专利名称：一种x-probe测试夹具板材叠层结构的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种X-PROBE测试夹具板材叠层结构。
背景技术：
X-PROBE测试夹具是指利用X-PROBE探针(见图1)进行线路板测试的ICT夹具。当前常规叠层结构的X-PROBE测试夹具由于针板太厚，钻孔进度无法达到理想要求，导致ICT夹具探针定位精度不高，探针安装和更换困难致损坏探针的现象，严重影响夹具制作品质。传统的X-PROBE测试夹具常规的板材叠层机构，由针板、间隔板和端子板组成。X-PROBE探针安装时，通过针板和间隔板上与其相匹配的过孔(过孔直径比X-PROBE探针直径大0. 02-0. 04mm)安装到X-PROBE端子上，X-PROBE探针的定位精度由针板和间隔板钻孔的直径、位置和垂直度决定。钻孔直径过大，X-PROBE探针安装后会发生倾斜，针尖的定位精度会受到影响，钻孔直径过�。虿宀唤�。钻孔位置偏离，X-PROBE探针安装的位置也会跟着偏离，定位精度也会受到影响。钻孔不垂直，X-PROBE探针安装后也不垂直，针尖偏离正常位置，定位精度同样受到影响。由此可见，常规叠层结构的X-PROBE夹具，受钻孔设备、工具及工艺等因素的影响非常大，比如受钻孔刀具刃长的限制，三块板材需分开钻孔，各板材钻孔时，受定位、板材密度、刀具磨损程度等因素影响，板材的钻孔品质各不相同，其孔在叠加后极易出现错位，上下板孔轴线交叉等现象，制作出来的测试夹具，不仅测试精度不高，而且探针安装和更换也都非常困难，严重影响了夹具的日常使用和维护，因此，X-PROBE测试夹具的测试精度不高和难以维护的问题急待改善。
实用新型内容本实用新型为了解决现有技术的上述不足，提供了一种X-PROBE测试夹具板材叠
层结构。本实用新型的上述目的通过以下的技术方案来实现一种X-PROBE测试夹具板材叠层结构，包括针板、间隔板和端子板，其特征在于所述针板上层设有上导针板，所述针板和间隔板之间也设有下导针板。所述针板、下导针板、间隔板、端子板之间均设有密封垫，所述密封垫的厚度为0. 5mm。以替代原来的密封圈，使夹具气密封性更好。本实用新型与现有技术相比的优点是1、X-PROBE探针不再利用针板和间隔板孔壁定位,改用上导针板和下导针板的孔壁定位，因上导针板和下导针板为较薄的板材(l-5mm)，刀具在钻孔时不易让刀，易于贯穿，钻出的孔较为垂直，能有效提高X-PROBE探针安装时的垂直度；2、将不再用于X-PROBE探针定位的针板、间隔板过孔直径钻大，使其孔壁与X-PROBE探针有足够的间隙，消除了其孔壁与X-PROBE探针7的摩擦力，使X-PROBE探针很容易安装和更换。使用此实用新型叠层机构的X-PROBE测试夹具更易于维护；3、在针板、下导针板、间隔板、端子板之间铺设整层的密封垫，相比常规叠层结构局部放置密封圈的密封效果更好。局部设置密封圈的常规叠层结构，板材结合时，因受力不均容易导致板材变形，密封效果不佳，改用整层铺设的密封垫，解决板材结合时产生的变形，板材贴合更平整更紧密，夹具气密性好。
图1是X-PROBE探针I的结构示意图；图2是X-PROBE端子的结构示意图；图3是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型进一步详述如图3所示，一种X-PROBE测试夹具板材叠层结构，包括针板1、间隔板2和端子板3，其特征在于所述针板I上层设有上导针板4，所述针板I和间隔板2之间也设有下导针板5。同时，将上导针板4、下导针板5钻成与X-PROBE探针7直径相匹配的孔径，以控制X-PROBE探针7的精度和垂直度，将针板I和间隔板2的钻孔直径加大，使其孔壁与X-PROBE探针7有充分的间隙，以降低孔壁与探针的摩擦力，降低板材错位的机率，以降低X-PROBE探针7安装和更换的难度。所述针板1、下导针板5、间隔板2、端子板3之间均设有密封垫6，以替代原来的密封圈，使夹具气密封性更好。本实用新型的实施步骤如下1、在传统的X-PROBE测试夹具叠层结构上增加上导针板4、下导针板5、密封垫6，产品总厚度与传统叠层结构相同，同时降低针板1、间隔板2的厚度，使板材叠层厚度同常规叠层结构一样；2、钻孔。上导针板4、下导针板5、端子板3按X-PROBE探针7使用手册指定钻孔直径进行钻孔，间隔板2、针板1、密封垫6按X-PROBE探针7使用手册指定钻孔直径的1. 2倍钻孔；3、在端子板上安装X-PROBE端子8，与传统叠层结构夹具的端子安装方式一样；4、将密封垫6、间隔板2、下导针板5、针板1、上导针板4通过定位销钉按图3顺序叠加到一起，并锁上固定螺丝；5、安装X-PROBE探针7，与传统叠层结构夹具X-PROBE探针7安装方式一样。但是，上述的具体实施方式
只是示例性的，是为了更好的使本领域技术人员能够理解本专利，不能理解为是对本专利包括范围的限制；只要是根据本专利所揭示精神的所作的任何等同变更或修饰，均落入本专利包括的范围。
权利要求1.一种X-PROBE测试夹具板材叠层结构，包括针板、间隔板和端子板，其特征在于所述针板上层设有上导针板，所述针板和间隔板之间也设有下导针板。
2.根据权利要求1所述的一种X-PROBE测试夹具板材叠层结构，其特征在于所述针板、下导针板、间隔板、端子板之间均设有密封垫。
3.根据权利要求2所述的一种X-PROBE测试夹具板材叠层结构，其特征在于所述密封垫的厚度为O. 5mm。
专利摘要本实用新型公开了一种X-PROBE测试夹具板材叠层结构，包括针板、间隔板和端子板，其特征在于所述针板上层设有上导针板，所述针板和间隔板之间也设有下导针板。采用本实用新型的结构，能有效提高X-PROBE探针安装时的垂直度；更易于X-PROBE探针的安装、更换和维护；夹具气密性更好；结构简单、设计合理。
文档编号G01R1/04GK202837346SQ20122053071
公开日2013年3月27日 申请日期2012年10月17日 优先权日2012年10月17日
发明者黄建平, 黄建明, 刘建昌 申请人:苏州工业园区世纪福科技有限公司
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