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专利名称：具有检测样品表面取向的表面取向传感器的切片机的制作方法
技术领域：
本发明的实施方式涉及形成样品切片的切片机或其他组织样品切片装置，具体地一些实施方式涉及具有表面取向传感器来检测样品表面取向的切片机或其他组织样品切片装置。
背景技术：
组织学是与组织处理相关以便检查或分析的科学或学科。检查或分析可以是细胞形态、化学成分、组织结构或成分或其他的组织特点。在组织学中，组织样品可以准备通过切片机或其他样品切片装置切片。通常，组织可以例如通过将组织暴露于ー个或多个脱水剂而从组织移除大多数或几乎所有的水来干 燥或脱水。在组织干燥之后，可以任选地进行脱水剂的清除，并且接着可以将包埋剂(例如具有添加增塑剂的蜡)引入或渗入干燥组织。水的移除以及包埋剂的渗入可有助于通过切片机将组织切成薄片。接着在组织上进行包埋。在包埋过程中，已经干燥并渗入包埋剂的组织可以包埋在团块或其他蜡、多种聚合物或另ー包埋介质的团中。代表性地，干燥和渗入蜡的组织可被放置在模具和/或盒体内，熔化的蜡可以分配到组织上，直到模具充满蜡，并且接着蜡可以被冷却和硬化。将组织包埋在蜡团内可有助于在组织通过切片机切割或切片的过程中提供附加支承。切片机可用来切制组织样品的薄片或切片。多种不同类型的切片机在本领域是已知的。代表性的类型包括例如滑动、转动、振动、锯片和激光切片机。切片机可以是手动或自动的。自动切片机可包括机动系统或驱动系统来在将要从中切片的样品和用来切片的切割机构之间驱动或自动操作切割运动。理解到切片机还可用于组织学之外的其他目的，并且切片机可用于包埋组织之外的其他类型的样品。


通过參考用来说明本发明的实施方式的以下说明书和附图可以最佳地理解本发明。附图中图I表示切片机或其他样品切片装置的实施方式的示意图。图2表示用于切片机或其他样品切片装置的传感器组件的实施方式。图3A表示在缩回位置的传感器组件的实施方式。图3B表示在升高位置的传感器组件的实施方式。图4A表示具有第一轴线的检测板的传感器组件的实施方式的剖视透视图。图4B表示图4A的传感器组件的实施方式沿着剖线B-B’的截面图。图4C表示具有检测框架的传感器组件的实施方式的剖视透视图，检测框架具有围绕第二轴向支承构件的第二转动轴线。图4D表示图4C的传感器组件的实施方式沿着剖线D-D’的截面图。
图5表示用于控制包括手轮和控制装置的切片机的操作的控制系统的实施方式。图6表示切片机的供应驱动系统的实施方式的透视图。
具体实施例方式在以下描述中，给出了例如特定切片机、特定切割驱动系统、特定传感器、特定检测机构、特定表面取向測量和/或调节过程等的许多具体细节。但是，理解到本发明的实施方式可在没有这些具体细节的情况下实施。在其他情况下，为了不混淆此说明书的理解，没有详细表示已知的机械部件、电路、结构和技木。图I表示了切片机或其他样品切片装置的实施方式的示意图。切片机100可包括基座构件101，供应驱动系统或切割驱动系统102、安装构件103和手轮104附接到基座构 件101。供应驱动系统102可通过支承构件115支承在基座构件101之上。供应驱动系统102可包括竖直驱动构件105、水平驱动构件106和可操作地保持样品108的样品保持器107。样品108可包括一片待切片的组织，例如包埋在石蜡中的一片组织。切割驱动系统或供应驱动系统可操作以驱动样品保持器保持的样品的运动。供应驱动系统102的马达109可机械联接到竖直驱动构件105，并可操作以驱动竖直驱动构件105在竖直双箭头126的方向上竖直运动。供应驱动系统102的马达110可机械联接到水平驱动构件106，以驱动水平驱动构件106在水平双箭头125的方向上水平运动。应该注意到例如“水平”、“竖直”、“顶部”、“底部”、“上部”、“下部”等术语这里用来帮助所述装置的描述。其他装置可以用竖直运动来代替水平运动等等。安装构件103可包括为切割构件或机构112提供安装表面的安装基座111。切割构件或机构112可例如是安装到安装构件103的多种类型材料的刀片或刀，或者用于切片机的其他类型的切割机构。切片接收构件113可以沿着切割构件112的ー侧定位。切片接收构件113的尺寸被设置成接收通过切割构件或刀片112从样品108切割的切片。在此方面，切片接收构件113可具有从刀片112的切割边缘延伸到安装构件103的表面的倾斜表面。随着切割构件或刀片112切过样品108，从样品108切割的切片与样品108分离，并沿着切片接收构件113延伸。如所示，在一些实施方式中，切片机100可包括表面取向传感器组件114。表面取向传感器组件114可操作以检测或测量样品108的表面的取向或角度。样品108的表面的取向或角度可以多种不同方式检测或确定。在一些下面进ー步详细描述的实施方式中，样品108的表面可接触传感器组件114，并且传感器组件114的一个或多个可动部分可与样品108的表面的取向相符。传感器组件的一个或多个可动部分的运动可使得切片机100自动检测或确定样品108的表面的取向。光学和其他检测机构也是适当的。被检测的取向可用来调节或对准样品108的表面，使其平行或基本上平行于或至少更加平行于切割构件或机构112和/或与切割构件或机构112相联的切割平面124。有利的是样品108的表面与切割构件112和/或切割平面124充分平行对准，使得通过切片机100切割的样品切片得到充分均匀切割。在一些实施方式中，切片机100可任选地能够自动调节或对准样品108的表面取向，使其平行于、充分平行于或至少更加平行于切割构件112和/或切割平面124。切片机100可具有自动检测样品表面相对于切割平面和/或切割机构的取向和/或根据检测的取向调节样品表面相对于切割平面和/或切割机构的取向的逻辑线路。有利地，这会有助于改善对准精度和/或将操作者从进行手动调节中解脱出来。替代地，如果希望，调节可手动进行。切片方法的实施方式可包括切片机100使用传感器组件114来自动检测样品108的表面的取向，操作者手动调节或切片机100自动调节样品108的表面的取向，以及切片机100在这种调节之后获取样品108的切片。在所示的实施方式中，传感器组件114在供应驱动系统102和安装构件103之间的位置处可动地联接到安装基座111，但这不是必须的。安装基座111为传感器组件114提供支承表面，并被设置尺寸和联接，以便适应传感器组件114在竖直双箭头126B的方向上竖直滑动。在操作过程中，传感器组件114可操作以沿着安装基座111朝着供应驱动系统102在向上竖直方向上滑动，并且竖直驱动构件105可操作以造成供应驱动系统102朝着传感器组件114在向下竖直方向上运动。一旦样品108与传感器组件114充分竖直对准，水平驱动构件106可操作以造成供应驱动系统102在水平箭头125的方向上朝着传感器组件114在水平方向上运动，使得样品108的表面相对于传感器组件114适当定位，从而进行表面取向測量。一旦样品108的表面取向得到确定，且在适当情况下重新对准时，传感器组件114可操作以如所示在竖直向下方向上缩回(例如到离开样品保持器所保持的样品和切割机构之间的运动的缩回位置)。再次參考图I,供应驱动系统102的操作可使用手轮104和/或控制装置116来控制。手轮104可包括手柄或锁定手轮104的其他脉冲产生装置117。手轮104的转动可操作以造成竖直驱动构件105在竖直双箭头126所示的竖直方向上运动，从而有助于样品108切片。在一些实施方式中，手轮104可以是脱开的手轮，即没有机械联接到供应驱动系统102。相反，脱开的手轮104可经由控制线路119电连接到编码器(未示出)和控制电路118。脱开的手轮104的转动可造成编码器将电信号输送到控制电路118。控制电路118经由控制线路120连接到马达109，并可操作以根据来自于编码器的电信号来控制竖直驱动构件105的运动。控制电路118还经由控制线路121连接到马达110，并经由控制线路122连接到传感器组件114。除了来自于编码器的信号之外，来自于控制装置116的信号可被传输到控制电路118以便控制或帮助传感器组件114、手轮104、马达109和/或马达110的操作。在ー些实施方式中，控制装置116可例如是键盘、电容传感器触摸垫或者其他用户或数据输入装置。在一些实施方式中，信号经由控制线路123在控制装置116和控制电路118之间传输。在其他实施方式中，控制装置116是可操作以将信号无线传输到控制电路118的无线控制装置，并省去控制线路123。图2表示表面取向传感器组件的实施方式。在附图中，在认为适当的情况下，附 图中的附图标记或附图标记的末尾部分被重复以表示可任选地具有类似特征的相应或类似元件。例如，图2中的表面取向传感器组件214可任选地具有类似于图I的传感器组件114的特征。表面取向传感器组件214用来帮助样品表面与切割机构和/或切割平面自动对准。有利的是样品表面与切割机构(例如刀片)充分平行对准，使得切片得到均匀切割。为了对准样品，样品接触传感器组件214，并且传感器组件214检测样品表面的取向。在一些情况下，样品表面将不与切割平面平行或充分平行对准。传感器组件214检测样品表面相对于切割平面的角度。使用检测到的信息，样品可被调节到样品表面与切割平面平行或至少更加平行的调节位置。
传感器组件214的所示实施方式包括检测板230和检测框架231。检测框架231围绕检测板230定位。检测板230可以是平面的，和/或具有平坦表面(例如是平面板)。根据材料，检测板的厚度可以是几个毫米(例如O. 5mm-5mm)的等级。检测板上的尺寸可以是约20-60_的等级。检测板和检测框架可由例如铝、不锈钢、其他金属、刚性塑料及其组合的多种材料构成，任选地涂覆保护涂层。在视图中，检测板230和检测框架231就长度和宽度尺寸而言基本上是方形的，其中检测板具有截去的拐角，而检测框架具有相符的框架拐角部分，但是在替代实施方式中，它们可以不是准确的方形，或者可以是矩形、圆形、椭圆形、八边形、六边形或其他形状。在ー种特殊的示例性实施方式中，检测板是尺寸为约39. 5mm x 39. 5mm的方形，由具有保护涂层(例如聚四氟こ烯(PTFE)涂层)的铝构成，并且检测框架是大约90mm X 75mm x 25mm厚,并由金属(例如招)和/或塑料制成。替代地，检测板和检测框架可具有其他尺寸，并可由其他材料(例如不锈钢、其他金属或多种塑料)制成。检测板230是可围绕第一轴向支承构件232转动的第一检测构件，而检测框架231是可围绕第二轴向支承构件233转动的第二检测构件。第一轴向支承构件232沿对角线将检测板230平分。第二轴向支承构件233沿对角线将检测框架231平分。第一轴向支承构件232大致垂直于第二轴向支承构件233 (例如80-100度)。因此，检测板230能够沿着正交或垂直于检测框架231转动轴线的轴线转动。检测板230和检测框架231也可在样品压靠 检测板230时在水平方向上运动。水平方向上的运动可提供有关样品表面的水平位置(即进入和离开所示页面)的信息。在此方面，样品表面的角度取向以及样品表面相对于切割平面的水平位置都可以通过传感器组件214检测。检测组件214还包括检测板传感器234和检测板信号输出构件235。检测板传感器234附接到检测组件框架238，而检测板信号输出构件235附接到检测板230。如所示，在ー个方面，检测板信号输出构件235可在最远离检测板230的转动轴线的拐角或其他部分处或附近附接到检测板230。检测板传感器234与检测板信号输出构件235充分对准，以接收来自于检测板信号输出构件235的信号。接收的信号指示检测板230的转动或移动量。通过例子，检测板230沿着第一轴向支承构件232的转动角度α (通常是几度(例如0-10° )的等级)可以通过检测板传感器234根据检测板信号输出构件235的运动程度以及从检测板信号输出构件235接收的信号的相应强度来检测。在一些实施方式中，检测板信号输出构件235可包括磁体。在此实施方式中，检测板传感器234可操作以检测磁体235的磁场(例如经由磁阻检测机构)，以检测检测板230的位置。替代地，代替使用磁性，可以使用其他检测机构，例如机械传感器(例如应变计)、电传感器(例如使用电容)、光学传感器，或者可以任选地使用其他传感器。传感器组件214还包括检测框架传感器236和检测框架信号输出构件237。检测框架传感器236附接到检测组件框架238，而检测框架信号输出构件237附接到检测框架231。如所示，在ー个方面，检测框架信号输出构件237可在最远离检测框架231的转动轴线的拐角或其他部分处或附近附接到检测框架231。检测框架传感器236与检测框架信号输出构件237充分对准，使其可接收来自于检测框架信号输出构件237的信号。在ー个例子中，检测框架信号输出构件237可包括磁体，并且检测框架传感器236可检测磁场或来自于检测框架信号输出构件237的信号，以便检测检测框架231的转动角度β (通常是几度(例如0-10° )的等级)。替代地，代替使用磁性，可以使用其他检测机构。如上所述，检测框架231的第二轴向支承构件233基本上正交于检测板230的第一轴向支承构件232。因此，相对于第二轴向支承构件233，样品表面相对于切割平面的角度可以通过检测框架传感器236进ー步检测。分别通过检测板传感器234和检测框架传感器236检测的检测板230围绕第一轴向支承构件232的转动角度α以及检测框架231围绕第二轴向支承构件233的转动角度β继而反映了接触传感器组件214的样品表面的第一取向。在检测板传感器234和检测框架传感器236检测到样品表面没有与切割平面平行或充分平行时，信号可从传感器组件214提供到切片机100的控制部件(例如控制电路118和/或控制装置116)。该信号可表示检测板230和检测框架231的转动所确定的切割表面偏离切割平面的程度或大小。控制部件可自动或在使用者的指导下造成供应驱动系统使得样品表面的取向从初始取向调整到样品的切割表面与切割平面更加平行的改变取向。在一种实施方式中，可以使用校正来表征检测板230和检测框架231与切割机构和/或切割平面平行对准的状态。例如，检测板230和检测框架231可以例如手动运动或 通过机械校正部件強迫运动，使其与切割机构和/或切割平面平行对准。检测板传感器234和检测框架传感器236的输出可以在此状态下确定为校正数据。例如，在检测板信号输出构件235和检测框架信号输出构件237使用磁阻检测机构时，校正数据可包括磁阻值或指示相应检测板传感器234和检测框架传感器236受到的磁场的強度的指示。此校正数据可存储在可机器读取介质(例如存储器)内或者通过切片机以其他方式保存。校正数据可被访问井随后在调整样品表面取向时使用。例如，切片机可自动调节样品保持器，以便在保持接触检测板和检测框架的同时，在相当短的时间段内调节样品表面的取向。在此整个过程中，可通过每个检测板传感器234和检测框架传感器236进行多个实时传感器測量。例如在磁阻检测机构的情况下，在样品保持器的毎次调节之后可以顺序进行多个磁阻測量。这些实时测量值可与对应于检测板230和检测框架231与切割机构和/或切割平面平行对准的状态的被存储或保存的校正数据比较。随着样品表面的取向被调整成与切割机构和/或切割平面更加平行，实时测量值可变得更加接近校正数值。可以进行进ー步调整，直到当前传感器输出数值(例如磁阻数值)与校正传感器数值匹配或充分匹配为止。在当前传感器输出数值与校正数值匹配或充分匹配时，那么可以推知样品表面与切割机构和/或切割平面平行或充分平行。检测板230和检测框架231也能够在水平方向上运动(即视图所示的进入和离开页面)。在此方面，第一偏压构件239和第二偏压构件240可沿着第二轴向支承构件233的端部定位，以便在朝着样品的方向上偏压第二轴向支承构件233。在一些实施方式中，第一偏压构件239和第二偏压构件240可以是弹簧。使得样品表面压靠检测板230造成检测框架231和第二轴向支承构件233在水平方向上离开样品缩回。结合图4C的实施方式更加详细描述的光学或其他传感器可定位在第二轴向支承构件233的每个端部处或附近，并且可操作以检测第二轴向支承构件233的运动。例如，在第二轴向支承构件233阻断ー对光学传感器之间的光束时，可以终止样品团块的进一步运动。在此方面，样品的最前面表面相对于切割平面的水平位置可以通过传感器组件214检测。除了样品的最前面表面的測量位置(例如基于第二轴向支承构件233的測量水平位移)之外，也可以准确地知道切割机构或切割平面的位置。这些信息一起可用来帮助切片机制成具有准确和已知厚度的初始切片。如上所述，在一些实施方式中，检测组件框架238可以滑动或可动地附接到安装构件241，但这不是必须的，并且在其他实施方式中，传感器组件214可具有位于切割构件或机构下方的固定位置。安装构件241可固定附接到用来支承检测组件214的安装基座(例如图I的安装基座111)。检测组件框架238可以沿着安装构件241在竖直方向上滑动。在此方面，安装构件241可包括导轨242、243，并且检测组件框架238可包括导轨244、245。滑动构件246在安装构件241和检测组件框架238之间滑动联接到导轨242、244，使得检测组件框架238相对于安装构件241滑动。滑动构件246包括从滑动构件246的相对侧延伸以便将滑动构件246分别联接到第一导轨242和第二导轨244的第一引导构件248和第二引导构件249。类似地，滑动构件247在检测组件框架238的相对侧和安装构件241之间滑动地联接到导轨243、245。滑动构件247包括从滑动构件247的相对侧延伸以便将滑动构件247分别联接到第一导轨245和第二导轨243的第一引导构件250和第二引导构件251。在一些实施方式中，引导构件248、249之一可固定附接到相应的导轨，并且另ー个可滑动附接到相应的导轨。类似地，引导构件250、251之一可固定附接到相应的导轨，并且 另ー个可滑动附接到相应导轨。由于检测框架组件238的每侧上的至少ー个引导构件可与安装构件241滑动联接，检测组件框架238能够相对于安装构件241滑动。在操作过程中，检测组件框架238可沿着导轨242、243滑动，直到升高到可以通过样品保持器保持的样品接触的位置。在样品接触之后，检测组件框架238缩回到位于安装基座(见图I的安装基座111)的切割构件下方的位置。图3A和图3B表示分别位于缩回和升高位置的传感器组件314的实施方式。图3A表示传感器组件314位于检测板(此附图未示出)和检测框架(此附图未示出)缩回到安装基座311下方的缩回位置的实施方式。如图3A所示，安装构件303定位在安装基座311下方。在切片操作的过程中，传感器组件314可缩回到安装构件303内，使其不与切片干渉。样品308表示成附接到样品保持器307。样品保持器307附接到竖直驱动构件305。为了检测样品308的表面的角度取向，传感器组件314可以竖直升高，使得检测板330如图3B的实施方式所示与样品308对准。如图3B所示，检测组件314的轨道构件344沿着滑动构件346滑动，使得检测板330升高到安装构件303上方，使其定位在安装基座311的前部。虽然未示出，定位在检测组件314的相对侧上的轨道构件也可沿着相应的滑动构件滑动。样品308与检测板330对准，并在朝着检测板330的方向上水平前进。样品308的最前面表面的角度取向可接着通过使得样品308的最前面表面压靠检测板330来检測。检测的角度取向可用来帮助样品308的最前面表面的角度取向重新对准，使其与切割构件和/或切割平面平行、充分平行或至少更加平行。如果希望，可以在不同时刻或在重新对准过程中重复地进行多个这样的检测测量，或者替代地可以进行单个测量以及基于所述单个测量的单个调整。接着，传感器组件314可如图3A所示降低到安装基座311的下方，使得切片机准备切片操作。再次參考图1，并注意到在所示实施方式中，传感器组件114水平定位在支承构件115和切割构件112和/或切割平面124之间。传感器组件114可操作以如所示上下竖直运动。与将传感器组件114水平定位在支承构件115和切割构件112之间相关的ー个方面在于样品108需要在水平箭头125的方向上横穿较大的水平距离以到达切割构件112和/或切割平面124，部分因为要适应传感器组件114的宽度尺寸(例如图I所示的可以是3cm等级的尺寸“w”)的额外水平距离。横穿较大的水平距离会花费另外的时间，根据应用，这是不希望的。例如，通常水平方向上的运动比竖直方向的运动相对缓慢。这可以是希望在水平方向上提供较好的运动精度以提供准确的水平位置来实现切片厚度的准确控制的結果。设想了替代的实施方式，其中传感器组件114不水平布置在样品108和/或支承构件115和切割机构112之间。例如，在一些实施方式中，传感器组件114可以位于定位在切割构件或机构112和/或切割平面124的近似竖直下方的固定位置上。将传感器组件114定位在切割构件112的竖直下方的ー种可能的优点在于样品108不需要在箭头125的水平方向上横穿另外的距离(例如3cm的等级)以达到切割构件112和/或切割平面124。这有助于减小样品水平运动到切割构件112的时间量。在一些实施方式中，竖直驱动构件105的竖直运动会比水平驱动构件106的水平运动相对较快。竖直驱动构件105可在竖直箭头126的方向上向下运动另外的距离(例如64cm的等级)以到达传感器组件114。在一 些情况下，竖直驱动构件105在竖直方向上运行额外距离以到达切割机构112下方的传感器组件114所花费的时间比水平驱动构件106由于传感器组件114的宽度而在水平方向上运行额外距离所花费的时间少。这会有助于加速检测表面取向和调节表面取向的时间。如上所述，样品的最前面表面的初始位置可以通过使得样品压靠检测板来检测。基于检测板和检测框架围绕其相应轴线的转动程度，可以确定样品的表面的角度取向和位置。检测板和检测框架围绕其轴线的多个转动轴线在图4A、4B、4C和4D中的实施方式中说明。图4A表示具有第一轴线的检测板的传感器组件414的实施方式的剖视透视图。图4B表示沿着线B-B’的图4A的传感器组件414的实施方式的截面图。在此方面，传感器组件414包括检测板430和附接到检测组件框架438的检测框架431。第一轴向支承构件432对角线地经过检测板430定位，从而以转动角度α提供检测板430的第一转动轴线。第二轴向支承构件433 (图4D所示)对角线地经过检测框架431定位，从而提供检测框架431的第二转动轴线。第二转动轴线基本上垂直于第一转动轴线(例如80-100度)。在操作过程中，样品团块408 (例如包埋在石蜡团块或盒内的组织样品)的最前面或切割表面被压靠检测板430。在一些情况下，样品团块408的表面不平行于切割构件和/或切割平面。使得样品团块408的表面压靠检测板430造成检测板430沿着第一轴向支承构件432如图4Β所示转动，使得检测板430符合样品团块408的表面的角度取向。检测板430沿着第一轴向支承构件432的转动程度通过附接到检测组件框架438的检测板传感器430检测。此信息接着部分用来确定样品团块408的表面的角度取向。除了转动检测板430之外，样品团块408的倾斜表面可造成检测框架431沿着第ニ轴向支承构件432如图4C和4D所示转动。图4C表示传感器组件414的实施方式的剖视透视图，传感器组件414具有检测框架431，其具有围绕第二轴向支承构件433的第二转动轴线。检测框架431可围绕第二转动轴线以角度β转动。图4D表示图4C的传感器组件414的实施方式沿着线D-D’的截面图。如上所述，第二轴向支承构件433对角线地经过检测框架431定位，并大致垂直于第一轴向支承构件432 (例如80-100度)。因此，在样品团块408的表面相对于第二轴向支承构件433成角度时，检测框架431将围绕第二轴向支承构件433如图4D的实施方式所示转动。转动程度可以通过附接到检测组件框架438的检测框架传感器436检测。此信息可与有关检测板430的转动程度相关的信息组合，以确定样品团块408的最前面或切割表面的角度取向。使得检测框架431在水平方向(例如图I的水平双箭头125的方向)上运动的第一偏压构件439和第二偏压构件440在图4C中进一步描述。第一偏压构件439和第二偏压构件440沿着第二轴向支承构件433的相对端定位，以在水平方向上朝着样品团块408偏压第二轴向支承构件433。在一些实施方式中，第一偏压构件439和第二偏压构件440可以是弹簧、气缸等。将样品团块408压靠检测板430迫使第二轴向支承构件433压靠第一偏压构件439和第二偏压构件440，使得检测板430和检测框架431离开样品团块408在水平方向(例如图I的水平双箭头125的方向)上缩回。在一些实施方式中，在此方向上的运动程度可任选地使用任选的传感器来检测，这些传感器例如是定位在第二轴向支承构件433的姆个端部处的光学传感器、机械传感器、磁场传感器等。光学传感器可检测第二轴向支承构件433离开样品团块408在水平方向上的运动程度。此水平移动信息可在有关检测板430和检测框架431的转动量的信息之外使用，以确定样品团块408的最前面表面的角度取向以及样品团块408的最前面表面的水平位置。有利地，知道样品团块408的最前面表面的水平位置可有助于得到具有所需厚度的切片。 为了进ー步说明某些理念，考虑到具体的非限制实施方式，由此可以确定样品团块408的最前面表面的角度取向和样品团块408的最前面表面的水平位置。在此示例性实施方式中，检测板430和检测框架431可沿着其相应轴线分别检测样品团块408的表面(相对于切割平面)的多达约5度(例如)的角度。特别是，检测板430可围绕第一轴向支承构件432从平行于切割平面的初始位置转动多达约5度(5° )。类似地，检测框架431可围绕第二轴向支承构件433从平行于切割平面的初始位置转动多达约5度(5° )。将样品团块408的表面压靠检测板430可造成检测板430和/或检测框架431转动与样品团块408的表面偏离切割平面的程度等同的程度。在此特殊实施方式中，检测板430和检测框架431可以检测多达约7度(7° )的组合角度，以确定样品团块408的表面偏离切割平面的总体角度取向。一旦确定了角度取向，切片机可自动确定调节，并且通过确定的调节自动调节样品团块408的表面的角度取向，使其相对于切割构件和/或切割平面平行、基本上平行或更加平行。例如，如果确定样品团块408的表面以约4度(4° )的整体角度偏离切割平面，那么样品团块408的表面可在相反方向上转动约4度(4° )，使得样品团块408的表面基本上平行于切割平面。如果希望，可以在角度以小调节量逐渐减小的同时进行多个检测测量。理解到其他的实施方式可利用比此示例性实施方式描述的特殊转动程度更大或更小的转动程度。另外，样品团块408的最前面表面的水平位置可以使用传感器检测检测样品团块408压靠检测板430时框架431的水平运动来检测。知道样品团块408的最前面表面的水平位置可使得切片机制成具有希望厚度的初始切片。图2、图3A-3B和图4A、4B、4C和4D所示的传感器组件214、314和414分别表示了适当表面取向传感器的示例性实施方式。但是，也可设想其他的表面取向传感器。ー些这样的替代表面取向传感器是类似于所述传感器组件214、314和414的基于接触的传感器或传感器组件。但是，它们可利用不同的基于接触的检测机构来检测样品表面的取向。例如，在ー种替代实施方式中，不是使用检测框架，检测板可安装在使得检测板在两维上转动以符合样品的切割表面的取向的单个枢轴(例如球接头)上。考虑到的其他表面取向传感器是基于非接触的传感器，这些传感器不需要接触样品的表面来确定样品表面的取向。例如，在一种实施方式中，光学检测系统可例如通过将ー个或多个激光束引导或扫描到该表面上来光学检测样品表面的取向。其他的方法可基于声学、干涉测量等。能够使得样品表面的取向重新对准从而使其与切割构件和/或切割平面平行或更加平行的样品保持器在本领域是已知的。在一些实施方式中，供应驱动系统可具有能够在两维上调节样品的切割表面相对于切割构件和/或切割平面的取向的多轴エ件夹头或机动夹头。适当多轴エ件夹头的例子在Xuan S. Bui等人于2004年I月22日提交并转让给本申请的受让人的题为“MULTI-AXIS WORKPIECE CHUCK”的美国专利7168694中描述。在一种实施方式中，多轴夹头可具有相对于夹头将例如样品的エ件保持在基本上固定取向的安装组件。夹头可以是马达驱动的，并且可以围绕可以垂直的至少两个轴线转动。夹头可以通过操作者使用与一个或多个马达通信的控制器手动转动，或者切片机可自动转动夹头。一个或多个传感器可用来检测夹头的位置。根据ー种实施方式，每个轴线可具有检测夹头的中间标定位置和端部位置的三个传感器。使用者或切片机可通过向马达发送信号控制夹头的运动，以便将夹头转动到希望位置。传感器可用来确定是否达到希望位置。在一 种实施方式中，夹头可包括围绕至少两个正交轴线转动的第一和第二部分。第一部分可围绕第一轴线并独立于第二部分转动。第二部分围绕第二轴线的转动可造成第一部分也围绕第二轴线转动。这可使得夹头能够在多维上转动。在一些实施方式中，锁定机构也可任选地设置。在转动多轴夹头之后，锁定机构可被接合以将多轴夹头锁定在希望位置。此锁定机构可例如是永磁体螺线圈、齿轮接合的马达或转动手柄，造成第一、第二和第三部分通过摩擦或其他公知方式锁定。在一种实施方式中，马达可用来在夹头不调节时紧固夹头。在切片机确定通过调节夹头来调节样品的位置时，或者在使用者决定通过调节夹头来手动调节组织样品的位置时，马达可接收信号来松开夹头，使得夹头得到调节。在其他时候，在夹头的位置不调节时，马达可得到信号来将夹头保持在紧固或锁定构型，使得夹头的位置和/或通过夹头保持的样品的位置不意外改变。在一些实施方式中，切片循环可包括(I)在向前水平方向上使得样品团块408朝着切割平面运动与希望切片厚度相关的预定距离；(2)使得样品团块408在竖直方向上(例如向下)朝着切割构件运动，以得到切片；(3)使得样品团块408在向后或相反水平方向上离开切割平面和/或切割构件运动预定距离；以及(4)使得样品团块408在相反的竖直方向上(例如向上)离开切割构件运动。在向后水平方向上使得样品团块408离开切割构件缩回或运动有助于在(4)使得样品团块408在相反竖直方向(例如向上)上离开切割构件运动的过程中避免样品团块408接触切割构件。代表性地，样品团块408缩回的距离可以对应于切片样品的厚度。替代地，考虑到在一些实施方式中，缩回步骤可以省略。切片循环可以被重复，直到得到所需数量的切片。在一些实施方式中，对于切片循环的不同部分，切片机能够使用供应驱动系统和/或样品(例如图4A内的样品团块410或图I的样品108)的不同运动速度。例如，在ー些实施方式中，在切片循环的ー个或多个非切片部分的过程(例如不进行样品的切割或切片的情况下)中可以使用供应驱动系统和/或样品的相对较快的运动速度，而在切片循环的切片部分的过程(例如进行样品的切割或切片的情况下)中可以使用供应驱动系统和/或样品的相对较慢的运动速度。在样品的切割或切片过程中使用供应驱动系统和/或样品的相对较慢的运动速度能够提供更高质量的切片和/或更加一致性的切片，而更快地进行切片循环的一个或多个其他非切片部分可有助于改善切片循环的整体速度，和/或使得更多切片在给定时间段内制成。因此，供应驱动系统和/或样品的运动速度可在切片循环中变化。例如，使用者可对切片循环进行控制或编程，使得为了得到切片而使样品团块410或样品108在竖直方向(例如向下)上朝着切割构件的运动(例如上面的段落中的操作(2))比切片循环的一个或多个其他部分(例如上面段落中的操作(I)、(3)、(4)或其组合)更加缓慢地进行。在一些实施方式中，切片机可包括使得切片循环的可构造或可编程切片部分得以实现的逻辑线路，在这些切片部分上，可以使用供应驱动系统和/或样品的相对较慢的运动速度。例如，在一些实施方式中，切片机可包括使得可构造或可编程的切片长度得以构成或编程的逻辑线路。通过例子，该长度可选自对应于具有不同尺寸的不同类型盒的多个预 定长度。不同类型的盒具有不同的切片长度，在该切片长度上进行切片。作为ー个例子，可以从 Sakura Finetek USA, Inc. , of Torrance, California 购买的 7019 Paraf ΟΓΙ brand Biopsy 13mm x 13mm 盒和 7020 Paraf 0ΓΠ1 brand Biopsy 26mm x 19mm 盒具有不同的切片长度。在一种示例性实施方式中，切片机可以操作，使得操作者明确或指示切片长度。切片长度的明确或指示可以不同方式实现，例如明确指定长度、通过从多个预定长度选择长度、明确盒的类型、从多种不同类型的盒选择ー种盒等。例如，在使用者准备从特定类型的盒制造切片吋，使用者可使用控制装置(例如图I的控制装置116)进行特定类型的盒的选择，并且切片机可已经预先编程有对应于该特定类型的盒的预定切片长度。在切片过程中，切片机可在明确的切片长度上使用供应驱动系统和/或样品的相对较慢的运动速度，并且可在切片循环的ー个或多个部分或基本上所有其他部分上使用相对较快的运动速度。例如，在明确的切片长度上切割样品之前或刚好之前以及之后或刚好之后，可以使用相对较快的速度。在一些实施方式中，切片机可包括开始自动移除样品(例如图I的样品108或图4A的样品团块408)的给定或预定部分的逻辑线路。例如，该部分可包括石蜡、包埋材料、盒材料或覆盖或隐藏希望从中得到切片的实际组织材料(例如布置在组织材料的切割表面和样品的接触检测板的最前面外表面之间)的其他非组织材料的给定或预定厚度。通过例子，样品可包括放置在盒底部上的一片组织、盒以及包埋包埋材料团块的组织样品。在 Sakura Finetek USA, Inc.，of Torrance, California 制造的多种盒的情况下,盒可包括Paraf orm 品牌的盒材料，其具有类似于石蜡的切片特性，并且切片可经过盒底部的Paraf orm 品牌的盒材料进行。在一些实施方式中，切片机可包括开始自动移除样品的给定或预定部分的逻辑线路，例如石蜡部分、包埋材料、盒材料或覆盖或隐藏希望从中切片的实际组织材料的其他非组织材料。例如，切片机可自动移除盒的底部，以暴露样品的实际组织材料，或者可以接近样品的实际组织材料。代表性地，在ー些盒的情况下，根据构成盒底部的材料厚度以及切片厚度，切片机可自动形成多个切片(例如从约2-约20个，通常从约5-约15个)，以移除盒底部的预定厚度。盒底部的厚度可以通过切片机得知或预先确定。例如，使用者可直接明确该厚度，或者从分别具有预先编程或通过其他方式已知的盒底部厚度的多种不同类型中选择ー种盒。在一些情况下，操作者可控制切片机来进行自动过程，例如通过控制装置上的使用者输入装置(例如微调按钮)或者通过其他方式选择微调操作。有利地，使得切片机自动移除样品的一部分(例如盒的底部)可使操作者不用进行此操作，和/或加速了样品的该部分(例如盒的底部)的移除。接着，一旦样品的实际组织暴露，可以开始获得组织切片或薄片的切片循环(例如操作者可按压切片按钮或通过其他方式造成切片机从组织样品的现在暴露的切割表面得到切片)。
如上所述，切片操作可自动进行，或者经由使用者与系统互动来手动进行。图5表示了控制包括手轮和控制装置的切片机的操作的控制系统的实施方式。控制系统560包括手轮504和控制装置516。手轮504可包括锁定手轮504的手柄或其他脉冲产生装置517。在一些实施方式中，手轮504使用非机械联接件或非机械机构(例如电联接件)联接到马达510。通常，切片机包括机械联接到马达的手轮。但是这种机械联接在使用者试图使手轮转动时为手轮増加阻力。这种手轮的重复转动对于使用者来说是费力的，并且有时会造成例如腕管综合征的病症。这里公开的非机械联接或机构可提供减小手轮阻カ的优点，使得手轮更加各易转动。在一些实施方式中，非机械联接或机构包括第一编码器561。第一编码器561可以是联接到手轮504的轴562的转动编码器。手轮504以及轴562的转动为第一编码器561提供手轮504的角度位置。第一编码器561接着将该角度位置转换成电学表示(例如模拟或数字码或数值)。这种模拟或数字码经由控制线路519传输到控制电路518，在控制电路中处理并用来指导马达510以及供应驱动器502的运动。在一些实施方式中，具有联接其上的供应驱动器502的马达510可通过第二编码器564连接到控制电路518。在此方面，马达506的轴563可以连接到第二编码器564，使得第二编码器564可在切割操作过程中检测马达510的位置。编码器564接着将此位置信息转换成电学表示(例如模拟或数字码或数值)，并且经由控制线路520将电学表示传输到控制电路518。在一些实施方式中，控制电路518可至少部分基于手轮的角度位置的电学表示来控制马达。例如，由于手轮504和马达510的位置都是已知的，控制电路518可以确保手轮504的位置在切割操作过程中与马达510的位置对应并对准。例如，手轮504的转动不能造成马达510运动，直到来自于相应第一和第二编码器的信号比较指示手轮504的位置与马达510的驱动轴的位置对准。这会増加切片机的操作安全性，特别是在从自动模式切片转换到手动模式切片吋。控制装置516可进ー步操作以启动自动切割操作。控制装置516可以是适用于启动切割操作的任何类型的输入装置。代表性地，控制装置516可包括例如键盘、键区、电容传感器触摸垫和其他用户数据输入装置。在一些实施方式中，信号在控制装置516和控制电路518之间经由控制线路523传输。在其他实施方式中，控制装置516可以是可操作以便将无线控制信号传输到控制电路518并任选地从控制电路518接收无线信号的无线控制装置。控制线路523可以被省略。无线控制装置516可具有无线发送器、无线接收器和/或无线发送接收器、无线协议堆栈和无线装置中找到的其他传统部件。在ー个方面，无线控制装置516可以是能够使用蓝牙的装置，虽然这不是必须的。控制装置516可包括可用来控制切片机的动作的键或模拟键。代表性地，键可以提供对应于切片机的多种操作的图形符号或文字，例如对应于切片机的竖直或水平运动的箭头和/或对应于例如切薄片、停止、启动、微调盒底部、切片、锁定或其他切片机操作的其他文字、符号、图像等。使用者使用控制装置516来选择待进行的操作，并推按适当键来启动希望的操作。控制信号从控制装置516传输到控制电路518。控制电路518接着将信号例如提供到马达510，以启动切割操作。切割操作可接着自动或基本上自动继续，而没有使用者的干渉，直到使用者按压停止键或编程的切割操作完成。图6表不切片机的供应驱动系统的实施方式的透视图。在一种实施方式中,供应驱动系统602可用作參考图I描述的供应驱动系统102。替代地，供应驱动系统102可使用与供应驱动系统602完全不同的供应驱动系统。供应驱动系统602包括竖直驱动构件605、水平驱动构件606和样品保持器607。用于保持切割构件的安装构件603可进ー步定位在样品保持器607的前部。在一种实施方式中，安装构件603可以基本上类似于參考图I描述的安装构件103。在操作过程中，供应驱动系统602的竖直运动通过沿着轨道竖直运动竖直驱动构件605的滑动件(未示出)来实现。滑动件的运动通过附接到转动板(未示出)的转动销(未示出)来造成，转动板通过驱动带671和马达(未示出)转动。为了降低马达上的载荷，供应驱动系统602的重量可以被平衡。例如，在一种实施方式中，该重量可以使用弹簧组件672而不是配重来平衡。配重是沉重的，并会增加切片机的重量和成本。替代地，如果希望可以使用配重。弹簧组件672可包括滑轮673-1、673-2、673-3。滑轮673-1可以附接到销670。缆线674可在一端处附接到滑轮673-1，围绕滑轮673-2和673-3延伸，并在相对端处附接到弹簧675。在此方面，随着供应驱动系统602竖直运动，弹簧675在缆线674上施加平衡力，继而在销670上拉动，并抵消供应驱动系统602的重量。弹簧组件672可通过消除配重来帮助减小系统的重量，并可帮助减小马达上的惯性载荷。虽然弹簧组件672在一个实施方式中描述，进ー步设想到在其他实施方式中，附接到销670上的半圆形重物可用来平衡供应驱动系统602。虽然半圆形重物在平衡供应驱动系统602中也是有效的，但它会增加马达的惯性载荷。在一些实施方式中，切片机可任选地包括可操作以便在竖直位置上锁定供应驱动系统(例如图I的供应驱动系统104和图6的供应驱动系统602)的锁。作为ー个例子，锁可包括弹簧偏压的盘式制动器。弹簧偏压的盘式制动器可包括盘式制动器、销或其他锁定构件以及一个或多个弹簧或其他机械偏压元件，以在没有施加有意解锁信号时，将销或其他锁定构件偏压到与盘式制动器锁定接合。本领域已知的其他类型的锁也是适当的，例如销或被偏压到孔内的其他锁定构件。在锁没有被有意停用吋，锁可将供应驱动系统保持在固定、锁定竖直位置。在适当时刻，在希望供应驱动系统运动时，解锁信号(例如电信号)可被有意地施加到锁，以便打开锁(例如压缩弹簧，这可解锁盘式制动器)。有利地，这种锁可帮助防止或至少减小操作者在停电或其他情况下由于运动或下落的供应驱动系统而受伤的可能性。在供应驱动系统下落或意外运动的情况下，没有这种锁，操作者会被刀片或其他切割构件伤害。还应该理解到整个说明书中例如对于“一种实施方式”、“一实施方式”或“一种或多种实施方式”的表述指的是在本发明的实践中可以包含特殊的特征。类似地，应该理解到 在说明书中有时多种特征在单个实施方式、附图或其描述中被组合在一起，以简化公开并帮助多种创造性方面的理解。但是这种公开的方法不解释为反映本发明需要比每个权利要求中明确提出的特征更多的特征的意图。相反，如权利要求反映的，创造性的方面会存在于单个公开的实施方式的并不是所有的特征。因此，具体实施方式
之后的权利要求因此明确地结合到具体实施方式
中，每个权利要求本身作为单独的实施方式。在以上说明书中，參考具体实施方式
描述了本发明。但是明显的是可以对其进行多种变型和改变而不偏离权利要求给出的本发明的更宽精神和范围。说明书和附图因此被认为是说明性的，而不是限制性的。在以上描述中，为了说明的目的，已经给出的许多具体的细节，以提供本发明的实施方式的完整理解。但是本领域普通技术人员将明白的是ー个或多个其他实施方式可以在没有这些具体细节的一些细节的情况下实施。所描述的特定实施方式不用来限制本发明，而是为了说明本发明。本发明的范围不通过上面给出的具体例子确定，而是只通过权利要求限定。在其他情况下，已知的电路、结构、装置和操作以框图的形式表示，或者没有详细表示，以避免混淆对说明书的理解。本领域普通技术人员还将理解到可以对这里公开的实施方式进行改型，例如对于 实施方式的部件的尺寸、形状、构型、联接、形式、功能、材料和操作方式以及组装和使用进行改型。附图表示和说明书描述的所有等同关系包含在本发明的实施方式内。另外，在认为适当的情况下，附图中的附图标记或附图标记的末尾部分被重复，以指示可任选地具有类似特征的相应或类似的元件。已经描述了多种操作和方法。ー些方法描述了基本的形式，但是可以在该方法中任选地添加和/或移除多个操作。另外，虽然描述了根据示例性实施方式的操作的特定顺序，理解到该特定顺序只是示例性的。替代的实施方式可任选地以不同的顺序执行操作、组合某些操作、重叠某些操作等。设想到可以对该方法进行许多改型和调整。一种或多种实施方式包括制造产品(例如计算机程序产品)，其包括可机器访问和/或可机器读取的介质。该介质可包括提供(例如存储)机器可访问和/或读取的形式的信息的机构。可机器访问和/或可机器读取介质可提供或在其上存储指令序列和/或数据结构，指令序列和/或数据结构如果通过机器执行，便造成或引起机器实施和/或造成机器执行这里公开的ー个或多个操作或方法或操作或方法的一部分。在一种实施方式中，可机器读取介质可包括有形的非易失性可机器读取的存储介质。例如，有形的非易失性可机器读取的存储介质可包括软盘、光学存储介质、光盘、CD-ROM、磁盘、磁光盘、只读存储器(ROM)、可编程ROM (PROM)、可擦和可编程ROM (EPROM)、电可擦可编程ROM (EEPROM)、随机访问存储器(RAM)、静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、闪存、相变存储器或其组合。有形的介质可包括一个或多个实体或有形的物理材料，例如半导体材料、相变材料、磁性材料等。还应该理解到整个说明书中例如对于“一种实施方式”、“一实施方式”或“一种或多种实施方式”的表述指的是在在本发明的实践中可以包含特殊的特征。类似地，应该理解到在说明书中有时多种特征在单个实施方式、附图或其描述中被组合在一起，以简化公开并帮助多种创造性方面的理解。但是这种公开的方法不解释为反映本发明需要比每个权利要求中明确提出的特征更多的特征的意图。相反，如权利要求反映的，创造性的方面会存在于单个公开的实施方式的并不是所有的特征。因此，具体实施方式
之后的权利要求因此明确地结合到具体实施方式
中，每个权利要求本身作为单独的实施方式。
权利要求
1.一种样品切片装置，包括 切割机构，所述切割机构能够操作，以便从样品切割切片； 样品保持器，所述样品保持器能够操作，以便保持所述样品； 驱动系统，所述驱动系统与所述样品保持器联接，所述驱动系统能够操作以便在通过所述样品保持器保持的样品和所述切割机构之间驱动运动；以及 表面取向传感器，所述表面取向传感器能够操作以便检测通过所述样品保持器保持的样品的表面的取向。
2.根据权利要求I所述的样品切片装置，其中，所述表面取向传感器能够在两维上转动。
3.根据权利要求2所述的样品切片装置，其中，所述表面取向传感器包括能够围绕第ー轴线转动的第一构件和能够围绕第二轴线转动的第二构件，并且其中所述第一轴线大致垂直于所述第二轴线。
4.根据权利要求3所述的样品切片装置，其中，所述第一构件包括板，并且所述第二构件包括与所述板联接的框架。
5.根据权利要求3所述的样品切片装置，还包括 第一检测机构，所述第一检测机构能够检测所述第一构件围绕所述第一轴线的转动；以及 第二检测机构，所述第二检测机构能够检测所述第二构件围绕所述第二轴线的转动。
6.根据权利要求3所述的样品切片装置，其中所述第一构件和所述第二构件能够与所述表面取向传感器可动地联接，并且能够在所述样品在所述第一构件和所述第二构件中的一个或多个上施加力时在离开所述样品的方向上运动。
7.根据权利要求6所述的样品切片装置，还包括能够检测所述第一构件和第二构件在离开所述样品的方向上的运动量的检测机构。
8.根据权利要求I所述的样品切片装置，还包括 机动夹头，所述机动夹头与所述样品保持器联接，所述机动夹头能够调节所述样品的表面的取向；以及 逻辑线路，所述逻辑线路造成所述样品切片装置根据所检测的取向自动调节所述样品的表面的取向。
9.根据权利要求8所述的样品切片装置，其中，所述逻辑线路包括造成所述样品切片装置多次自动调节所述样品的表面相对于与所述切割机构相联的切割平面的取向，同时通过所述表面取向传感器检测所述样品的表面的被调节取向，以使得所述样品的表面取向更加平行于所述切割平面的逻辑线路。
10.根据权利要求8所述的样品切片装置，还包括所述机动夹头的马达，所述马达能够操作以锁定所述机动夹头的位置，从而将所述样品保持器保持的样品的表面的取向保持在固定取向。
11.根据权利要求I所述的样品切片装置，其中，所述表面取向传感器在一位置处与所述样品切片装置固定联接，并且其中所述位置与所述切割机构基本上竖直对准。
12.根据权利要求I所述的样品切片装置，其中，所述表面取向传感器能够与所述样品切片装置可动联接，所述表面取向传感器能够操作以便在第一位置和进ー步远离通过所述样品保持器保持的样品和所述切割机构之间的运动的第二缩回位置之间运动，在所述第一位置，所述表面取向传感器被定位以检测通过所述样品保持器保持的所述样品的表面的取向。
13.根据权利要求I所述的样品切片装置，还包括 手轮； 第一编码器，所述第一编码器通过第一轴与所述手轮联接，所述第一编码器能够操作，以便产生所述手轮的角度位置的电学表示； 所述驱动系统的马达； 第二编码器，所述第二编码器通过第二轴与所述驱动系统的马达联接，所述第二编码器能够操作以便产生所述驱动系统的马达的角度位置的电学表示；以及 控制电路，所述控制电路与所述第一编码器和所述第二编码器电联接，并且能够操作以便接收所述手轮和所述马达的角度位置的电学表示，所述控制电路能够操作以便至少部分根据所述手轮的角度位置的电学表示控制所述马达。
14.根据权利要求13所述的样品切片装置，其中，所述控制电路能够操作以便控制马达不运动，直到所述手轮和所述马达的角度位置的电学表示的比较指示所述手轮的位置与所述马达的位置对准。
15.根据权利要求I所述的样品切片装置，还包括使得可构造的切片长度得以明确的逻辑线路，其中所述样品切片装置在所述明确的切片长度的过程中以相对较慢的运动速度运动所述样品，并且刚好在所述明确的切片长度过程的运动之前和之后的至少ー个过程中以相对较快的运动速度运动所述样品。
16.根据权利要求15所述的样品切片装置，其中所述逻辑线路包括使得操作者从多个预定切片长度选择所述切片长度的逻辑线路，每个预定切片长度对应于用来保持所述样品的不同类型的盒。
17.根据权利要求15所述的样品切片装置，其中，所述逻辑线路包括使得操作者通过选择多种不同类型的盒中的一个来明确所述切片长度的逻辑线路。
18.根据权利要求I所述的样品切片装置，还包括造成所述样品切片装置自动移除所述样品的给定厚度以露出所述样品内的组织的逻辑线路，所述给定厚度与保持所述组织的盒的底部厚度相关。
19.根据权利要求18所述的样品切片装置，还包括控制装置，所述控制装置能够操作以便将控制信号发送到所述样品切片装置，其中所述控制装置具有使得使用者调用所述逻辑线路以造成所述样品切片装置自动移除所述样品的给定厚度的使用者输入装置。
20.根据权利要求I所述的样品切片装置，还包括能够操作以便将无线控制信号发送到所述样品切片装置的无线控制装置。
21.ー种方法，所述方法包括 相对于表面取向传感器定位通过样品切片装置保持的样品； 通过所述表面取向传感器检测通过所述样品切片装置保持的样品的表面的取向； 调节通过所述样品切片装置保持的所述样品的表面取向，使得所述样品的表面更加平行干与所述样品切片装置的切割机构相关的切割平面；以及 在调节所述样品的表面取向之后，通过所述样品切片装置产生所述样品的切片。
22.根据权利要求21所述的方法，其中，通过所述样品取向传感器检测所述样品的表面取向包括在两维上转动所述表面取向传感器。
23.根据权利要求22所述的方法，其中，在所述两维上转动所述表面取向传感器包括围绕第一轴线转动第一构件，并围绕第二轴线转动第二构件，所述第一轴线大致垂直于所述第二轴线。
24.根据权利要求22所述的方法，还包括 在所述样品在所述表面取向传感器的一部分上施加力吋，将所述表面取向传感器的所述部分运动离开所述样品；以及 检测所述表面取向传感器的所述部分运动离开所述样品的量。
25.根据权利要求21所述的方法，其中，调节包括所述样品切片装置自动调节所述样品的表面取向。
26.根据权利要求21所述的方法，还包括明确可构造的切片长度，并且其中产生所述样品的切片包括在所述明确的切片长度上从所述样品切割所述切片时以相对较慢的运动速度运动所述样品，并且刚好在所述明确的切片长度上运动之前或之后中的至少ー种情况下以相对较块的运动速度运动所述样品。
27.根据权利要求21所述的方法，还包括所述样品切片装置自动产生多个切片，以移除保持组织的盒的底部，以暴露所述组织。
全文摘要
样品切片装置包括切割机构、样品保持器、驱动系统和表面取向传感器。样品保持器能够操作以保持样品。切割机构能够操作以从样品切割切片。驱动系统与样品保持器联接。驱动系统能够操作以便在通过样品保持器保持的样品和切割机构之间驱动运动。表面取向传感器能够操作以检测通过样品保持器保持的样品的表面的取向。
文档编号G01N1/06GK102692338SQ20121007197
公开日2012年9月26日 申请日期2012年3月15日 优先权日2011年3月24日
发明者H-J·M·杨, X·S·贝 申请人:美国樱花检验仪器株式会社