专利名称：具有检测器窗保护特征的x 射线分析装置的制作方法
技术领域：
本发明总体上涉及X射线仪，更具体地，涉及X射线仪用的保护装置。
背景技术：
已知诸如手持式X射线荧光(XRF)仪等X射线装置，并且已知用于这种仪器的各 种遮蔽装置。参见美国专利 No. 7，430，274 ；7, 375, 359 ；7, 375, 358 ;6，965，118 和 7,671,350以及W000/37928，它们的全部内容通过引用包含于此。还可以参见美国专利申请公布No. US2008-0152079。近年来，高性能手持式XRF仪已经开始使用20mm2或更大的大有效面积硅漂移检测器(SDD)。由于这些大面积检测器的高敏感性，它们也适于测量场中的小原子序数元数，然而，使用大面积SDD的缺点在于，维持硅检测器表面的区域中的真空室所需要的密封窗随着尺寸增大而更加易破。当手持式XRF仪用在野外环境时，该缺点加重。例如，当手持式XRF仪用在采矿或废金属场合时，测量头必须置于与检验物非常接近的位置，该检验物可能含有各种类型的碎片，碎片可能刺入或者损伤仪器的环境密封膜和检测器密封窗。发生这种情况时，操作者可以更换密封膜，但是，器件Unit)必须返厂以更换检测器，这为手持式XRF仪的用户带来相当的不便并且是昂贵的。因此，对于这些仪器的用户来说，保护检测器密封窗同时不使手持式XRF仪的性能劣化的方案具有很大价值。
发明内容
通过使用本公开的实施方式，可以保护用在X射线检测器中的易破密封窗免受异物的损伤。本公开的总的目的是通过引入经济、小而且紧凑的包含检测器窗保护系统的仪器来克服背景技术中存在的问题，该保护系统在如下情况下起作用a)未激活测量模式；或者b)感测到测量模式期间穿透物将接近检测器密封窗。本公开的前述和其它目的可以用辐射发射材料检验装置来实现，该检验装置包括手持式装置壳体，辐射发射器收纳于该手持式装置壳体并且被构造成朝向检验对象发射辐射。辐射检测器收纳在由密封窗封闭的室内，检测器被构造成检测从检验对象发射的辐射以检测检验对象的性能。保护盖机构安装到检验装置并且被构造成具有关闭位置和打开位置，在所述关闭位置，进出辐射检测器的密封窗的通路被覆盖或阻挡，在所述打开位置，密封窗露出以允许辐射进出的通路不受阻碍。
根据本发明的各实施方式，保护盖机构可以包括可枢转地安装的盖板或具有多个板的风扇式盖或光圈机构，所述盖板可以在打开位置和关闭位置之间枢转，所述多个板可以定位成彼此重叠以露出密封窗或者展开以覆盖密封窗。还公开了驱动枢转运动的机电或机械装置。根据优选实施方式，靠近或者逼近密封窗的碎片或其它障碍物可以被自动检测，以触发保护盖机构关闭。可以以各种方式实现存在检测器，包括借助于一个或更多应变传感器、光传感器和/或接近传感器，甚至它们的组合。从本发明的参照附图的下述说明中，本发明的其它特征和优点将变得明显。
图I是示出手持式XRF仪的主要组成部件的示意图。图2是示出用在XRF仪中的检测器及其对应的未保护起来的密封窗的示意图。图3是示出用在XRF仪中的检测器及其对应的具有光圈式可展开保护盖的密封窗的示意图。图4是示出XRF仪内的可展开保护盖的位置和配置的另一示意性侧视图。图5a和图5b分别是示出安装到支撑架的XRF仪密封膜的正视示意图和侧视示意图，该支撑架具有光存在传感器。图6是示出XRF仪的控制系统的主要组成部件的示意图。图7a和图7b分别是示出安装到支撑架的XRF仪密封膜的正视示意图和侧视示意图，该支撑架具有应变规或磁存在传感器。图8a、图8b和图8c分别是示出XRF仪的密封窗保护控制系统的正视示意图和部分侧视示意图。图9是图示出用于本公开的优选实施方式的图6所示的控制器的处理的主要步骤的流程图。图10是图示出用于本公开的“自动存在感测实施方式”的图6所示的控制器的处理的主要步骤的流程图。图Ila是示出用在XRF仪中的可收缩的保护盖的实施方式的示意图。图Ilb是示出用在XRF仪中的可收缩的保护盖的实施方式的更多细节的示意图。图12是示出用在XRF仪中的手动操作的密封窗保护盖的实施方式的图示的示意图。图13a和图13b分别是示出根据本发明的实施方式的联接到XRF仪外部的密封窗保护盖的侧视示意图和正视示意图。从本发明的参照附图的下述说明中，本发明的其它特征和优点将变得明显。
具体实施例方式除下面公开的优选实施方式或实施方式之外，本发明还可以采用其它实施方式，可以以各种方式实施或进行。因而，应当理解的是，本发明不限于应用于下面的说明书中阐述的或者附图中示出的组成部件的配置和结构的细节。而且，本发明的权利要求书不应当被限制性地解读，除非有明显且令人信服的证据表明特定排除、限制或放弃。
本公开中使用的术语“测量模式”表示进行XRF测量时X射线检测器2的操作状态。更具体地，测量模式由图6所示的微处理器系统51控制并且包括a)通过使X射线管15发出其特征X射线而激活试样121 ；b)由检测器2感测从试样121发出的X射线；以及c)通过数字化仪56和DSP 57处理检测器2的输出来获得期望的XRF信息。实施方式的构成图I示出X射线分析装置的示例,在该具体示例中,手持式XRF仪I包括测量头17、触发开关5、显示器8和IO端口 10。用于安装密封膜3的支撑架4固定到测量头17。图4中示出的测量头17的内部视图主要包括X射线检测器2、具有致动器71的窗保护器7、存在传感器70、检测器前壳体9和X射线管15。参照图2，密封窗21安装到检测器2的前面，以在密封窗21和位于检测器2内的硅检测器半导体(未示出)的前表面之间产生真空室，其中所述硅检测器半导体用于允许通过珀耳帖装置(未示出)充分冷却检测器的目的。密封窗21典型地由非常薄且易破的材料制成，例如由8μπι厚的铍(Be)制成。因此，当X射线分析装置用在野外恶劣环境时，密封 窗21容易被刺破，或者说容易破损。例如，当手持式XRF仪I (图I)被用于采矿或废金属场合时，测量头17必须置于与检验物非常接近的位置，该检验物可能含有碎片6，碎片6可能刺入密封膜3并且移动到密封窗21 (图2)附近的区域，然后刺入密封窗。该区域在图4中图示于密封膜3和检测器前壳体9之间。发生这种情况时，操作者可以容易地更换密封膜3 ;但是，器件必须返厂以更换检测器2，这为XRF仪的用户带来相当的不便并且是昂贵的。包含在测量头17内的检测器窗保护系统的关键构成的配置示出于图4，其中窗保护器7及其致动器71安装到检测器前壳体9，存在传感器70安装于支撑架4。图6所示的XRF仪I的控制系统50包括微处理器系统51、存储器51a、⑶I (图形用户界面)8、触发开关5、输入/输出连接器10、数字信号处理器57、数字化仪56、X射线检测器2、X射线管15、带电缆29的存在传感器70、带电缆35的窗保护器致动器71、电源36、包括对象存在信号处理器39和窗保护控制器37的窗保护控制�？�41。图6中还示出了检验试样121。窗保护器7和致动器71的实施方式示出于图3、图8a、图8b、图8c、图Ila和图Ilb0图3不出用于密封窗21的光圈式保护器,其包括致动器31、电缆35、前检测器壳体9和定位于检测器2的光圈23。图8a、图8b和图8c主要示出保护盖61a、齿轮65c、支撑柱65a、弹簧65b、固定孔63、致动器齿轮67b和致动器67a。图8a示出处于关闭(保护)位置61b的盖61a。图IIa和图Ilb示出用于检测器2的多板保护盖120，其包括安装至柱99的可收缩的板98a至98d(即98a-d)。图Ilb示出相应的槽100b_d和初始槽103以及相应的销IOla-C和初始销102，虽然没有示出，但是这些槽和销都是图Ila中图示的板的特征。参照图5a，存在传感器70的优选实施方式是光存在传感器49，其包括镜43a至43j、光源41和光束检测器45，光源41和光束检测器45通过电缆37连接至图6中示出的对象存在信号处理器39。图7示出作为存在传感器26的存在传感器70的可选实施方式，任选地，其为至少一个应变规25或至少一个磁接近传感器25，该至少一个应变规25安装于密封膜3以感测由碎片6施加于密封膜3的应力，如果碎片6为磁性材料,则该至少一个磁接近传感器25感测碎片6。通过电缆29提供传感器25用信号。图12示出手动系统的实施方式，当压下触发开关5时，其将冲程距离109转换为驱动齿轮67b的力，以使窗保护器7 (未示出)移位。该机械实施方式包括安装在触发开关5和滑轮108b的点108d之间的缆线106a、安装在滑轮108a和致动器104的移位轮105之间的缆线106b。触发开关5、滑轮108a、108b和轮105中的至少一方被弹簧加载以使，当使用者释放其手指施加的压力时齿轮67b使窗保护器7移位至关闭位置并且使触发开关5返回至原始位置。滑轮107a可选择地用于对缆线106b进行定向，以便于电缆走线。实施方式的操作和功能
对于本发明的所有实施方式，图3、图4、图8a_8c示出的窗保护器7都通过将盖材料定位在密封窗21和碎片6之间以防止接触来保护密封窗21。使窗保护器7处于关闭的保护位置的典型操作条件为当a)XRF仪I (图I)未被打开(启动)时，b)没有激活测量模式时，或者c)未压下触发开关5时。当触发开关5被压下并且可以进行测量模式时，窗保护器7打开以露出密封窗21。现在参照图8a、图8b和图Sc说明窗保护器7的优选实施方式。当激活测量模式时，窗保护器7的盖板61a从图8a中不出的位置61b移位以露出密封窗21。盖板61a被紧固至柱65a和齿轮65c，当致动器67a动作时，致动齿轮67b使该齿轮65c转动。弹簧65b用于使盖板61a以比致动器67a可使盖板61a移位的速度大的速度移位。弹簧65b的一端固定至柱65a,另一端固定至盖板61a中的孔63。取决于弹簧65b的构造,弹簧65b可以用于为处于图8a所示的打开位置的盖板61a或者为处于图Sb所示的关闭位置61b的盖板61a提供转动张力。用于致动器67a的离合器(未示出)分离，以使致动齿轮67b自由转动，从而允许由弹簧65b施加的力使盖板61a快速移位。使用弹簧65b允许使用比在不使用弹簧65b的情况下使密封窗21以相同速度移位所需的致动器简单、小、低速的致动器67a。应当注意的是，仅由致动器而不使用弹簧65b使盖板61a双向移位在本公开的范围内。此外，可以使用的可选弹簧配置包括、但不限制于，沿弹簧的长度方向施加枢转力的弹簧。对于最大程度地保护密封窗21所需的应用，弹簧65b被构造成在盖板61a处于打开位置时(即，在测量模式期间)施加张力，以在停止测量模式时快速地关闭盖板61a。对于最大测量模式速度所需的应用，弹簧65b被构造成在盖板61a处于关闭位置时(即，在测量模式开始之前)施加张力，以在测量模式激活时快速打开，以开始测量。图Ila和图Ilb图示了图8a_8c的盖板61a的风扇式可选实施方式，在XRF仪I内的空间(图4)受限时可以使用该实施方式。当然，从图Ila可以看出，风扇式盖板120的高度和宽度不会超过检测器2的前区包封(front area envelope),因而除了图Ila的突出方向之外，不会侵占仪器的内部空间。在这方面提供与下面将参照图3说明的光圈实施方式相似的优点。风扇式保护盖板120包括小重叠板98a至98d卿98a_d)，在柱99绕其轴线沿顺时针方向转动时，小重叠板98a至98d展开。柱99被刚性地固定到板98d ;然而，板98a_c能够在柱99上自由枢转，以允许它们被板98d拉到图Ila所示的关闭保护位置。最大移位时每个板8a_d被保持于固定的周向位置，以覆盖与图8a所示的实施方式的单件盖板61a的保护范围相同的密封窗21的保护范围。当处于全打开的非保护位置98a’时，板98a-d堆叠在一起，它们的外周彼此上下对齐。
如图Ilb所示，每个板98a_c均借助于相应的销lOla-c插入到相邻板的相应的平移槽100b-d而联接至相邻的板。因此，当板98d最大移位时,其使板98a_c移动至正确位置。应当注意的是，销102和IOla-C中的每个销的头均与其连接的板的上表面平齐，或者在该板上方的板的底部设置凹部，以允许当板移动到位而堆叠于图Ila所示的全打开非保护位置98a’时不阻碍运动。销102安装到密封窗21前方的固定位置，以允许堆叠板98a_d完全移出密封窗21的路径而到达全打开非保护位置98a’。此外，槽103位于板98a上，以允许板98a从非保护位置98a’移动到图Ila所示的保护位置。应当注意的是，风扇式保护盖120的运动控制系统与参考图8a-8c所示并参照致动器67a、齿轮67b和65c、弹簧65b及柱65a说明的实施方式的运动控制系统相同。适于受限空间的窗保护器7的另一可选实施方式示出于图3，其中密封窗21由光圈23保护，该光圈23联接于检测器2的前壳体9并且在通过电缆35接收到控制信号时由致动器31激活。微型光圈装置为紧凑相机设计领域的实际人员所公知。应当注意的是，可以由如下装置驱动图3和图Sb的致动器31和67a a)电动机(未示出)，由XRF仪的电源36和控制器37经由电缆35为该电动机提供电力和控制信号， b)可通过压下触发开关5而操作的图12所示的缆线和滑轮系统，触发开关5的冲程109与窗保护器7从全打开位置行进到全关闭位置的距离成比例。当使用缆线和滑轮系统实施方式时，致动器67a和31由致动器104替换。当压下触发键5冲程距离109时，图12的缆线和滑轮系统使窗保护器7移位到非保护打开位置。在行过冲程距离时，由缆线106a拉动滑轮108b使其绕轴线108c沿逆时针方向转动，其中缆线106a的一端刚性地固定至凹口 108d。同时，大半径的滑轮108a沿相同方向转动，使增加的冲程距离施加到致动器104的轮105，其中致动器104安装到齿轮67b。增加的冲程距离等于使窗保护器7的盖从保护关闭位置移动到非保护打开位置所需的距离，并且与轮108a的周长和108b的周长之差成正比。滑轮107a绕轴线107b转动，并且用于如部件在XRF仪I内的配置中所需地改变缆线106b的定向。应当注意的是，虽然参考增加冲程距离109说明了图12中图示的前述实施方式，但是，通过使轮108b的半径大于或等于轮108a的半径来减小或维持冲程距离109也在本公开的范围内。由图6的控制系统50执行的优选实施方式的操作步骤的流程图示出于图9。在于步骤81中打开电源之前，窗保护器7位于关闭(保护)位置。在通过电源开关(未示出)在步骤81中打开电源并且在步骤85处压下触发开关5以使得可以进行由微处理器系统51控制的测量模式之后，窗保护控制器37使窗保护器7打开到非保护位置。之后，测量模式立即在步骤87中开始并结束，之后，窗保护器7在步骤88中返回到关闭(保护)位置，然后，微处理器系统51在步骤89处等待触发开关5的下一次压下。应当注意的是，可以经由⑶I 8来调用可选的自检测特征，例如，使得XRF仪I可以检测窗保持部7何时处于关闭(保护)位置。这是重要特征，这是因为，当使用该特征时，使用户在用XRF仪I进行检查之前知道窗保护器7是否正确工作。在步骤82处，控制系统50执行测量模式，以判断窗保持部7是打开还是关闭。在这种情况下，测量模式基于窗保护器7的盖存在于检测器密封窗21 (图2)的前方而验证检测器2的响应是所期望的。如果在步骤83处判断出盖是关闭的，则处理行进到步骤85以等待触发开关5的压下；否则，在步骤84处将故障信息发送给⑶18，以通过用户存在错误。
自动存在感测实施方式通过提供检测在测量模式中存在正在接近的障碍或碎片6的部件，可以实现对密封窗21的额外程度的保护。前述分别在图6、图5a-5b和图7a_7b中示出的存在传感器实施方式26和49为对象存在信号处理器39提供信号，其中对象存在信号处理器39判断何时感测到存在碎片6。对于图7a和图7b示出的存在传感器26的两个选择，传感器35可以沿着支撑架4的开口的周边配置。这些存在传感器的响应信号通过如图6所示的电缆29被连接到对象存在信号处理器39，以监测响应信号，来检测碎片6进入的瞬间。对于应变规实施方式，施加到密封膜3的预定程度的应变被用作检测阈值。对于磁接近传感器实施方式，由碎片6的存在引起的预定程度的磁场变动被用作检测阈值。采用两个或更多个存在传感器实施方式以实施混合实施方式在本公开的范围内。
图5a和图5b示出光存在传感器49，当光接收器45没能检测到从光源41和行进路径47传来的光束时，光存在传感器49为对象存在信号处理器39提供触发信号。如图5b所示，光源41、镜43a至43 j和光束检测器45位于密封膜3的表面的正下方，以在碎片6进入之后尽实际上可能快地遮断路径47。由图6的控制系统50执行的自动存在感测实施方式的操作步骤的流程图示出于图10。步骤80、81、82、83、85和86与上面参照图9说明的相同，所以不需要再次说明这些步骤。在步骤86之后，在步骤91处，测量模式开始并且对象存在处理器39可以检测碎片6的存在(图4)。如果检测到碎片6，则保护盖7在步骤93处关闭而进入保护位置，从而防止对检测器2的密封窗21造成破坏。接着，在步骤94处，警告信息被发送给⑶I 8，以使用户知道密封膜3已经被损坏。如果在步骤92处未检测到碎片6，则在步骤95处继续测量模式。在步骤95之后，窗保护器7在步骤96处返回到关闭(保护)位置，然后，微处理器系统51在步骤97处等待触发开关5的下一次压下。外部安装的密封窗保护器实施方式联接到测量头17的外部前表面的密封窗保护器的实施方式示出于图13a和图13b。具体地，保护器136位于测量头17的前面，盖135可操作以a)移动到密封膜3前方的位置134以保护密封膜3不受碎片6的损伤，以及b)在测量模式期间移动成使检测器2的密封膜3和窗21露出。除了所有的“保护器7”都替换成“保护器136”之外，图9的流程图和关于控制系统50的描述可以应用到该外部安装的保护器实施方式。继续参照图13a和图13b，用于使盖135在打开位置和关闭位置134之间移位的齿条和小齿轮移位控制机构包括致动器131，致动器131具有与固定到盖135的齿条133接合的齿轮132。弹簧(未示出)可以安装到盖组件135，以提供与上面参考弹簧65b说明的功能相同的功能。借助于外壳130的侧壁将盖135的移动限制到期望位置。可选地，如果需要进一步的位置控制和/或机构稳键性，则引导架可以延伸到位置134的周边。此外，可以使用本领域技术人员所知的齿条和小齿轮类型之外的移位机构。应当注意的是，如这里参考图3、图4、图8a_8c、图lla-llb和图12所说明的实施方式的情况那样，外部安装的保护器实施方式可以位于内部测量头17内。此外，内部实施方式可以施加到测量头17的外部，以提供与外部安装的保护器135实施方式相同的保护。尽管本发明的特定特征仅示出于一些附图中而没有示出于其它附图中，但是，这仅是为了方便的目的，根据本发明每个特征均可以与其它特征的部分或全部结合。这里使用的词语“包括”、“包含”、“具有”和“有”应当被广意并包括性地解释，而不限制于任何物理关联。此外，在主题应用中公开的任何实施方式都不应当被当作是唯一可能的实施方式。
虽然已经参照本发明的特定实施方式说明了本发明，但是对于本领域的技术人员来说，许多其它变化、变型和其它用途是显而易见的。因而，优选地，本发明不限于这里的具体公开，而仅由所附的权利要求书限制。
权利要求
1.一种辐射发射材料检验装置，其包括 手持式装直壳体； 辐射发射器，其位于所述装置壳体中并且被构造成朝向检验对象发射辐射； 辐射检测器，其被收纳于由密封窗封闭的室并且被构造成检测所述检验对象的辐射，所述检验对象的辐射因所述检验对象暴露于所述辐射发射器的辐射而引起；以及 保护盖机构，其安装到所述检验装置并且被构造成具有至少关闭位置和打开位置，在所述关闭位置，进出所述密封窗的通路被覆盖或遮挡，在所述打开位置，所述密封窗露出以允许辐射进出的通路不受阻碍。
2.根据权利要求I所述的检验装置，其特征在于，所述保护盖机构包括能枢转地安装的盖板和移动机构，所述盖板能在所述密封窗附近的枢轴上枢转，所述移动机构被构造成使所述盖板在所述关闭位置和所述打开位置之间移动。
3.根据权利要求I所述的检验装置，其特征在于，所述保护盖机构包括具有多个板的光圈机构，所述多个板能在覆盖所述密封窗的第一位置和使所述密封窗暴露于来自所述检验对象的辐射的第二位置之间移动。
4.根据权利要求I所述的检验装置，其特征在于，所述保护盖机构包括具有多个板的风扇式盖，所述多个板被构造成能在堆状重叠状态和展开状态之间移动，在所述堆状重叠状态，所述板彼此重叠以使所述密封窗露出；在所述展开状态，所述板协作以覆盖所述密封窗。
5.根据权利要求I所述的检验装置，其特征在于，所述保护盖机构包括能移动地安装到所述装置壳体的前表面的盖，以使所述盖在所述打开位置和所述关闭位置之间移动。
6.根据权利要求I所述的检验装置，其特征在于，所述检验装置还包括碎片检测器，所述碎片检测器被构造成检测位于所述密封窗附近的碎片的存在。
7.根据权利要求6所述的检验装置，其特征在于，所述碎片检测器包括安装至密封膜的至少一个应变传感器，当所述至少一个应变传感器感测到碎片使所述密封膜产生应变时，所述至少一个应变传感器提供指示碎片的信号。
8.根据权利要求6所述的检验装置，其特征在于，所述碎片检测器包括光检测器，所述光检测器检测位于所述密封窗附近的碎片的存在。
9.根据权利要求6所述的检验装置，其特征在于，所述碎片检测器包括磁接近传感器。
10.根据权利要求6所述的检验装置，其特征在于，所述检验装置还包括用户致动的触发开关，所述触发开关被构造成当其被激活时使所述保护盖机构移动到所述打开位置，以允许进入测量模式。
11.根据权利要求6所述的检验装置，其特征在于，所述检验装置还包括所述保护盖机构用的移动机构，所述移动机构响应于所述碎片检测器以使所述保护盖自动移动到所述关闭位置。
12.根据权利要求11所述的检验装置，其特征在于，所述移动机构包括施力元件，只要没有为所述检验装置提供电力，所述施力元件就使所述保护盖机构返回到其关闭位置。
13.根据权利要求11所述的检验装置，其特征在于，所述移动机构是机械移动器。
14.根据权利要求11所述的检验装置，其特征在于，所述移动机构包括缆线和滑轮系统。
15.根据权利要求11所述的检验装置，其特征在于，所述移动机构包括弹簧，所述弹簧的结构位置使得其能够使所述保护盖机构向所述关闭位置的移动加速。
16.根据权利要求I所述的检验装置，其特征在于，所述辐射发射器是X射线发射器，其中，所述辐射检测器是硅漂移检测器或PiN 二极管检测器。
17.根据权利要求I所述的检验装置，其 特征在于，所述检验装置包括手持式X射线荧光仪。
18.根据权利要求10所述的检验装置，其特征在于，所述保护盖机构被构造成在检测到所述碎片时自动且立即返回所述关闭位置。
19.根据权利要求I所述的检验装置，其特征在于，所述密封窗由薄的易破材料制成。
20.根据权利要求I所述的检验装置，其特征在于，所述检验装置还包括处理控制器、显示器和图形用户界面，所述图形用户界面被构造成当所述保护盖处于打开位置时通知用户。
21.一种用X射线检验对象的方法，所述方法包括 提供辐射发射材料检验装置，其包括手持式装置壳体；辐射发射器，其位于所述装置壳体中并且被构造成朝向检验对象发射辐射；辐射检测器，其被收纳于由密封窗封闭的室并且被构造成检测所述检验对象的辐射，所述检验对象的辐射主要因所述检验对象暴露于所述辐射发射器的辐射而引起；用户致动的所述辐射发射器的触发开关；以及保护盖机构，其安装到所述检验装置并且被构造成具有至少关闭位置和打开位置，在所述关闭位置，进出所述密封窗的通路被覆盖或遮挡，在所述打开位置，所述密封窗露出以允许辐射进出的通路不受阻碍，以及 激活所述触发开关，以使所述保护盖机构移动到所述打开位置。
22.根据权利要求21所述的方法，所述方法还包括 朝向所述检验对象移动所述检验装置；以及 在检测到任何碎片位于所述检验装置朝向所述检验对象的路径中时，自动地使所述保护盖机构移动到所述关闭位置。
全文摘要
具有检测器窗保护特征的X射线分析装置。X射线荧光(XRF)仪包括保持辐射发射器和辐射检测器的手持式装置壳体，辐射发射器被构造成朝向检验对象发射辐射，辐射检测器被收纳于由密封窗封闭的室且被构造成检测因检验对象暴露于辐射发射器的辐射而引起的检验对象的辐射。保护盖机构安装到检验装置且被构造成具有关闭位置和打开位置，在关闭位置，进出密封窗的通路被覆盖或遮挡，以保护密封窗不被碎片或其它障碍物破坏或损伤；在打开位置，密封窗露出以允许辐射进出的通路不受阻碍。盖机构可以以各种方式实现，包括通过可枢转地安装的盖板、光圈机构和风扇式盖等实现。可以通过各种方式检测碎片，包括通过应变传感器、光检测器和接近传感器检测。
文档编号G01N23/223GK102890096SQ20121025222
公开日2013年1月23日 申请日期2012年7月19日 优先权日2011年7月19日
发明者M·德鲁米 申请人:奥林巴斯Ndt公司
专业数控铣床产品供应商
20年生产经验，实力工厂，精工品质，质量有保障
