专利名称：利用加速试验来评价电容器贮存寿命的方法
技术领域：
本发明涉及一种利用加速试验来评价电容器贮存寿命的方法，更具体地，涉及一种基于对敏感参数分析利用加速试验来快速评价电容器贮存寿命的方法。
背景技术：
寿命试验是基本的可靠性试验方法，在正常工作条件下，常常采用寿命试验方法来评价产品的可靠性。但是，这种方法对寿命特别长的产品来说并不是一种合适的方法。因为这种方法需要花费很长的试验时间，甚至经常来不及做完寿命试验，新的产品又被设计出来，老产品就要被淘汰了。因此，在寿命试验的基础上形成的加大应力、缩短时间的加速寿命试验方法逐渐取代了常规的寿命试验方法。加速寿命试验是用加大试验应力(诸如热应力、电应力、机械应力等)的方法，激发产品在短时间内产生跟正常应力水平下相同的失效，缩短试验周期。然后运用加速寿命模型，评价产品在正常工作应力下的可靠性特征。加速环境试验是近年来快速发展的一项可靠性试验技术。该技术突破了传统可靠性试验的技术思路，将激发的试验机制引入到可靠性试验，可以大大缩短试验时间，提高试验效率，降低试验耗损。加速环境试验是一种激发试验，它通过强化的应力环境来进行可靠性试验。加速环境试验的加速水平通常用加速因子来表示。加速因子的含义是指设备在正常工作应力下的寿命与在加速环境下的寿命之比，通俗来讲就是指一小时试验相当于正常使用的时间。 因此，加速因子的计算成为加速寿命试验的核心问题，也成为客户最为关心的问题。加速因子的计算也是基于一定的物理模型的，因此下面分别说明常用应力的加速因子的计算方法。温度的加速因子由Arrhenius模型计算
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T — L,lOHiy2； .......^ AF - ........j........................................- txI-'
^stress其中，Lntmal为正常应力下的寿命，Lstress为高温下的寿命，Tnormal为室温绝对温度，Tstress为高温下的绝对温度，Ea为失效反应的活化能(eV)，k为Boltzmann常数， 8. 62X10_5eV/K，实践表明绝大多数电子元器件的失效符合Arrhenius模型，表I给出了半导体元器件常见的失效反应的活化能。然而，传统的评估电容器贮存寿命的方法试验周期长、成本高、所需样品多，不能给出单样品的失效激活能和寿命。
发明内容
为了克服现有技术中存在的问题，本发明的发明人提出了一种利用加速试验来评价电容器贮存寿命的方法，。
本发明的目的在于提供一种在相对较短的时间内利用加速试验来评价电容器的贮存寿命的方法。该方法使得试验周期缩短、成本低并且所需样品较少。在一个方面，本发明提供了一种利用加速试验来评价电容器贮存寿命的方法，该方法包括以下步骤I)在被评价的电容器组中抽取一定数量的被测电容器，给每只被测电容器编号后测量并记录被测电容器的平均初始电容值Ctl，然后再随机分为10组，每组20-100只电容器；2)从所述10组电容器中取出第一组电容器进行室温下的贮存试验，间隔一定时间取出L个电容器进行测试并记录贮存后的平均电容值C1，直至全部电容器都取出并测量后为止，计算出贮存后的电容值相对于初始电容值的电容值变化量AC1，得到室温下电容值随时间变化的贮存寿命前期数据曲线；3)从所述10组电容器中取出第二组电容器，在高于室温温度的第二温度下进行贮存试验，间隔一定时间取出m个电容器，将其降至室温后测试并记录贮存后的平均电容值C2，直至全部电容器都取出并测量后为止，计算出贮存后的电容值相对于初始电容值的电容值变化量AC2，从而获得在第二温度下电容值随时间变化的曲线；如果电容值随时间变化较�。蛩得魑露扔αΣ幻飨裕诟梦露认陆兄媸匝椋岬贾率匝橹芷谔ぃ枰匦卵∪⌒碌奈露扔αλ浇惺匝椋惶岣咧嫖露龋匦陆猩鲜鲋媸匝椋敝琳业胶鲜实奈露鹊慵俏猅l ;继续提高贮存温度，重复上述贮存试验4)分别在多个不同的温度下进行贮存试验，与步骤2 —样间隔一定时间测试并记录贮存后的电容值变化，得到高温下的贮存电容随时间变化的曲线；5)利用曲线拟合，验证不同温度下变化趋势是否相同，如果变化趋势一致，则进行以下步骤6)，如果变化趋势出现不一致，应停止试验进行分析，查明原因后重新进行试验；6)进行数据分析，推算出常温下的器件贮存寿命。在一个实施方式中，在该评价电容器贮存寿命的方法中，步骤I)中的所述被评价的电容器组为同一批次，并且产品结构、工艺参数基本一样，失效模式、激活能基本相同。在一个实施方式中，在该评价电容器贮存寿命的方法中，步骤I)中的被评价的电容器是经过筛选剔除早期失效后全部合格的产品。在一个实施方式中,在该评价电容器忙存寿命的方法中，在试验时，选取电容值相对集中的一批样品，以便保证在样品数较小的情况下，获得较好的试验结果。在一个实施方式中，在该评价电容器贮存寿命的方法中，被评价的电容器的数目为200至1000只，以便确保试验的可信度并减少试验的工作量。在一个实施方式中，在该评价电容器贮存寿命的方法中，所述步骤2)中的间隔一定时间取出一批电容器测试电容值是为了排除由于测量引起的变化，因此在设计试验时， 应选取足够的电容器，每隔一段时间测量一组电容器，记录平均值，测试后的电容器就不再进行贮存试验。在一个实施方式中，在该评价电容器贮存寿命的方法中，所述步骤3中的摸底试验用于确定加速温度的大�。铀傥露扔αμ跫炔荒芄停膊荒芄撸蝗绻匝樗游露扔αμ跫停岬贾率匝橹芷谔ぃ托枰匦卵∪⌒碌奈露扔αλ浇惺匝槊�。 施加温度应力过高，试验条件难以保证，同时有可能会改变器件老化的趋势，引入过应力引起的致命失效。在一个实施方式中，在该评价电容器贮存寿命的方法中，所述步骤6进行数据分析，首先是用图形软件将室温和高温下的贮存试验数据进行拟合，得出两条不同温度下电容随时间变化的曲线。在这两条曲线上截取电容值相同的点，对应的时间分别为t和T，通过最小二乘法拟合，得出t与T之间的比值，即为加速因子A。设置贮存失效的判据，在高温贮存试验曲线中找出失效时对应的时间Tf，结合前述计算得出的加速因子A，即可得出常温贮存的寿命为A*Tf。本发明提供的利用加速试验来评价电容器贮存寿命的方法，包括如下步骤1)在被评价电容器中抽取一定数量的样本，给每只电容器编号后测量并记录被测电容器的电容值，后随机分为若干组；2)取其中一组进行室温贮存试验，间隔一定时间取出一批样品测试并记录贮存后的电容值变化，得到室温贮存电容随时间变化的曲线；3)在不同温度下进行贮存试验，通过摸底试验确定合适的温度作为加速应力；4)在步骤3)确定的合适的较高温度下进行贮存试验，与步骤2) —样间隔一定时间测试并记录贮存后的电容值变化，得到高温下的贮存电容随时间变化的曲线；5)利用曲线拟合，验证不同温度下变化趋势是否相同，如果变化趋势一致，进行步骤6)，如果变化趋势出现不一致，应停止试验进行分析，查明原因后重新进行试验；6)进行数据分析，推算出常温下的器件贮存寿命。根据本发明的方法使得试验周期缩短、成本低并且所需样品较少。
下面通过参照附图结合具体实例来进一步详细地描述本发明，其中图I是本发明的加速寿命试验平台搭建示意图。
具体实施例方式如图I所示，本发明的测试系统包括电源，其用于对试验箱中的待测器件和/或其它测试设备进行供电。该测试系统还包括器件测试设备，其用于测试该待测器件的参数。该测试系统还包括待测器件温度/湿度传感器，用于测量待测器件的环境温度和/或湿度； 试验箱温度/湿度传感器，用于测量试验箱中的温度和/或湿度。除了图I所示部件之外， 本发明的测试系统还可以包括其它测试设备。在一个方面，本发明提供了一种利用加速试验来评价电容器贮存寿命的方法，该方法包括以下步骤I)在被评价的电容器组中抽取一定数量的被测电容器，给每只被测电容器编号后测量并记录被测电容器的平均初始电容值Ctl，然后再随机分为10组，每组20-100只电容器；2)从所述10组电容器中取出第一组电容器进行室温下的贮存试验，间隔一定时间取出L个电容器进行测试并记录贮存后的平均电容值C1，直至全部电容器都取出并测量后为止，计算出贮存后的电容值相对于初始电容值的电容值变化量AC1，得到室温下电容值随时间变化的贮存寿命前期数据曲线；3)从所述10组电容器中取出第二组电容器，在高于室温温度的第二温度下进行贮存试验，间隔一定时间取出m个电容器，将其降至室温后测试并记录贮存后的平均电容值C2，直至全部电容器都取出并测量后为止，计算出贮存后的电容值相对于初始电容值的电容值变化量AC2，从而获得在第二温度下电容值随时间变化的曲线；如果电容值随时间变化较�。蛩得魑露扔αΣ幻飨裕诟梦露认陆兄媸匝椋岬贾率匝橹芷谔ぃ枰匦卵∪⌒碌奈露扔αλ浇惺匝椋惶岣咧嫖露龋匦陆猩鲜鲋媸匝椋敝琳业胶鲜实奈露鹊慵俏猅l ;继续提高贮存温度，重复上述贮存试验；4)分别在多个不同的温度下进行贮存试验，与步骤2) —样间隔一定时间测试并记录贮存后的电容值变化，得到高温下的贮存电容随时间变化的曲线；5)利用曲线拟合，验证不同温度下变化趋势是否相同，如果变化趋势一致，则进行以下步骤6)，如果变化趋势出现不一致，应停止试验进行分析，查明原因后重新进行试验；6)进行数据分析，推算出常温下的器件贮存寿命。优选地，在该评价电容器贮存寿命的方法中，步骤I)中的所述被评价的电容器组为同一批次，并且产品结构、工艺参数基本一样，失效模式、激活能基本相同。优选地，在该评价电容器贮存寿命的方法中，步骤I)中的被评价的电容器是经过筛选剔除早期失效后全部合格的产品。优选地，在该评价电容器贮存寿命的方法中，在试验时，选取电容值相对集中的一批样品，以便保证在样品数较小的情况下，获得较好的试验结果。优选地，在该评价电容器贮存寿命的方法中，被评价的电容器的数目为200至 1000只，以便确保试验的可信度并减少试验的工作量。优选地，在该评价电容器贮存寿命的方法中，所述步骤2)中的间隔一定时间取出一批电容器测试电容值是为了排除由于测量引起的变化，因此在设计试验时，应选取足够的电容器，每隔一段时间测量一组电容器，记录平均值，测试后的电容器就不再进行贮存试验。优选地，在该评价电容器贮存寿命的方法中，所述步骤3中的摸底试验用于确定加速温度的大�。铀傥露扔αμ跫炔荒芄停膊荒芄撸蝗绻匝樗游露扔αμ跫停岬贾率匝橹芷谔ぃ托枰匦卵∪⌒碌奈露扔αλ浇惺匝槊�。施加温度应力过高，试验条件难以保证，同时有可能会改变器件老化的趋势，引入过应力引起的致命失效。优选地，在该评价电容器贮存寿命的方法中，所述步骤6进行数据分析，首先是用图形软件将室温和高温下的贮存试验数据进行拟合，得出两条不同温度下电容随时间变化的曲线。在这两条曲线上截取电容值相同的点，对应的时间分别为t和T，通过最小二乘法拟合，得出t与T之间的比值，即为加速因子A。设置贮存失效的判据，在高温贮存试验曲线中找出失效时对应的时间Tf，结合前述计算得出的加速因子A，即可得出常温贮存的寿命为 A*Tfo下面描述本发明的实施例，该实施例用来说明而不是限制本发明。首先，在被评价的电容器组中抽取200只被测电容器，给每只被测电容器编号后测量并记录被测电容器的平均初始电容值Ctl，然后再随机分为10组，每组20只电容器。然后，从所述10组电容器中取出第一组电容器进行室温下的贮存试验，间隔一定时间取出I 个电容器进行测试并记录贮存后的平均电容值C1，直至全部电容器都取出并测量后为止， 计算出贮存后的电容值相对于初始电容值的电容值变化量△ C1，得到室温下电容值随时间变化的贮存寿命前期数据曲线。从所述10组电容器中取出第二组电容器，在高于室温温度的第二温度下进行贮存试验，间隔一定时间取出I个电容器，将其降至室温后测试并记录贮存后的平均电容值C2，直至全部电容器都取出并测量后为止，计算出贮存后的电容值相对于初始电容值的电容值变化量AC2，从而获得在第二温度下电容值随时间变化的曲线； 如果电容值随时间变化较小，则说明温度应力不明显，在该温度下进行贮存试验，会导致试验周期太长，需要重新选取新的温度应力水平进行试验；提高贮存温度，重新进行上述贮存试验，直至找到合适的温度点记为Tl ;继续提高贮存温度，重复上述贮存试验。分别在多个不同的温度下进行贮存试验，与上面步骤一样间隔一定时间测试并记录贮存后的电容值变化，得到高温下的贮存电容随时间变化的曲线。之后，利用曲线拟合，验证不同温度下变化趋势是否相同，如果变化趋势一致，则进行以下步骤，如果变化趋势出现不一致，应停止试验进行分析，查明原因后重新进行试验。最后，进行数据分析，推算出常温下的器件贮存寿命。虽然已经参照附图和具体实施例详细地描述了本发明，但本领域技术人员应当理解，本发明并不限于上述实施方式和实施例，在不背离本发明的精神和范围的情况下，本领域技术人员可以进行各种更改、替换，本发明的范围如在所附权利要求中限定。
权利要求
1.一种利用加速试验来评价电容器贮存寿命的方法，包括以下步骤1)在被评价的电容器组中抽取一定数量的被测电容器，给每只被测电容器编号后测量并记录被测电容器的平均初始电容值Ctl，然后再随机分为10组；2)从所述10组电容器中取出第一组电容器进行室温下的贮存试验，间隔一定时间取出L个电容器进行测试并记录贮存后的平均电容值C1，直至全部电容器都取出并测量后为止，计算出贮存后的电容值相对于初始电容值的电容值变化量AC1，得到室温下电容值随时间变化的贮存寿命前期数据曲线；3)从所述10组电容器中取出第二组电容器，在高于室温的第二温度下进行贮存试验， 间隔一定时间取出m个电容器，将其降至室温后测试并记录贮存后的平均电容值C2，直至全部电容器都取出并测量后为止，计算出贮存后的电容值相对于初始电容值的电容值变化量 Λ C2，从而获得在第二温度下电容值随时间变化的曲线；如果电容值随时间变化较�。蛩得魑露扔αΣ幻飨裕诟梦露认陆兄媸匝椋岬贾率匝橹芷谔ぃ枰匦卵∪⌒碌奈露扔αλ浇惺匝椋惶岣咧嫖露龋匦陆猩鲜鲋媸匝椋敝琳业胶鲜实奈露鹊慵俏� Tl ;继续提高贮存温度，重复上述贮存试验；4)分别在多个不同的温度下进行贮存试验，与步骤2)—样间隔一定时间测试并记录贮存后的电容值变化，得到高温下的贮存电容随时间变化的曲线；5)利用曲线拟合，验证不同温度下变化趋势是否相同，如果变化趋势一致，则进行以下步骤6)，如果变化趋势出现不一致，应停止试验进行分析，查明原因后重新进行试验；6)进行数据分析，推算出常温下的器件贮存寿命。
2.根据权利要求I所述的评价电容器贮存寿命的方法，其中，步骤I)中的所述被评价的电容器组为同一批次，并且产品结构、工艺参数基本一样，失效模式、激活能基本相同。
3.根据权利要求I所述的评价电容器贮存寿命的方法，其中，步骤I)中的被评价的电容器是经过筛选剔除早期失效后全部合格的产品。
4.根据权利要求I所述的评价电容器贮存寿命的方法，其中，在试验时，选取电容值相对集中的一批样品，以便保证在样品数较小的情况下，获得较好的试验结果。
5.根据权利要求I所述的评价电容器贮存寿命的方法，其中，被评价的电容器的数目为200至1000只，以便确保试验的可信度并减少试验的工作量。
6.根据权利要求I所述的评价电容器贮存寿命的方法，其中，测试后的电容器不再进行贮存试验。
7.根据权利要求I所述的评价电容器贮存寿命的方法，其中，所述步骤3)中的摸底试验用于确定加速温度的大小。
8.根据权利要求I所述的评价电容器贮存寿命的方法，其中，所述步骤3)中的加速温度应力条件既不能过低，也不能过高；如果试验所加温度应力条件过低，会导致试验周期太长，就需要重新选取新的温度应力水平进行试验摸底，然而施加温度应力过高，试验条件难以保证。
9.根据权利要求I所述的评价电容器贮存寿命的试验方法，其中所述步骤6)进行数据分析，首先是用图形软件将室温和高温下的贮存试验数据进行拟合，得出两条不同温度下电容随时间变化的曲线，然后在这两条曲线上截取电容值相同的点，对应的时间分别为t 和T，通过最小二乘法拟合，得出t与T之间的比值，即为加速因子A，设置贮存失效的判据，在高温贮存试验曲线中找出失效时对应的时间TF，结合前述计算得出的加速因子A，即可得出常温贮存的寿命为A*Tf。
全文摘要
本发明提供一种利用加速试验来评价电容器贮存寿命的方法，包括1)在被评价电容器中抽取一定数量样本，给每只电容器编号后测量并记录被测电容器的电容值，后随机分为若干组；2)取其中一组进行室温贮存试验，间隔一定时间取出一批样品测试并记录贮存后的电容值变化，得到室温贮存电容随时间变化曲线；步骤3)在不同温度下进行贮存试验，通过摸底试验确定合适的温度作为加速应力；4)在步骤3)确定的合适的较高温度下进行贮存试验，与步骤2)一样间隔一定时间测试并记录贮存后的电容值变化，得到高温下的贮存电容随时间变化曲线；5)利用曲线拟合，验证不同温度下变化趋势是否相同；6)进行数据分析，推算出常温下器件贮存寿命。
文档编号G01R31/00GK102590659SQ20121002186
公开日2012年7月18日 申请日期2012年1月31日 优先权日2012年1月31日
发明者刘文宝 申请人:中国航天标准化研究所
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