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专利名称：一种单晶硅棒截断专用丈量装置的制作方法
技术领域：
—种单晶硅棒截断专用丈量装置技术领域 本实用新型涉及一种太阳能光伏行业单晶硅棒截断生产过程中所使用的辅助装置，特别涉及一种单晶硅棒截断专用丈量装置。
背景技术：
目前，随着太阳能光伏行业的迅猛发展，导致作为主要原料的单晶硅棒的需求量大幅度增加，但是由于受到现有生产方法的限制，单晶硅棒的产量并不高。具体而言，在进行单晶硅棒截断生产之前，需要对每根单晶硅棒的整体长度进行丈量，然后将其划分成固定等量的长度，但是，在划分时，很容易出现偏位或丈量标尺错位的现象，导致等量划分的难度很大，不仅费时费力，降低了加工效率，而且划分的准确度较低，会影响单晶硅棒的加工品质。

实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种结构简单、易于制作、可提高加工效率及品质、操作简便的单晶硅棒截断专用丈量装置。本实用新型的目的通过以下的技术措施来实现一种单晶硅棒截断专用丈量装置，其特征在于包括测量件，所述测量件是呈弧形的板体，所述测量件的弯曲弧度与所述单晶硅棒外表面的弯曲弧度相适应，所述测量件沿单晶硅棒的纵向延伸以使测量件可贴合在所述单晶硅棒的外表面上，所述测量件上具有对应于所需截断后单晶硅棒长度的标示结构，以便按照该标示结构将单晶硅棒的整体长度划分为所需截断后单晶硅棒的长度。本实用新型的测量件是与单晶硅棒外表面的弯曲弧度相适应的弧形板体，它可贴合在所述单晶硅棒的外表面上而将单晶硅棒的整体长度划分为所需截断后单晶硅棒的长度，不仅结构简单、操作简便且易于制作，而且可避免现有丈量方式所出现的偏位或丈量标尺错位的现象，大大提闻加工效率及加工品质。为了便于取放本实用新型，操作更为简便，作为本实用新型的一种改进，在所述测量件上增设有至少一个便于取放的手柄，所述测量件与单晶硅棒相贴合的板面为内面，测量件的另一板面为外面，所述手柄位于所述测量件的外面上。作为本实用新型的一种实施方式，所述测量件的长度等于所需截断后单晶硅棒的长度，所述标示结构即为所述测量件的两端边缘，以便按照所述测量件的两端边缘所在单晶硅棒上的位置将单晶硅棒的长度划分成所需截断后单晶硅棒的长度。作为本实用新型的另一种实施方式，所述测量件的长度大于所需截断后单晶硅棒的长度，且所述测量件上标示有等于所需截断后单晶硅棒长度的刻度，所述标示结构即为所述刻度，所述刻度位于测量件的外面两侧边沿上且沿所述测量件的长度方向延伸，以便按照该刻度对应单晶硅棒上的位置将单晶硅棒的长度划分为所需截断后单晶硅棒的长度。本实用新型还具有以下实施方式，所述手柄与测量件为一体制成。与现有技术相比，本实用新型具有如下显著的效果[0012](I)本实用新型在测量时，测量件可贴合在单晶硅棒的表面上，避免现有丈量方式所产生的偏位或者丈量标尺错位的现象，大大降低了等量划分的难度，节约了时间，减少了人力，提高了加工的效率。(2)由于本实用新型不会出现偏位或错位的现象，使得测量时划分的准确度较高，提闻了单晶娃棒的加工品质。(3)本实用新型的结构十分简单、易于制作且操作简便。(4)本实用新型的实用性强，可广泛适用于对圆柱形产品进行等量截断加工的场合，尤其适用于对单晶硅棒进行截断的加工工序。


·[0016]
以下结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步的详细说明。图I是本实用新型的俯视示意图；图2是图I的X向视图；图3是图I的Y向视图；图4是本实用新型丈量单晶硅棒的结构示意图；图5是图4的Z向视图。
具体实施方式
实施例I如图I 5所示，是本实用新型一种单晶硅棒截断专用丈量装置，包括测量件I和设置在测量件I上的一个便于取放的手柄2，手柄2与测量件I为一体制成。测量件I是呈弧形的板体，测量件I的弯曲弧度与单晶硅棒3外表面的弯曲弧度相适应，测量件I沿单晶硅棒3的纵向延伸以使测量件I可贴合在单晶硅棒3的外表面上，测量件I上具有对应于所需截断后单晶硅棒长度的标示结构，以便按照该标示结构将单晶硅棒3的整体长度划分为所需截断后单晶硅棒的长度。测量件I与单晶硅棒3相贴合的板面为内面11，测量件I的另一板面为外面12,手柄2位于测量件I的外面12上。在本实施例中，测量件I的长度等于所需截断后单晶硅棒的长度，标示结构即为测量件I的两端边缘，以便按照测量件I的两端边缘所在单晶硅棒3上的位置将单晶硅棒3的长度划分成所需截断后单晶硅棒的长度。参见图4及图5，本实用新型的工作过程如下当需要进行单晶硅棒截断之前的丈量工序时，将本实用新型的内面贴附于单晶硅棒的外表面上，其中，本实用新型测量件的一端边缘与单晶硅棒的一边对齐，根据测量件的另一端边缘所在位置在单晶硅棒上划一条标示线，然后将本实用新型沿单晶硅棒移动直至测量件的一端边缘再次与所划的标示线对齐，并根据测量件的另一端边缘所在位置再划一条标示线，按照上述方式依次操作，直到将整根单晶硅棒划分成不能再划分为所需截断后单晶硅棒的长度为止，至此，丈量工序完成可进入截断工序。在本实施例中，由于测量件是与所测单晶硅棒的直径相同的弧形板体，且把测量件长度设定为符合要求的尺寸，不仅结构简单、操作方便，而且提高了丈量划分工序的效率；可避免现有丈量方式所出现的偏位或丈量标尺错位的现象，大大提高加工效率及加工品质。实施例2本实施例与实施例I的区别之处在于测量件的长度大于所需截断后单晶硅棒的长度，且测量件上标示有等于所需截断后单晶硅棒长度的刻度，标示结构即为该刻度，刻度位于测量件的外面两侧边沿上且沿测量件的长度方向延伸，以便按照该刻度对应于单晶硅棒上的位置将单晶硅棒的长度划分为所需截断后单晶硅棒的长度。本实用新型工作时，是将本实用新型的内面贴附于单晶硅棒的外表面上，其中，本实用新型测量件的一端边缘与单晶硅棒的一边对齐，当刻度具有数个的情况下，根据测量件上所标示的刻度对应于单晶娃棒上的位置分别划数条标示线，若所划标示线无法将整个单晶硅棒划分完毕，需要将沿单晶硅棒移动直至测量件的一端边缘再次与所划的最末条标 示线对齐，并根据测量件上所标示的刻度对应于单晶硅棒上的位置划标示线，按照上述方式依次操作，直到将整根单晶硅棒划分成不能再划分为所需截断后单晶硅棒的长度为止，至此，丈量工序完成可进入截断工序。本实用新型的实施方式不限于此，根据本实用新型的上述内容，按照本领域的普通技术知识和惯用手段，在不脱离本实用新型上述基本技术思想前提下，本实用新型的手柄与测量件也可以不是一体制成的，手柄的具体结构有多种实施方式，手柄的数量也可依据具体使用情况而定，因此本实用新型还可以做出其它多种形式的修改、替换或变更，均落在本实用新型权利保护范围之内。
权利要求1.ー种单晶硅棒截断专用丈量装置，其特征在于包括測量件，所述测量件是呈弧形的板体，所述测量件的弯曲弧度与所述单晶硅棒外表面的弯曲弧度相适应，所述测量件沿单晶硅棒的纵向延伸以使测量件可贴合在所述单晶硅棒的外表面上，所述测量件上具有对应于所需截断后单晶硅棒长度的标示结构，以便按照该标示结构将单晶硅棒的整体长度划分为所需截断后单晶硅棒的长度。
2.根据权利要求I所述的单晶硅棒截断专用丈量装置，其特征在于在所述测量件上增设有至少ー个便于取放的手柄，所述测量件与单晶硅棒相贴合的板面为内面，測量件的另ー板面为外面，所述手柄位于所述測量件的外面上。
3.根据权利要求2所述的单晶硅棒截断专用丈量装置，其特征在于所述测量件的长度等于所需截断后单晶硅棒的长度，所述标示结构即为所述測量件的两端边缘，以便按照所述测量件的两端边缘所在单晶硅棒上的位置将单晶硅棒的长度划分成所需截断后单晶硅棒的长度。
4.根据权利要求2所述的单晶硅棒截断专用丈量装置，其特征在于所述测量件的长度大于所需截断后单晶硅棒的长度，且所述測量件上标示有等于所需截断后单晶硅棒长度 的刻度，所述标示结构即为所述刻度，所述刻度位于测量件的外面两侧边沿上且沿所述测量件的长度方向延伸，以便按照该刻度对应于单晶硅棒上的位置将单晶硅棒的长度划分为所需截断后单晶硅棒的长度。
5.根据权利要求2 4任一所述的单晶硅棒截断专用丈量装置，其特征在于所述手柄与測量件为一体制成。
专利摘要本实用新型公开了一种单晶硅棒截断专用丈量装置，包括测量件，所述测量件是呈弧形的板体，所述测量件的弯曲弧度与所述单晶硅棒外表面的弯曲弧度相适应，所述测量件沿单晶硅棒的纵向延伸以使测量件可贴合在所述单晶硅棒的外表面上，所述测量件上具有对应于所需截断后单晶硅棒长度的标示结构，以便按照该标示结构将单晶硅棒的整体长度划分为所需截断后单晶硅棒的长度。本实用新型的测量件是与单晶硅棒外表面的弯曲弧度相适应的弧形板体，它可贴合在所述单晶硅棒的外表面上而将单晶硅棒的整体长度划分为所需截断后单晶硅棒的长度，不仅结构简单、操作简便且易于制作，可避免现有丈量方式所出现的偏位或丈量标尺错位的现象，提高加工效率及加工品质。
文档编号G01B5/02GK202582429SQ20122012178
公开日2012年12月5日 申请日期2012年3月28日 优先权日2012年3月28日
发明者范靖, 王建锁 申请人:阳光硅谷电子科技有限公司