专利名称：一种微位移测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及ー种微位移測量装置。
背景技术：
现代运载工程和エ业生产中更加广泛地需要微位移測量，它们可能是静态或动态的測量，也可能是在线或离线检测，检测精度以I微米到10微米及数十微米的要求居多，并且要求測量装置便于携带，操作简单；并对稳定性和使用的环境适应性提出了越来越高的要求。目前，现有微位移測量装置功能用途単一，不可拆卸，体积大，价格昂贵，不能在强电磁干扰环境下正常工作。
实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题是，提供一种适用范围广，可拆卸，体积小，制造成本低，在强电磁干扰环境下能正常工作的微位移測量装置。本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是一种微位移測量装置，包括测量检测模块、高度调整�？�、电路放大�？楹涂垢扇趴翘澹隹垢扇趴翘逵傻装濉⑶鞍�、上盖板、防尘膜、后板和侧板构成，所述防尘膜位于上盖板上，所述防尘膜上设有圆孔；所述测量检测�？橛刹饬刻酵�、測量探头座、弾性体、測量柱底座、温度补偿柱、应变片接线盘和应变片组成，所述测量探头安装在測量探头座上，所述测量探头座固定在弾性体上，所述弹性体与温度补偿柱均安装在測量柱底座上，所述应变片为四片，弾性体和温度补偿柱上各两片，并通过相应的应变片接线盘与电路放大�？橄嗔凰龈叨鹊髡？橛缮闲ǹ�、下楔块、紧定螺钉和调节螺杆组成，所述上楔块位于下楔块上，所述调节螺杆与下楔块相连，所述紧定螺钉位于前板上；所述电路放大�？橛傻枷吡油泛头糯蟮缏钒遄槌桑龇糯蟮缏钒灏沧霸跍y量柱底座上，所述导线联接头安装在后板上，通过线路与放大电路板相连。本实用新型通过测量检测�？榈牟饬刻酵罚灰谱獜幮蕴宓难褂Ρ洌ü龔幮蕴迳系挠Ρ淦钩傻牡缜沤褂Ρ渥晃缪剐藕牛缏贩糯竽？楹笫涑龈蟮牡缪剐藕爬赐瓿杉觳�。与现有技术相比，本实用新型具有以下特点(1)设有温度补偿柱，可以消除温度对应变片的影响；(2)设有抗干扰壳体，可以屏蔽外部的电磁干扰；(3)由于测量检测�？橹杏Ρ淦芨杏Φ轿⑿〉挠Ρ洌蚨梢詼y量十分微小的位移变化，检测精度可达I微米。综上所述，本实用新型结构紧凑，体积�。亓壳幔约郾雀撸刹鹦叮沧胺奖悖阌谛僮骷虻ィ垢扇拍芰姡ぷ骺煽浚瑴y量精度高，适用范围广。本实用新型可以用于測量、检测和记录工程中的静态和动态过程，如在轮轨系统中检测超偏载，在道路管理系统中实现车体动态称重，尤其能用于在强电磁干扰环境下的微位移測量。
图I为本实用新型实施例的结构示意图；图2为图I所示实施例的俯视图。
具体实施方式
以下结合附图及实施例对本实用新型作进ー步说明。參照附图，本实施例包括测量检测�？�、高度调整�？�、电路放大模块和抗干扰壳体，所述抗干扰壳体由底板I、前板2、上盖板5、防尘膜6、后板11和侧板17构成，所述防尘膜6位于上盖板5上，所述防尘膜6上设有圆孔；所述测量检测�？橛刹饬刻酵�8、測量探头座7、弹性体4、测量柱底座14、温度补偿柱15、应变片接线盘16、应变片18组成，所述测量探头8安装在測量探头座7上，所述测量探头座7固定在弾性体4上，所述弾性体4与温度补偿柱15均安装在測量柱底座14上，所述应变片为四片，弾性体4和温度补偿柱15上各 两片，并通过相应的应变片接线盘与电路放大�？橄嗔凰龈叨鹊髡？橛缮闲ǹ�13、下楔块12、紧定螺钉3和调节螺杆10组成，所述上楔块13位于下楔块12上，所述调节螺杆10与下楔块12相连，所述紧定螺钉3位于前板2上；所述电路放大�？橛傻枷吡油�9和放大电路板19组成，所述放大电路板19安装在測量柱底座14上，所述导线联接头9安装在后板11上，通过线路与放大电路板19相连。所述调节螺杆10可调节下楔块12的水平位置，通过上楔块13与下楔块12之间的斜面，起到抬升上楔块13的作用。所述紧定螺钉3起紧定上楔块13位置的作用。測量吋，首先将本实施例固定在被测エ件的基座上，然后调整调节螺杆10，推动下楔块12，下楔块12抬升上楔块13，进而抬升测量柱底座14，将测量柱底座14上的测量探头8沿防尘膜6上的圆孔顶出，在接触到被测エ件后，拧紧紧定螺钉3，固定上楔块13 ；当被测エ件有向下位移时，測量探头8下压导致弾性体4压缩并产生压应变，这会导致应变片18的电阻发生变化，通过弾性体4与温度补偿柱15上的应变片组成的电桥，将电阻的变化转换为输出电压的变化，最后经过放大电路板19将电压放大，输出的电压信号通过联接头9进入后续的设备进行数据的采集与处理。
权利要求1.一种微位移测量装置，其特征在于包括测量检测�？�、高度调整�？�、电路放大�？楹涂垢扇趴翘澹隹垢扇趴翘逵傻装�、前板、上盖板、防尘膜、后板和侧板构成，所述防尘膜位于上盖板上，所述防尘膜上设有圆孔；所述测量检测模块由测量探头、测量探头座、弹性体、测量柱底座、温度补偿柱、应变片接线盘和应变片组成，所述测量探头安装在测量探头座上，所述测量探头座固定在弹性体上，所述弹性体与温度补偿柱均安装在测量柱底座上，所述应变片为四片，弹性体和温度补偿柱上各两片，并通过相应的应变片接线盘与电路放大模块相连；所述高度调整�？橛缮闲ǹ�、下楔块、紧定螺钉和调节螺杆组成，所述上楔块位于下楔块上，所述调节螺杆与下楔块相连，所述紧定螺钉位于前板上；所述电路放大�？橛傻枷吡油泛头糯蟮缏钒遄槌桑龇糯蟮缏钒灏沧霸诓饬恐鬃希龅枷吡油钒沧霸诤蟀迳希ü呗酚敕糯蟮缏钒逑嗔�。
专利摘要一种微位移测量装置，包括测量检测�？�、高度调整模块、电路放大�？楹涂垢扇趴翘澹隹垢扇趴翘逵傻装濉⑶鞍�、上盖板、防尘膜、后板和侧板构成；测量检测�？橛刹饬刻酵�、测量探头座、弹性体、测量柱底座、温度补偿柱、应变片接线盘和应变片组成，所述应变片为四片，弹性体和温度补偿柱上各两片；高度调整�？橛缮闲ǹ�、下楔块、紧定螺钉和调节螺杆组成；电路放大�？橛傻枷吡油泛头糯蟮缏钒遄槌桑龇糯蟮缏钒灏沧霸诓饬恐鬃希龅枷吡油钒沧霸诤蟀迳希ü呗酚敕糯蟮缏钒逑嗔１臼涤眯滦徒峁菇舸眨寤。亓壳幔约郾雀撸刹鹦叮沧胺奖悖阌谛僮骷虻ィ垢扇拍芰η浚ぷ骺煽浚饬烤雀撸视梅段Ч�。
文档编号G01B7/02GK202562431SQ20122023647
公开日2012年11月28日 申请日期2012年5月24日 优先权日2012年5月24日
发明者曹玉, 李屹罡, 黄志辉 申请人:曹玉, 李屹罡
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