专利名称：一种光纤在位检测方法及装置、微控制器的制作方法
技术领域：
本发明涉及光纤通信技术领域，特别是涉及一种光纤在位检测方法及装置、微控制器。
背景技术：
光纤是一种利用光在玻璃或塑料制成的纤维中的全反射原理而达成的光传导工具，通常光纤被固定在光连接器上组成光跳线使用。通过光跳线实现信号的光传输过程为电信号通过光模块发送器进行电-光转换成光信号，该光信号通过光跳线传输到对端光�？椋倬远斯饽？榻邮掌鹘泄�-电转换，转换成电信号给对端。光跳线作为光传输的介质，在使用中通过光连接器和光�？榱樱屑渫ü菟炕蚩ǹ鄣男问浇泄潭�。在实际应用中，经常会因为长时间使用造成的老化、或震动等原因导致光跳线的光跳线的连接器和光�？榱铀啥佣蚬庀瞬辉谖徊庑藕糯浠�、产生误码等现象，严重影响光信号传输的可靠性和正确性。现有检测光纤在位的方法主要有两种。第一，通过技术人员肉眼观察光纤是否脱离连接器来判断是否发生光纤不在位故障，该方法主观性太强，误判率较高，使得准确率较低，影响光信号传输的可靠性和正确性。第二，由主机通过协商来判断光链路是否连接上，但是，这种方法只有在光连接完全断开的情况下才有效，而对于光�？榱铀啥蛭⑿〈砦坏贾碌墓庑藕呕涫羌觳獠坏降�。
发明内容
本发明提供了一种光纤在位检测方法及装置、微控制器，能够对光纤脱落或松动等引起的光线不在位进行检测，其检测精度较高，能够有效保证光信号传输的可靠性和准确性。第一方面，提供一种光纤在位检测的方法，光纤连接器上具有一导体，光�？榈亩杂ξ恢么τ辛礁黾觳馕唬直鹞谝患觳馕缓偷诙觳馕唬宜龅谝患觳馕缓偷诙觳馕涣又廖⒖刂破鳎黄渲校龆杂ξ恢檬侵傅彼隽悠鞑迦胨龉饽？橹星夜庀嗽谖皇保龅继逵肓礁黾觳馕欢冀哟ィ凰龇椒òǚ直鸺觳馑龅谝患觳馕缓偷诙觳馕坏淖刺槐冉纤龅谝患觳馕缓偷诙觳馕坏淖刺范ü庀耸欠裨谖�。在第一方面的第一种可能的实现方式中，所述比较所述第一检测位和第二检测位的状态，确定光纤是否在位为比较所述第一检测位和第二检测位的状态是否与预设状态相同；如果与预设状态不相同，确定光纤在位；如果与预设状态相同，确定光纤不在位；其中，所述预设状态指所述第一检测位和第二检测位断开时的状态。结合第一方面的第一种可能的实现方式，在第一方面的第二种可能的实现方式中，所述预设状态为所述第一检测位和第二检测位的状态不一致。结合第一方面的第一种和第二种可能的实现方式，在第一方面的第三种可能的实现方式中，所述分别检测所述第一检测位和第二检测位的状态为分别检测所述第一检测位的电压和第二检测位的电压；所述预设状态为所述第一检测位的电压和第二检测位的电压不相等。结合第一方面的第一种可能的实现方式，在第一方面的第四种可能的实现方式中，所述分别检测所述第一检测位和第二检测位的状态为分别检测所述第一检测位的电流和第二检测位之间的电流；所述预设状态为所述第一检测位和第二检测位之间电流为零。结合第一方面的前述各种可能的实现方式，在第一方面的第五种可能的实现方式中，所述导体与所述第一检测位的接触面积、以及所述导体与所述第二检测位的接触面积小于预设值；所述预设值能够保证当所述连接器插入所述光�？橹星夜庀嗽谖皇保龅继逵肓礁黾觳馕欢冀哟ィ坏彼龉庀怂啥保龅继逵肓礁黾觳馕欢疾唤哟セ蛴肫渲幸桓黾觳馕徊唤哟�。第二方面，还提供一种光纤在位检测装置，光纤的连接器上具有一导体，光�？榈亩杂ξ恢么τ辛礁黾觳馕唬直鹞谝患觳馕缓偷诙觳馕唬宜龅谝患觳馕缓偷诙觳馕痪胨鑫⒖刂破魃系墓庀嗽谖患觳庾爸孟嗔黄渲校龆杂ξ恢檬侵傅彼隽悠鞑迦胨龉饽？橹星夜庀嗽谖皇保龅继逵肓礁黾觳馕欢冀哟ィ凰鲎爸冒觳獾ピ糜诜直鸺觳馑龅谝患觳馕缓偷诙觳馕坏淖刺槐冉吓卸系ピ糜诒冉纤龅谝患觳馕缓偷诙觳馕坏淖刺范ü庀耸欠裨谖�。在第二方面的第一种可能的实现方式中，所述比较判断单元，用于比较所述第一检测位和第二检测位的状态是否与预设状态相同；如果与预设状态不相同，确定光纤在位；如果与预设状态相同，确定光纤不在位；其中，所述预设状态指所述第一检测位和第二检测位断开时的状态。结合第二方面的第一种可能的实现方式，在第二方面的第二种可能的实现方式中，所述预设状态为所述第一检测位和第二检测位的状态不一致。结合第二方面的第一种和第二种可能的实现方式，在第二方面的第三种可能的实现方式中，所述检测单元，用于分别检测所述第一检测位的电压和所述第二检测位的电压；所述预设状态为所述第一检测位的电压和第二检测位的电压不相等。结合第二方面的第一种可能的实现方式，在第二方面的第四种可能的实现方式中，所述检测单元，用于分别检测所述第一检测位和第二检测位之间的电流；所述预设状态为所述第一检测位和第二检测位之间电流为零。结合第二方面的前述任何一种可能的实现方式，在第二方面的第五种可能的实现方式中，所述导体与所述第一检测位的接触面积、以及所述导体与所述第二检测位的接触面积小于预设值；所述预设值能够保证当所述连接器插入所述光�？橹星夜庀嗽谖皇保龅继逵肓礁黾觳馕欢冀哟ィ坏彼龉庀怂啥保龅继逵肓礁黾觳馕欢疾唤哟セ蚪鲇肫渲幸桓黾觳馕徊唤哟�。第三方面,还提供一种微控制器，光纤的连接器上具有一导体，光模块的对应位置处有两个检测位，分别为第一检测位和第二检测位；其中，所述对应位置是指当所述连接器插入所述光模块中且光纤在位时，所述导体与两个检测位都接触；所述微控制器包括一光纤在位检测装置；所述第一检测位和第二检测位均与所述光纤在位检测装置相连；所述光纤在位检测装置包括检测单元，用于分别检测所述第一检测位和第二检测位的状态；比较判断单元，用于比较所述第一检测位和第二检测位的状态，确定光纤是否在位。在第三方面的第一种可能的实现方式中，所述比较判断单元，用于比较所述第一检测位和第二检测位的状态是否与预设状态相同，如果与预设状态不相同，确定光纤在位；如果与预设状态相同，确定光纤不在位；其中，所述预设状态指所述第一检测位和第二检测位断开时的状态。结合第三方面的第一种可能的实现方式，在第三方面的第二种可能的实现方式中，所述预设状态为所述第一检测位和第二检测位的状态不一致。结合第三方面的第一种和第二种可能的实现方式，在第三方面的第三种可能的实现方式中，所述检测单元，用于分别检测所述第一检测位的电压和所述第二检测位的电压；所述预设状态为所述第一检测位的电压和第二检测位的电压不相等。结合第三方面的第一种可能的实现方式，在第三方面的第四种可能的实现方式中，所述检测单元，用于分别检测所述第一检测位和第二检测位之间的电流；所述预设状态为所述第一检测位和第二检测位之间电流为零。结合第三方面的前述各种可能的实现方式，在第三方面的第五种可能的实现方式中，所述导体与所述第一检测位的接触面积、以及所述导体与所述第二检测位的接触面积小于预设值；所述预设值能够保证当所述连接器插入所述光模块中且光纤在位时，所述导体与两个检测位都接触；当所述光纤松动时，所述导体与两个检测位都不接触或与其中一个检测位不接触。本发明实施例所述方法、装置及微控制器，在光纤的连接器上设置一导体，在光�？榈亩杂ξ恢么ι柚玫谝患觳馕缓偷诙觳馕唬⒔龅谝患觳馕缓偷诙觳馕涣又罬CU0当所述连接器插入光�？橹星夜庀嗽谖皇保隽悠髦械牡继逵肷柚迷谒龉饽？橹械牧礁黾觳馕痪哟ィ佣沟昧礁黾觳馕簧系淖刺⑸谋洌欢狈⑸庀瞬辉谖唬绻庀送崖浠蛩啥保隽悠髦械牡继逵肓礁黾觳馕痪唤哟ィ礁黾觳馕簧系淖刺环⑸谋�。由此，可以通过MCU实时检测两个检测位上的状态并进行比较，得到比较结果来确定光纤是否在位。因此，采用本发明实施例，能够实时检测光纤是否在位，有效防止因光纤脱落或松动等引起的光传输过程中的数据畸形、丢失等问题，能够有效保证光信号传输的可靠性和准确性；且，本发明实施例不仅能够检测因光纤脱落引起的光纤不在位，还能够对光纤松动或微小错位等导致的光纤不在位进行检测，由此使得检测精度较高；同时，本发明实施例所述方法、装置及微控制器，简单且易于实现，成本较低、应用性好。
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1a为本发明实施例所述方法应用于光纤脱落引起的光纤不在位时的场景图；图1b为本发明实施例所述方法应用于光纤在位时的场景图1c为本发明实施例所述方法应用于光纤松动引起的光纤不在位时的场景图；图2为本发明实施例一所述的光纤在位检测的方法流程图；图3为本发明实施例二所述光纤在位检测方法的流程图；图4为本发明实施例提供的光纤在位检测装置结构图。
具体实施例方式下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。本发明提供了一种光纤在位检测的方法及装置、微控制器，能够对光纤脱落或松动等引起的光线不在位进行检测，其检测精度较高，能够有效保证光信号传输的可靠性和准确性。参照图1a至图lc，为本发明实施例所述光纤在位检测的方法的三种应用场景图。如图1所示，本发明实施例提供的光纤在位检测的方法，主要是利用导体的导电特性，实现对光纤是否在位的检测。具体的，在光纤的连接器10上设置一能够导电的导体101，并在光模块20的对应位置处设置第一检测位201和第二检测位202，并将所述第一检测位201和第二检测位202连接至微控制器(MCU, Micro Control Unit) 30,通过MCU30检测并比较所述第一检测位201和第二检测位202的状态，来判断光纤是否在位。需要说明的是，所述光�？�20的对应位置处是指当将所述连接器10插入所述光�？�20中且光纤在位时，所述连接器10上设置导体101的位置与所述光�？�20上设置两个检测位的位置正好重合，使得此时，所述导体101与所述第一检测位201和第二检测位202均发生接触；一旦发生光纤不在位现象，无论是光纤脱落还是松动，都将导致所述导体101无法与所述第一检测位201和第二检测位202发生接触。具体的，如图1a所示，为光纤脱落引起的光纤不在位时的场景图。此时由于光纤脱落，使得连接器10没有插入光�？�20中，所述导体101也无法与所述第一检测位201和第二检测位202发生接触。如图1b所示，为光纤在位时的场景图。此时光纤在位，所述导体101与所述第一检测位201和第二检测位202均发生接触。如图1c所不,为光纤松动引起的光纤不在位时的场景图。此时由于光纤松动,使得连接器10与光�？�20发生错位，所述导体101无法与所述第一检测位201和第二检测位202发生接触。参照图2，为本发明实施例一所述的光纤在位检测的方法流程图。如图2所示，所述方法包括以下步骤步骤S201 :在光纤的连接器上设置有一导体，在光�？榈亩杂ξ恢么ι柚糜辛礁黾觳馕坏谝患觳馕缓偷诙觳馕唬⒔龅谝患觳馕缓偷诙觳馕涣又罬CU。其中，所述对应位置是指当所述连接器插入所述光模块中且光纤在位时，所述导体与两个检测位都接触。
具体的，可以通过线路或线缆将所述第一检测位和第二检测位连接至MCU。步骤S202 =MCU分别检测所述第一检测位和第二检测位的状态。步骤S203 =MCU比较所述第一检测位和第二检测位的状态，确定光纤是否在位。本发明实施例所述方法，在光纤的连接器上设置一导体，在光�？榈亩杂ξ恢么ι柚玫谝患觳馕缓偷诙觳馕唬⒔龅谝患觳馕缓偷诙觳馕涣又罬CU。当所述连接器插入光�？橹星夜庀嗽谖皇保隽悠髦械牡继逵肷柚迷谒龉饽？橹械牧礁黾觳馕痪哟ィ佣沟昧礁黾觳馕簧系淖刺⑸谋洌欢狈⑸庀瞬辉谖唬绻庀送崖浠蛩啥保隽悠髦械牡继逵肓礁黾觳馕痪唤哟ィ礁黾觳馕簧系淖刺环⑸谋�。由此，可以通过MCU实时检测两个检测位上的状态并进行比较，得到比较结果来确定光纤是否在位。因此，本发明实施例所述方法，能够实时检测光纤是否在位，有效防止因光纤脱落或松动等引起的光传输过程中的数据畸形、丢失等问题，能够有效保证光信号传输的可靠性和准确性；且，本发明实施例不仅能够检测因光纤脱落引起的光纤不在位，还能够对光纤松动或微小错位等导致的光纤不在位进行检测，由此使得检测精度较高；同时，本发明实施例所述方法、装置及微控制器，简单且易于实现，成本较低、应用性好。需要强调说明的是，本发明实施例一所述方法中，步骤S201只需执行一次，一旦设置好导体和两个检测位后，该步骤不需要再次重复实施。对于每次检测而言，只需要执行步骤S202至步骤S203即可。本发明实施例中，可以预先设定，所述第一检测位和第二检测位断开时的状态为预设状态。具体的，所述比较所述第一检测位和第二检测位的状态，确定光纤是否在位为比较所述第一检测位和第二检测位的状态，如果二者状态与预设状态不相同，确定光纤在位；否则，与预设状态相同，确定光纤不在位。当所述连接器插入光�？橹星夜庀嗽谖皇保隽悠髦械牡继逵肷柚迷谒龉饽？橹械牧礁黾觳馕痪哟ィ龅谝患觳馕缓偷诙觳馕唤油ǎ佣沟昧礁黾觳馕簧系淖刺⑸谋洌沟玫谝患觳馕缓偷诙觳馕坏淖刺朐ど枳刺灰恢�。而当连接器插入光�？橹星曳⑸庀瞬辉谖唬绻庀送崖浠蛩啥保隽悠髦械牡继逵肓礁黾觳馕痪唤哟セ蛴肫渲幸桓黾觳馕徊唤哟ィ耸保谝患觳馕缓偷诙觳馕蝗匀淮τ诙峡刺蛄礁黾觳馕簧系淖刺朐ど枳刺恢拢环⑸谋�。由此，可以通过MCU实时检测两个检测位上的状态并进行比较，得到比较结果来确定光纤是否在位。即为，如果二者状态与预设状态不相同，确定光纤在位；否则，与预设状态相同，确定光纤不在位。进一步的，可以设定所述预设状态为所述第一检测位和第二检测位的状态不一致。具体的，由于预设状态是指所述第一检测位和第二检测位处于断开时的状态，此时可以分别设定所述第一检测位和第二检测位的状态不相同。例如，可以设定所述第一检测位为高电平、所述第二检测位为低电平，或者设定所述第一检测位为低电平、所述第二检测位为闻电平等。具体的，在光纤不在位状态下(包括连接器未插入光�？橹惺�)，所述第一检测位和第二检测位的状态不相同。当将所述连接器插入光�？橹星夜庀嗽谖皇保龅谝缓偷诙觳馕煌ü龅继辶ǎ咦刺⑸谋洌冶湮恢肿刺欢绻⑸庀瞬辉谖唬绻庀送崖浠蛩啥龅继宀挥胨龅谝患觳馕缓偷诙觳馕唤哟ィ沟玫谝患觳馕缓偷诙觳馕恢涞牧ǘ峡耸钡谝患觳馕缓偷诙觳馕挥直涑刹煌淖刺�。由此，可以通过检测并比较所述第一检测位和第二检测位的状态，实现对光纤是否在位的检测。例如，可以通过电压检测实现对光纤在位的检测。当采用电压检测时，具体为所述预设状态为所述第一检测位的电压和第二检测位的电压不相等。MCU分别检测所述第一检测位的电压和第二检测位的电压；比较所述第一检测位的电压和第二检测位的电压，如果二者的电压相等，确定光纤在位；如果二者电压不相等，确定光纤不在位。具体的，可以预先设置所述第一检测位的电压为高电平，所述第二检测位的电压为低电平(例如，可以将所述第一检测位接电源电压，所述第二检测位接地等)。当所述连接器插入光�？橹校绻庀嗽谖皇保隽悠髦械牡继逵肷柚迷谒龉饽？橹械牧礁黾觳馕痪⑸哟ィ捎诘继宓牡嫉缱饔茫龅谝患觳馕缓偷诙觳馕槐涣ǎ叩牡缪贡湮嗟龋蝗绻庀瞬辉谖唬绶⑸斯庀送崖浠蛩啥沟盟隽悠髦械牡继逦薹ㄓ肷柚迷谒龉饽？橹械牧礁黾觳馕环⑸哟ィ虻谝患觳馕缓偷诙觳馕痪３衷刺次缪共幌嗟�。由此，可以通过对第一检测位和第二检测位的电压检测实现对光纤是否在位的确定。具体的，本发明实施例中，还可以通过电流检测实现对光纤在位的检测。当采用电流检测时，具体为所述预设状态为所述第一检测位和第二检测位之间电流为零。MCU分别检测所述第一检测位和第二检测位之间的电流；比较所述第一检测位和第二检测位之间的电流，如果电流不为零，确定光纤在位；如果电流为零，确定光纤不在位。具体的，在MCU侧设置一电源，将该电源与所述第一检测位和第二检测位相连，在没有将光�？椴迦肓悠魇保龅谝患觳馕缓偷诙觳馕幌嗟庇诙峡刺蛩龅谝患觳馕缓偷诙觳馕恢涞牡缌魑�。当所述连接器插入光�？橹校绻庀嗽谖皇保隽悠髦械牡继逵肷柚迷谒龉饽？橹械牧礁黾觳馕痪⑸哟ィ捎诘继宓牡嫉缱饔茫龅谝患觳馕缓偷诙觳馕槐涣ǎ胨龅缭垂钩梢煌罚猛分写嬖诘缌鳎耸保觳獾玫剿龅谝患觳馕缓偷诙觳馕恢涞牡缌骶环橇阒担蝗绻庀瞬辉谖唬绶⑸斯庀送崖浠蛩啥沟盟隽悠髦械牡继逦薹ㄓ肷柚迷谒龉饽？橹械牧礁黾觳馕环⑸哟ィ虻谝患觳馕缓偷诙觳馕痪３衷刺次峡刺觳獾缌魑恪＞咛宓模鯩CU可以定期比较所述第一检测位和第二检测位的状态，确定光纤是否在位。例如Ims或Is。参照图3，为本发明实施例二所述光纤在位检测方法的流程图。所述方法适用于以下情形在光纤的连接器上设置一导体，在光�？榈亩杂ξ恢么ι柚玫谝患觳馕缓偷诙觳馕唬⒔龅谝患觳馕缓偷诙觳馕涣又罬CU。如图3所示，所述方法可以包括以下步骤步骤S301 :系统初始化上电；步骤S302 :将所述连接器插入所述光�？橹�。步骤S303 =MCU分别检测所述光�？樯系谝患觳馕缓偷诙觳馕坏淖刺�。
步骤S304 :所述MCU比较所述第一检测位的状态和第二检测位的状态与预设状态是否一致，如果一致，进入步骤S305 ;如果不一致，进入步骤S306。步骤S305 :所述MCU确定光纤在位，并将光纤在位的信息上报给系统。步骤S306 :所述MCU确定光纤不在位，并将光纤不在位的信息上报给系统或者直接进行告警并进行紧急处理。如图3所示，所述方法中，系统上电初始化之后，MCU开始实时检测所述第一检测位和第二检测位的状态，如果检测结果为所述第一检测位和第二检测位的状态与预设状态一致，则表明光纤在位，此时MCU将所述光纤在位的信息上报给系统或者由MCU直接进行处理；如果检测结果为所述第一检测位和第二检测位的状态与预设状态不一致，则表明光纤不在位，可能发生了光纤脱落或松动，此时MCU将所述光纤不在位的信息上报至系统，由系统发出告警并进行处理，或者是MCU直接发出告警并进行紧急处理，例如将业务迁移至其他端口并屏蔽该发生光纤不在位的端口等。此时，技术人员看到告警，知道目前光纤发生不在位故障，可以立即对光跳线进行紧固或更换，及时排除故障消除告警。需要进一步说明的是，本发明实施例所述方法，可以通过设置在所述连接器中的导体的粗细来调节光纤不在位检测的灵敏度。具体的，导体和两个检测位(第一检测位和第二检测位)越精细，检测的灵敏度越高，能够检测到的光纤松动的程度越小。具体的，可以说是所述导体与所述第一检测位的接触面积、以及所述导体与所述第二检测位的接触面积小于预设值；所述预设值能够保证当所述连接器插入所述光�？橹星夜庀嗽谖皇保龅继逵肓礁黾觳馕欢冀哟ィ坏彼龉庀怂啥保龅继逵肓礁黾觳馕欢疾唤哟セ蛴肫渲幸桓黾觳馕徊唤哟�。由前述内容可知，如果发生光纤松动导致的光纤不在位，将连接器插入到光�？橹惺保捎诠庀怂啥沟昧悠髦械牡继逦薹ㄓ氲谝患觳馕缓偷诙觳馕唤哟ィ沟昧礁黾觳馕坏淖刺灰恢拢纱丝梢匀范ü庀瞬辉谖�。在实际应用中，如果所述导体或者两个检测位比较粗，使得导体与两个检测位的接触面积比较大，那么当发生的松动程度很小的时候，使得即使发生了松动，所述导体仍然能够与所述第一检测位和第二检测位接触，以致得出光纤在位的错误结论。由此可见，导体和两个检测位的精细度越高，所述导体与两个检测位之间的接触面积越小，能够检测到的光纤松动的程度越�。沟眉觳獾慕峁范仍礁�。对应于本发明实施例提供的光纤在位检测的方法，本发明实施例还提供一种光纤在位检测装置。参照图4，为本发明实施例提供的光纤在位检测装置结构图。具体的，如图4所示，所述装置用于以下场景光纤的连接器10上具有一导体101，光�？�20的对应位置处有两个检测位，分别为第一检测位201和第二检测位202，所述第一检测位201和第二检测位202与设置在所述微控制器30上的光纤在位检测装置40相连。其中，所述对应位置是指当所述连接器10插入所述光模块20中且光纤在位时，所述导体101与两个检测位都接触。所述光纤在位检测装置40可以包括检测单元401和比较判断单元402。所述检测单元401，用于分别检测所述第一检测位201和所述第二检测位202的状态。所述比较判断单元402，用于比较所述第一检测位和第二检测位的状态，确定光纤是否在位。本发明实施例所述光纤在位检测装置，用于以下场景在光纤的连接器上设置一导体，在光�？榈亩杂ξ恢么ι柚玫谝患觳馕缓偷诙觳馕唬⒔龅谝患觳馕缓偷诙觳馕涣又辽柚迷谒鑫⒖刂破魃系墓庀嗽谖患觳庾爸谩５彼隽悠鞑迦牍饽？橹星夜庀嗽谖皇保隽悠髦械牡继逵肷柚迷谒龉饽？橹械牧礁黾觳馕痪哟ィ佣沟昧礁黾觳馕簧系淖刺⑸谋洌欢狈⑸庀瞬辉谖唬绻庀送崖浠蛩啥保隽悠髦械牡继逵肓礁黾觳馕痪唤哟ィ礁黾觳馕簧系淖刺环⑸谋�。由此，可以通过所述装置实时检测两个检测位上的状态并进行比较，得到比较结果来确定光纤是否在位。因此，本发明实施例所述光纤在位检测装置，能够实时检测光纤是否在位，有效防止因光纤脱落或松动等引起的光传输过程中的数据畸形、丢失等问题，能够有效保证光信号传输的可靠性和准确性；且，本发明实施例不仅能够检测因光纤脱落引起的光纤不在位，还能够对光纤松动或微小错位等导致的光纤不在位进行检测，由此使得检测精度较高；同时，本发明实施例所述方法、装置及微控制器，简单且易于实现，成本较低、应用性好。具体的，所述比较判断单元402，用于比较所述第一检测位201和第二检测位202的状态，如果二者状态与预设状态相同，确定光纤不在位；否则，与预设状态不相同，确定光纤在位；其中，所述预设状态指所述第一检测位201和第二检测位202断开时的状态。进一步的，本发明实施例中，所述预设状态可以为所述第一检测位201和第二检测位202的状态不一致。此时，所述比较判断单元402，用于比较所述第一检测位201的状态和第二检测位202的状态是否一致，如果一致，确定光纤在位；如果不一致，确定光纤不在位。具体的，可以通过电压检测或者电流检测实现对光纤在位的检测。当采用电压检测时所述预设状态为所述第一检测位201的电压和第二检测位202的电压不相等。所述检测单元401，用于检测所述第一检测位201的电压和所述第二检测位202的电压。所述比较判断单元402，用于比较所述第一检测位201的电压和第二检测位202的电压，如果二者的电压相等，确定光纤在位；如果二者电压不相等，确定光纤不在位。当采用电流检测时所述预设状态为所述第一检测位和第二检测位之间电流为零。 所述检测单元401，用于检测所述第一检测位201和所述第二检测位202之间的电流。所述比较判断单元402，用于比较所述第一检测位201和第二检测位202之间的电流，如果电流不为零，确定光纤在位；如果电流为零，确定光纤不在位。具体的，所述光纤在位检测装置可以定期比较所述第一检测位201和第二检测位202的状态，确定光纤是否在位。例如Ims或Is。具体的，所述光纤在位检测装置还可以包括信息上报单元，用于确定光纤在位或不在位时，将所述光纤在位或不在位的信息上报系统。具体的，所述光纤在位检测装置还可以包括告警单元，用于确定光纤不在位时，发
出告警信息。
需要说明的是，本发明实施例中，可以通过设置在所述连接器中的导体的粗细来调节光纤不在位检测的灵敏度。具体的，导体和两个检测位(第一检测位和第二检测位)越精细，检测的灵敏度越高，能够检测到的光纤松动的程度越小。具体的，可以说是所述导体与所述第一检测位的接触面积、以及所述导体与所述第二检测位的接触面积都比较小。本发明实施例还提供一种微控制器。所述微控制器用于检测光纤的状态并上报至系统，所述微控制器可以包括工作电源和控制芯片等。本发明实施例中，所述微控制器还包括前述各实施例所述的光纤在位检测装置，且所述微控制器用于以下场景光纤的连接器上设置有一导体，光�？榈亩杂ξ恢么ι柚糜械谝患觳馕缓偷诙觳馕唬龅谝患觳馕缓偷诙觳馕缓蜕柚迷谒鑫⒖刂破魃系墓庀嗽谖患觳庾爸孟嗔�。本发明实施例还提供一种计算机可执行程序，该程序可以由一个数据处理系统(processor)来执行,具体的,所述程序执行的步骤包括步骤S1:分别检测第一检测位和第二检测位的状态。步骤S2 :比较所述第一检测位和第二检测位的状态，确定光纤是否在位。需要说明的是，所述第一检测位和第二检测位设置在光�？樯希诠庀肆悠鞯亩杂ξ恢么哂幸坏继澹黄渲校龆杂ξ恢檬侵傅彼隽悠鞑迦胨龉饽？橹星夜庀嗽谖皇保龅继逵肓礁黾觳馕欢冀哟ァＫ黾扑慊芍葱谐绦蚋髦葱胁街璧木咛迨迪址绞接肭笆龈魇凳├嗤诖瞬辉僮甘觥Ｒ陨隙员痉⒚魉峁┑囊恢止庀嗽谖患觳夥椒白爸�、微控制器，进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式
及应用范围上均会有改变之处。综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。本领域普通技术人员将会理解，本发明的各个方面、或各个方面的可能实现方式可以被具体实施为系统、方法或者计算机程序产品。因此，本发明的各方面、或各个方面的可能实现方式可以采用完全硬件实施例、完全软件实施例(包括固件、驻留软件等等)，或者组合软件和硬件方面的实施例的形式，在这里都统称为“电路”、“�？椤被蛘摺跋低场�。此夕卜，本发明的各方面、或各个方面的可能实现方式可以采用计算机程序产品的形式，计算机程序产品是指存储在计算机可读介质中的计算机可读程序代码。计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质。计算机可读存储介质包含但不限于电子、磁性、光学、电磁、红外或半导体系统、设备或者装置，或者前述的任意适当组合，如随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦除可编程只读存储器(EPR0M或者快闪存储器)、光纤、便携式只读存储器(CD-ROM)。计算机中的处理器读取存储在计算机可读介质中的计算机可读程序代码，使得处理器能够执行在流程图中每个步骤、或各步骤的组合中规定的功能动作；生成实施在框图的每一块、或各块的组合中规定的功能动作的装置。
权利要求
1.一种光纤在位检测的方法，其特征在于，光纤连接器上具有一导体，光�？榈亩杂ξ恢么τ辛礁黾觳馕唬直鹞谝患觳馕缓偷诙觳馕唬宜龅谝患觳馕缓偷诙觳馕涣又廖⒖刂破鳎黄渲校龆杂ξ恢檬侵傅彼隽悠鞑迦胨龉饽？橹星夜庀嗽谖皇保龅继逵肓礁黾觳馕欢冀哟ィ� 所述方法包括 分别检测所述第一检测位和第二检测位的状态； 比较所述第一检测位和第二检测位的状态，确定光纤是否在位。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述比较所述第一检测位和第二检测位的状态，确定光纤是否在位为 比较所述第一检测位和第二检测位的状态是否与预设状态相同； 如果与预设状态不相同，确定光纤在位；如果与预设状态相同，确定光纤不在位； 其中，所述预设状态指所述第一检测位和第二检测位断开时的状态。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述预设状态为所述第一检测位和第二检测位的状态不一致。
4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述分别检测所述第一检测位和第二检测位的状态为分别检测所述第一检测位的电压和第二检测位的电压； 所述预设状态为所述第一检测位的电压和第二检测位的电压不相等。
5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述分别检测所述第一检测位和第二检测位的状态为分别检测所述第一检测位的电流和第二检测位之间的电流； 所述预设状态为所述第一检测位和第二检测位之间电流为零。
6.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，所述导体与所述第一检测位的接触面积、以及所述导体与所述第二检测位的接触面积小于预设值； 所述预设值能够保证当所述连接器插入所述光�？橹星夜庀嗽谖皇保龅继逵肓礁黾觳馕欢冀哟ィ坏彼龉庀怂啥保龅继逵肓礁黾觳馕欢疾唤哟セ蛴肫渲幸桓黾觳馕徊唤哟�。
7.一种光纤在位检测装置，其特征在于，光纤的连接器上具有一导体，光�？榈亩杂ξ恢么τ辛礁黾觳馕唬直鹞谝患觳馕缓偷诙觳馕唬宜龅谝患觳馕缓偷诙觳馕痪胨鑫⒖刂破魃系墓庀嗽谖患觳庾爸孟嗔黄渲校龆杂ξ恢檬侵傅彼隽悠鞑迦胨龉饽？橹星夜庀嗽谖皇保龅继逵肓礁黾觳馕欢冀哟ィ� 所述装置包括 检测单元，用于分别检测所述第一检测位和第二检测位的状态； 比较判断单元，用于比较所述第一检测位和第二检测位的状态，确定光纤是否在位。
8.根据权利要求7所述的光纤在位检测装置，其特征在于，所述比较判断单元，用于比较所述第一检测位和第二检测位的状态是否与预设状态相同；如果与预设状态不相同，确定光纤在位；如果与预设状态相同，确定光纤不在位； 其中，所述预设状态指所述第一检测位和第二检测位断开时的状态。
9.根据权利要求8所述的光纤在位检测装置，其特征在于，所述预设状态为所述第一检测位和第二检测位的状态不一致。
10.根据权利要求8或9所述的光纤在位检测装置，其特征在于，所述检测单元，用于分别检测所述第一检测位的电压和所述第二检测位的电压； 所述预设状态为所述第一检测位的电压和第二检测位的电压不相等。
11.根据权利要求8所述的光纤在位检测装置，其特征在于，所述检测单元，用于分别检测所述第一检测位和第二检测位之间的电流； 所述预设状态为所述第一检测位和第二检测位之间电流为零。
12.根据权利要求7至11任一项所述的光纤在位检测装置，其特征在于，所述导体与所述第一检测位的接触面积、以及所述导体与所述第二检测位的接触面积小于预设值； 所述预设值能够保证当所述连接器插入所述光�？橹星夜庀嗽谖皇保龅继逵肓礁黾觳馕欢冀哟ィ坏彼龉庀怂啥保龅继逵肓礁黾觳馕欢疾唤哟セ蚪鲇肫渲幸桓黾觳馕徊唤哟�。
13.—种微控制器，其特征在于，光纤的连接器上具有一导体，光模块的对应位置处有两个检测位，分别为第一检测位和第二检测位；其中，所述对应位置是指当所述连接器插入所述光�？橹星夜庀嗽谖皇保龅继逵肓礁黾觳馕欢冀哟ィ� 所述微控制器包括一光纤在位检测装置； 所述第一检测位和第二检测位均与所述光纤在位检测装置相连； 所述光纤在位检测装置包括 检测单元，用于分别检测所述第一检测位和第二检测位的状态； 比较判断单元，用于比较所述第一检测位和第二检测位的状态，确定光纤是否在位。
14.根据权利要求13所述的微控制器，其特征在于，所述比较判断单元，用于比较所述第一检测位和第二检测位的状态是否与预设状态相同，如果与预设状态不相同，确定光纤在位；如果与预设状态相同，确定光纤不在位； 其中，所述预设状态指所述第一检测位和第二检测位断开时的状态。
15.根据权利要求14所述的微控制器，其特征在于，所述预设状态为所述第一检测位和第二检测位的状态不一致。
16.根据权利要求13至15任一项所述的微控制器，其特征在于，所述检测单元，用于分别检测所述第一检测位的电压和所述第二检测位的电压； 所述预设状态为所述第一检测位的电压和第二检测位的电压不相等。
17.根据权利要求14所述的微控制器，其特征在于，所述检测单元，用于分别检测所述第一检测位和第二检测位之间的电流； 所述预设状态为所述第一检测位和第二检测位之间电流为零。
18.根据权利要求13至17任一项所述的微控制器，其特征在于，所述导体与所述第一检测位的接触面积、以及所述导体与所述第二检测位的接触面积小于预设值； 所述预设值能够保证当所述连接器插入所述光�？橹星夜庀嗽谖皇保龅继逵肓礁黾觳馕欢冀哟ィ坏彼龉庀怂啥保龅继逵肓礁黾觳馕欢疾唤哟セ蛴肫渲幸桓黾觳馕徊唤哟�。
全文摘要
本发明公开了一种光纤在位检测的方法及装置、微控制器。光纤连接器上具有一导体，光�？榈亩杂ξ恢么τ辛礁黾觳馕唬直鹞谝患觳馕缓偷诙觳馕唬宜龅谝患觳馕缓偷诙觳馕涣又廖⒖刂破鳎黄渲校龆杂ξ恢檬侵傅彼隽悠鞑迦胨龉饽？橹星夜庀嗽谖皇保龅继逵肓礁黾觳馕欢冀哟ィ凰龇椒òǚ直鸺觳馑龅谝患觳馕缓偷诙觳馕坏淖刺槐冉纤龅谝患觳馕缓偷诙觳馕坏淖刺范ü庀耸欠裨谖弧１痉⒚骰固峁┝艘恢止庀嗽谖患觳庾爸眉拔⒖刂破�。采用本发明实施例，能够对光纤脱落或松动等引起的光线不在位进行检测，其检测精度较高，能够有效保证光信号传输的可靠性和准确性。
文档编号G01M11/00GK103048116SQ20121055324
公开日2013年4月17日 申请日期2012年12月19日 优先权日2012年12月19日
发明者刘磊, 李丹, 沈明永 申请人:华为技术有限公司
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