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专利名称：一种光学指标测量系统的制作方法
技术领域：
本发明涉及激光技术领域，特别是涉及一种应用在高集成度系统内且用于传送光学指标的装置。
背景技术：
目前大型系统由于高度集成，其测量数据只能从最终集成后的系统中测量得到， 而作为与光学指标相关的光斑变形等因素，亦只能通过最终测量所获得的指标去进行衡量，故其测量效率并不高、且测量过程中诸多的系统也对测量结果造成了极大的干扰。在对较为复杂的大型系统进行测量时，通常是将该大型系统分为若干个组/部件进行离线测量，测量指标后再进行组装；为了满足最终的系统指标在系统装配过程中，还需要对关键指标进行测量。参照图1所示，采用CCD (Charge-coupled Device,中文全称电荷耦合元件)成像系统对图像进行测量的技术方案。在该方案中，系统1和系统2输出的光斑首先通过成像系统接收到近场(XD3和远场(XD4上，其次分别经过多个成像系统镜片传输、反射和聚焦后输出。其中，在该传输、反射和聚焦过程中分别采用示波器5、光谱仪6以及能量计7等进行相关光学指标的测量。虽然上述技术方案可实现相关光学指标的测量，但将系统输出的光斑通过成像系统接收到近场CCD3和远场CCD4上，为确保测量的准确性，需要保证测量系统中的成像系统镜片的光学质量以及保证近场(XD3、远场(XD4处于视场的焦平面位置。进一步，由于上述技术方案中所述测量系统的复杂性，如果系统输出光斑具有一定的变形，则如要保证测量系统中的成像系统镜片的光学质量以及保证近场CCD3、远场 CCD4处于视场的焦平面位置，将因器件的姿态各异或者是需要对上百个器件调试而无从着手。由此可见，对于一个复杂的系统而言，如果因为一个指标的不合格就要追溯到系统最初的调试状态，那么势必会大大降低系统调试的效率；并且在复杂系统内，由于元器件众多并且高度集成，要想在该紧凑型结构中且在线取出光束几乎是不可能实现的。

发明内容
基于现有技术存在的问题，本发明的主要目的在于提供一种能够在任意紧凑结构中将光束取出，同时又能避免由于导光镜片变形而对待测量激光所产生影响的光学指标测量系统。为了实现上述目的，本发明采用了下述技术方案所述一种光学指标测量系统，应用于高集成度复杂系统中，包括电荷耦合元件以及用以自高集成度系统内取出激光光束且提供给电荷耦合元件测量的光指标传送装置，该装置包括底座、镜框以及分别与底座、镜框相连接的支撑体。进一步地，所述光指标传送装置包括一导光镜片，该导光镜片装设于所述镜框中。
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进一步地，所述底座为一夹子，且包括面板、底板以及将面板和底板铰接在一起且套有扭簧的中心轴。进一步地，所述支撑体为绕性管体。进一步地，所述镜框为矩形、圆形或五角形的其中一种。此外，本发明还提供一种光学指标传送装置，其应用于高集成度复杂系统中，包括底座、镜框以及分别与底座、镜框相连接的支撑体。进一步地，所述底座为一夹子，且包括面板、底板以及将面板和底板铰接在一起且套有扭簧的中心轴。进一步地，所述支撑体为绕性管体。进一步地，所述镜框为矩形、圆形或五角形的其中一种。进一步地，所述绕性管体为弹簧金属软管。本发明具有以下优点1)无需将系统分离成若干部分或部件进行离线测量，在线便可随意在紧凑结构中取出光束进行测量，大大提高了测量效率；幻通过在线测量，避免了若干离线测量结果对系统整体测量结果的干扰；3)适用于高集成度的系统，实用性强。


图1为现有测量系统的结构示意图。图2为本发明中所述一种光学指标传送装置的结构示意图。
具体实施例方式下面结合附图以及具体实施来对本发明所述一种光学指标测量系统以及光学指标传送装置作进一步的详细说明。本发明中所述一种光学指标测量系统包括电荷耦合元件以及光指标传送装置，且应用于高集成度复杂系统内，在该系统中，所述光指标传送装置用以自高集成度复杂系统内取出激光光束且提供给电荷耦合元件直接测量。参照图2中所示，本发明中所述光指标传送装置包括底座20、镜框21以及分别与底座20、镜框21相连接的支撑体22，其中，所述镜框21中装设有导光镜片23，该导光镜片 23用以将高集成度系统内的激光光束导出，并传送给电荷耦合元件(图中未示)中。在具体实施时，本发明中所述底座20可为一夹子，其包括面板201、底板202以及将面板201和底板202铰接在一起且套有扭簧(图中未示)的中心轴(图中未示)。应用时，通过该所述夹子使所述光指标传送装置可以方便的夹置于其它物件上。在具体实施时，本发明中所述支撑体22为一种绕性管体，故通过该可自由折绕的支撑体22，本发明所述光指标传送装置可以很方便的调整导出激光光束的导光镜片23的位置。进一步地，具体应用时，上述支撑体22为可自由拉伸的弹簧金属软管。此外，本发明中所述镜框21可以配合导光镜片23的形状或者按照实际测量需求设计成矩形、圆形或五角形。本发明光学指标测量系统以及光学指标传送装置，无需将系统分离成若干部分或部件进行离线测量，在线便可随意在紧凑结构中取出光束进行测量，大大提高了测量效率；通过在线测量，避免了若干离线测量结果对系统整体测量结果的干扰；适用于高集成度的系统，实用性强。 以上所述仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
权利要求
1.一种光学指标测量系统，应用于高集成度复杂系统中，包括电荷耦合元件，其特征在于，还包括用以自高集成度系统内取出激光光束且提供给电荷耦合元件测量的光指标传送装置，该装置包括底座、镜框以及与底座、镜框相连接的支撑体。
2.根据权利要求1所述光学指标测量系统，其特征在于，所述光指标传送装置还包括一导光镜片，该导光镜片装设于所述镜框中。
3.根据权利要求1所述光学指标测量系统，其特征在于，所述底座为一夹子，包括面板、底板以及将面板和底板铰接在一起且套有扭簧的中心轴。
4.根据权利要求1所述光学指标测量系统，其特征在于，所述支撑体为绕性管体。
5.根据权利要求1或2所述光学指标测量系统，其特征在于，所述镜框为矩形、圆形或五角形的其中一种。
6.一种光学指标传送装置，应用于高集成度复杂系统中，其特征在于，所述装置包括底座、镜框以及与底座、镜框相连接的支撑体。
7.根据权利要求6所述一种光学指标传送装置，其特征在于，所述底座为一夹子，包括面板、底板以及将面板和底板铰接在一起且套有扭簧的中心轴。
8.根据权利要求6所述一种光学指标传送装置，其特征在于，所述支撑体为绕性管体。
9.根据权利要求6所述一种光学指标传送装置，其特征在于，所述镜框为矩形、圆形或五角形的其中一种。
10.根据权利要求8所述一种光学指标传送装置，其特征在于，所述绕性管体为弹簧金属软管。
全文摘要
本发明公开了一种光学指标测量系统，包括电荷耦合元件以及用以自高集成度系统内取出激光光束且提供给电荷耦合元件测量的光指标传送装置，该装置包括底座、镜框以及分别与底座、镜框相连接的可自由伸缩的支撑体，在镜框中设置有导光镜片。本发明优点在于，无需将系统分离成若干部分或部件进行离线测量，在线便可随意在紧凑结构中取出光束进行测量，大大提高了测量效率；通过在线测量，避免了若干离线测量结果对系统整体测量结果的干扰；适用于高集成度的系统，实用性强。
文档编号G01M11/02GK102564735SQ20111008510
公开日2012年7月11日 申请日期2011年4月6日 优先权日2011年4月6日
发明者张国新, 张晶, 樊仲维 申请人:北京国科世纪激光技术有限公司