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专利名称：一种光学薄膜测试装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种光学薄膜测试装置，具体应用在奥林巴斯USPM-RU-W近红外显微分光测定仪上。
背景技术：
随着触控技术的发展，特别是I Phone和I Pad的出现，将全球触控行业带向了一个崭新的时代。因此，对于柔性光学薄膜的需求量也日益增长，现阶段PET、ITO film等光学薄膜已供不应求。在此类柔性光学薄膜的生产过程中，薄膜的光学性能一直是衡量薄膜质量的一项重要指标。对于柔性光学薄膜的光学性能检测，主要集中在反射率、透过率、折射率、L*a*b* 值和雾度等，尤其是反射率和透过率更是衡量薄膜光学性能的晴雨表。日本奥林巴斯公司的USPM-RU-W近红外显微分光测定仪具有使用方法简单、检测速度快和对测试样品面积要求较小的优点，对于提高生产效率具有显著特点，倍受人们青睐。但由于柔性薄膜的生产方式所决定，导致该仪器很难精确的检测出柔性薄膜的光学性能，因此只能得到粗略的测试结果。利用奥林巴斯USPM-RU-W近红外显微分光测定仪检测柔性薄膜反射率和透过率的传统方式是将柔性薄膜直接置于分光测定仪的操作台面上进行检测。由于大部分柔性薄膜的生产都是采用卷绕的方式，这样势必会造成测试样品在一定程度上弯曲。将弯曲的测试样品置于测试台面上直接测试容易导致测试结果不准确，而用胶带将测试样品粘贴在测试台面上会在测试样品上遗留残胶，影响后续检测，并且操作繁琐，影响生产效率。同时，一些特定柔性光学薄膜，如ITO film等的测试过程中，经常需要测试退火前和退火后同一点的光学特征。传统测试治具很难对测试样品的同一点进行定位，而标记法又会对测试样品造成一定的污染。这些因素都极大地影响了柔性光学薄膜的测试效率和结果真实性。为了有效提高奥林巴斯USPM-RU-W近红外显微分光测定仪在测量柔性光学薄膜时的精度问题，必须对传统方法进行改良，然而目前尚未见改良技术的报道。

发明内容
本发明的目的在于提供一种放置在奥林巴斯USPM-RU-W近红外显微分光测定仪测试台上的装置，克服传统测试台面所带来的缺陷。本发明的技术方案是在现有的测试台面上增加一个架子；架子中添加一个金属片，利用磁铁与金属片的磁性固定住测试片，达到展平样品的效果，样品挡板能够起到精确定位测试的效果。本发明的结构包括样品挡板，正方形区域，光滑金属片放置区，通光孔，“L”形架子固定板，磁铁，光滑金属片，待测样品；
架子中的样品挡板(I)高出正方形区域(2)，正方形区域(2)高于光滑金属片放置区
(3)，光滑金属片(7)置于光滑金属片放置区(3)内，“L”形架子固定板(5)粘贴在两块样品挡板(I)交汇处，待测样品(8)放置于正方形区域(2)内，且边缘贴近样品挡板(I)。展平样品后，将磁铁(6)压于光滑金属片(7)所对应的样品上，最后，将装好待测样品(8)的装置放置于原有测试台面上，将“L”形架子固定板(5)顶住测试台面一角，起到固定作用。本发明优点
I、解决了利用奥林巴斯USPM-RU-W近红外显微分光测定仪，在传统方法下测定柔性光学薄膜精确度较低、重复性不佳的问题，提高了测试的精准度和重复性。2、由于该治具是利用磁铁固定样品，避免了用胶带将测试样品粘贴在测试台面上所造成的污染样品问题，并且也避免了粘贴胶带所耗费的时间，提高了检测效率。同时，也节省了胶带，在一定程度上降低了企业的成本。


图I为本发明所述装置的俯视图； 图中I.样品挡板，2.正方形区域，3.光滑金属片放置区，4.通光孔，5. “L”形架子固定板；
图2为本发明所述光学薄膜测试装置工作示意 图中6.磁铁，7.光滑金属片，8.待测样品。
具体实施例方式下面结合说明书附图以一个具体尺寸的光学薄膜测试装置对本发明做进一步的说明。架子边长120臟，高15臟，其中样品挡板(I)的高度为15mm;正方形区域(2)为高度10mm、边长IOOmm的正方形区域；光滑金属片放置区(3)为高度8mm、外径38mm、内径23mm的圆环形区域，且该圆环圆心处于正方形区域(2)的对角线交点处,长25mm、宽8mm、高20mm的“L”形架子固定板(5)粘贴于两块样品挡板(I)的交汇处。高度2mm、外径37mm、内径23mm的光滑金属片(7)固定于光滑金属片放置区(3)内，待测样品(8)边缘紧贴两块样品挡板(I)。展平待测样品(8)后,将高10mm、内径23mm、外径38mm的磁铁(6)压于光滑金属片(7)所对应的待测样品(8)上。最后，将装好待测样品的治具放置于原有测试台面上，将“L”形架子固定板(5)顶住测试台面一角，起到固定作用。当光束通过通光孔(4)时，即可得到准确的测量数据。由于样品挡板(I)能将待测样品(8)很好的定位，因此，可以精确地测试待测样品(8 )退火前和退火后同一点的数据，有利于产品研发。
权利要求
1.ー种光学薄膜测试装置，其特征在于，其结构包括样品挡板，正方形区域，光滑金属片放置区，通光孔，“L”形架子固定板，磁铁，光滑金属片，待测样品；架子中的样品挡板(I)高出正方形区域(2)，正方形区域(2)高于光滑金属片放置区(3)，光滑金属片(7)置于光滑金属片放置区(3)内，“ L”形架子固定板(5)粘贴在两块样品挡板(I)交汇处，待测样品(8)放置于正方形区域(2)内，且边缘贴近样品挡板(I);展平样品后，将磁铁(6)压于光滑金属片(7)所对应的样品上，最后，将装好待测样品(8)的装置放置于原有测试台面上，将“L”形架子固定板(5)顶住测试台面一角，起到固定作用。
全文摘要
一种光学薄膜测试装置包括样品挡板，正方形区域，光滑金属片放置区，通光孔，“L”形架子固定板，磁铁，光滑金属片，待测样品；在现有的测试台面上增加一个架子；架子中添加一个金属片，利用磁铁与金属片的磁性固定住测试片，达到展平样品的效果，样品挡板能够起到精确定位测试的效果。本发明解决了利用奥林巴斯USPM-RU-W近红外显微分光测定仪，在传统方法下测定柔性光学薄膜精确度较低、重复性不佳的问题，提高了测试的精准度和重复性。
文档编号G01N21/01GK102818772SQ20121028063
公开日2012年12月12日 申请日期2012年8月9日 优先权日2012年8月9日
发明者熊磊 申请人:南昌大学