专利名称：同位素源转换装置的制作方法
技术领域：
本实用新型与同位素源激发的X荧光仪有关，尤其与X荧光仪的同位素源转换装置有关。
背景技术：
在能量色散X荧光分析中，人们采用同位素激发源来激发待测样品，使待测样品的元素产生特征X射线进行样品的定性定量分析。而特征X射线产生的机率与激发源的能量有很大的关系，当激发源的能量与被激发元素的特征X射线能量接近时，激发效率最高。为了分析不同的元素，得到最好的分析精度，通常会采用不同的同位素源作激发源，来测量某一能量段的元素。同位素源的转换机构就是解决源的转换问题，更好地满足测量要求的一种机构。
在同位素源激发的X荧光仪中，人们为了测量不同的元素和获得最佳的激发效率，常常采用以下两种方案1、单源单探测器这种机构采用一个探测器上装一个同位素源，用于测量某一能量段的元素，如图1所示。分析另一个能量段的元素时，打开探测器，换上另一个同位素源，再重新测量，就这样一个样品需要测两次，况且换源比较麻烦，人身易受放射源释放的射线照射，造成不必要的伤害。换源后，源和待测样品之间的距离和位置得不到保证，就必须对仪器进行重新标定。
2、双源双探测器这种仪器采用两个探测器(探测器A和探测器B)，每个探测器上分别装一个同位素源(同位素源A和同位素源B)，分别激发不同能量段的元素。测量时，用同一种待测样品做两个测量样品(样品A和样品B)，分别送入两个探测器，如图2所示，从而避免了换源带来的麻烦，但探测器和主机分析器均为两套电路，增加了系统误差和硬成本，给用户带来了额外的经济负担。
实用新型的内容本实用新型的目的提供一种结构简单，成本低、操作方便的同位素源转换装置。
本实用新型是这样实现的
本实用新型同位素源转换装置，包括位子样品环(3)内的样品(2)，样品环(3)位于样品架(4)上，同位素源(1)和探测器(5)位于样品架(4)下面，样品架(4)有可绕轴心旋转的框体，轴心有孔(6)贯穿屏蔽环中心，孔(6)的下面装有探测器(5)，屏蔽环(11)的锥面上有至少一个孔(7)与框体内的至少一个同位素源架(8)上的同位素源(1)相对应。
样品架(4)由底板(9)和圆筒形罩体(10)构成，环形分布的同位素源架(8)位于底板(9)上，底板(9)的中心孔(6)内有探测器(5)，屏蔽环(11)位于罩体(10)的锥面上面，罩体(10)的锥面有孔与屏蔽环上的孔(7)对应，底板(9)上有环形槽或固定环(12)与罩体同轴心间隙配合。
底板(9)有固定环(12)与罩体同轴心间隙配合，固定环(12)的壁上均布有若干定位螺钉(13)，其圆头与圆筒形罩体(10)外壁的圆环形槽(14)动配合。
同位素源架(8)为两个；为圆柱体，呈180°对称分布并固定于底板(9)上，其上部装有同位素源(1)，底板(9)的中心孔(6)内有探测器(5)、屏蔽环(11)位于罩体(10)的内锥面上，屏蔽环和罩体的内锥面上有三个孔(7)分别位于同心圆上的0°，90°，180°的位置。
本实用新型结构简单，实现了不同能量段的元素用不同的同位素源来激发，用同一个探测器来测量，减少了系统误差，降低了仪器的成本，本实用新型换源方便，操作简单，使仪器的测量效果更好。
图1为已有的的单源探测器结构示意图。
图2为已有的双源探测器结构示意图。
图3为本实用新型的结构结构图。
图4为图3的俯视图。
图5为本实用新型的结构示意图之二。
图6为图5的俯视图。
图7为本实用新型的结构示意图之三。
图8为图7的俯视图。
具体实施方式
本实用新型的样品架4由圆底板9和圆筒形罩体10构成，圆柱形同位素源架8和固定圆环12固定于底板9上。罩体10下端有环形槽14与固定圆环12壁上均布的四个螺钉13动配合。罩体10上部有喇叭形屏蔽环11，其中心有孔6与固定于底板9中心孔的探测器5相对，其锥面上有三个孔7可与同位素源架8上的与轴心成180°角的两个同样素源1相对，三个孔7的圆心在轴心为圆心的圆上，两孔之间的圆心角为90°。
同位素源转换机构如图3、图5、图7所示，在探测器中一次装入所需要的两种同位素源(A源和B源)，当两个源同时使用时如图3所示。这时A、B源同时激发样品。
当需要A源激发，B源关闭时，通过电机或手动旋转样品架4至图5位置。A源对准孔7，B源被屏蔽环11挡�。馐笔褂肁源来激发某一能量段的元素，这个源对所测能量段的激发效果最佳，分析精度也最好。
当需要测量另一能量段的元素(即需要B源激发，A源关闭)时，通过电机或手动将样品架4转动至图7位置，这时源B对准孔7，源A被屏蔽环11挡�。欢匝凡缮妫茨苈闶褂靡�。
权利要求1.同位素源转换装置，包括位于样品环(3)内的样品(2)，样品环(3)位于样品架(4)上，同位素源(1)和探测器(5)位于样品架(4)下面，其特征在于样品架(4)有可绕轴心旋转的框体，轴心有孔(6)贯穿屏蔽环中心，孔(6)的下面装有探测器(5)，屏蔽环(11)的锥面上有至少一个孔(7)与框体内的至少一个同位素源架(8)上的同位素源(1)相对应。
2.根据权利要求1所述的同位素源转换装置，其特征在于样品架(4)由底板(9)和圆筒形罩体(10)构成，环形分布的同位素源架(8)位于底板(9)上，底板(9)的中心孔(6)内有探测器(5)，屏蔽环(11)位于罩体(10)的锥面上面，罩体(10)的锥面有孔与屏蔽环上的孔(7)对应，底板(9)上有环形槽或固定环(12)与罩体同轴心间隙配合。
3.根据权利要求2所述的同位素源转换装置，其特征在于底板(9)有固定环(12)与罩体同轴心间隙配合，固定环(12)的壁上均布有若干定位螺钉(13)，其圆头与圆筒形罩体(10)外壁的圆环形槽(14)动配合。
4.根据权利要求2所述的同位素源转换装置，其特征在于同位素源架(8)为两个；为圆柱体，呈180°对称分布并固定于底板(9)上，其上部装有同位素源(1)，底板(9)的中心孔(6)内有探测器(5)、屏蔽环(11)位于罩体(10)的内锥面上，屏蔽环和罩体的内锥面上有三个孔(7)分别位于同心圆上的0°，90°，180°的位置。
专利摘要本实用新型为同位素源转换装置，包括位于样品环(3)内的样品(2)，样品环(3)位于样品架(4)上，同位素源(1)和探测器(5)位于样品架(4)下面，样品架(4)有可绕轴心旋转的框体，轴心有孔(6)贯穿屏蔽环中心，孔(6)的下面装有探测器(5)，屏蔽环(11)的锥面上有至少一个孔(7)与框体内的至少一个同位素源架(8)上的同位素源(1)相对应。
文档编号G01N23/22GK2618164SQ03234390
公开日2004年5月26日 申请日期2003年5月16日 优先权日2003年5月16日
发明者任家富, 陶永莉, 高岚 申请人:成都理工大学, 四川先达核测控设备有限公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
