结合部、电缆线内部以及壳体颈部密封液密封处是容易在使用过程中出现缝隙、相互剥离、破损的部位，因此在测试中需要对以上部位的密封程度加以检测。本发明所述的密封性测试方法即针对以上部位， 对浮球开关壳体周边熔接处、电缆线与壳体结合部、电缆线内部以及壳体颈部与线缆和密封液之间的密封性分别加以检测。下面结合图1介绍本发明对浮球开关的密封性测试方法。图1中，1、水 2、浮球壳体3、密封液4、内导线 5、插头或接线端子6、壳体颈部、密封液、电缆线外被相接处7、电缆线外被8、壳体熔接处9、导体铜丝10、密闭容器11盛水容器。在所述密封性测试方法中，首先，将浮球开关的一部分或者全部置入盛水容器11 中，并密闭于密闭容器10中；然后通过调节密封测试仪器来调节产品内部压力形成正压， 调节产品外部压力形成负压，或调节壳体以及电缆线外部的压力形成外部负压，或同时采用正压与负压结合的方式，从而造成内外压力差；之后，通过观察浮球开关是否存在漏气现象，测试浮球开关壳体熔接处、电缆线与壳体结合部、电缆线内部以及密封液密封部位之间的密封性。首先，通过负压测试方法A测试浮球开关，将浮球壳体2、内导线4、壳体颈部、密封液、电缆线外被相接处6、壳体熔接处8完全置入1中，并在密闭容器10中加入预设一定值的负压，使整个浮球开关壳体部分处于负压或真空状态，检测并观察浮球壳体2、壳体颈部、密封液、电缆线外被相接处6、壳体熔接处8、导体铜丝9处是否有连续气泡浮出水面，若没有连续气泡，此项密封测试合格。如有连续气泡，那么气泡出现的位置就表明对应检测位置产生密封不良问题。其次，通过负压测试方法B测试浮球开关，将浮球壳体2、内导线4、插头或接线端子5、壳体颈部、密封液、电缆线外被相接处6、壳体熔接处8完全置入水1中，并在密闭容器10中加入预设一定值的负压，使整个浮球开关壳体部分处于负压或真空状态，检测并观察浮球壳体2、内导线4、插头或接线端子5、壳体颈部、密封液、电缆线外被相接处6、电缆线外被7、壳体熔接处8、导体铜丝9位置是否有连续气泡浮出水面，若无，此项密封测试合格。 如有连续气泡，那么气泡出现的位置就表明对应检测位置产生密封不良问题。再次，通过正压测试方法C测试浮球开关，将浮球壳体2、内导线4、壳体颈部、密封液、电缆线外被相接处6、壳体熔接处8置入水1中，并对内导线4、电缆线外被7加入预设一定值的正压力气压，使产品处于正压或高压状态，检测并观察浮球壳体2、密封液3、内导线4、壳体颈部、密封液、电缆线外被相接处6、电缆线外被7、壳体熔接处8、导体铜丝9是否有连续气泡浮出水面，若无，此项密封测试合格。如有连续气泡，那么气泡出现的位置就表明对应检测位置产生密封不良问题。然后，通过正压测试方法D测试浮球开关，首先将浮球壳体2通过剖解或钻眼等方法使得浮球壳体2与水1相互事先渗透，对内导线4 (4的两端均露出水面)、电缆线外被 7加入预设一定值的正压，使产品处于正压或高压状态，观察密封液3、内导线4、壳体颈部、 密封液、电缆线外被相接处6、导体铜丝9是否有连续气泡浮出水面，若无，此项密封测试合格。如有连续气泡，那么气泡出现的位置就表明对应检测位置产生密封不良问题。最后，通过正压测试方法E测试浮球开关，首先将浮球壳体2通过剖解或钻眼等方法使得浮球壳体2与水1相互事先渗透，对内导线4 (4的一端露出水面，一端浸入水中)、电缆线外被7加入预设一定值的正压，使产品处于正压或高压状态，观察密封液3、内导线 4、壳体颈部、密封液、电缆线外被相接处6、电缆线外被7、导体铜丝9是否有连续气泡浮出水面，若无，此项密封测试合格。如有连续气泡，那么气泡出现的位置就表明对应检测位置产生密封不良问题。综上所述，本发明的测试方法可以在不破坏浮球开关产品本体的情况下，准确测试产品的密封性能；并且通过在浮球开关内外形成压力差，观察在一定压力下产品外壳周边及结合部的密封性。本发明的测试方法操作简单、无破坏性，准确度高、成本低，效率高， 对改善浮球开关制造工艺、增加产品可靠性具有重要作用。以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
权利要求
1.一种浮球开关的密封性测试方法，其特征在于，包括以下步骤将浮球开关的一部分或者全部以及部分电缆线置入盛水容器(11)中，并密闭于密闭容器(10)中；通过调节密封测试仪器来调节浮球开关壳体与电缆线的内部压力形成正压，或调节壳体以及电缆线外部的压力形成外部负压，或同时采用正压与负压结合的方式，从而造成内外压力差，进行密封测试；在压力差下观察是否有气泡产生，分别测试浮球开关装置壳体周边密封性、导线与壳体之间的密封性、导线内部密封性、壳体颈部与线缆、密封液之间的密封性。
2.根据权利要求1所述的密封性测试方法，其特征在于，所述密封测试包括正压测试与负压测试。
3.根据权利要求2所述的密封性测试方法，其特征在于，所述负压测试为在浮球开关， 或水的外围形成负压区或真空区，使得浮球开关周围、水的周围气压低于浮球开关内空腔气压，形成负压差。
4.根据权利要求2所述的密封性测试方法，其特征在于，所述正压测试为在浮球开关内空腔体、线缆内注入高压气体，使得浮球开关内腔体、线缆内的气压高于浮球开关外围， 水的外围，线缆外围的气压，形成正压差。
5.根据权利要求3所述的密封性测试方法，其特征在于，所述负压测试包括将浮球壳体(2)、内导线(4)、壳体颈部、密封液、电缆线外被相接处(6)、壳体熔接处(8)完全置入水(1)中，并在密闭容器(10)中加入预设一定值的负压，使整个浮球开关壳体部分处于负压或真空状态，检测并观察浮球壳体(2)、壳体颈部、密封液、电缆线外被相接处(6)、壳体熔接处(8)、导体铜丝(9)处是否有连续气泡浮出水面，若没有连续气泡，此项密封测试合格；如有连续气泡，那么气泡出现的位置就表明对应检测位置产生密封不良问题；并且，所述负压测试还进一步包括将浮球壳体(2)、内导线(4)、插头或接线端子(5)、 壳体颈部、密封液、电缆线外被相接处(6)、导体铜丝(8)完全置入水(1)中，并在密闭容器(10)中加入预设一定值的负压，使整个浮球开关壳体部分处于负压或真空状态，检测并观察浮球壳体(2)、内导线(4)、插头或接线端子(5)、壳体颈部、密封液、电缆线外被相接处 (6)、电缆线外被(7)、壳体熔接处(8)、导体铜丝(9)位置是否有连续气泡浮出水面，若无， 此项密封测试合格；如有连续气泡，那么气泡出现的位置就表明对应检测位置产生密封不良问题。
6.根据权利要求4所述的密封性测试方法，其特征在于，所述正压测试包括将浮球壳体(2)、内导线(4)、壳体颈部、密封液、电缆线外被相接处(6)、壳体熔接处(8)置入水(1) 中，并对内导线(4)、电缆线外被(7)加入预设一定值的正压力气压，使产品处于正压或高压状态，检测并观察浮球壳体(2)、密封液(3)、内导线(4)、壳体颈部、密封液、电缆线外被相接处(6)、电缆线外被(7)、壳体熔接处(8)、导体铜丝(9)是否有连续气泡浮出水面，若无，此项密封测试合格；如有连续气泡，那么气泡出现的位置就表明对应检测位置产生密封不良问题；所述正压测试进一步包括首先将浮球壳体(2)通过剖解或钻眼方法使得浮球壳体 (2)与水(1)相互事先渗透，内导线(4)的两端均露出水面，对内导线(4)、电缆线外被(7) 加入预设一定值的正压，使产品处于正压或高压状态，观察密封液(3)、内导线(4)、壳体颈部、密封液、电缆线外被相接处(6)、导体铜丝(9)是否有连续气泡浮出水面，若无，此项密封测试合格；如有连续气泡，那么气泡出现的位置就表明对应检测位置产生密封不良问所述正压测试还进一步包括首先将浮球壳体(2)通过剖解或钻眼方法使得浮球壳体 (2)与水(1)相互事先渗透，使内导线(4)的一端露出水面，一端浸入水中；对内导线(4)、电缆线外被(7)加入预设一定值的正压，使产品处于正压或高压状态，观察密封液(3)、内导线(4)、壳体颈部、密封液、电缆线外被相接处(6)、电缆线外被(7)、导体铜丝(9)是否有连续气泡浮出水面，若无，此项密封测试合格；如有连续气泡，那么气泡出现的位置就表明对应检测位置产生密封不良问题。
全文摘要
本发明提供了一种浮球开关的密封性测试方法，包括以下步骤将浮球开关的一部分或者全部置入盛水容器11中,并密闭于密闭容器10中；通过调节密封测试仪器来调节浮球开关壳体的内部压力形成正压，调节壳体外部的压力形成负压，从而造成内外压力差；在压力差下通过观察是否漏气，分别测试浮球开关装置壳体周边密封性、导线与壳体之间的密封性、导线内部密封性、壳体颈部与线缆、密封液之间的密封性。本发明的测试方法可以在不破坏浮球开关产品本体的情况下，准确测试产品的密封性能；并且能够实现一定内外压力差之下的密封性测试。本发明的测试方法操作简单、无破坏性，准确度高、成本低，效率高，对改善浮球开关制造工艺、增加产品可靠性具有重要作用。
文档编号G01M3/06GK102175405SQ20111003151
公开日2011年9月7日 申请日期2011年1月29日 优先权日2011年1月29日
发明者胡凯华 申请人:司捷易兰姆布斯控制科技(苏州)有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
