专利名称：电子及测试业检测装置中的探针组件结构的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种电子及测试业检测装置中的探针组件结构。
背景技术：
电子及测试业的检测装置用来测试电路板及电子产品的装置，如治具，检测装置离不开探针组件结构，现有的探针组件结构包括弹簧、探针和导线，它们置于检测装置中层板的穿孔中，弹簧的顶部抵托着探针，在弹簧的下方固定连接导线，导线与牛角连接器连接，其中弹簧由头部、中间的伸缩部和尾部组成，是由一根弹簧线以顺时针方向或逆时针方向连续绕成，弹簧的头部和尾部由弹簧线并拢绕成，头部为纺锤形，纺锤形头部的中部弹簧线饶成内径很小的圈，以抵托住探针的底部，但是，精细的探针还是容易穿过弹簧的头部往下掉，而且对于精细弹簧而言，其头部的制造很困难，另外，现有这种弹簧的头部容易变形。所以，现有的探针组件结构中探针和弹簧的连接不可靠，而且精细弹簧的制造难度较大。
发明内容
本实用新型的目的在于针对现有的探针组件结构存在的上述问题， 提供一种探针和弹簧能可靠连接且易于制造的电子及测试业检测装置中的探针组件结构。
本实用新型的目的是这样实现的本实用新型包括弹簧、探针和导线，它们置于检测装置的穿孔中，弹簧的顶部抵托着探针，导线位于弹簧的下方，弹簧由头部、中间的伸缩部和尾部组成，在其头部的内腔中堵塞有导电材料。
本实用新型中的导电材料可选用锡、银浆、导线或螺钉等，可采用焊接、用头部的弹簧线缠绕等方式把导电材料堵塞于弹簧头部的内腔中。
本实用新型的技术效果在于由于在弹簧头部的内腔中堵塞有导电材料，弹簧能可靠地托住任何规格的探针且与之导电良好，而且对于精细弹簧而言，其头部的最小内径不用绕成很�。砸子谥圃欤硗猓捎诙氯械嫉绮牧希傻耐凡坎灰妆湫危煽康刂С盘秸�。
以下结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明。
图1是使用了实施例一的治具的结构示意图。
图2是使用了实施例二的治具的结构示意图。
图3是使用了实施例三的治具的底部的结构示意图。
具体实施方式
如图1所示，该治具包括针盘1、底座4和探针组件结构，在针盘1和底座4上均设有穿孔，其孔位、孔径、孔距、孔数由待测电路板上待测端点的点位及点数决定，实施例一中的探针组件结构由探针2、弹簧3和导线5组成，探针2和弹簧3置于针盘1的穿孔内，探针2的头部露出于针盘1表面，在测试时与待测电路板的待测端点相接触，弹簧3由头部301、中间的伸缩部302和尾部303组成，其头部301为纺锤形，由弹簧线并拢绕成，在其头部301的内腔中焊有锡，把内腔堵塞�。呷刍竽苁雇凡�301的弹簧线牢牢焊�。雇凡�301不易变形，而且能更可靠地抵托着探针2，并使探针2与弹簧3导电良好，伸缩部302是使弹簧3起伸缩作用的，为普通弹簧的形状，尾部303由弹簧线并拢绕成，其尾端较�。阌谧芭洌枷�5位于弹簧3的下方，置于底座4的穿孔中，导线5与弹簧3的尾部303焊接在一起，当然还可采用压接或铆接的方式固定连接在一起。
如图2所示，实施例二与实施例一不同之处在于在导线9的一端焊接一金属套筒7，金属套筒7卡于底座8的穿孔中，金属套筒7的顶部与弹簧6的尾部直接接触而导通。
如图3所示，实施例三与实施例一不同之处在于导线10的一端焊接于底座11的穿孔中，该焊接点与弹簧的尾部直接接触而导通。
实施例二、实施例三中导线与弹簧的尾部不是固定连接在一起，而是采用接触的方式与弹簧导通，这种方式的优点是便于装配、更换和维修探针组件结构的各部件，而且弹簧可重复使用，提高了利用率，降低了成本。
本实用新型在弹簧的头部内腔中除了可堵塞锡，还可堵塞其它导电材料，如银浆、导线或螺钉等，例如把头部的弹簧线缠绕导线从而堵塞住头部的内腔。本实用新型中弹簧的头部还可为圆柱形等形状。
权利要求1.一种电子及测试业检测装置中的探针组件结构，包括弹簧、探针和导线，它们置于检测装置的穿孔中，弹簧的顶部抵托着探针，导线位于弹簧的下方，其特征在于所述弹簧由头部、中间的伸缩部和尾部组成，在其头部的内腔中堵塞有导电材料。
2.根据权利要求1所述的电子及测试业检测装置中的探针组件结构，其特征在于所述导电材料选用锡、银浆、导线或螺钉。
3.根据权利要求1所述的电子及测试业检测装置中的探针组件结构，其特征在于所述导电材料被头部的弹簧线缠绕从而堵塞住头部的内腔。
4.根据权利要求1或2或3所述的电子及测试业检测装置中的探针组件结构，其特征在于所述弹簧的尾部与导线采用焊接、压接或铆接的方式固定连接在一起。
5.根据权利要求1或2或3所述的电子及测试业检测装置中的探针组件结构，其特征在于所述导线的一端焊接于检测装置的穿孔中，该焊接点与弹簧的尾部直接接触。
6.根据权利要求1或2或3所述的电子及测试业检测装置中的探针组件结构，其特征在于所述导线的一端固定连接一金属套筒，金属套筒卡设于检测装置的穿孔中，并与弹簧的尾部直接接触。
7.根据权利要求1或2或3所述的电子及测试业检测装置中的探针组件结构，其特征在于所述弹簧的头部为圆柱形或纺锤形。
专利摘要本实用新型为一种电子及测试业检测装置中的探针组件结构，包括弹簧、探针和导线，它们置于检测装置的穿孔中，弹簧的顶部抵托着探针，导线位于弹簧的下方，弹簧由头部、中间的伸缩部和尾部组成，在其头部的内腔中堵塞有导电材料。本实用新型中的弹簧能可靠地托住任何规格的探针且与之导电良好，而且对于精细弹簧而言，易于制造，另外，弹簧的头部不易变形。
文档编号G01R1/073GK2718586SQ20042007180
公开日2005年8月17日 申请日期2004年7月20日 优先权日2004年7月20日
发明者王云阶 申请人:王云阶
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