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专利名称：一种测试系统中多个测试通道的转换方法
技术领域：
本发明涉及电子产品测试领域，尤其涉及一种电子产品测试系统中的多个测试通道自动转换的方法。
背景技术：
目前电子产品的测试手段大都为利用规模化生产的产品的物理尺寸、电子特性一致的特点，采用测试模具的方法，将被测产品放入测试模具中实现与测试仪器仪表等设备的快速连接，用计算机集成控制从而完成各项参数测试。由于测试仪器较贵，出于成本和设备体积等因素的考虑，几乎都采用单套测试仪器配合通道切换来实现对多个产品的流水线式测试。该方法应用非常普遍，较适合电子产品的多PCB板联板测试，具有连接可靠、测试效率高的优点。尤其采用流水线模式测试，使测试设备基本不间断地进行测试，有效提高了测试设备的利用效率。但是有一些产品由于产品特性的原因，不能够进行联板状态的自动化流水线模式测试，需要由操作人员手工操作放入测试模具进行测试，这样在产品放入测试模具和从测试模具中取出过程中，测试仪器仪表就会处于等待状态，不能进行测试，导致测试仪表的使用效率较低，造成测试能力的浪费。对此状况，通常是采用一套测试仪表连接A、B两个测试模具，即A进行测试时，操作人员对B进行更换被测产品的工作，A测试完成后，操作人员发出指令让测试系统切换至B进行测试，反之亦然。如此往复交替，来提高测试仪器的使用效率。对于大部分产品的测试，尤其测试周期较长的，该方法是有效的，但是对于测试周期非常短的产品，效果就不太明显，比如如果测试时间比更换被测产品的时间短很多的情况下，测试仪表的使用效率就非常低。如果增加测试通道，如图1所示，比如增加C、D测试模具或更多测试模具，会解决该问题，但一个操作人员操作两个以上或更多的测试模具，极易疲劳，不能保证操作准确。若是多个操作人员进行操作，需要解决多人操作的协调问题。如果还采用传统的流水线式测试模式，即按照A- > B- > C- > D- > A- >吣的顺序进行测试，每次流水线都会对各通道进行逐一判断，如图2所示的流程，如果其中任一或多个通道未被使用，这种工作就没有必要，也浪费时间。

发明内容
有鉴于现有技术的上述缺陷，本发明所要解决的技术问题是在现有技术的电子产品测试系统的多个测试通道流水线切换方式的基础上，提供了一种能提高测试设备利用效率的多个测试通道自动转换的方法。为实现上述目的，本发明提供了一种测试通道自动切换的方法，技术方案如下:在每个测试通道的末端设置用于判断该通道是否准备就绪的开关；创建一个启动测试命令队列，用于存放所有测试通道的启动测试命令；步骤1，依次判断每个测试通道是否准备就绪，若准备就绪，将该测试通道的启动测试命令存入所创建的启动测试命令队列中。如此以一定的时间间隔反复执行。
步骤2，从启动测试命令队列中提取启动测试命令，并启动相应测试通道的测试，测试完成后再从启动测试命令队列中提取下一命令，如此反复执行。其中步骤I和步骤2独立工作，通过启动测试命令队列中的数据协调配合，进行测试过程中的测试通道自动转换的控制。进一步地，所述时间间隔小于所有待测产品的单件测试时间的最小值。进一步地，所述时间间隔为20ms。进一步地，所述时间间隔包括依次判断各通道是否准备就绪步骤所需的去抖判断时间。进一步地，依次判断各测试通道是否准备就绪的步骤是通过测试通道末端的开关的状态来进行判断的。进一步地，各测试通道的末端设置有测试模具，待测电子产品是放置在测试模具上进行测试的。进一步地，测试通道末端的开关是设置于测试通道末端的测试模具上的。进一步地，设置于测试通道末端的测试模具上的开关为限位开关。本发明的有益效果在于:在对现有技术的电子产品测试系统硬件结构基本无需改动的情况下，将判断各测试通道的状态和启动测试这两个过程分开。进一步地，通过一个定时地依次判断各测试通道是否准备就绪，并将准备就绪的测试通道的启动测试命令存入预先创建的测试命令队列的步骤和另外一个从启动测试命令队列中提取启动测试命令并启动相应测试通道的测试的步骤的独立工作，控制整个测试系统，减少了测试过程中等待的时间，实现各测试通道之间的自动转换。相对于现有技术的流水线式测试方法，特别是在有一个或多个测试通道未使用的情况下，本发明的方法可以明显减少测试系统在测试过程中的空余等待时间。同时结合待测产品的实际情况，合理地设置步骤一中的时间间隔，也可以减少测试系统在测试过程中的空余等待时间。所以，利用本发明的方法，可以明显地提高测试仪器的使用效率。以下将结合附图对本发明的构思、具体结构及产生的技术效果作进一步说明，以充分地了解本发明的目的、特征和效果。


图1是现有技术中电子产品测试系统的系统连接图(以四个测试通道为例)。图2是现有技术中的电子产品测试系统的控制流程图(以四个测试通道为例)。图3是使用本发明的电子产品测试系统的控制流程图(以四个测试通道为例)。
具体实施例方式下面结合附图来具体说明本发明的实施例。如图1所示的电子产品测试系统，可以看到，该测试系统有四个测试通道A、B、C和D，各测试通道的一端通过测试通道转换设备分别连接于测试仪器和控制该测试系统的计算机，另一端连接于各自的测试模具，整个测试过程由计算机集成控制。在现有技术中，利用如图2所示的流水线式测试方法，对各个测试通道依次进行如下工作:判断该测试通道是否准备就绪，若准备就绪，就启动该测试通道的测试，若没有准备就绪或者该测试通道未使用，则进入下一个测试通道。而将本发明的技术方案应用于该测试系统，在每一个测试模具上设置一个限位开关，当被测电子产品在测试模具中被放置到位时，限位开关导通，当被测产品从测试模具中被拿出后，限位开关断开。如图3所示，在控制该测试系统的计算机控制程序中开辟一个线程，如图3中的线程一，该线程以20ms(其中包含IOms的去抖判断时间)的周期依次记录并存储各测试通道的限位开关的状态，并依次对每个测试通道所记录的限位开关的状态和存储的该测试通道限位开关前一次的纪录状态进行比较来判断该测试通道是否准备就绪。如果一个测试通道的限位开关前一次记录的状态为断开，而本次记录的状态为导通，则判断为该测试通道已经准备就绪，并将一个该测试通道的启动测试命令存入启动测试命令队列。而控制测试系统的计算机控制程序的另外一个线程，如图3所示的线程二，该线程从启动测试命令队列中依次提取启动测试命令，并根据启动测试命令启动相应通道的测试，该通道的测试完成后再到启动测试命令队列中提取下一个启动测试命令，依次反复进行。两个线程独立工作，通过启动测试命令队列的数据协调配合，实现测试过程中的测试通道自动切换。通过以上技术方案，实现了在测试系统硬件结构基本没有改动的情况下，多个测试通道的自动切换，减少了测试过程中的空余等待时间，提高了测试仪器的使用效率。在本实施例中，测试系统的测试通道的数目为四个。当然，本发明并不限于此，实际使用中可以根据需要，自由增减测试通道，实现多个测试通道之间的自动切换。以上详细描述了本发明的较佳具体实施例。应当理解，本领域的普通技术人员无需创造性劳动就可以根据本发明的构思做出诸多修改和变化。因此，凡本技术领域的技术人员依本发明的构思在现有技术的基础上通过逻辑分析、推理或者有限的实验可以得到的技术方案，皆应在由权利要求书所确定的保护范围内。
权利要求
1.一种电子产品测试系统中多个测试通道的转换方法，其特征在于， 在所述电子产品测试系统的每个测试通道的末端设置一个用于判断该测试通道是否准备就绪的开关； 创建一个用于存放所述测试系统的所有测试通道的启动测试命令的队列； 步骤1，以一定的时间间隔反复执行如下步骤:依次判断所述测试系统的所述每个测试通道是否准备就绪，若准备就绪，将该准备就绪的测试通道的所述启动测试命令存入所述启动测试命令队列中； 步骤2，反复执行如下步骤:从所述启动测试命令队列中提取所述启动测试命令并启动所述相应通道的测试，测试完成后再从所述启动测试命令队列中提取下一启动测试命令； 其中，步骤I和步骤2独立工作，通过所述启动测试命令队列的数据协调配合，进行所述测试系统的测试通道的自动转换的控制。
2.根据权利要求1所述的电子产品测试系统中多个测试通道的转换方法，其特征在于，所述时间间隔小于所有待测电子产品的单件测试时间的最小值。
3.根据权利要求2所述的电子产品测试系统中多个测试通道的转换方法，其特征在于，所述时间间隔包括依次判断该通道是否准备就绪的步骤所需的去抖判断时间。
4.根据权利要求3所述的电子产品测试系统中多个测试通道的转换方法，其特征在于，所述时间间隔为20ms。
5.根据权利要求1或4所述的电子产品测试系统中多个测试通道的转换方法，其特征在于，依次判断各测试通道是否准备就绪的步骤是通过测试通道末端的开关的状态来进行判断的。
6.根据权利要求5所述的电子产品测试系统中多个测试通道的转换方法，其特征在于，各测试通道的末端设置有测试模具，待测电子产品是放置在测试模具上进行测试的。
7.根据权利要求6所述的电子产品测试系统中多个测试通道的转换方法，其特征在于，所述测试通道末端的开关是设置于测试通道末端的测试模具上的。
8.根据权利要求7所述的电子产品测试系统中多个测试通道的转换方法，其特征在于，所述测试通道末端的开关为限位开关。
全文摘要
本发明公开了一种电子产品测试系统中多个测试通道的转换方法，该技术方案包括在测试系统的每个测试通道的末端设置一个用于判断该测试通道是否准备就绪的开关；创建一个用于存放测试系统的所有测试通道的启动测试命令的队列；步骤1，依次判断测试系统的每个测试通道是否准备就绪，若准备就绪，将该准备就绪的测试通道的启动测试命令存入启动测试命令队列中，每隔一定的时间间隔如此反复；步骤2，从启动测试命令队列中提取启动测试命令并启动相应通道的测试，测试完成后再从启动测试命令队列中提取下一启动测试命令，如此反复；其中，步骤1和步骤2独立工作，通过启动测试命令队列的数据协调配合，实现测试系统的测试通道的自动转换。通过该转换方法，实现电子产品测试系统中的多测试通道的自动转换，提高了测试仪器的利用效率。
文档编号G01R31/01GK103163407SQ20111041331
公开日2013年6月19日 申请日期2011年12月13日 优先权日2011年12月13日
发明者高强 申请人:上海明凯照明有限公司, 上海市照明灯具研究所有限公司