专利名称：一种改进光学比较测角仪装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种光学测量仪器，尤其是一种用于测量光束偏转角超出量程范围的改进光学比较测角仪装置。
技术背景光学比较测角仪是利用光学自准直原理，用比较的方法测量角度误差的光学测量仪器，其结构简单，使用广泛。主要用于测量玻璃平板和各种棱镜的光学平行差，测量两个平面的垂直度，或是利用标准角度块测量棱镜角度与标准角度的偏差，同时还可以用来测量各种安装基面之间的角度误差。例如测量平行平面玻璃的平行差，楔形玻璃的楔形角，直角棱镜以及各种棱镜的光学平行差以及侧面垂直度等等。因此，在光学冷加工、光学实验室、光学仪器的装配、检测、计量等方面得到了广泛的应用。但是，由于光学比较测角仪是根据光学自准直的原理进行测量，光线从镜筒中出射，经过被测元件以后，必须要返回到镜筒中才能进行测量。而传统光学比较测角仪的量程范围是1°，对于光束偏转角大于1°的光学元件，其两个反射像完全分离，无法测出两反射像之间的距离。因此，对于光束偏转角大于1°的光学元件，传统的光学比较测角仪就无法进行测量。
发明内容本实用新型为了克服现有光学比较测角仪的不足，在传统光学比较测角仪的基础上增加了一个反射装置，以测量完全分离的两个反射像之间的距离，从而提供了一种用于测量光束偏转角超出量程范围的改进光学比较测角仪装置。本实用新型解决技术问题采用的技术方案是一种用于测量光束偏转角超出量程范围的改进光学比较测角仪装置，它包括光学比较测角仪和其工作平台，以及反射装置，所述的反射装置设置在光学比较测角仪的工作平台上。其特点在于(1)所述的反射装置可以是一个长方体玻璃块。(2)所述的反射装置也可以是一个反射镜。(3)所述的长方体玻璃块的下表面和其中的一个侧面经过抛光处理。其抛光过的侧面位于所述光学比较测角仪镜筒的相对方。(4)所述的反射镜垂直放置于光学比较测角仪的工作平台上，其反射面位于所述光学比较测角仪镜筒的相对方。本实用新型与现有技术相比具有以下的有益效果1、能够测量光束偏转角大于1°而小于2°的光学元件，扩大了传统光学比较测角仪最大为1°的测量范围。2、结构简单，易于实现。
图1为本实用新型具体实施例俯视图；[0012]图2为本实用新型具体实施例右视图；图3为本实用新型具体实施例测量视场图。
具体实施方式
如图1和图2所示，1是传统光学比较测角仪，5是其工作平台，2是光学比较测角仪的镜筒，3是被测光学元件，4是反射装置，为长方体玻璃块或者反射镜。将传统光学比较测角仪1的镜筒2调至水平，把被测光学元件3、反射装置4的长方体玻璃块或反射镜放在传统光学比较测角仪1的工作平台5上，反射装置4的长方体玻璃块的抛光侧面或者反射装置4的反射镜的反射面位于传统光学比较测角仪1的镜筒2的相对方。如图3所示，6为看到的视�。髡瓷渥爸�4的长方体玻璃块或反射镜的位置，用反射装置4的长方体玻璃块或反射镜的表面反射像9量出被测光学元件3的两个反射像7和8之间的距离为30'。由此得出被测光学元件3的出射光与入射光的偏差即为Γ 30'。
权利要求1.一种用于测量光束偏转角超出量程范围的改进光学比较测角仪装置，其特征在于它包括光学比较测角仪和其工作平台，以及反射装置，所述的反射装置设置在光学比较测角仪的工作平台上。
2.根据权利要求1所述的一种用于测量光束偏转角超出量程范围的改进光学比较测角仪装置，其特征在于所述的反射装置为一个长方体玻璃块。
3.根据权利要求1所述的一种用于测量光束偏转角超出量程范围的改进光学比较测角仪装置，其特征在于所述的反射装置为一个反射镜。
4.根据权利要求2所述的一种用于测量光束偏转角超出量程范围的改进光学比较测角仪装置，其特征在于所述的长方体玻璃块的下表面和其中的一个侧面经过抛光处理，其抛光过的侧面位于所述光学比较测角仪镜筒的相对方。
5.根据权利要求3所述的一种用于测量光束偏转角超出量程范围的改进光学比较测角仪装置，其特征在于所述的反射镜垂直放置于光学比较测角仪的工作平台上，其反射面位于所述光学比较测角仪镜筒的相对方。
专利摘要一种用于测量光束偏转角超出量程范围的改进光学比较测角仪装置，本实用新型的技术方案是它包括光学比较测角仪和其工作平台，以及反射装置，所述反射装置设置在光学比较测角仪的工作平台上。以反射装置的表面反射像作为刻度尺，量出被测光学元件两个完全分离的反射像之间的距离。本实用新型扩大了普通光学比较测角仪最大为1°的测量范围，提供了一种用于测量光束偏转角超出量程范围的改造光学比较测角仪装置。
文档编号G01B11/26GK202339187SQ20112046532
公开日2012年7月18日 申请日期2011年11月22日 优先权日2011年11月22日
发明者武锐, 赵莹 申请人:北京创思工贸有限公司
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