专利名称：射频集成电路测试系统及控制方法
技术领域：
本发明涉及测试系统及方法，具体涉及射频集成电路测试系统及控制方法。
背景技术：
随着集成电路的发展，越来越倾向于数模混合单片集成电路。电路内部通过数字功能�？槎阅Ｄ獠糠纸锌刂疲虼硕杂诩傻缏返牟馐苑治觯紫刃枰橹な止δ苣？椴糠郑源锏酵ü止δ苣？榭刂颇Ｄ獠糠值恼９ぷ�。由于不同的电路内部集成的数字功能�？椴⒉灰谎渲邪↖2C通信协议、SPI串行通信协议、逻辑电平控制等。而对于射频集成电路，根据接收通道、发射通道与频综等不同的单元，其参数指标差异性较大。 因此对于不同的电路，需要对测试系统的硬件部分单独制作，测试系统的程序部分也需要根据不同的协议等编写不同的界面控制程序，造成工作量大，成本高，周期长，效率低。
发明内容
本发明所要解决的技术问题之一在于提供射频集成电路测试系统。本发明所要解决的技术问题之二在于提供射频集成电路测试系统控制方法。为了解决上述技术问题，根据本发明的第一个技术方案，射频集成电路测试系统， 包括上位机、底层硬件控制�？�、测试夹具板和可程控测试仪器；其特征在于
在上位机中设置有串口�？�、电路功能设置�？�、参数测试�？椋渲� 串口�？橛糜谏衔换氲撞阌布刂颇？榈牡テ型ㄐ牛� 电路功能设置�？�(13)用于对测试系统的工作模式进行设置和选择；包括用于对测试系统的总线工作模式进行设置；兼容多种接口、多种协议；对待测射频集成电路的接收与发射模式进行选择设置；对待测射频集成电路的电路增益进行选择控制；对待测射频集成电路的开关电路进行选通通道的选择；实现多功能、多项目的复用；
参数测试�？橛糜诙圆馐圆问醒≡瘢圆馐圆问卸杂Φ墓δ芎柚茫惶峁┩ㄓ媒涌谧芟叩牡饔茫惶峁┳远馐缘暮饔冒醇欢钥沙炭夭馐砸瞧鹘卸列纯刂疲欢圆馐越峁泻细裼敕竦呐卸喜⒔兄甘荆欢圆馐越峁邢允竞痛娲ⅲ皇迪肿远馐裕�
在底层硬件控制�？橹邪ǖテ诘テ猩柚糜蠱CU串口�？�、数据运算�？�、 MCU功能初始化�？楹偷缏飞柚貌僮髂？椋渲�
MCU串口�？橛糜谟肷衔换型ㄐ牛琈CU串口�？榻邮丈衔换ü谀？槭涑龅氖荩写砗笫涑龅绞菰怂隳？椋徊⑶叶杂谟屑拇嫫鞑僮鞯拇馍淦导傻缏纺诓考拇嫫鞯闹担ü撞阌布刂颇？橛氩馐约芯甙宥杂Φ淖芟呓涌诙寥。写砗笸ü� MCU串口�？榉⑺椭辽衔换�
数据运算�？橛糜诙越邮盏降氖萁谢指矗鳰CU功能初始化�？楹偷缏飞柚貌僮髂？樘峁┛墒侗鸬氖荩�
MCU功能初始化�？槎允菰怂隳？槭涑龅氖萁信卸希⑼ü卸虾蟮慕峁词葜葱邢嘤δ艿牡テ鶬/O 口初始化；
电路设置操作�？槎允菰怂隳？槭涑龅氖萁信卸希⑼ü卸虾蟮慕峁饔枚杂Φ墓δ苌柚煤靡殉跏蓟牡テ鶬/O 口对待测射频集成电路进行对应工作模式的控制；
待测射频集成电路安装在测试夹具板上，待测射频集成电路通过测试夹具板和底层硬件控制�？橛肷衔换型ㄑ叮⑶遥馍淦导傻缏吠ü馐约芯甙迨涑鲂藕诺娇沙炭夭馐砸瞧骰蛘呓邮湛沙炭夭馐砸瞧魇涑龅男藕牛�
可程控测试仪器接收上位机的参数测试模块输出的信号，通过测试夹具板读取待测射频集成电路的数据，输出到上位机。根据本发明所述的射频集成电路测试系统的一种优选方案，电路功能设置�？榛褂糜诙杂屑拇嫫鞑僮鞯拇馍淦导傻缏方屑拇嫫鞯亩列纯刂疲�
MCU串口�？榛褂糜诙杂屑拇嫫鞑僮鞯拇馍淦导傻缏纺诓考拇嫫鞯闹担ü撞阌布刂颇？橛氩馐约芯甙宥杂Φ淖芟呓涌诙寥。写砗笸ü齅CU串口�？榉⑺椭辽衔换８荼痉⒚魉龅纳淦导傻缏凡馐韵低车囊恢钟叛》桨福龅撞阌布刂颇？榛拱ǖ缙阶坏缏罚錾衔换谢股柚糜胁⒖谀？椋⒖谀？橥ü缙阶坏缏泛筒馐约芯甙宥源馍淦导傻缏方卸列纯刂疲�
所述电平转换电路将上位机的并口�？槭涑龅牡缙叫藕沤凶缓笸ü馐约芯甙迨涑龅酱馍淦导傻缏罚徊⑶医馍淦导傻缏吠ü馐约芯甙迨涑龅氖萁凶缓笫涑龅缴衔换Ｓ捎谠谏衔换�(1)中既设置有串口�？椋稚柚糜胁⒖谀？椋撞阌布刂颇？� (2 )中还设置有电平转换电路(6 )，保证了本系统接口既适用于串口也适用于并口。根据本发明所述的射频集成电路测试系统的一种优选方案，所述上位机中还设置有传输线校准�？椋淮湎咝Ｗ寄？橛糜诙陨淦刀丝谑褂玫牟馐缘缋陆行Ｗ迹孕Ｗ际萁写娲ⅲ⑻峁┬Ｗ际莞问馐阅？�。保证了测试精度。根据本发明的第二个技术方案，射频集成电路测试系统控制方法，其特征在于包括如下步骤
A、根据待测射频集成电路，通过电路功能设置�？槎圆馐韵低辰猩柚煤脱≡瘢�
B、单片机等待接收数据，当单片机收到数据后，按自定义通讯协议对数据进行处理，处理后执行上位机的指令；
C、通过参数测试�？檠≡袼馐圆问�
D、根据当前所测试参数的功能设置函数对待测射频集成电路进行工作模式的控制；并通过通用接口总线GPIB对可程控测试仪器进行状态设置；
E、读取可程控测试仪器测试数据；
F、调用传输线校准�？榈男Ｗ际荩圆馐允萁行Ｗ疾⑾允荆�
G、判断测试结果是否合格，并将判定结果显示。根据本发明所述的射频集成电路测试系统控制方法的一种优选方案，步骤A包括对测试系统的总线工作模式进行选择；对待测射频集成电路的接收与发射模式进行选择设置；对待测射频集成电路的电路增益进行选择控制；对待测射频集成电路的开关电路进行选通通道的选择；
根据本发明所述的射频集成电路测试系统控制方法的一种优选方案，对于有寄存器的待测射频集成电路，步骤A中还包括对寄存器进行读和/或写操作。根据本发明所述的射频集成电路测试系统控制方法的一种优选方案，步骤B中单片机等待接收数据，当单片机收到数据后，对数据进行处理，并按自定义通讯协议执行上位机的指令，具体步骤为
Bi、单片机等待接收数据，
B2、单片机收到数据后，判断收到的数据是否是数据帧头；若是数据帧头，进入步骤 B3 ；若不是数据帧头，返回步骤Bl ； B3、数据接收并存储；
B4、判断收到的数据是否是数据帧尾；若是数据帧尾，进入步骤B5 ；若不是数据帧尾， 返回步骤B3 ；
B5、数据运算�？槎越邮盏降氖莅械姆侵⊥泛椭∥驳氖萁谢指矗� B6、MCU功能初始化�？榕卸匣指春蟮氖葜惺欠裼行橹噶睿艋指春蟮氖葜杏行橹噶睿氩街鐱7 ；若数据中无协议指令，判断数据中是否有协议初始化后标识，若数据中无协议初始化后标识，返回步骤Bl ；若数据中有协议初始化后标识，进入步骤B8 ；
B7、MCU功能初始化�？槎韵嘤/O 口进行初始化，并且对已经初始化的I/O 口进行标识，返回步骤Bl ；
B8、电路设置操作�？榕卸匣指春蟮氖葜惺欠裼泄δ苤噶睿羰葜形薰δ鼙晔叮祷夭街鐱l ；若数据中有功能标识，则再次判断是否已经有协议初始化后标识，如果没有则返回步骤Bl，如果有协议初始化后标识，则调用对应的功能设置函数，利用已初始化的单片机I/O 口对待测射频集成电路进行对应工作模式的控制，返回步骤Bi。本发明所述的射频集成电路测试系统及控制方法的有益效果是本发明兼容多种接口、多种协议，可实现多功能、多项目的复用，由于设置有传输线校准�？椋Ｖち瞬馐跃龋槐痉⒚魇褂梅奖悖δ芏唷⑿矢撸苁迪肿远馐裕晒惴河τ糜谏淦凳辗⑼ǖ�、频综、调制器与解调器等射频电路的控制与测试分析，具有良好的应用前景。
图1是发明所述的射频集成电路测试系统的原理框图。图2是单片机5的程序流程框图。图3是上位机1对有寄存器操作的待测射频集成电路进行寄存器读写控制流程框图。图4是上位机1对可程控测试仪器4进行测试控制流程框图。
具体实施例方式参见图1，射频集成电路测试系统由上位机1、底层硬件控制�？�2、测试夹具板3 和可程控测试仪器4构成；其中
在上位机1中设置有串口�？�12、电路功能设置�？�13、参数测试�？�15、并口模块 11和传输线校准�？�14，其中串口模块12用于上位机1与底层硬件控制�？�2的单片机5进行通信； 电路功能设置�？�13用于对测试系统的工作模式进行设置和选择；包括用于对测试系统的总线工作模式进行设置；对待测射频集成电路的接收与发射模式进行选择设置；对待测射频集成电路的电路增益进行选择控制；对待测射频集成电路的开关电路进行选通通道的选择；电路功能设置�？�(13)还用于对有寄存器操作的待测射频集成电路进行寄存器的读写控制；
参数测试�？�15用于对测试参数进行选择，对测试参数进行对应的功能函数设置；提供通用接口总线的调用；提供自动化测试的函数调用；对可程控测试仪器4进行读写控制； 对测试结果进行合格与否的判断并进行指示；对测试结果进行显示和存储；
传输线校准�？�14用于对射频端口使用的测试电缆进行校准，对校准数据进行存储， 并提供校准数据给参数测试�？�。并口�？�11通过电平转换电路6和测试夹具板3对待测射频集成电路进行读写控制；
在底层硬件控制�？�2中包括单片机5和电平转换电路6，在单片机5中设置有MCU串口�？�51、数据运算�？�52、MCU功能初始化�？�53和电路设置操作�？镸，其中
MCU串口�？�51用于对单片机5串口进行初始化操作；对单片机5串口的波特率进行操作；MCU串口�？�51用于与上位机1进行通信，MCU串口�？�51接收上位机1通过串口�？�12输出的数据，进行处理后输出到数据运算�？�52;并且对于有寄存器操作的待测射频集成电路内部寄存器的值，通过底层硬件控制�？�2与测试夹具板3对应的总线接口读�。写砗笸ü齅CU串口�？�51发送至上位机1 ；
数据运算�？�52用于对接收到的数据进行恢复，给MCU功能初始化�？�53和电路设置操作�？樘痔峁┛墒侗鸬氖荩�
MCU功能初始化�？�53对数据运算�？�52输出的数据进行判断，并通过判断后的结果按数据对执行相应功能的单片机I/O 口初始化；
电路设置操作�？镸对数据运算�？�52输出的数据进行判断，并通过判断后的结果调用对应的功能设置函数，利用已初始化的单片机I/O 口对待测射频集成电路进行对应工作模式的控制；
所述电平转换电路6将上位机1的并口�？�11输出的电平信号进行转换后通过测试夹具板3输出到待测射频集成电路；并且将待测射频集成电路通过测试夹具板3输出的数据进行电平转换后输出到上位机1。待测射频集成电路安装在测试夹具板3上，待测射频集成电路通过测试夹具板3 和底层硬件控制模块2与上位机1进行通讯，并且，待测射频集成电路通过测试夹具板3输出信号到可程控测试仪器4或者接收可程控测试仪器4输出的信号；
可程控测试仪器4接收上位机1的参数测试�？�15输出的信号，通过测试夹具板3读取待测射频集成电路的数据，输出到上位机1。参见图2至图4，射频集成电路测试系统控制方法，包括如下步骤
A、根据待测射频集成电路，通过电路功能设置�？�13对测试系统进行设置和选择；
B、单片机5等待接收数据，当单片机5收到数据后，按自定义通讯协议对数据进行处理，处理后执行上位机1的指令；C、通过参数测试�？�15选择所要测试参数；
D、根据当前所测试参数的功能设置函数对待测射频集成电路进行工作模式的控制；并通过通用接口总线GPIB对可程控测试仪器4进行状态设置；
E、读取可程控测试仪器4测试数据，；
F、调用传输线校准�？�14的校准数据，对测试数据进行校准并显示；
G、判断测试结果是否合格，并将判定结果显示；当测试结果不合格，点击单独测试再次测试该参数，再次调用该参数功能测试函数，在界面中刷新显示测试结果，再次判断测试结果是否合格，若还是不合格，测试结束并亮红灯；若测试结果合格，判断是否是最后一个参数，若是最后一个参数，结束并亮绿灯；若不是最后一个参数，点击继续测试或者下一参数继续进行测试，根据当前所测试参数的测试功能函数对电路进行对应工作模式的控制；并通过GPIB对可程控测试仪器4进行对应状态的设置步骤。在具体实施例中，步骤A包括对测试系统的总线工作模式进行选择；总线工作模式包括SPI或者I2C或者电平控制；对待测射频集成电路的接收与发射模式进行选择设置； 对待测射频集成电路的电路增益进行选择控制，电路增益控制包括模拟电压增益控制或者数字增益控制；对待测射频集成电路的开关电路进行选通通道的选择；
在具体实施例中，对于有寄存器的待测射频集成电路，步骤A中还包括对寄存器进行读和/或写操作。在具体实施例中，步骤B中单片机5等待接收数据，当单片机5收到数据后，对数据进行处理，并按自定义通讯协议执行上位机1的指令，具体步骤为
Bi、单片机5等待接收数据；
B2、单片机5收到数据后，判断收到的数据是否是数据帧头；若是数据帧头，进入步骤 B3 ；若不是数据帧头，返回步骤Bl ； B3、数据接收并存储；
B4、判断收到的数据是否是数据帧尾；若是数据帧尾，进入步骤B5 ；若不是数据帧尾， 返回步骤B3 ；
B5、数据运算�？�52对接收到的数据包中的非帧头和帧尾的数据进行恢复； B6、MCU功能初始化�？榕卸匣指春蟮氖葜惺欠裼行橹噶睿艋指春蟮氖葜杏行橹噶睿氩街鐱7 ；若数据中无协议指令，判断数据中是否有协议初始化后标识，若数据中无协议初始化后标识，返回步骤Bl ；若数据中有协议初始化后标识，进入步骤B8 ；
B7、MCU功能初始化�？�53对相应I/O 口进行初始化，并且对已经初始化的I/O 口进行标识，返回步骤Bl ；
B8、电路设置操作�？镸判断恢复后的数据中是否有功能指令，若数据中无功能标识，返回步骤Bl ；若数据中有功能标识，则再次判断是否已经有协议初始化后标识，如果没有则返回步骤Bl，如果有协议初始化后标识，则调用对应的功能设置函数，利用已初始化的单片机I/O 口对待测射频集成电路进行对应工作模式的控制，返回步骤Bi。在具体实施时，对步骤D中根据当前所测试参数的功能设置函数对待测射频集成电路进行工作模式的控制，具体实现办法如下
例如该待测射频集成电路属于逻辑电平控制，此时需要工作在接收通道，且利用的是串口与底层硬件控制�？�2进行通信，则通过串口�？�12发送对应指令至底层硬件控制模块2 ；底层硬件控制�？�2恢复数据后对待测射频集成电路进行设置；上位机1发送数据代码为
tBuf
:= $f0; tBuf[1] := Datal shr 4; tBuf[2] := Datal and $0f； tBuf[3] := Data2 shr 4; tBuf[4] := Data2 and $0f; tBuf[5] := $ff; Forml.Comm1. WriteCommData(itBuf, 6)；
Datal表示的为接收通道工作模式数据，Data2表示的为电路增益控制，fO与 则表示数据帧头与数据帧尾。底层硬件控制�？�(2)则只需要将已初始化的单片机I/O 口进行高低电平的转换即可。测试时，串口与并口的选择则是属于使用者自己选用的接口而定。对步骤D中通过通用接口总线对可程控测试仪器(4)进行状态设置，具体实现方法如下
根据所测试电路的工作模式，对需要用到的仪器进行对应设置。例如接收通道工作，为二次变频，电路外接本振，测试通道增益。此时需要用到三台信号源与一台频谱仪。首先是对信号源进行输出频率与功率的设置，然后设置频谱读取对应频点的功率值。设置信号源代码如下
Aglient_SetFre(AG_Add_A, 3000, -80, 1)； Aglient_SetFre(AG_Add_B, 2700, 0，1)； Aglient_SetFre(AG_Add_C, 343，0，1)；
上述代码分别表示仪器地址为AG_Add_A的信号源输出3000MHz，-80dBm的信号，仪器地址为AG_Add_B的信号源输出2700MHz，OdBm的信号，仪器地址为AG_Add_C的信号源输出 343MHz,OdBm 的信号。函数Aglient_ktFre()具体代码如下 Procedure
Aglient_SetFre (nAddrinteger；fredouble；ampdouble；OnorOffinteger)； begin
SetComm(nAddr, ‘ FREQ ‘ +floattostr(fre)+' MHZ')； SetComm(nAddr, ‘ POff ’ +floattostr(AMP)+' DBM')； IF OnorOff = O THEN
SetComm(nAddr, ‘ OUTP OFF，) ELSE
SetComm(nAddr, ‘ OUTP ON')；
end;
读取频谱仪代码如下
Pl := AgilentN9020AReadPeak(Aglient9020ADD_rx, 43, 0. 5, 20)；Gain := P1+80而 AgilentN9020AreadPeak()具体代码如下function AgilentN9020AReadPeak(nAddr:integer;cf, sp, am:double):double；beginSetComm(nAddr,' DISP: WIND:TRAC: Y:RLEV:OFFS O，)；SetComm(nAddr,'DISP:WIND:TRAC:Y:RLEV '+ floattostr(am) +，dBm，);SetComm (nAddr,'FREQ: CENT '+ f loattostr (cf) +，MHZ，)；SetComm(nAddr,' FREQ: SPAN，+floattostr(sp)+，MHZ，)；SetComm (nAddr, ’ CALC: MARK: MODE ON，)；Sleep (800)；SetComm(nAddr, ’ CALC:MARKl: MAX')； Sleep(IOO)；SetComm(nAddr, ’ CALCMARKlY ')； result = roundto(GetComm(nAddr), -2)；end;上位机1与底层硬件控制�？�2之间通过自定义的通信协议进行通信；在自定义的通信协议中，以一个数据包进行封装数据，采用相同的数据帧头，进行上位机与单片机的数据同步，数据帧头之后的两个数据定义为协议指令或者功能指令，即单片机根据接收到的上位机数据包之中的第二个字段进行判断属于哪一种协议调用或者功能调用的指令；功能指令之后，则是属于传输的数据，数据之后以一个特殊指令作为数据包的数据帧尾表示数据包的结束。具体格式见表1上位机与单片机通信数据格式如表1或表2，其中，表1为传输协议指令时的格式，表2为传输功能指令时的格式。
表 权利要求
1.射频集成电路测试系统，包括上位机(1)、底层硬件控制�？�(2)、测试夹具板(3)和可程控测试仪器(4)；其特征在于在上位机(1)中设置有串口�？�(12)、电路功能设置�？�(13)和参数测试�？�(15)； 在底层硬件控制�？�(2)中包括单片机(5)，在单片机(5)中设置有MCU串口�？�(51)、数据运算�？�(52)、MCU功能初始化�？�(53)和电路设置操作�？�(54)；其中串口�？�(12)用于上位机(1)与底层硬件控制�？�(2)的单片机(5)进行通信； 电路功能设置�？�(13)用于对测试系统的工作模式进行设置和选择； 参数测试�？�(15)用于对测试参数进行选择，对测试参数进行对应的功能函数设置； 提供自动化测试的函数调用；对可程控测试仪器(4)进行读写控制；对测试结果进行合格与否的判断并进行指示；MCU串口�？�(51)用于与上位机(1)进行通信，MCU串口�？�(51)接收上位机(1)通过串口�？�(12 )输出的数据，进行处理后输出到数据运算�？�(52 )；数据运算�？�(52 )用于对接收到的数据进行恢复，给MCU功能初始化�？�(53 )和电路设置操作模块(54)提供可识别的数据；MCU功能初始化�？�(54)对数据运算�？�(52)输出的数据进行判断，并通过判断后的结果按数据对执行相应功能的单片机I/O 口初始化；电路设置操作�？�(54)对数据运算�？�(52)输出的数据进行判断，并通过判断后的结果调用对应的功能设置函数，利用已初始化的单片机I/O 口对待测射频集成电路进行对应工作模式的控制；待测射频集成电路安装在测试夹具板(3)上，待测射频集成电路通过测试夹具板(3) 和底层硬件控制�？�(2)与上位机(1)进行通讯，并且，待测射频集成电路通过测试夹具板 (3)输出信号到可程控测试仪器(4)或者接收可程控测试仪器(4)输出的信号；可程控测试仪器(4)接收上位机(1)的参数测试�？槭涑龅男藕牛ü馐约芯甙�(3 ) 读取待测射频集成电路的数据，输出到上位机(1)。
2.根据权利要求1所述的射频集成电路测试系统，其特征在于电路功能设置�？�(13)还用于对有寄存器操作的待测射频集成电路进行寄存器的读写控制；MCU串口�？�(51)还用于对有寄存器操作的待测射频集成电路内部寄存器的值，通过底层硬件控制模块(2 )与测试夹具板(3 )对应的总线接口读�。写砗笸ü齅CU串口�？�(51)发送至上位机(1)。
3.根据权利要求1或2所述的射频集成电路测试系统，其特征在于所述底层硬件控制�？�(2)还包括电平转换电路(6)，所述上位机(1)中还设置有并口�？�(11)，并口�？� (11)通过电平转换电路(6)和测试夹具板(3)对待测射频集成电路进行读写控制；所述电平转换电路(6)将上位机(1)的并口�？�(11)输出的电平信号进行转换后通过测试夹具板(3)输出到待测射频集成电路；并且将待测射频集成电路通过测试夹具板(3) 输出的数据进行转换后输出到上位机(1)。
4.根据权利要求3所述的射频集成电路测试系统，其特征在于所述上位机(1)中还设置有传输线校准�？�(14 )；传输线校准�？�(14 )用于对射频端口使用的测试电缆进行校准，对校准数据进行存储，并提供校准数据给参数测试�？�(15)。
5.射频集成电路测试系统控制方法，其特征在于包括如下步骤A、根据待测射频集成电路，通过电路功能设置�？�(13)对测试系统进行设置和选择；B、单片机(5)等待接收数据，当单片机(5)收到数据后，按自定义通讯协议对数据进行处理，并执行上位机(1)的指令；C、通过参数测试�？�(15)选择所要测试参数；D、根据当前所测试参数的功能设置函数对待测射频集成电路进行工作模式的控制，并通过通用接口总线对可程控测试仪器(4)进行状态设置；E、读取可程控测试仪器(4)测试数据；F、调用传输线校准�？�(14)的校准数据，对测试数据进行校准并显示；G、判断测试结果是否合格，并将判定结果显示。
6.根据权利要求5所述的射频集成电路测试系统控制方法，其特征在于步骤A包括对测试系统的总线工作模式进行选择；对待测射频集成电路的接收与发射模式进行选择设置；对待测射频集成电路的电路增益进行选择控制；对待测射频集成电路的开关电路进行选通通道的选择。
7.根据权利要求6所述的射频集成电路测试系统控制方法，其特征在于对于有寄存器的待测射频集成电路，步骤A中还包括对寄存器进行读和/或写操作。
8.根据权利要求5、6或7所述的射频集成电路测试系统控制方法，其特征在于步骤B中单片机等待接收数据，当单片机收到数据后，对数据进行处理，并按自定义通讯协议执行上位机的指令，具体步骤为Bi、单片机等待接收数据；B2、单片机收到数据后，判断收到的数据是否是数据帧头；若是数据帧头，进入步骤 B3 ；若不是数据帧头，返回步骤Bl ；B3、数据接收并存储；B4、判断收到的数据是否是数据帧尾；若是数据帧尾，进入步骤B5 ；若不是数据帧尾， 返回步骤B3 ；B5、数据运算�？槎越邮盏降氖莅械姆侵⊥泛椭∥驳氖萁谢指矗籅6、MCU功能初始化�？榕卸匣指春蟮氖葜惺欠裼行橹噶睿艋指春蟮氖葜杏行橹噶睿氩街鐱7;若数据中无协议指令，判断数据中是否有协议初始化后标识，若数据中无协议初始化后标识，返回步骤Bl ；若数据中有协议初始化后标识，进入步骤B8 ；B7、MCU功能初始化�？槎韵嘤/O 口进行初始化，并且对已经初始化的I/O 口进行标识，返回步骤Bl ；B8、电路设置操作�？榕卸匣指春蟮氖葜惺欠裼泄δ苤噶睿羰葜形薰δ鼙晔叮祷夭街鐱l ；若数据中有功能标识，则再次判断是否已经有协议初始化后标识，如果没有则返回步骤Bl，如果有协议初始化后标识，则调用对应的功能设置函数，利用已初始化的单片机I/O 口对待测射频集成电路进行对应工作模式的控制，返回步骤Bi。
全文摘要
本发明公开了射频集成电路测试系统，包括上位机、底层硬件控制�？�、测试夹具板和可程控测试仪器；其特征在于在上位机中设置有串口�？椤⒌缏饭δ苌柚媚？楹筒问馐阅？椋辉诘撞阌布刂颇？橹邪ǖテ诘テ猩柚糜蠱CU串口�？�、数据运算�？�、MCU功能初始化�？楹偷缏飞柚貌僮髂？椋黄渲写谀？橛糜谏衔换氲撞阌布刂颇？榈牡テ型ㄐ牛坏缏饭δ苌柚媚？橛糜诙圆馐韵低车墓ぷ髂Ｊ浇猩柚煤脱≡瘢徊问馐阅？橛糜诙圆馐圆问醒≡瘢圆馐圆问卸杂Φ墓δ芎柚茫惶峁┳远馐缘暮饔茫欢钥沙炭夭馐砸瞧鹘卸列纯刂疲欢圆馐越峁泻细裼敕竦呐卸喜⒔兄甘荆豢晒惴河糜谏淦档缏返目刂朴氩馐苑治觥�
文档编号G01R31/28GK102495353SQ20111044347
公开日2012年6月13日 申请日期2011年12月27日 优先权日2011年12月27日
发明者万天才, 唐睿, 徐骅, 王露, 苏良勇, 范麟, 阳润, 陈昆 申请人:中国电子科技集团公司第二十四研究所, 重庆西南集成电路设计有限责任公司
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