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专利名称：测试设备信号继电器时间性能的实时检测电路的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种检测电路，尤其涉及一种测试设备信号继电器时间性能的实时检测电路。
背景技术：
测试系统(Tester)会在输入、输出管脚上加载信号切换继电器,用以控制和切换信号的状态。在驱动器输出使能信号到达图I中的A端后，由于继电器的切换需要时间，信号从B端传输到被测芯片输入管脚上B端得到的信号起始点将晚于测试设备的要求时间。一般这个时间在I. 5ms左右。因此测试速度将受限制于这个切换时间。另外，当测试用通道数量很多时，随着继电器使用状态的变化，这个切换时间将产生很大误差。造成到达半导体元·件(IC)输入管脚的信号不同步，产生测试失效问题。为解决这个问题，目前的方案是在测试开始前等待一段时间，这样就降低了测试效率。

实用新型内容鉴于上述现有技术中的问题，本实用新型所要解决的技术问题是现有的技术缺乏有效的实时检测电路。本实用新型的一种测试设备信号继电器时间性能的实时检测电路，包括采样信号发生器、计数器和寄存器，所述采样信号发生器与所述计数器连接，所述计数器与所述寄存器连接，所述寄存器上设有信号输出端。在本实用新型的一个较佳实施方式中，所述采样信号发生器包括第一采样电路、第二采样电路和第三采样电路，所述第一采样电路、第二采样电路和第三采样电路上分别设有第一测试输入、第二测试输入和被测输入，所述第一米样电路、第二米样电路相连并与所述计数器连接，所述第三采样电路与所述计数器通过所述计数器上的第三输入连接。在本实用新型的另一较佳实施方式中，所述第三采样电路还通过所述计数器上的第四输入与所述计数器通过连接。在本实用新型的另一较佳实施方式中，还包括系统信号端，所述系统信号端与分别所述寄存器和计数器连接。在本实用新型的另一较佳实施方式中，还包括时钟发生器，所述时钟发生器与所述计数器连接。在本实用新型的另一较佳实施方式中，所述采样信号发生器的频率为10M-1G。在本实用新型的另一较佳实施方式中，所述计数器采用复杂可编程逻辑器件。本实用新型设计了针对继电器的切换延迟时间的实时测量电路，并行连接于测试设备驱动电路上，将实际测量值反馈给测试设备，使驱动使能信号作适当提前，确保到达被测器件管脚上的输入信号同步且符合测试需要的正确时间沿。从而提高测试切换速度和测试稳定性能。
图I是继电器的电路示意图；图2是本实用新型的实施例的采样信号发生器的结构示意图；图3是本实用新型的实施例的结构示意图。
具体实施方式
以下将结合附图和实施例对本实用新型做具体阐释。如图2和3中所示，本实用新型的一种测试设备信号继电器时间性能的实时检测 电路，包括采样信号发生器I、计数器2和寄存器3。采样信号发生器I与所述计数器2连接，所述计数器2与所述寄存器3连接，所述寄存器3上设有信号输出端4。本实用新型使驱动使能信号作适当提前，确保到达被测器件管脚上的输入信号同步且符合测试需要的正确时间沿。从而提高测试切换速度和测试稳定性能优选的，米样信号发生器包括第一米样电路11、第二米样电路12和第三米样电路13。如图3所示，第一采样电路11、第二采样电路12和第三采样电路13上分别设有第一测试输入、第二测试输入和被测输入，第一米样电路11、第二米样电路12相连并与所述计数器2连接，所述第三采样电路13与所述计数器2通过所述计数器2上的第三输入21连接。优选的，所述第三采样电路13还通过所述计数器2上的第四输入22与所述计数器通过连接。 此外，优选的，还包括系统信号端31，系统信号端31与分别所述寄存器3和计数器2连接。在本实用新型的实施例中，还包括时钟发生器5，所述时钟发生器5与所述计数器2连接。在本实用新型的实施例中，采样信号发生器的频率为10M-1G。计数器采用复杂可编程逻辑器件。如图3所示测试采样信号由第一采样电路11、第二采样电路12相与后连接到计数器2作为计数开始信号。当被测半导体元件(IC)的管脚第三采样电路13端子上收到经过继电器切换后的上升沿信号后，计数器2将当前计数值输出后缓存。并延迟后将计数器2清零。计数器2采样精度取决于时钟发生器5的频率发生值。IG以下都可以满足使用需求。来自测试设备的通过系统信号端31的测试使能信号是测试设备控制该电路工作的信号。当测试使能信号发送后，寄存器3中的数据将被装换成串行数据反馈到测试设备总线中，由设备读取该数据后反馈给输出变量，调整输出时间从而达到自动反馈延迟时间的作用。整个电路系统可以挂接在测试设备外围，当信号继电器延迟变化时，电路可以实时测量并监控信号质量。测试设备仅需要给该电路一个测试使能信号，就能从反馈电路中读取测量后的时间延迟数量，在发送使能信号前，叠加上时间补偿值，可以根据不同通道的延时做使能信号发送提前的调整。最终使到达被测IC的信号时间沿完全一致并符合测试时间要求。[0026]以上对本实用新型的具体实施例进行了详细描述，但其只作为范例，本实用新型并不限制于以上描述的具体实施例。对于本领域技术人员而言，任何对该实用进行的等同修改和替代也都在本实用新型的范畴之中。因此，在不脱离本实用新型的精神和范围下所作的均等变换和修改，都应涵 盖在本实用新型的范围内。
权利要求1.ー种测试设备信号继电器时间性能的实时检测电路，其特征在于，包括采样信号发生器、计数器和寄存器，所述采样信号发生器与所述计数器连接，所述计数器与所述寄存器连接，所述寄存器上设有信号输出端。
2.如权利要求I所述的测试设备信号继电器时间性能的实时检测电路，其特征在干，所述采样信号发生器包括第一采样电路、第二采样电路和第三采样电路，所述第一采样电路、第二采样电路和第三采样电路上分别设有第一测试输入、第二测试输入和被测输入，所述第一采样电路、第二采样电路相连并与所述计数器连接，所述第三采样电路与所述计数器通过所述计数器上的第三输入连接。
3.如权利要求2所述的测试设备信号继电器时间性能的实时检测电路，其特征在干，所述第三采样电路还通过所述计数器上的第四输入与所述计数器通过连接。
4.如权利要求I所述的测试设备信号继电器时间性能的实时检测电路，其特征在干，还包括系统信号端，所述系统信号端与分别所述寄存器和计数器连接。
5.如权利要求I所述的测试设备信号继电器时间性能的实时检测电路，其特征在干，还包括时钟发生器，所述时钟发生器与所述计数器连接。
6.如权利要求I所述的测试设备信号继电器时间性能的实时检测电路，其特征在干，所述采样信号发生器的频率为10M-1G。
7.如权利要求I所述的测试设备信号继电器时间性能的实时检测电路，其特征在干，所述计数器采用复杂可编程逻辑器件。
专利摘要本实用新型的一种测试设备信号继电器时间性能的实时检测电路，包括采样信号发生器、计数器和寄存器，所述采样信号发生器与所述计数器连接，所述计数器与所述寄存器连接，所述寄存器上设有信号输出端。本实用新型使驱动使能信号作适当提前，确保到达被测器件管脚上的输入信号同步且符合测试需要的正确时间沿。从而提高测试切换速度和测试稳定性能。
文档编号G01R31/327GK202758047SQ20122031656
公开日2013年2月27日 申请日期2012年7月3日 优先权日2012年7月3日
发明者童炜 申请人:上海华力微电子有限公司