专利名称：一种半导体分立器件测试系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及电子设备测试仪技术领域，特别与一种半导体分立器件测试系统有关。
背景技术：
台湾冠魁公司的TVR6000是目前业界产业化程度最高、应用最广泛、性能最优秀的ニ极管多功能分类专业测试设备，在国际同类产品处理国际领先水平。TVR6000测试机是以单机形式提供测试服务的一体机，机内虽然是多板卡结构，但各板卡功能固定，位置固定，不能提供技术的横向升级和纵向升级，为解决横向升级的问题，必须要重新设计机器，并命名为6000系列，各机之间设计思路不同，还造成很多内部相同板卡重置的现象，造成资源浪费和干扰问题的出现，并争夺机内的系统总线，工作电源
坐寸ο
为了解决上述问题，本发明人设计出一种半导体分立器件测试系统，本案由此产生。
发明内容
本发明的目的是提供一种半导体分立器件测试系统，是以自由组合形式提供测试服务的测试平台，可根据用户的测试组态方案类选择各色各样测试功能的板卡，使用灵活方便。为了达到上述目的，本发明通过以下技术方案来实现
一种半导体分立器件测试系统，包括主控平台系统、总线通讯系统、各个测试功能卡、显示系统；各测试功能�？槎懒⒐抑迷谧芟咄ㄑ断低成希芟咄ㄑ断低沉拥街骺仄教ㄏ低持校骺仄教ㄏ低沉酉允鞠低常馐越峁菁右韵允�。所述的各个测试功能卡通过数据线并列连接两个测试エ位。所述的主控平台系统连接有为主控平台系统供电的电源系统、将数据输入的键盘输入系统、以及用于反馈信号状态的状态指示系统。所述的测试功能卡包括VF测试卡、VR测试卡、IR测试卡。采用上述方案后，本发明具有诸多有益效果
本发明中采用总线的方式，将各个独立测试卡直接挂接上总线通讯系统上形成数据交换传递，这样只需要根据用户的测试组态方案，选择相适应的板卡，主控平台系统能自动识别和控制新的板卡，达到既插既用的目的，同时也解决横向升级的问题。本发明中具有两个测试エ位，可同时测试，测试效率提高一倍，更经济更实惠。本发明中的主控平台程序按功能要求分别加载给不同测试卡上，由测试卡独立完成，简化了主控平台的工作程序，同时，可再在相同的时间段内，两个工作流程并列运行，所用的时间较短，可以解决系统资源的重置等问题。
图I为本发明较佳实施例的功能模块连接示意图。
具体实施例方式结合附图，对本发明较佳实施例做进ー步详细说明。一种半导体分立器件测试系统，主要涉及到的部件包括主控平台系统I、总线通讯系统2、各个测试功能卡、LED显不系统3、电源系统4、键盘输入系统5、状态指不系统6、弟一测试エ位81、第二测试エ位82。其中本实施例中测试功能卡包括VF测试卡71、VR测试卡72、IR测试卡73。主控平台系统I (MCU)是本发明的核心控制平台，通过总线通讯系统2与各个测试功能卡进行数据交换，对应的程序下载到各个测试功能卡中，并将各个测试功能卡上的测试所得的数据通过总线通讯系统2进行反�。⒎蠢∠允驹贚ED显示系统3中。主控平台系统I上连接有电源系统4为其供电。本实施例中采用50Hz的AC220V的电源通过开关电源供电，对于电容来说开关电源是准直流，充电迅速，测试速率明显提高，可以应对高速的测试应用，使得整机重量减清，体积变�。缭吹男蚀蠓�。键盘输入系统5是采用键盘形式与主控平台系统I进行连接，通过键盘操作将信息输入至主控平台系统I中。状态指示系统6是采用各种发光二极管构成，连接在主控平台系统I上，用于反馈内部信号状态。实施例中总线通讯系统2采用CAN总线形式，各个测试功能卡包括VF测试卡71、VR测试卡72、IR测试卡73都各自独立挂置连接在CAN总线上。VF测试卡71、VR测试卡72、IR测试卡73可以采用原有TVR6000测试机的测试卡�？椋琕F测试卡完成VF的测试，VR测试卡完成VR的测试，IR测试卡完成IR的测试，其内部结构和原理与原有结构相同，因此不做赘述。本发明中可以在CAN总线上横向拓展多个测试卡，一般8个为宜。同时本实施例中，每个VF测试卡71、VR测试卡72、IR测试卡73并联接连在两个 测试エ位上，第一测试エ位81、第二测试エ位82，这样方便同时进行两个独立测试，提高测试效率。上述实施例仅用于解释说明本发明的发明构思，而非对本发明权利保护的限定，凡利用此构思对本发明进行非实质性的改动，均应落入本发明的保护范围。
权利要求
1.一种半导体分立器件测试系统，其特征在于包括主控平台系统、总线通讯系统、各个测试功能卡、显示系统；各测试功能�？槎懒⒐抑迷谧芟咄ㄑ断低成希芟咄ㄑ断低沉拥街骺仄教ㄏ低持校骺仄教ㄏ低沉酉允鞠低常馐越峁菁右韵允�。
2.如权利要求I所述的ー种半导体分立器件测试系统，其特征在于所述的各个测试功能卡通过数据线并列连接两个测试エ位。
3.如权利要求I所述的ー种半导体分立器件测试系统，其特征在于所述的主控平台系统连接有为主控平台系统供电的电源系统、将数据输入的键盘输入系统、以及用于反馈信号状态的状态指示系统。
4.如权利要求I所述的ー种半导体分立器件测试系统，其特征在于所述的测试功能卡包括VF测试卡、VR测试卡、IR测试卡。
全文摘要
本发明主要公开了一种半导体分立器件测试系统，包括主控平台系统、总线通讯系统、各个测试功能卡、显示系统。各测试功能�？槎懒⒐抑迷谧芟咄ㄑ断低成希芟咄ㄑ断低沉拥街骺仄教ㄏ低持校骺仄教ㄏ低沉酉允鞠低常馐越峁菁右韵允尽１痉⒚魇且恢肿杂勺楹闲问教峁┎馐苑竦牟馐云教ǎ筛萦没У牟馐宰樘桨咐嘌≡窀魃餮馐怨δ艿陌蹇ǎ褂昧榛罘奖恪�
文档编号G01R31/26GK102866341SQ20121032307
公开日2013年1月9日 申请日期2012年9月4日 优先权日2012年9月4日
发明者张新华, 张若煜 申请人:绍兴文理学院
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