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专利名称：全色密度计的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种全色密度计。
背景技术：
射线探伤的X光底片黑度的测量，以往的密度计都是测量白色片基上的黑度值底片，由于目前我国在无损检测行业中的工业胶片基本是Agfa、kodak、Fuji的蓝色片基,这样对于测量感蓝片基的黑度值的偏差很大。

发明内容
本发明的目的是提供一种全色密度计。为解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案一种全色密度计，它包括由平台与梯台拼合而成的床型机壳、设置在梯台上的显示屏和清零按钮、摆动连接在梯台上的测量臂、固定连接在测量臂上的纳米镀膜探测器、设置在平台上的测量平台、安装在平台内且位于测量平台下方的光源。所述的光源为交流调制光源。本发明的有益效果在于本发明在于利用纳米镀膜探测器实现对任何颜色进行分辨，且其对黑白片或兰片都同样敏感。因此，使用“全色型”密度计测量任何一种感光胶片均能得到满意的结果。


附图1为本发明的结构示意 其中1、机壳；2、显示屏；3、清零按钮；4、测量臂；5、纳米镀膜探测器；6、测量平台；7、光源；11、平台；12、梯台。
具体实施例方式下面结合附图对本发明作以下详细描述。如图1所示，本全色密度计包括由平台11与梯台12拼合而成的床型机壳1、设置在梯台12上的显示屏2和清零按钮3、摆动连接在梯台12上的测量臂4、固定连接在测量臂4上的纳米镀膜探测器5、设置在平台11上的测量平台6、安装在平台11内且位于测量平台6下方的光源7，所述的光源7为交流调制光源。上述实施例只为说明本发明的技术构思及特点，其目的在于让熟悉此项技术的人士能够了解本发明的内容并据以实施，并不能以此限制本发明的保护范围。凡根据本发明精神所作的等效变 化或修饰，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
权利要求
1.一种全色密度计，其特征在于它包括由平台(11)与梯台(12)拼合而成的床型机壳(I)、设置在梯台(12)上的显示屏(2)和清零按钮(3)、摆动连接在梯台(12)上的测量臂(4)、固定连接在测量臂(4)上的纳米镀膜探测器(5)、设置在平台(11)上的测量平台(6)、 安装在平台(11)内且位于测量平台(6)下方的光源(7)。
2.根据权利要求1所述的全色密度计，其特征在于所述的光源(7)为交流调制光源。
全文摘要
本发明公开一种全色密度计，它包括由平台与梯台拼合而成的床型机壳、设置在梯台上的显示屏和清零按钮、摆动连接在梯台上的测量臂、固定连接在测量臂上的纳米镀膜探测器、设置在平台上的测量平台、安装在平台内且位于测量平台下方的光源。本发明的有益效果在于本发明在于利用纳米镀膜探测器实现对任何颜色进行分辨，且其对黑白片或兰片都同样敏感。因此，使用“全色型”密度计测量任何一种感光胶片均能得到满意的结果。
文档编号G01J1/00GK103063296SQ201210422948
公开日2013年4月24日 申请日期2012年10月30日 优先权日2012年10月30日
发明者沈明奎, 沈耀程, 王威武 申请人:吴江市宏达探伤器材有限公司