专利名称：元件测试分选机的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种元件测试分选系统，特别是涉及一种可自动侦测分类每一不同属性压控振荡器的测试分选系统。
背景技术：
按现今为了有效节省人力以及提高生产效率，都以发展自动化生产设备为导向，其中品质的控管也为自动化工业制作工艺中相当重要一环，尤其为精密化的电子零件，其误差值要求相对更为严谨，因此在出品前都需先进行品质筛�。臣觳獾姆绞绞怯扇肆霉ぞ叻直鹫攵悦恳辉胁馐院螅俳泻细衿酚氩缓细衿返姆掷嗌秆。绱怂孀偶觳庀钅康母丛映潭鹊脑黾樱韬姆迅嗟娜肆Τ杀纠磁浜霞觳猓以谑导手圃焐希〔苁毙ВＲ滓蛉宋韬龆贾鲁銎凡缓细衤试黾�。
但是，上述的架构是通过适当处的落料孔落下，进行分选作业，故往往仅能设定单一的项目进行分�。虼巳粢觳舛喔鱿钅浚蛐柙俅涡薷某绦颍绕涠杂谄德侍匦圆煌恼竦雌鳎涑思觳馑凳┑募傻缏返慕咏诺牡缙匦允欠裾Ｍ猓枵攵云涮匦缘牟煌蟹掷嗉觳猓谑导手圃焐希∫幌咄瓿傻氖背绦饰郑Ｐ枇硖砉杭觳獠煌钅康姆盅∠低常蛞匀斯さ姆绞脚浜霞焓臃掷啵绱思葱瓒钔庠黾酉嗟贝蟮某杀荆倚Ч幢睾芟灾�。
实用新型内容本实用新型的主要目的在于提供一种元件测试分选机，其可将不同属性测试实际值的待测试元件，予以执行归纳分类。
本实用新型的另一目的在于提供一种元件测试分选机，其可针对该待测试元件弹性调整执行及存储射频信道选择及信号的测量项目与测量值。
本实用新型的又一目的在提供一种元件测试分选机，其可根据实际需求设定执行及存储射频信号是否异常的规格判断程序。
为了达成上述的目的，本实用新型主要包括振动入料组，具有可容纳待测试元件的料斗，并在该料斗一端延伸一导料管，该导料管末端形成定位架；转盘，其周围环设有数个沟槽洞，以依序接收及输送上述定位架之每一待测试元件；测试系统机构，依行进程序逐一探测每一沟槽洞的待测试元件，并执行既定的射频测试校验项目及存储校验修正值的对比分析后，再根据测试项目与测试值的预设属性进行分类；及收料管架，具有多组收纳区，以分别收纳经由分类后的已测试元件。
其中所述的待测试元件为经表面黏着处理(Surface-Mount Technology)的无线电射频分片�？�。
而本实用新型的另一实施例还包括振动入料组，具有可容纳待测试元件的料斗，并在该料斗一端延伸一导料管，该导料管末端形成定位架；转盘，其周围环设有数个沟槽洞，以依序接收及输送上述定位架的每一待测试元件；测试系统机构，依行进程序逐一探测每一沟槽洞的待测试元件，并执行既定的射频测试校验项目及存储校验修正值的对比分析后，再根据测试项目与测试值的预设属性进行分类；收料管架，具有多组收纳区；入料臂，用以由定位架依序吸起(取)待测试元件置入沟槽洞上；旋转臂，用以依序由沟槽洞上吸起(取)待测试元件进行翻转；及出料臂，用以吸起(取)经测试后之待测试元件，置入于指定收料管架的收纳区。
其中上述的振动入料组还包括振动器分别振动料斗及导料管，并包括一气压元件，及在料斗内设有光电传感器，以当待测试元件定位异常时，启动该气压元件振出该待测试分片重新筛选。
其中上述的转盘还包括一伺服角度定位马达，由计算机控制接收的时序与每次输送的枢转角度；盘面待测载具，以预定间距排设于每一沟槽洞内；及光电传感器，设在每一盘面待侧载具上，以检测所接收的待测试元件状态的。
其中上述的测试系统机构还包括高频测试头，用以检测每一待测试元件；滑台，定位该高频测试头；定位机构，用以定位该滑台与转盘的相对高度及位置；及附带光电传感器的直线型气缸，用以传动该高频测试头进行探测。
其中上述的入料臂由计算机控制的旋转及直线型气压缸所组成，其中该直线气压缸的末端设有一吸嘴。
其中上述的旋转臂由计算机控制的旋转及直线型气压缸所组成，其中该直线气压缸的末端设有一吸嘴，该旋转气压缸则进行180度推转。
其中上述的出料臂由计算机控制的旋转及直线型气压缸所组成，其中该直线气压缸的末端设有一吸嘴。
其中上述之收料管架由计算机控制之伺服角度定位马达，光电传感器，管架导槽，管架及收纳管所组成。
图1为本实用新型试举一较佳的实施外观示意图；图2为本实用新型实施例中振动入料组与转盘间的外观示意图；图3为本实用新型实施例中振动入料组与转盘于另一角度的外观示意图；图4为本实用新型实施例中将振动入料组的待测试元件移至转盘的动作示意图；图5为本实用新型实施例中将转盘内的待测试元件进行转向的动作示意图；图6为本实用新型实施例中测试系统机构检测待测试元件的动作示意图；图7为本实用新型实施例中将待测试元件分类移至收料管架的动作示意图。
具有实施方式如图1所示，本实用新型提供一种元件测试分选系统，其主要包括一振动入料组1、一转盘2、一测试系统机构3及一收料管架4所组成，以将数个待测试元件A依序利用可程控进行单颗手动和自动连续测试等程序后，再个别予以分类收集，其中该振动入料组1(请配合参阅图2、图3所示)具有可容纳待测试元件A的料斗11，并在该料斗11一端延伸一导料管12，该导料管12末端形成定位架13；该转盘2周围环设有数沟槽洞21，以依序接收及输送上述定位架13的每一待测试元件A；该测试系统机构3(请配合参阅图6所示)具有高频测试头32，以依行进程序逐一探测每一沟槽洞21的待测试元件A，并执行既定的射频测试校验项目及存储校验修正值的对比分析后，再根据测试项目与测试值的预设属性进行分类；该收料管架4(请配合参阅图7所示)具有多组收纳区40，以分别收纳经由分类后的已测试元件。
其中上述待测试元件A是经表面黏着处理(Surface-Mount Technology)的无线电射频元件分片模块，且该待测试元件A采用印刷电路板或陶瓷基板，使该测试系统机构可针对该待测试元件执行及存储射频信道选择及信号的测量项目与测量值(其包括功率、频率、调变量、消耗电源、灵敏度、相位噪声仪器)，以及执行及存储射频信号是否异常的规格判断程序(其包括功率、频率、调变量、消耗电源、灵敏度、相位噪声测量。
以下将本实用新型针对上述实施例的细部构件进一步介绍，其包括有振动入料组1、转盘2、测试系统机构3、收料管架4、入料臂5、旋转臂6及出料臂7(再如图1所示)；其中该振动入料组1(请配合参阅图2、图3所示)具有可容纳待测试元件A的圆形料斗11，并在该料斗11一端延伸一导料管12，该导料管12末端形成定位架13，且该料斗11侧缘贴设一圆形振动器(图未示)，该导料管12侧缘则贴设有一直线型振动器(图未示)，以将待测试元件A装入该料斗11内后，通过振动由导料管12的导引送出至定位架13定位，以等待进行输送。
该转盘2(请配合参阅图4所示)由计算机控制的伺服角度定位马达22与光电传感器23及盘面待侧载具24所组成；其中该伺服角度定位马达22由计算机控制接收的时序与每次输送的枢转角度；该盘面待测载具24，以预定间距排设于每一沟槽洞21内；该光电传感器23设于每一盘面待测载具24上，以检测所接收的待测试元件A状态。
该测试系统机构3(请配合参阅图6所示)可包括一高频测试头32，其中前端具有一探针31，用以检测每一待测试元件的测试端置状态；滑台33，定位该高频测试头32；定位机构34，用以定位该滑台33与转盘32的相对高度及位置；及附带光电传感器35的直线型气缸36，用以传动该高频测试头32进行探测者，以依行进程序逐一探测每一沟槽洞21的待测试元件A，并执行既定的射频测试校验项目及存储校验修正值的对比分析后，再根据测试项目与测试值的预设属性进行分类，其中该测试系统机构3的定位机构34为X-Y-Z三轴附带米达尺的机构，如此即可各沿着X轴，Y轴及Z轴进行三度空间的位移，以精确微调定位该高频测试头32与转盘2的相对位置与高度。
该收料管架4(请配合参阅图7所示)由计算机控制的伺服角度定位马达、光电传感器41、管架导槽42、管架43及收纳管44所组成，在管架导槽42间形成多组收纳区40。
该入料臂5(请配合参阅图4所示)由计算机控制的旋转型气压缸51及直线型气压缸52所组成，其中该直线气压缸52的末端设有一吸嘴53用以由定位架13依序吸起(取)待测试元件A置入转盘的沟槽洞21上。
该旋转臂6(请配合参阅图5所示)由计算机控制的旋转型气压缸61及直线型气压缸62所组成，其中该直线气压缸62的末端设有一吸嘴63，该旋转气压缸61则进行180度推转，用以依序由转盘2的沟槽洞21上吸起(取)待测试元件片进行翻转。
该出料臂7(请配合参阅图7所示)由计算机控制的旋转型气压缸71及直线型气压缸72所组成，其中该直线气压缸72的末端设有一吸嘴73，用以吸起(取)经测试后的已测试元件，转移至指定管架导槽42上方，再置入相应预设条件的管架的收纳管区域。
通过上述的结构组成，即可将每一欲检测分类的待测试元件A装入振动入料组1的料斗11内(如图2所示，再依序通过振动器一一振动，并透过导料管12送至定位架13上，再由入料臂5捡出放置转盘2上的沟槽洞21中(如图4所示)，其中如遇待测试元件A反向时，则利用旋转臂6捡出反转后(如图5所示)，再放置回转盘2上的沟槽洞21中，复经测试系统3通过高频测试头32的探针31透过滑台33位移依序接触每一待测试元件A的测试端(如图6所示)，以测试得到不同的实际测试值后，再通过出料臂7配合不同测试值的属性范围分类分别送入收料管架4处理(如图7所示)。
此外该转盘2的盘面待测载具24由不导电材料所构成，故可与待测试元件A的测试端保持绝缘，以防止因短路而影响测试准确值。
再者(如图2、图3所示)，该振动入料组1还包括一气压元件(图未示)及在圆形料斗11内设有光电传感器14，用以监测每一振动送出的待测试元件A，即当待测试元件A定位异常时(如现今一般测试是采焊接面反面测试的方式，若监测送出的待测试元件分片是以盖子朝上的姿态送出)，则启动控制该气压元件以气压吹袭将振出通往定位架13的待测试元件A吹下料斗11内重新筛选，且经筛选的待测试元件分片A会进入导料管12，而该导料管12的末端由一直线且不连续的定位架13所组成，以精确定位该待测试元件A，以待入料臂以由定位架13依序吸起(取)待测试元件分片A置入转盘2内，如此在使用上更具方便性。
本实用新型所提供的元件测试分选系统，与其它现有技术相互比较时，更具有下列的优点1、可将不同属性测试实际值，予以执行归纳分类。
2、可针对该待测试元件弹性调整执行及存储射频信道选择及信号的测量项目与测量值。
3、可根据实际需求设定执行及存储射频信号是否异常的规格判断程序。
权利要求1.一种元件测试分选机，其特征在于，包括振动入料组，具有可容纳待测试元件的料斗，并在该料斗一端延伸一导料管，该导料管末端形成定位架；转盘，其周围环设有数沟槽洞，以依序接收及输送上述定位架的每一待测试元件；用于探测及分类待测试元件的测试系统机构；及收料管架，具有用以分别收纳经由分类后的待测试元件的多组收纳区。
2.如权利要求1所述的元件测试分选机，其特征在于，所述待测试元件为经表面黏着处理的无线电射频元件分片�？�。
3.如权利要求1所述的元件测试分选机，其特征在于，该测试系统机构包括一用以检测每一待测试元件的高频测试头；一用于定位该高频测试头的滑台；一用以定位该滑台与转盘的相对高度及位置的定位机构；及一用以传动该高频测试头的直线型气缸，附带有光电传感器。
4.一种元件测试分选机，其特征在于，包括振动入料组，具有可容纳待测试元件的料斗，并在该料斗一端延伸一导料管，该导料管末端形成定位架；转盘，其周围环设有数个沟槽洞，以依序接收及输送上述定位架的每一待测试元件；用于探测并分类已测试元件的测试系统机构；收料管架，具有多组收纳区；入料臂，用以由定位架依序吸起(取)待测试元件置入沟槽洞上；旋转臂，用以依序由沟槽洞上吸起(取)待测试元件进行翻转；及出料臂，用以吸起(取)经测试后的已测试元件，置入于指定收料管架的收纳区。
5.如权利要求4所述的元件测试分选机，其特征在于，该待测试元件为经表面黏着处理的无线电射频元件分片�？�。
6.如权利要求4所述的元件测试分选机，其特征在于，在该料斗侧缘设有一振动器，在该导料管侧缘设有另一振动器。
7.如权利要求4所述的元件测试分选机，其特征在于，该振动入料组还包括一用于可吹袭该待测试元件的气压元件，及在料斗内设有用以监测待测试元件状态的光电传感器。
8.如权利要求4所述的元件测试分选机，其特征在于，该转盘还包括一由计算机控制的伺服角度定位马达；盘面待测载具，以预定间距排设于每一沟槽洞内；及用于检测所接收的待测试元件状态的光电传感器，设于每一盘面待测载具上。
9.如权利要求4所述的元件测试分选机，其特征在于，该测试系统机构还包括用以检测每一待测试元件的高频测试头；用以定位该高频测试头的滑台；用以定位该滑台与转盘的相对高度及位置的定位机构；及用以传动该高频测试头的直线型气缸，附带有光电传感器。
10.如权利要求4所述的元件测试分选机，其特征在于，该入料臂由计算机控制的旋转型气压缸及直线型气压缸所组成，其中该直线气压缸的末端设有一吸嘴。
11.如权利要求4所述的元件测试分选机，其特征在于，该旋转臂由计算机控制的旋转型气压缸及直线型气压缸所组成，其中该直线气压缸的末端设有一吸嘴。
12.如权利要求4所述的元件测试分选机，其特征在于，该出料臂由计算机控制的旋转型气压缸及直线型气压缸所组成，其中该直线气压缸的末端设有一吸嘴。
13.如权利要求4所述的元件测试分选机，其特征在于，该收料管架由计算机控制的伺服角度定位马达，光电传感器，管架导槽，管架及收纳管所组成。
14.如权利要求5所述的元件测试分选机，其特征在于，所述的待测试元件为印刷电路板。
15.如权利要求5所述的元件测试分选机，其特征在于，所述的待测试元件为陶瓷基板。
16.如权利要求8所述的元件器测试分选机，其特征在于，该盘面待测载具为不导电材料。
17.如权利要求9所述的元件器测试分选机，其特征在于，该测试系统机构的定位机构为X-Y-Z三轴附带米达尺的机构。
专利摘要本实用新型提供一种元件测试分选机，包括振动入料组，具有可容纳待测试元件分片的料斗，并在该料斗一端延伸一导料管，该导料管末端形成定位架；转盘，其周围环设有数个沟槽洞，以依序接收及输送上述定位架的每一待测试元件；测试系统机构，依行进程序逐一探测每一沟槽洞的待测试元件，并执行既定的射频测试校验项目及存储校验修正值的对比分析后，再根据测试项目与测试值的预设属性进行分类；及收料管架，具有多组收纳区，以分别收纳经由分类后的已测试元件。
文档编号G01N23/00GK2781361SQ20042000155
公开日2006年5月17日 申请日期2004年1月16日 优先权日2004年1月16日
发明者高敏 申请人:达方电子股份有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
