专利名称：导电衬垫电磁屏蔽效能测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属电磁屏蔽材料屏蔽效能测试的技术领域，涉及一种导 电衬垫电磁屏蔽效能测试装置。
背景技术：
目前，导电衬垫电磁屏蔽效能测试普遍采用的是基于辐射测试原理 的屏蔽室窗口测试装置。屏蔽室的窗口测试装置是在屏蔽室侧面上开一
个660mmX660mm的窗口，窗口处设计有安装法兰，受试导电衬垫布 置在窗口的法兰上，金属盖板与窗口安装法兰连接。测试时利用屏蔽室 外的发射天线发射辐射测试信号，通过位于屏蔽室内部的接收天线分别 接收在空窗口或窗口安装衬垫和金属盖板两种状态下的信号，两次接收 的测试信号电平分贝值之差即为导电衬垫电磁屏蔽效能。
但是，由于屏蔽室窗口测试装置是利用屏蔽室作为辐射测试的屏蔽 腔体，这就使得在某些频率处由于腔体的谐振效应会给测试结果带来较 大的误差。另外，由于导电衬垫使用时在一定形变量范围下的屏蔽效果 最好，然而该测试装置的窗口安装法兰无法控制受试衬垫的型变量，不 能测试衬垫不同形变量下的屏蔽效能。因此，利用该测试装置所得的衬 垫屏蔽效能在电子设备结构设计时仅能够作为参考。
发明内容
本实用新型的目的是提供一种测试误差小、能够测试衬垫在不同形 变量下的屏蔽效能的导电衬垫电磁屏蔽效能测试装置。本实用新 型的技术解决方案是，测试装置由屏蔽箱体和接收天线信号输出电缆 屏蔽盒两部分组成，屏蔽箱体的一个面为箱体开口，箱体开口处设有衬 垫测试安装法兰，箱体盖板通过衬垫形变控制组件与安装法兰连接，与 箱体开口相对的面的外侧设有安装板，在箱体的两个侧面分别开有一个 正方形接收天线安装开口 ，接收天线安装开口通过螺栓从箱体外部与接 收天线安装凸形盖板连接并保持凸形盖板与屏蔽箱体内表面齐平；接收 天线信号输出电缆屏蔽盒安装在屏蔽箱体的侧面的接收天线安装开口 和箱体安装板上，接收天线信号输出电缆置于接收天线信号输出电缆屏蔽盒内，接收天线信号输出电缆的两端分别与接收天线盒的同轴输出插 头和箱体安装板上的同轴插头连接。
所述的衬垫测试安装法兰与箱体盖板之间的衬垫形变控制组件主 要由绝缘隔圈、绝缘体和金属紧固螺栓组成，金属紧固螺栓固定在衬垫 测试安装法兰上，绝缘隔圈置于衬垫测试安装法兰与箱体盖板之间，绝 缘体置于箱体盖板的孔中并套接在金属紧固螺栓上。
本实用新型具有的优点和有益效果，
本实用新型基于屏蔽体屏蔽效能测试原理，其区别于屏蔽室窗口测 试装置的最显著的特征是屏蔽效能测试是利用一小的屏蔽箱体，通过改 变箱体盖板与箱体法兰的间距来控制衬垫的形变量，从而得到评价导电 衬垫不同形变量下屏蔽性能的两个参数屏蔽效能和屏蔽增长。本实用 新型的屏蔽效能测试采用小的屏蔽箱体并且将整个测试系统都布置在 屏蔽室内部不但可以减小腔体谐振效应造成的测试结果误差，而且避免 了外界空间的干扰信号对测试信号的影响。衬垫形变控制组件不但可以 实现屏蔽箱体与盖板的绝缘连接，而且可以通过更换衬垫形变控制组件 中绝缘隔圈的厚度来控制受试衬垫的形变量，从而得到不同形变量下导 电衬垫的屏蔽性能。接收线缆与天线的连接和屏蔽设计，可以縮短接收 线缆的长度、减小接收线缆拾取到的外界发射信号，有效提高测试系统 的动态范围。接收天线安装口以及凸形安装板的设计可以有效减小由于 屏蔽箱体不完整性而造成的电磁泄漏，减小导电衬垫屏蔽效能测试误 差。
图1为本发明的箱体结构示意图2为本发明的衬垫型变量控制示意图3为本发明的接收电缆屏蔽盒装配示意图4为本发明的凸形安装板与接收天线安装口装配示意图。
具体实施方式
测试装置由屏蔽箱体1和接收天线信号输出电缆屏蔽盒12两部分 组成，屏蔽箱体l的一个面为箱体开口，箱体开口处设有衬垫测试安装
法兰3，箱体盖板2通过衬垫形变控制组件与安装法兰3连接，与箱体 开口相对的面的外侧设有安装板4,在箱体的两个侧面分别开有一个正方形接收天线安装开口 5和6，接收天线安装开口 5和6通过螺栓从箱 体外部与接收天线安装凸形盖板16连接并保持凸形盖板16与屏蔽箱体 内表面齐平；接收天线信号输出电缆屏蔽盒12安装在屏蔽箱体1的侧 面的接收天线安装开口 5或6和箱体安装板4上，接收天线信号输出电 缆14置于接收天线信号输出电缆屏蔽盒12内，接收天线信号输出电缆 14的两端分别与接收天线盒的同轴输出插头13和箱体安装板上的同轴 插头15连接。
衬垫测试安装法兰3与箱体盖板2之间的衬垫形变控制组件主要由 绝缘隔圈7、绝缘体8和金属紧固螺栓9以及紧固螺母10组成，金属紧 固螺栓9固定在衬垫测试安装法兰3上，绝缘隔圈7置于衬垫测试安装 法兰3与箱体盖板2之间，绝缘体8置于箱体盖板2的孔中并套接在金 属紧固螺栓9上。
正六面体结构的屏蔽箱体1通过安装板4固定在屏蔽室内壁上以确 保屏蔽箱体有良好的接地。受试导电衬垫11安装在衬垫测试安装法兰3 上，通过衬垫形变控制组件来改变屏蔽箱体1上的衬垫测试安装法兰3 与箱体盖板2之间的缝隙从而控制衬垫的型变量。衬垫形变控制组件中 的金属螺栓9固定在衬垫测试安装法兰3上，在屏蔽箱体1与箱体盖板 2之间固定的金属紧固螺栓9上安装与受试衬垫预期形变后的高度相同 的绝缘隔圈7，因此测试时可以根据受试衬垫11的预期形变量来更换不 同厚度的绝缘隔圈7从而控制受试衬垫11的具体形变量。为了客观评 价导电衬垫的屏蔽效能，减小金属螺栓9对衬垫屏蔽效能结果的影响， 衬垫测试时箱体盖板2与衬垫测试安装法兰3之间应该没有直接的电接 触。因此在金属紧固螺栓9上设计有绝缘体8，以达到箱体盖板2与衬 垫测试安装法兰3之间的绝缘的目的，具体结构见示意图2。
接收天线的信号输出电缆14 一端与天线盒的同轴输出插头13连 接，另一端则与箱体安装板2上的同轴插头15连接，以尽量缩短信号 输出电缆的长度。同时，通过安装在屏蔽箱体1和箱体安装板4上的电 缆屏蔽盒12进行电缆屏蔽处理。以上对信号输出电缆采取的两种措施 可以有效减小接收电缆拾取到的外部发射信号，大大提高测试系统的动 态范围，具体结构见示意图3。
在屏蔽箱体1的两个侧面分别开有一个正方形接收天线安装开口 5和6，分别用于安装接收杆天线和环天线。利用凸形盖板16将电缆屏蔽 盒12从箱体外部通过螺栓与天线安装开口 5或6连接，并使得凸形盖 板16与屏蔽箱体1内表面平齐，以保持箱体具有良好的屏蔽完整性， 具体结构见示意图4。
衬垫测试时利用屏蔽室内的发射天线发射测试信号，根据测试信号 的频率分别通过屏蔽箱体内的杆天线和环天线接收测试信号，并根据箱 体盖板的两个安装状态得出不同形变量下的评价导电衬垫屏蔽性能的 两个参数，屏蔽增长(Shielding Increasing, 57)和屏蔽效能(Shielding Effective, S局。具体工作过程如下在进行导电衬垫电磁屏蔽效能测试 时，利用位于屏蔽室内的发射天线发射测试信号，根据发射信号的频率 范围选用杆天线或环天线作为屏蔽箱体内部的接收天线。当箱体与盖板 之间无受试衬垫11直接安装时，记录该状态下接收天线接收到的信号 电平的分贝值^然后将受试衬垫11布置到箱体法兰上，根据预期的 衬垫形变量选择合适厚度的绝缘隔圈并用紧固螺母10紧固，记录该状 态下接收天线接收到的信号电平的分贝值^;最后将衬垫拆下，将衬垫 形变量控制组件中的绝缘隔圈换成同等厚度的金属隔圈并用紧固螺母
io紧固，记录该状态下接收天线接收到的信号电平的分贝值r3。利用得
到以上3个试验值就可以计算出导电衬垫的屏蔽效能和屏蔽增长。 屏蔽效能(5S) =F3(dB)—F2(dB) 屏蔽增长(S/) -K(dB)—K(dB)。
权利要求1.一种导电衬垫电磁屏蔽效能测试装置，其特征在于，测试装置由屏蔽箱体(1)和接收天线信号输出电缆屏蔽盒(12)两部分组成，屏蔽箱体(1)的一个面为箱体开口，箱体开口处设有衬垫测试安装法兰(3)，箱体盖板(2)通过衬垫形变控制组件与安装法兰(3)连接，与箱体开口相对的面的外侧设有安装板(4)，在箱体的两个侧面分别开有一个正方形接收天线安装开口(5)和(6)，接收天线安装开口(5)和(6)通过螺栓从箱体外部与接收天线安装凸形盖板(16)连接并保持凸形盖板(16)与屏蔽箱体内表面齐平；接收天线信号输出电缆屏蔽盒(12)安装在屏蔽箱体(1)的侧面的接收天线安装开口(5)或(6)和箱体安装板(4)上，接收天线信号输出电缆(14)置于接收天线信号输出电缆屏蔽盒(12)内，接收天线信号输出电缆(14)的两端分别与接收天线盒的同轴输出插头(13)和箱体安装板上(4)的同轴插头(15)连接。
2. 根据权利要求1所述的导电衬垫电磁屏蔽效能测试装置，其特征 在于，所述的衬垫测试安装法兰(3)与箱体盖板(2)之间的衬垫形变 控制组件主要由绝缘隔圈(7)、绝缘体(8)和金属紧固螺栓(9)组成， 金属紧固螺栓(9)固定在衬垫测试安装法兰(3)上，绝缘隔圈(7) 置于衬垫测试安装法兰(3)与箱体盖板(2)之间，绝缘体(8)置于 箱体盖板(2)的孔中并套接在金属紧固螺栓(9)上。
专利摘要本实用新型属电磁屏蔽材料屏蔽效能测试的技术领域，涉及一种导电衬垫电磁屏蔽效能测试装置。测试装置的屏蔽箱体的一个面为箱体开口，箱体开口处设有衬垫测试安装法兰，箱体盖板通过衬垫形变控制组件与安装法兰连接，与箱体开口相对的面的外侧设有安装板，在箱体的两个侧面分别开有一个正方形接收天线安装开口，接收天线安装开口通过螺栓从箱体外部与接收天线安装凸形盖板连接并保持凸形盖板与屏蔽箱体内表面齐平；接收天线信号输出电缆屏蔽盒安装在屏蔽箱体侧面的接收天线安装开口和箱体安装板上，接收天线信号输出电缆置于接收天线信号输出电缆屏蔽盒内，接收天线信号输出电缆的两端分别与接收天线盒的同轴输出插头和箱体安装板上的同轴插头连接。
文档编号G01R31/00GK201387454SQ20082012469
公开日2010年1月20日 申请日期2008年12月19日 优先权日2008年12月19日
发明者吴彦灵, 王伟科, 黄菊英 申请人:中国航空综合技术研究所
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