专利名称：一种联排led补粉测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及LED技术领域，具体涉及一种联排LED补粉测试装置。
背景技术：
大功率LED应用于照明已越来越多，是未来照明技术不可阻挡的趋势，为了使生产的LED灯珠颜色集中性更好，在点荧光粉的时候需要进行修正，即常说的补粉，联排LED测试就是为了解决补粉而进行的，现有技术的联排LED补粉测试装置多采用源表和控制�？橐惶宓哪Ｊ剑瓒嗦肥涑銮�、测量，过电流的接线多，布线复杂，因此现有技术的联排LED补粉测试装置亟待改进。
实用新型内容本实用新型要解决的技术问题是提供一种联排LED补粉测试装置，克服现有技术的联排LED补粉测试装置源表和控制模块一体，过电流的接线多，布线复杂的缺陷。本实用新型为解决上述技术问题所采用的技术方案为一种联排LED补粉测试装置，包括源表、I/O控制�？楹筒馐阅？椋霾馐阅？榉直鹆铀鲈幢砗退鯥/o控制模块，所述测试�？橛胨鲈幢淼牧拥枷呱仙柚糜锌夭⒘哟釲ED，所述源表为所述待测LED施加电流和电压并获取所述待测LED的电性参数，所述I/O控制�？槎运隹氐耐ǘ辖锌刂�。所述的联排LED补粉测试装置，其中所述源表包括输出端高端、输出端低端以及测量端高端和测量端低端，所述测试�？榘ㄖ辽僖桓鯨ED测试单元，所述LED测试单元的第一导线的头端与所述输出端高端相连，所述LED测试单元的第二导线的头端与所述输出端低端相连，在第一导线或者第二导线上设置有第一开关，所述LED测试单元的第三导线的头端与所述测量端高端相连，所述LED测试单元的第四导线的头端与所述测量端低端相连，在第三导线或者第四导线上设置有第二开关，第一导线的尾端和第三导线的尾端并联后与所述待测LED连接，第二导线的尾端和第四导线的尾端并联后与所述待测LED连接，所述I/O控制�？槎缘谝豢睾偷诙氐耐ǘ辖锌刂�。所述的联排LED补粉测试装置，其中所述I/O控制�？榘ǖテ陀肫湎嗔目乜刂菩酒隹乜刂菩酒氖涑龆肆拥谝豢睾偷诙�。所述的联排LED补粉测试装置，其中第一开关设为光电耦合器。所述的联排LED补粉测试装置，其中第二开关设为光电耦合器。所述的联排LED补粉测试装置，其中所述单片机设为芯片AT89C51。所述的联排LED补粉测试装置，其中所述开关控制芯片设为芯片74LS154。所述的联排LED补粉测试装置，其中所述源表设为KEITHLEY2400。所述的联排LED补粉测试装置，其中所述LED测试单元设为二十个。本实用新型的有益效果本实用新型将源表和测试�？�、控制�？榉挚恍枰宦肥涑�、测量，在测试�？樯显儆霉怦罱缌鞣挚�20路，过电流的接线大大减少，使用多芯电缆线，可靠性更高，更耐用，通用性也很强，只要有源表，外加几个IO点就可以进行二次开发，本实用新型推进了 LED补粉测试装置的技术进步。
本实用新型包括如下附图图I为本实用新型示意图； 图2为本实用新型实施例示意图。
具体实施方式
下面根据附图和实施例对本实用新型作进一步详细说明如图I和图2所示，本实用新型联排LED补粉测试装置包括源表、I/O控制�？楹筒馐阅？椋馐阅？榉直鹆釉幢砗虸/o控制�？椋馐阅？橛朐幢淼牧拥枷呱仙柚糜锌夭⒘哟釲ED，源表为待测LED施加电流和电压并获取待测LED的电性参数，I/O控制�？槎钥氐耐ǘ辖锌刂�。源表包括输出端高端、输出端低端以及测量端高端和测量端低端，测试�？榘ㄖ辽僖桓鯨ED测试单元，LED测试单元的第一导线的头端与输出端高端相连，LED测试单元的第二导线的头端与输出端低端相连，在第一导线或者第二导线上设置有第一开关，LED测试单元的第三导线的头端与测量端高端相连，LED测试单元的第四导线的头端与测量端低端相连，在第三导线或者第四导线上设置有第二开关，第一导线的尾端和第三导线的尾端并联后与待测LED连接，第二导线的尾端和第四导线的尾端并联后与待测LED连接，I/O控制�？槎缘谝豢睾偷诙氐耐ǘ辖锌刂�。源表设为KEITHLEY2400，源表是一个能给负载提供电流电压并测量的电子系统，源表由电脑控制，能输出正负两个方向的电流，可以定电压测电流，也可以定电流测电压，具有电流电压互锁功能，输出测量精度较高，可用来点亮LED以测量其电性参数，LED测试单元设为20个。第一开关和第二开关使由光电耦合器构成，控制和负载线路光电隔离，I/O控制�？槭褂玫テ鶤T89C51输出TTL电平来控制，控制时只需六个TTL信号，其中四个TTL信号输出到74LS154作为译码信号，可以控制16组开关，两个TTL信号作为片选信号，一个选通I一 16号LED测试单元对应的开关控制IC 74LS154，另一个选通17 — 20号LED测试单元对应的开关控制IC 74LS154，LED测试单元测试时，通过I/O控制�？椋筍Wl接通，精密源表系统给LED加电进行测试，依次切换SW2—SW20，完成对其他LED的测试。本领域技术人员不脱离本实用新型的实质和精神，可以有多种变形方案实现本实用新型，以上所述仅为本实用新型较佳可行的实施例而已，并非因此局限本实用新型的权利范围，凡运用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构变化，均包含于本实用新型的权利范围之内。
权利要求1.一种联排LED补粉测试装置，其特征在于包括源表、I/O控制�？楹筒馐阅？椋霾馐阅？榉直鹆铀鲈幢砗退鯥/o控制模块，所述测试�？橛胨鲈幢淼牧拥枷呱仙柚糜锌夭⒘哟釲ED，所述源表为所述待测LED施加电流和电压并获取所述待测LED的电性參数，所述I/O控制�？槎运隹氐耐ǘ辖锌刂啤�
2.根据权利要求I所述的联排LED补粉测试装置，其特征在于所述源表包括输出端高端、输出端低端以及测量端高端和測量端低端，所述测试�？榘ㄖ辽侃`个LED测试单元，所述LED测试单元的第一导线的头端与所述输出端高端相连，所述LED测试单元的第二导线的头端与所述输出端低端相连，在第一导线或者第二导线上设置有第一开关，所述LED测试单元的第三导线的头端与所述测量端高端相连，所述LED测试单元的第四导线的头端与所述测量端低端相连，在第三导线或者第四导线上设置有第二开关，第一导线的尾端和第三导线的尾端并联后与所述待测LED连接，第二导线的尾端和第四导线的尾端并联后与所述待测LED连接，所述I/O控制�？槎缘谝豢睾偷诙氐耐ǘ辖锌刂�。
3.根据权利要求2所述的联排LED补粉测试装置，其特征在于所述I/O控制�？榘ǖテ陀肫湎嗔目乜刂菩酒隹乜刂菩酒氖涑龆肆拥谝豢睾偷诙�。
4.根据权利要求3所述的联排LED补粉测试装置，其特征在于第一开关设为光电耦合器。
5.根据权利要求4所述的联排LED补粉测试装置，其特征在于第二开关设为光电耦合器。
6.根据权利要求5所述的联排LED补粉测试装置，其特征在于所述单片机设为芯片AT89C51。
7.根据权利要求6所述的联排LED补粉测试装置，其特征在于所述开关控制芯片设为芯片74LS154。
8.根据权利要求7所述的联排LED补粉测试装置，其特征在于所述源表设为KEITHLEY2400。
9.根据权利要求I至8任一所述的联排LED补粉测试装置，其特征在于所述LED测试单元设为二十个。
专利摘要本实用新型公开了一种联排LED补粉测试装置，包括源表、I/O控制�？楹筒馐阅？椋霾馐阅？榉直鹆铀鲈幢砗退鯥/O控制�？椋霾馐阅？橛胨鲈幢淼牧拥枷呱仙柚糜锌夭⒘哟釲ED，所述源表为所述待测LED施加电流和电压并获取所述待测LED的电性参数，所述I/O控制�？槎运隹氐耐ǘ辖锌刂�。本实用新型将源表和测试�？椤⒖刂颇？榉挚恍枰宦肥涑�、测量，在测试模块上再用光耦将电流分开成20路，过电流的接线大大减少，使用多芯电缆线，可靠性更高，更耐用，通用性也很强，只要有源表，外加几个IO点就可以进行二次开发，本实用新型推进了LED补粉测试装置的技术进步。
文档编号G01R31/44GK202421436SQ20112056266
公开日2012年9月5日 申请日期2011年12月29日 优先权日2011年12月29日
发明者廖湘涛, 李冰, 林开钊, 王建江 申请人:东莞市中谱光电设备有限公司
专业数控铣床产品供应商
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