专利名称：坞接式测试系统的制作方法
技术领域：
本发明是关于一种测试系统，尤其指一种适用于半导体组件、可轻易变换不同测试规格的坞接式测试系统。
背景技术：
近几年来，随着微机电系统的日新月异，各种小型化、高性能且成本低廉的传感器纷纷问世，使得传感器由关键组件进一步提升成为产生创新价值的主要组件，例如:苹果公司的iPhone、新世代iPod、任天堂的Wii所使用的三轴加速度传感器,大部分采用微机电系统技术运用在传感器上，加速度传感器的运作原理为感应出加速度方向的XYZ三轴成分，从而得出物体在三度空间中的运动向量。现有微机电产品测试上，已由最初单点(single site)旋转测试发展到多点(multi sites)旋转测试。但测试完成后如需进行其它如扫脚(lead scan)、卷带包装(tape& reel)等动作，要通过相应装置来处理，耗费时间与成本。
发明内容
本发明的目的在于提供一种坞接式测试系统，以改进公知技术中存在的不足。为实现上述目的，本发明提供的坞接式测试系统，包括:一第一机台，包括有一第一本体以及设于该第一本体上的一转塔以及围绕该转塔而设置的一进料槽、一检视装置、一料盘及一移行机构，该第一本体包括有一第一坞接面板，该转塔包括呈角度相间隔排列的复数吸取头，该移行机构包括有一取放器，该进料槽、该检视装置及该料盘分别对应设置于该复数吸取头下方；以及一第二机台，包括有一第二本体以及设于该第二本体上的一测试装置，该第二本体包括有一第二坞接面板，该第二坞接面板选择式接合于该第一坞接面板，该测试装置包括有一承载座；其中，该移行机构的该取放器移行于一第一位置与一第二位置，当该取放器位于该第一位置时对应于该料盘，当该取放器位于该第二位置时对应于该承载座。所述的系统，其中，该第一坞接面板与该第二坞接面板由复数销而定位，并通过复数螺锁件相互固定。所述的系统，其中，该第二机台包括一保护罩，罩盖住该测试装置。所述的系统，其中，该保护罩包括有一对平行延伸段搭接在该第一本体，由一侧面视角观察，该保护罩呈倒L形。所述的系统，其中，该检视装置为一电荷耦合组件。所述的系统，其中，包括另一第一机台接合于该第二机台。所述的系统，其中，该第一机台包括另一移行机构与该移行机构相隔设置。所述的系统，其中，该第一机台包括一卷带式包装机构对应设置于该复数吸取头下方。
所述的系统，其中，该第一机台包括一横移机构与另一料盘，该二料盘皆设置于该横移机构，该横移机构移动使该二料盘其中之一正对于该复数吸取头下方。本发明提供的坞接式测试系统，能整合更多功能以达到工艺高效率的目的。本发明提供的坞接式测试系统，能因应不同待测组件类型，快速且方便更换对应的测试装置，减少设备成本，或者快速转换于不同组件数量的测试模式。
图1是本发明第一较佳实施例的坞接式测试系统坞接前示意图。图2是本发明第一较佳实施例的坞接式测试系统坞接后示意图。图3是图1的第一机台局部放大图。图4是图1的第二机台局部放大图。图5是本发明第二较佳实施例的坞接式测试系统的测试装置示意图。图6是本发明第三较佳实施例的坞接式测试系统第一运作状态的示意图。图7是本发明第三较佳实施例的坞接式测试系统第二运作状态的示意图。图8是本发明第四较佳实施例的坞接式测试系统的平面示意图。图9是本发明第五较佳实施例的坞接式测试系统的第一机台部分示意图。附图中主要组件符号说明:第一机台10、40、41、50、60 ；第一本体11，第一坞接面板111;转塔12、62，吸取头 121、621 ;进料槽13 ；检视装置14 ；料盘15、43、44、52、53、63a、63b ；移行机构16、401、411、501、502、601，取放器 161,661 ；震动盘17 ；包装装置18 ；第二机台20、42、51 ；第二本体21，第二坞接面板211 ;测试装置22、421、511 ;承载座23;保护罩24，延伸段241 ；销30 ；锁附件31;公转兼自转平台33;横移机构66 ；位置A、B、C。
具体实施例方式本发明的坞接式测试系统包括一第一机台与一第二机台。上述第一机台包括有一第一本体以及设于第一本体上的一转塔以及围绕转塔而设置的一进料槽、一检视装置、一料盘及一移行机构。上述第一本体包括有一第一坞接面板，转塔包括呈角度相间隔排列的复数吸取头，移行机构包括有一取放器，进料槽、检视装置及料盘系分别对应设置于复数吸取头下方。上述第二机台包括有一第二本体以及设于第二本体上的一测试装置。上述第二本体包括有一第二坞接面板，第二坞接面板选择式接合于第一坞接面板，测试装置包括有一承载座。上述移行机构的取放器移行于一第一位置与一第二位置。当取放器位于第一位置时是对应于料盘，当取放器位于第二位置时是对应于承载座。由上述系统设计，不仅整合了入料、检视、测试多项功能，而且在欲变换不同测试组件时，只要由将第一机台自初始第二机台从坞接状态分离、再将具有对应的测试装置的第二机台再坞接至第一机台即可。上述第一坞接面板与第二坞接面板可由复数销而定位，并通过复数螺锁件相互固定。上述第二机台可还包括一保护罩，罩盖住测试装置。此外，保护罩可包括有一对平行延伸段搭接在第一本体，由一侧面视角观察，保护罩呈倒L形。上述检视装置为一电荷耦合组件。本发明的测试系统可还包括另一第一机台系接合于第二机台，由复数第一机台与第二机台的配合运作可以减少因等待入料导致时间浪费的情形。第一机台可还包括另一移行机构，且二移行机构相隔设置，可让二移行机构分别负责入料与收料的步骤。第一机台可还包括一卷带式包装机构对应设置于吸取头下方。第一机台可还包括一横移机构与另一料盘，二料盘皆设置于横移机构，横移机构移动使二料盘其中之一正对于复数吸取头下方。以下结构附图对本发明作详细描述。请参阅图1至图4，分别为第一实施例的坞接式测试系统坞接前、后示意图以及二不同机台的局部放大图。图中示出一坞接式测试系统，主要包括一第一机台10与一第二机台20。第一机台10包括有一第一本体11、一转塔12、一进料槽13、一检视装置14、一料盘15及一移行机构16，其中转塔12、进料槽13、检视装置14、料盘15及移行机构16皆设于第一本体11上，且进料槽13、检视装置14、料盘15及移行机构16是围绕转塔12设置。转塔12包括有呈角度相间隔排列的复数吸取头121，转塔12可进行自转运动使每一吸取头121产生角度位移；第二机台20上则包括有一第二本体21与一测试装置22，测试装置22安装在第二本体21上。特别地，上述第一机台10包括有一第一坞接面板111，第二机台20包括有一第二坞接面板211，第二坞接面板211用于选择式与第一坞接面板111相接合。本例中，上述面板111、211呈四边形，特别是矩形。本实施例中两坞接面板111、211还通过复数销30构件来加强定位准确度，以及通过复数锁附件31如螺栓使两机台10、20的接合更为稳固。第二机台20还包括一保护罩24，用于罩盖住测试装置22。保护罩24于左右两侧各延伸出一延伸段241，可搭接在第一机台10的本体11。由一侧面视角观察，保护罩24呈倒L形。
前述进料槽13、检视装置14、料盘15是围绕着转塔12而设置，且皆对应于转塔12的吸取头121。本例的进料槽13 —端延伸至吸取头121下方，另一端连接于一震动盘17，震动盘17受一震动机构(图未示)的力量而产生震动。震动盘17为一个中央突出的盘状结构，故待测组件从进料区震动掉落后，随即落到震动盘17的环周。震动盘17由震动机构的震动，使待测组件随着环周侧壁的螺旋导轨顺势上爬。期间会历经一光感测步骤，由此判断待测组件的正反方位，此为公知技术，故不再赘述。一经判断待测组件处于正确的方位时，则将组件继续往前送入进料槽13中。在进料槽13内的待测组件顺势被推送，而吸取头121在进料槽13尾端吸取待测组件后，由转塔12的转动而位移至外观检验区的平台上，亦即前述的检视装置14。检视装置14承接待测组件的部位同样位于吸取头121下方，其主要利用摄影�？槿绲绾神詈献榧�(CXD)来检验待测组件外观上的正确性，例如外表印刷文字是否正确或有无瑕疵。一旦判断为错误或瑕疵，吸取头121可将待测组件送至一回收区。经检视装置14检验无误的待测组件便再被吸取头121移送至一料盘15。移行机构16具有一取放器161用以取放、载送待测组件于第一机台10与第二机台20之间，亦即取放器161可进行空间上的移动。详细而言，取放器161可移动至位于吸取头121下方的料盘15处以拿取料盘15，其中料盘15是负责储存多个从吸取头121放下的待测组件，此时称取放器161位于第一位置；之后，取放器161可再将料盘15连同其上的待测组件一起运送至第二机台20上的测试装置22的承载座23以进行组件测试，此时称取放器161位于第二位置。本实施例中，第二机台20上的测试装置22是特别用于测试重力传感器，可进行待测组件相对于X轴方向呈前后转动的倾斜角度测试、以及相对于Y轴方向呈左右转动的倾斜角度测试。此外，本实施例还示范了在第一机台10上可还包括一包装装置18:如卷带式(tape and reel)包装机构，以方便进行测试完组件的后续包装步骤。请参阅图5，为第二实施例的测试系统的测试装置示意图。本发明的一特色在于在沿用第一机台的情形下，任意变换第二机台上测试装置的类型，如图中显示另一测试装置的态样，其测试装置具有一公转兼自转平台33。请参阅图6与图7，为第三实施例的坞接式测试系统不同运作状态下示意图。本实施例的自动化系统主要包括两组第一机台40、41以及一第二机台42，且每一组第一机台40、41及其上设置的进料槽、检视装置及移行机构等细节都与第一例相同，故在此不另行赘述。第二机台42以不同侧同时与两组第一机台40、41坞接。图中左侧第一机台40的移行机构与右侧第一机台41的移行机构401、411同样都能进行移动而使各自的取放器位移于第一机台40、41与第二机台42之间。以下将说明本例的运作。首先当图中左侧第一机台40已进行到将料盘43通过移行机构40移送到第二机台42上的测试装置421进行测试时，图中右侧第一机台41便开始进行料盘44入料的作业，如图7所示。直到料盘43上组件已测试完毕并由左侧的移行机构401取回，右侧的移行机构411恰可将盛满待测组件的另一料盘44运送至测试装置421以进行测试，如图8所示。如此可避免单一第一机台场合中等待再入料的时间。因此本实施例更具有加速整体测试作业的功效，尤其针对大量组件测试的场合中，更见其优势。请参阅图8，第四实施例的坞接式测试系统示意图。本实施例的自动化系统大致与第一例相似，唯其差异处在于第一机台上50是设置两组移行机构501、502，一组用于将料盘从第一机台50移送到第二机台51，另一组则相反运作。因此，当承载第一批待测组件的料盘52在测试装置511进行测试期间，另一料盘53持续收集待测组件。一旦第一批待测组件测试完毕并由第一移行机构501取走，第二移行机构502便可接续将已载满待测组件的另一料盘53再运送到测试装置511进行测试。如此反复动作，同样具有加速整体测试作业的功效。请参阅图9，为第五实施例的坞接式测试系统第一机台的部分示意图。本实施例的自动化系统大致与第一实施例相似，其差异处在于本实施例中第一机台60具有两组料盘63a、63b，皆设置在横移机构66上，图中所示的料盘63a位于位置A接收待测组件，空的料盘63b则位于位置B等待。当料盘63a盛满从吸取头621放下的待测组件时，由一移行机构601的取放器661取走料盘63a以进行测试，然后横移机构66会将料盘63b从位置B移动至位置A，使料盘63b自吸取头621接收待测组件。一旦料盘63b盛满待测组件，再由横移机构66将其移动回到位置B处。当料盘63a测试完毕而回到位置A，再次启动横移机构66使料盘63a往图中位置C移动，而料盘63b则前进至位置A进而由第一移行机构601的取放器661取走，以进行测试。一旦料盘63b被取走，横移机构66再度移动使料盘63a回至位置A处，并通过转塔62将测试完成的待测组件送入卷带式包装机构(请结合图3)，以方便进行测试完组件的后续包装步骤。如此反复动作可避免单一第一机台场合中等待再入料的时间，同样具有加速整体测试作业的功效、快速地更换不同的测试装置，使整体系统的使用更具弹性。上述实施例仅为了方便说明而举例而已，本发明所主张的权利范围自应以申请的权利要求范围所述为准，而非仅限于上述实施例。
权利要求
1.一种坞接式测试系统，包括: 一第一机台，包括有一第一本体以及设于该第一本体上的一转塔以及围绕该转塔而设置的一进料槽、一检视装置、一料盘及一移行机构，该第一本体包括有一第一玛接面板，该转塔包括呈角度相间隔排列的复数吸取头，该移行机构包括有一取放器，该进料槽、该检视装置及该料盘分别对应设置于该复数吸取头下方；以及 一第二机台，包括有一第二本体以及设于该第二本体上的一测试装置，该第二本体包括有一第二坞接面板，该第二坞接面板选择式接合于该第一坞接面板，该测试装置包括有一承载座； 其中，该移行机构的该取放器移行于一第一位置与一第二位置，当该取放器位于该第一位置时对应于该料盘，当该取放器位于该第二位置时对应于该承载座。
2.如权利要求1所述的系统，其中，该第一坞接面板与该第二坞接面板由复数销而定位，并通过复数螺锁件相互固定。
3.如权利要求1所述的系统，其中，该第二机台包括一保护罩，罩盖住该测试装置。
4.如权利要求3所述的系统，其中，该保护罩包括有一对平行延伸段搭接在该第一本体，由一侧面视角观察，该保护罩呈倒L形。
5.如权利要求1所述的系统，其中，该检视装置为一电荷耦合组件。
6.如权利要求1所述的系统，其中，包括另一第一机台接合于该第二机台。
7.如权利要求1所述的系统，其中，该第一机台包括另一移行机构与该移行机构相隔设置。
8.如权利要求1所述的系统，其中，该第一机台包括一卷带式包装机构对应设置于该复数吸取头下方。
9.如权利要求1所述的系统，其中，该第一机台包括一横移机构与另一料盘，该二料盘皆设置于该横移机构，该横移机构移动使该二料盘其中之一正对于该复数吸取头下方。
全文摘要
本发明是有关于一种坞接式测试系统，包括一第一机台与一第二机台。第一机台包括有一第一本体以及设于第一本体上的一转塔以及围绕转塔而设置的一进料槽、一检视装置、一料盘及一移行机构，其中进料槽、检视装置及料盘分别对应设置于转塔的吸取头下方。第二机台包括有一第二本体以及设于第二本体上的一测试装置，第二本体包括有一第二坞接面板，第二坞接面板选择式接合于第一坞接面板，测试装置包括有一承载座。移行机构可将料盘移载于第一机台与一第二机台之间。由此，可方便、快速地更换不同的测试装置，使整体系统的使用更具弹性。
文档编号G01N21/89GK103196924SQ201210004319
公开日2013年7月10日 申请日期2012年1月9日 优先权日2012年1月9日
发明者刘光祥, 赖启祥 申请人:京元电子股份有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
