专利名称：分析装置和用于该分析装置的分析用盘片的制作方法
技术领域：
本发明涉及将血液等分析对象安放在分析用的光盘上，对该分析对象进行扫描以获取图像的分析装置。
背景技术：
如日本专利特表平10-504397号公报等所揭示的那样，有一种利用光盘的重放功能，在盘片上的某一部分设置需要试验的分析对象，对其扫描以取得分析对象的图像的方法。
通常，光盘101如图6、图7所示，在基盘102的面上形成铝反射层的光道103，由该光道上微细的凹凸的凹坑和凹槽104记录有信息。105是保护层。
图5所示的一般的光盘驱动器中，盘片电动机106边将光盘101朝箭头C方向旋转边利用来自光拾取头107的激光Ph从光道103上进行读取。光拾取头107与由进给电动机108驱动的进给丝杆109螺合，伺服控制电路110为了根据光拾取头107的再生输出追踪光道103进行扫描，驱动进给电动机108使光拾取头107朝径向移动。另外，伺服控制电路110驱动盘片电动机106(CLV控制)，以检测记录于光道103的地址信息，使线速度恒定。
更详细地说，激光Ph对光盘101的照射位置构成为，不仅通过进给电动机108的驱动，而且通过设置在光拾取头107的内部的跟踪作动器(未图示)将激光Ph的光路相对于光盘101的面根据需要朝左右方向(径向)进行驱动，在进行位置控制的同时对光道103正确地进行扫描。
这里，分析用盘片的场合，与音频用和视频用CD的场合不同，而且如图6、图7所示，分析对象111配置在光盘101上，使用已有的光盘驱动器技术的分析装置，利用图8所示的光拾取头107的PD(光电检测器)117对来自该分析对象111的反射光进行读�。悠敌藕糯淼缏�112处理后得到分析对象111的图像。
图8表示图5所示的光拾取头107的功率控制电路。
用于读取由光盘101的凹坑和凹槽等写入的信息和各驱动伺服用的信息的激光输出从光拾取头107的LD(激光LED)113发出，在照射光盘101的同时照射监控受光元件即前监控器114。
该前监控器114的输出电压输入APC电路(自动功率控制电路)115。APC电路115使激光驱动电路116动作以使前监控器114的电压恒定，并使LD113的输出为恒定地进行反馈控制。在所述分析装置中也无例外地进行同样的控制。这能有效地帮助稳定地捕捉盘片上的凹坑和凹槽等的信号。
图5和图8所示的光盘驱动器中，构成为将光拾取头107的LD113和PD117设置在光盘101的单侧，对照射在光盘101上而反射的激光的检测信号进行处理，但如图9的假想线所示那样将光拾取头107构成为，夹着光盘101配设LD113和PD117，对照射在光盘101上而透射的激光的检测信号进行处理，这样的光盘驱动器的光拾取头107的功率控制电路也与图8相同。
但是，最适合分析对象111的部分的图像取得的激光输出并不一定使对所述凹坑和凹槽等进行捕捉的输出最佳。
这是因为从设置在光盘101的内部的凹坑和凹槽取得信息的激光路径与从分析对象111取得图像的激光路径不同的缘故。
发明内容
本发明的目的在于提供一种能得到最适合于从凹坑和凹槽取得信息的激光输出，而且能得到最适合于从分析对象111取得图像的激光输出的分析装置。
为了解决上述问题，本发明的构成是，在取得分析对象的图像时利用检测图像的明暗进行控制。由此，在从分析对象取得图像时能得到最佳对比度的图像。
本发明的分析装置，对局部配置了分析对象的分析用光盘照射检测光，以读取所述分析对象的状态，其特征在于，作为产生照射分析用光盘的激光的激光元件的功率控制系统，设有利用监控受光元件对所述激光的输出进行检测，使该监控受光元件的值为恒定地进行反馈的第1切换状态、以及照射于分析用光盘，而使反射或透射的激光的检测信号的平均值为恒定地进行反馈的第2切换状态，并设有在检测出分析用光盘的分析对象的读取位置之前将所述功率控制系统切换为第1切换状态，在分析用光盘的分析对象的读取位置处将所述功率控制系统切换为第2切换状态的控制手段。
又，其特征在于，使所述控制手段形成这样的结构，即检测出设置在分析用光盘的读取位置的稍微靠前的位置上的标记，将激光元件的功率控制系统切换为第2切换状态。
另外，其特征在于，使所述控制手段形成这样的结构，即检测出设置在分析用光盘的读取位置的稍微靠前的位置上的标记，将激光元件的功率控制系统切换为第2切换状态，检测到经过了规定时间后，使功率控制系统恢复为第1切换状态。
另外，其特征在于，使所述控制手段形成这样的结构，即检测出设置在分析用光盘的读取位置的稍微靠前的位置上的标记，将激光元件的功率控制系统切换为第2切换状态，检测出设置在所述读取位置的稍微靠后的位置上的标记，使功率控制系统恢复为第1切换状态。
本发明的分析用盘片，可对凹坑或凹槽进行扫描重放，具有用于控制盘片旋转的数据区域和配置有分析对象的读取区域，其特征在于，相对于配置有所述分析对象的读取区域，在旋转方向的稍微靠前的位置上的所述读取区域的整个径向区间内记录有标记。
本发明的分析用盘片，可对凹坑或凹槽进行扫描重放，具有用于控制盘片旋转的数据区域和配置有分析对象的读取区域，其特征在于，相对于配置有所述分析对象的读取区域，在旋转方向的稍微靠前的位置和稍微靠后的位置的所述读取区域的整个径向区间内记录有标记。
图1是表示本发明的分析装置的构成图。
图2是表示同一实施形态所使用的分析用光盘的俯视图。
图3是表示同一实施形态的分析用光盘的剖视图。
图4是表示在分析对象的前后位置设有标记的分析用光盘的俯视图。
图5是表示一般的光盘驱动器装置的构成图。
图6是表示已有的分析用光盘的局部剖切的俯视图。
图7是表示已有的分析用光盘的剖视图。
图8是表示已有的光拾取头的功率控制电路的构成图。
图9是表示已有的透射型光拾取头的LD(激光LED)和PD(光电检测器)的配置状态的分析用光盘的剖视图。
具体实施例方式
以下参照图1～图4对本发明的各实施形态进行说明。不过，与图5～图9所示的已有技术例相同的部分标上同一符号进行说明。
图1是表示本发明的实施形态的分析装置的光拾取头107的功率控制电路，图2～图4表示该分析装置所使用的分析用光盘201。
首先对分析用光盘201进行说明。
分析用光盘201如图2所示，将与检体和检查项目对应的试药的混合物作为分析对象111安放在光盘上，相对于配置有分析对象111的读取区域203，仅在旋转方向C的靠前位置上的读取区域的径向(箭头A方向)上记录标记204。
分析用光盘201上的分析对象111的位置及标记204相对于分析用光盘201的具体例的构成如图3所示。
如图3(a)所示，分析对象111设置在分析用光盘201的表面202a与光道103之间。标记204是通过将墨水205等带状地印刷在分析用光盘201的背面202b上而形成的。该图3(a)中，206是镜面加工而成的光道103上形成的凹坑或凹槽。207是镜面加工而成的光道103上形成的凸区。
分析对象111如图3(a)的假想线所示，设置在分析用光盘201的背面202b与光道103之间所构成的场合也相同。
图1所示的功率控制电路通过切换开关208将向APC电路115进行反馈的输入信号进行切换。该切换开关208将前监控器114的输出信号或积分电路209的输出信号中的任何一方反馈至APC电路115，该切换开关208由微机210进行以下控制。
微机210在取得分析用光盘201上的EFM信号和摆动信号时，对切换开关208进行切换以使前监控器114的输出信号反馈至APC电路115，并对LD113的激光输出进行控制以使前监控器114的输出电压为恒定。
在上述为使前监控器114的输出电压为恒定地对LD113的激光输出进行控制的运行中，当微机210从PD117的输出信号检测到上述标记204，则微机210自动地对切换开关208进行切换，以将对视频信号处理电路112的输出信号进行积分输出的积分电路209的输出信号反馈至APC电路115，使分析用光盘201的分析对象111的图像明暗分明。
更详细地说，由PD117捕捉来自分析对象111的反射光，并输入视频信号处理电路112。因为在分析用光盘201上进行扫描的是激光点，故光的反射因分析对象111而随时间发生强弱变化。利用积分电路209对其进行平均化，对激光的输出进行反馈控制，以使从视频信号处理电路112输出的图像的明暗(对比度)成为平均值。
微机210进一步构成为，检测出标记204，将积分电路209的输出信号反馈至APC电路115地进行了切换的切换开关208，在从检测到标记204开始经过规定时间后返回将前监控器114的输出电压反馈至APC电路115的状态。
如此构成，故能得到最适合从凹坑或凹槽取得信息的激光输出，而且能通过最适合从分析对象111取得图像的激光输出得到图像对比度最佳的图像输出。
上述实施形态中，标记204是通过将墨水205带状地印刷在分析用光盘201的背面202b上而形成的，但也可如图3(b)或(c)所示那样构成。
图3(b)的场合，在镜面加工后的光道103的一部分上设置镜面缺落的部位211可同样实现标记204。更具体地说，像设置在DVD的镜面上的BCA(BurstCutting Area参照DVD标准Ver.1.0等)那样的标记。
图3(c)的场合，在分析用光盘201的外形的一部分上设置凹部等形状的异形部位212，可同样实现标记204。更具体地说，将盘片本身的形状做成异形，将光的反射改变至数据光道面的标记。
上述各实施形态中，上述微机210构成为，相对于配置有分析对象111的读取区域203，在旋转方向的靠前位置上配置标记204，微机210识别出标记204并经过了规定时间后，使切换开关208恢复为原来的状态，但上述微机210也可构成为如图4所示那样，不仅在分析对象111的靠前位置，靠后位置上也可在分析用光盘201上设置同样的标记，检测出设置在分析对象111的靠后位置上的标记后使切换开关208恢复为原来的状态。
上述各实施形态的分析用光盘201的标记204是通过印刷或镜面缺落或形状异形来形成的，但也可将上述标记设置在分析用光盘201的凹坑或凹槽206或凸区207中。
具体地说，是通过光拾取头107检测出上述标记，来区别光道数据部分和配置有上述分析对象111的读取区域203的，具有以下例子。
是由EFM和MFM等凹坑构成的。更具体地说，是预凹坑、LPP(凸区预凹坑)(DVD-R/RW)，在作为地址信息进行记录的光道与光道之间的凸区部作为预凹坑刻上的。更具体地说，是CAPA(DVD-RAM的地址用的预凹坑)等。是摆动等在凹槽上或凸区上重叠某些调制的结构。
分析用盘片201上的由凹坑或凹槽或凸区构成的上述标记的详细位置和范围，是在配置有上述分析对象111的读取区域203的旋转方向的靠前位置、靠后位置中的任何一方，与上述各实施形态相同。
使用由凹坑或凹槽或凸区形成上述标记的分析用盘片201的分析装置，只是构成为光拾取头107读取上述标记并产生检测出了标记位置的各触发信号这一点与上述各实施形态不同。
上述各实施形态中，将光拾取头107的LD113和PD117设置在光盘101的单侧，形成对照射光盘101并反射的激光的检测信号进行处理的构成，但将光拾取头107夹着光盘101配设LD113和PD117，对照射光盘101并透射的激光的检测信号进行处理地构成的光盘驱动器的光拾取头107的功率控制电路也与图1相同。
如上所述，根据本发明的分析装置，作为产生照射分析用光盘的激光的激光元件的功率控制系统，设有利用监控受光元件对所述激光的输出进行检测并使该监控受光元件的值为恒定地进行反馈的第1切换状态、照射于分析用光盘而反射或透射的激光的检测信号的平均值为恒定地进行反馈的第2切换状态，并设有在检测出分析用光盘的分析对象的读取位置之前将所述功率控制系统切换为第1切换状态，在分析用光盘的分析对象的读取位置处将所述功率控制系统切换为第2切换状态的控制手段，故能得到最适合从凹坑或凹槽取得信息的激光输出，而且能通过最适合从分析对象取得图像的激光输出得到对比度好的图像。
权利要求
1.一种分析装置，对局部配置了分析对象的分析用光盘照射检测光，以读取所述分析对象的状态，其特征在于，作为产生照射分析用光盘的激光的激光元件的功率控制系统，设有利用监控受光元件对所述激光的输出进行检测，并使该监控受光元件的值为恒定地进行反馈的第1切换状态、以及照射于分析用光盘而使反射或透射的激光的检测信号的平均值为恒定地进行反馈的第2切换状态，而且设有在检测出分析用光盘的分析对象的读取位置之前将所述功率控制系统切换为第1切换状态，在分析用光盘的分析对象的读取位置处将所述功率控制系统切换为第2切换状态的控制手段。
2.如权利要求1所述的分析装置，其特征在于，使所述控制手段形成这样的结构，即检测出设置在分析用光盘的读取位置的稍微靠前的位置上的标记后，将激光元件的功率控制系统切换为第2切换状态。
3.如权利要求1所述的分析装置，其特征在于，使所述控制手段形成这样的结构，即检测出设置在分析用光盘的读取位置的稍微靠前的位置上的标记后，将激光元件的功率控制系统切换为第2切换状态，检测到经过了规定时间后，使功率控制系统恢复为第1切换状态。
4.如权利要求1所述的分析装置，其特征在于，使所述控制手段形成这样的结构，即检测出设置在分析用光盘的读取位置的稍微靠前的位置上的标记后，将激光元件的功率控制系统切换为第2切换状态，检测出设置在所述读取位置的稍微靠后的位置上的标记后，使功率控制系统恢复为第1切换状态。
5.一种分析用盘片，可对凹坑或凹槽进行重放扫描，具有用于控制盘片旋转的数据区域和配置有分析对象的读取区域，其特征在于，相对于配置有所述分析对象的读取区域在旋转方向的稍微靠前的位置上的所述读取区域的整个径向区间记录标记。
6.一种分析用盘片，可对凹坑或凹槽进行重放扫描，具有用于控制盘片旋转的数据区域和配置有分析对象的读取区域，其特征在于，相对于配置有所述分析对象的读取区域在旋转方向的稍微靠前的位置上和稍微靠后的位置上的所述读取区域的整个径向区间记录标记。
全文摘要
本发明的目的在于提供一种即使是分析用光盘上的分析对象部分，也能得到合适的对比度的图像的分析装置。在取得分析对象(111)的图像时，控制手段(210)对切换开关(208)进行切换，将积分电路(209)的输出信号反馈至对激光驱动电路(116)进行控制的APC电路(115)，以使照射分析用光盘并反射或透射的激光的检测信号的平均值成为恒定。
文档编号G01N21/17GK1662806SQ0381426
公开日2005年8月31日 申请日期2003年5月29日 优先权日2002年6月19日
发明者胁田次雄 申请人:松下电器产业株式会社
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
