专利名称：吸收功率测定方法、局部平均吸收功率测定方法、局部平均吸收功率计算装置、局部平均 ...的制作方法
技术领域：
本发明涉及在用于模拟人体的电磁特性的模型(phantom)内部设置电磁场探头， 并通过电磁场探头测定从无线设备照射到模型的电波的电场强度或磁场强度的吸收功率测定方法、吸收功率计算装置，并且涉及使用该方法来求在被人体吸收的功率(吸收功率) 最大的局部中的平均吸收功率(局部平均吸收功率)的局部平均吸收功率测定方法、局部平均吸收功率计算装置，还涉及使计算机作为这些装置进行动作的程序。
背景技术：
以往，在测定人体的头部中的吸收功率时，构筑用于模拟人体的头部的电磁特性的头部模拟模型，并测定该模型所吸收的功率来类推在人体的头部中的吸收功率。而且，作为具体的测定方法而使用了非专利文献1所记载的方法等。此外，也提出了简单地执行这样的测定方法的装置(专利文献1、2)。使用
图1至图3来说明典型的以往技术。图1是表示在以往的局部平均吸收功率测定方法中的构筑品的配置的图。图2是表示以往的第一局部平均吸收功率测定方法的流程的图。图3是表示以往的第二局部平均吸收功率测定方法的流程的图。在图1中，在y 轴上设置了无线设备(未图示)的天线810，在y轴方向上隔着规定的距离而设置了长方体的模型920。电磁场探头910测定前端部所处的部分的电波的电场强度或磁场强度。另外，模型有时也是人体的头部的形状。此外，轴的朝向也是任意的。在以往的第一局部平均吸收功率测定方法(图2)中，在从天线810侧的模型920 的表面起规定的距离内侧的二维面921上的多个测定点921mn(m为1 M的整数，η为1 N的整数)测定吸收功率(S911)。在包括吸收功率最大的测定点921mn的三维空间925内的多个测定点测定吸收功率(S912)。另外，在三维空间925内的测定时，使测定点的间隔比在S911的测定时窄。根据所要求的测定精度来决定窄到什么程度。然后，求在吸收功率最大的点附近的局部的平均吸收功率(局部平均吸收功率)(S913)。在以往的第二局部平均吸收功率测定方法(图3)中，在从天线810侧的模型920 的表面起规定的距离内侧的二维面921上的多个测定点921mn(m为1 M的整数，η为1 N的整数)测定电场或磁场的幅度和相位(S921)。使用等价定理等来计算三维空间925的吸收功率的分布(S922)。根据所计算出的三维空间925的吸收功率的分布来求局部平均吸收功率(S923)。另外，为了简化以下的说明，将以往的第一局部平均吸收功率测定方法的处理流程整体(S911 S913)汇总而称为步骤S910，将以往的第二局部平均吸收功率测定方法的处理流程整体(S921 S92!3)汇总而称为步骤S920。此外，在专利文献2的局部平均吸收功率测定方法中具有决定步骤、局部平均吸收功率测定步骤或局部吸收功率计算步骤。在决定步骤中，预先决定好测定点、以及各天线的发送功率与相位的组合或仅各天线的发送功率的组合，并使用所测定出的结果来决定用于求局部平均吸收功率的各天线的发送功率与相位的组合或仅各天线的发送功率的组合。 在局部平均吸收功率测定步骤或局部平均吸收功率计算步骤中，固定为在决定步骤中决定的组合而对局部平均吸收功率进行测定或计算。现有技术文献专利文献专利文献1 (日本)特许第3809166公报专利文献2 (日本)特开2008-249394号公报非专利文献非专禾Ij 文献 1 :IEC/PT62209，“Procedure to Determine the Specific Absorption Rate (SAR) for Hand-Held Mobile Telephones.，，
发明内容
发明要解决的课题在背景技术中说明的以往的局部平均吸收功率测定方法以对单个天线进行测定为前提。但是，关于如图4那样具有多个天线310k、并且在同一频带下同时使用这些天线的无线设备为对象的局部平均吸收功率测定方法，则没有特别的规定。这种情况下，可能因各天线之间的相互耦合而使作为天线整体的指向特性变化，结果可能与天线为1个的情况大不相同。因此，为了使用以往的方法来测定具有在同一频带下同时使用的多个天线的无线设备的局部平均吸收功率，则需要通过各种各天线的发送功率与相位的组合来重复进行步骤S910或步骤S920，需要大量的时间。专利文献2的局部平均吸收功率测定方法是用于解决上述课题的一个方法。在该方法中，一边变更各天线的发送功率与相位的组合或仅各天线的发送功率的组合一边重复进行，并选定被预测为局部平均吸收功率最大的组合。但是，不重复进行局部平均吸收功率的测定或计算。因此，实际上可能会漏掉局部平均吸收功率最大的组合。本发明的目的在于，提供一种用于测定具有多个天线的无线设备的局部平均吸收功率的简单的方法。用于解决课题的手段本发明的局部平均吸收功率测定方法涉及在用于模拟人体的电磁特性的模型内部设置电磁场探头，并通过电磁场探头来测定从具有在同一频带下同时使用的多个天线的无线设备照射到模型的电波的电场强度或磁场强度的吸收功率测定方法，并且涉及使用该方法来求在被人体吸收的功率(吸收功率)最大的局部中的平均吸收功率(局部平均吸收功率)的方法。在图5的局部平均吸收功率测定方法中，在单独测定步骤中，以三维配置测定点， 并且在预先决定的测定点测定辐射同一频率的电波的多个天线中的每一个的电场或磁场的幅度和相位。在计算步骤中，通过一边改变加权一边重复进行合成子步骤和局部平均吸收功率候选计算子步骤，从而求多个局部平均吸收功率候选。在合成子步骤中合成在单独的天线中的电场或磁场的幅度和相位。然后，在局部平均吸收功率候选计算子步骤中计算与各加权对应的三维吸收功率分布，并求与各加权对应的局部平均吸收功率作为局部平均吸收功率候选。在局部平均吸收功率选定步骤中，从与各加权对应的局部平均吸收功率候选中选择最大的候选。在图9的局部平均吸收功率测定方法中，在单独测定步骤中，在距离模型表面规定的距离的面上以二维配置测定点，并且在预先决定的测定点测定辐射同一频率的电波的多个天线中的每一个的电场或磁场的幅度和相位。在计算步骤中，通过一边改变加权一边重复进行合成子步骤和局部平均吸收功率候选计算子步骤，从而求多个局部平均吸收功率候选。在合成子步骤中以二维合成在单独的天线中的电场或磁场的幅度和相位。接着，在局部平均吸收功率候选计算子步骤中，根据二维的合成电场或合成磁场的信息来求从上述二维面看与天线相反侧的模型内部的三维吸收功率分布，并求与各加权对应的局部平均吸收功率作为局部平均吸收功率候选。在局部平均吸收功率选定步骤中，从与各加权对应的局部平均吸收功率候选中选择最大的候选。此外，在图14、图15的局部平均吸收功率测定方法中，测定在局部平均吸收功率选定步骤中决定的与各加权对应的局部平均吸收功率。另外，测定方法无需限定于在单独测定步骤中使用的方法。而且，在图17、图18的局部平均吸收功率测定方法中，对在局部平均吸收功率选定步骤中决定的与各加权对应的局部平均吸收功率的计算值与测定值的差分进行存储，并基于该存储数据对在局部平均吸收功率选定步骤中得到的局部平均吸收功率的计算值进行校正而作为无线设备的局部平均吸收功率。通过对计算值与测定值的差分进行存储，从而能够提高局部平均吸收功率的计算值的可靠度。另外，在局部平均吸收功率候选计算子步骤的计算中，使用等价定理来计算三维吸收功率分布即可。或者，也可以使用算式1来计算三维吸收功率分布。或者使用基于傅立叶变换等的向频率空间的变换来计算三维吸收功率分布即可。算式1
权利要求
1.一种局部平均吸收功率测定方法，在用于模拟人体的电磁特性的模型内部设置电磁场探头，并通过电磁场探头测定从无线设备照射到模型的电波的电场强度或磁场强度，其中，所述无线设备具有用于辐射同一频率的电波的多个天线， 该局部平均吸收功率测定方法包括单独测定步骤，在距离所述模型的表面规定的距离的面上以二维配置的测定点，测定所述多个天线中的每一个的电场或磁场的幅度和相位；以及计算步骤，其包括对在所述单独测定步骤中得到的单独的天线中的电场或磁场的幅度和相位进行预先决定的加权后进行合成的合成子步骤；以及基于在所述合成子步骤中得到的合成电场或合成磁场来计算从所述二维面看与天线相反侧的模型内部的三维空间的吸收功率分布，并且求与所述加权对应的吸收功率分布中的局部平均吸收功率作为局部平均吸收功率候选的局部平均吸收功率候选计算子步骤，并且一边改变所述预先决定的加权一边重复进行所述合成子步骤和所述局部平均吸收功率候选计算子步骤，从而得到多个局部平均吸收功率候选。
2.如权利要求1所述的局部平均吸收功率测定方法，其特征在于，还包括局部平均吸收功率选定步骤，将在所述局部平均吸收功率候选中最大的候选作为所述无线设备的局部平均吸收功率。
3.如权利要求1所述的局部平均吸收功率测定方法，其特征在于，还包括 条件确定步骤，确定得到值最大的所述局部平均吸收功率候选的条件；以及局部平均吸收功率测定步骤，在所述条件下测定局部平均吸收功率，并将测定结果作为所述无线设备的局部平均吸收功率。
4.如权利要求1所述的局部平均吸收功率测定方法，其特征在于，还包括局部平均吸收功率选定步骤，将在所述局部平均吸收功率候选中最大的候选作为局部平均吸收功率的计算值；条件确定步骤，确定得到值最大的所述局部平均吸收功率候选的条件； 局部平均吸收功率测定步骤，在所述条件下测定局部平均吸收功率，并将测定结果作为局部平均吸收功率的测定值；差分存储步骤，将在所述局部平均吸收功率选定步骤中得到的局部平均吸收功率的计算值与在所述局部平均吸收功率测定步骤中得到的局部平均吸收功率的测定值的差分作为差分数据来存储；以及局部平均吸收功率校正步骤，基于所存储的所述差分数据，对在局部平均吸收功率选定步骤中得到的局部平均吸收功率的计算值进行校正而作为无线设备的局部平均吸收功率。
5.如权利要求1至4的任一项所述的局部平均吸收功率测定方法，其特征在于， 在局部平均吸收功率候选计算子步骤中基于合成电场或合成磁场来计算从所述二维面看与天线相反侧的模型内部的三维空间的吸收功率分布的方法是等价定理。
6.如权利要求1至4的任一项所述的局部平均吸收功率测定方法，其特征在于， 在所述局部平均吸收功率候选计算子步骤中基于合成电场或合成磁场来计算从所述二维面看与天线相反侧的模型内部的三维空间的吸收功率分布的方法是算式6，其中，算式6
7.如权利要求1至4的任一项所述的局部平均吸收功率测定方法，其特征在于， 在所述局部平均吸收功率候选计算子步骤中基于合成电场或合成磁场来计算从所述二维面看与天线相反侧的模型内部的三维空间的吸收功率分布的方法是通过傅立叶变换等向频率空间的变换。
8.一种局部平均吸收功率测定方法，在用于模拟人体的电磁特性的模型内部设置电磁场探头，并通过电磁场探头测定从无线设备照射到模型的电波的电场强度或磁场强度，其中，所述无线设备具有用于辐射同一频率的电波的多个天线， 该局部平均吸收功率测定方法包括单独测定步骤，在所述模型内部以三维配置的测定点，测定所述多个天线中的每一个的电场或磁场的幅度和相位；计算步骤，其包括对在所述单独测定步骤中得到的单独的天线中的电场或磁场的幅度和相位进行预先决定的加权后进行合成的合成子步骤；以及基于在所述合成子步骤中得到的合成电场或合成磁场来计算三维空间的吸收功率分布，并且求与所述加权对应的吸收功率分布中的局部平均吸收功率作为局部平均吸收功率候选的局部平均吸收功率候选计算子步骤，并且一边改变所述预先决定的加权一边重复进行所述合成子步骤和所述局部平均吸收功率候选计算子步骤，从而得到多个局部平均吸收功率候选。
9.如权利要求8所述的局部平均吸收功率测定方法，其特征在于，还包括局部平均吸收功率选定步骤，将在所述局部平均吸收功率候选中最大的候选作为所述无线设备的局部平均吸收功率。
10.如权利要求8所述的局部平均吸收功率测定方法，其特征在于，还包括 条件确定步骤，确定得到值最大的所述局部平均吸收功率候选的条件；以及局部平均吸收功率测定步骤，在所述条件下测定局部平均吸收功率，并将测定结果作为所述无线设备的局部平均吸收功率。
11.如权利要求8所述的局部平均吸收功率测定方法，其特征在于，还包括局部平均吸收功率选定步骤，将在所述局部平均吸收功率候选中最大的候选作为局部平均吸收功率的计算值；条件确定步骤，确定得到值最大的所述局部平均吸收功率候选的条件； 局部平均吸收功率测定步骤，在所述条件下测定局部平均吸收功率，并将测定结果作为局部平均吸收功率的测定值；差分存储步骤，将在所述局部平均吸收功率选定步骤中得到的局部平均吸收功率的计算值与在所述局部平均吸收功率测定步骤中得到的局部平均吸收功率的测定值的差分作为差分数据而存储；以及局部平均吸收功率校正步骤，基于所存储的所述差分数据，对在局部平均吸收功率选定步骤中得到的局部平均吸收功率的计算值进行校正而作为无线设备的局部平均吸收功率。
12.如权利要求2、4、9、11的任一项所述的局部平均吸收功率测定方法，其特征在于， 在所述局部平均吸收功率选定步骤中，使用局部平均吸收功率候选的值、每个局部平均吸收功率候选的时间上的比例，取得期望值而作为局部平均吸收功率候选。
13.一种吸收功率测定方法，在用于模拟人体的电磁特性的模型内部设置电磁场探头， 并通过电磁场探头测定从无线设备照射到模型的电波的电场强度或磁场强度，其中，所述无线设备具有用于辐射同一频率的电波的多个天线， 该吸收功率测定方法包括单独测定步骤，在所述模型内部的测定点，测定所述多个天线中的每一个的电场或磁场的幅度和相位；以及合成步骤，对在所述单独测定步骤中得到的单独的天线中的电场或磁场的幅度和相位进行预先决定的加权之后进行合成。
14.一种局部平均吸收功率计算装置，根据从具有用于辐射同一频率的电波的多个天线的无线设备照射到模型的电波的电场强度或磁场强度来计算局部平均吸收功率，其中，将在距离所述模型的表面规定的距离的面上以二维配置的点中的、所述多个天线中的每一个的电场或磁场的幅度和相位作为向该局部平均吸收功率计算装置的输入值， 该局部平均吸收功率计算装置包括 合成部，对所述输入值进行预先决定的加权后进行合成；局部平均吸收功率候选计算部，基于在所述合成部中得到的合成电场或合成磁场来计算从所述二维面看与天线相反侧的模型内部的三维空间的吸收功率分布，并且求与所述加权对应的吸收功率分布中的局部平均吸收功率作为局部平均吸收功率候�。灰约岸喔龊蜓∪〉貌浚槐吒谋渌鲈は染龆ǖ募尤ㄒ槐咧馗唇兴龊铣刹康拇砗退鼍植科骄展β屎蜓〖扑悴康拇恚佣玫蕉喔鼍植科骄展β屎蜓�。
15.如权利要求14所述的局部平均吸收功率计算装置，其特征在于，还包括局部平均吸收功率选定部，将在所述局部平均吸收功率候选中最大的候选作为所述无线设备的局部平均吸收功率。
16.如权利要求14所述的局部平均吸收功率计算装置，其特征在于，还包括 条件确定部，确定得到值最大的所述局部平均吸收功率候选的条件。
17.如权利要求14所述的局部平均吸收功率计算装置，其特征在于，还包括局部平均吸收功率选定部，将在所述局部平均吸收功率候选中最大的候选作为局部平均吸收功率的计算值；条件确定部，确定得到值最大的所述局部平均吸收功率候选的条件； 差分存储部，将在所述局部平均吸收功率选定部中得到的局部平均吸收功率的计算值与在所述条件确定部所确定的条件下进行测定而得到的测定值或通过电磁场仿真而得到的值的差分作为差分数据来存储；以及局部平均吸收功率校正部，基于所存储的所述差分数据，对在局部平均吸收功率选定部中得到的局部平均吸收功率的计算值进行校正而作为无线设备的局部平均吸收功率。
18.如权利要求14至17的任一项所述的局部平均吸收功率计算装置，其特征在于， 在局部平均吸收功率候选计算部中基于合成电场或合成磁场来计算从所述二维面看与天线相反侧的模型内部的三维空间的吸收功率分布的方法是等价定理。
19.如权利要求14至17的任一项所述的局部平均吸收功率计算装置，其特征在于， 在所述局部平均吸收功率候选计算部中基于合成电场或合成磁场来计算从所述二维面看与天线相反侧的模型内部的三维空间的吸收功率分布的方法是算式7，其中，算式7
20.如权利要求14至17的任一项所述的局部平均吸收功率计算装置，其特征在于， 在所述局部平均吸收功率候选计算部中基于合成电场或合成磁场来计算从所述二维面看与天线相反侧的模型内部的三维空间的吸收功率分布的方法是通过傅立叶变换等向频率空间的变换。
21.一种局部平均吸收功率计算装置，根据从具有用于辐射同一频率的电波的多个天线的无线设备照射到模型的电波的电场强度或磁场强度来计算局部平均吸收功率，其中，将在所述模型的内部以三维配置的测定点中的、所述多个天线中的每一个的电场或磁场的幅度和相位作为向该局部平均吸收功率计算装置的输入值， 该局部平均吸收功率计算装置包括 合成部，对所述输入值进行预先决定的加权后进行合成；局部平均吸收功率候选计算部，基于在所述合成部中得到的合成电场或合成磁场来计算三维空间的吸收功率分布，并且求与所述加权对应的吸收功率分布中的局部平均吸收功率作为局部平均吸收功率候�。灰约岸喔龊蜓∪〉貌浚槐吒谋渌鲈は染龆ǖ募尤ㄒ槐咧馗唇兴龊铣刹康拇砗退鼍植科骄展β屎蜓〖扑悴康拇恚佣玫蕉喔鼍植科骄展β屎蜓�。
22.如权利要求21所述的局部平均吸收功率计算装置，其特征在于，还包括局部平均吸收功率选定部，将在所述局部平均吸收功率候选中最大的候选作为所述无线设备的局部平均吸收功率。
23.如权利要求21所述的局部平均吸收功率计算装置，其特征在于，还包括 条件确定部，确定得到值最大的所述局部平均吸收功率候选的条件。
24.如权利要求21所述的局部平均吸收功率计算装置，其特征在于，还包括局部平均吸收功率选定部，将在所述局部平均吸收功率候选中最大的候选作为局部平均吸收功率的计算值；条件确定部，确定得到值最大的所述局部平均吸收功率候选的条件； 差分存储部，将在所述局部平均吸收功率选定部中得到的局部平均吸收功率的计算值与在所述条件确定部所确定的条件下进行测定而得到的测定值或通过电磁场仿真而得到的值的差分作为差分数据而存储；以及局部平均吸收功率校正部，基于所存储的所述差分数据，对在局部平均吸收功率选定部中得到的局部平均吸收功率的计算值进行校正而作为无线设备的局部平均吸收功率。
25.如权利要求15、17、22、24的任一项所述的局部平均吸收功率计算装置，其特征在于，在所述局部平均吸收功率选定部中，使用局部平均吸收功率候选的值、每个局部平均吸收功率候选的时间上的比例，取得期望值而作为局部平均吸收功率候选。
26. 一种局部平均吸收功率计算程序，用于使计算机作为权利要求14至25的任一项所述的局部平均吸收功率计算装置发挥作用。
全文摘要
本发明的目的在于提供一种对具有多个天线的无线设备的局部平均吸收功率进行测定的简单的方法。在本发明的局部平均吸收功率测定方法中包括单独测定步骤和计算步骤。在单独测定步骤中测定多个天线中的每一个的电场或磁场的幅度和相位。在计算步骤中，一边改变加权一边求局部平均吸收功率候选。具体地，在合成子步骤中，对在单独测定步骤中得到的单独的天线中的电场或磁场的幅度和相位加上任意的加权之后进行合成。在局部平均吸收功率候选计算子步骤中，基于在合成子步骤中得到的合成电场或合成磁场来计算三维空间的吸收功率分布，并求局部平均吸收功率候选。在局部平均吸收功率选定步骤中，将在局部平均吸收功率候选中最大的候选作为无线设备的局部平均吸收功率。
文档编号G01N22/00GK102341697SQ20108001036
公开日2012年2月1日 申请日期2010年1月29日 优先权日2009年3月3日
发明者井山隆弘, 大西辉夫 申请人:株式会社Ntt都科摩
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
