专利名称：一种测试直流泄漏电流评估单片悬式绝缘子内绝缘性能的方法
技术领域：
本发明属于绝缘子性能评估方法，尤其是单片悬式绝缘子内绝缘评估方法技术领域。
背景技术：
输电线路的各型绝缘子在长期的电气和机械载荷作用下，部分会以外观破损、绝缘性能丧失为直接的显性表征，而更多的是绝缘子各种性能的部分丧失或不同程度的劣化。为保证电网系统的安全可靠运行，需要运用有效手段来检测这些劣化的绝缘子。对绝缘子性能的检测，目前主要应用的方法有绝缘电阻测量、电压分布法、红外探测法等。绝缘电阻测量是通过兆欧表测量绝缘子绝缘电阻，方法较为简单方便，但所测绝缘电阻值的大小与绝缘材料的结构、体积有关，与所用的兆欧表的电压高低有关，还与大气条件有关，因此不能简单地用绝缘电阻的大小来判断绝缘的好坏。电压分步法是对绝缘子电压分布进行测量，并对测量结果进行计算，按照计算结果判断绝缘子性能。该方法计算较为复杂，且仅对于检测零值绝缘子较为有效。红外探测法是通过绝缘子红外成像结果进行判定，方法受气象条件、外界热源干扰等影响，不能准确判定。上述这些方法均不能准确、定量的评估绝缘子内绝缘性能。
发明内容
本发明的目的在于解决现有技术的不足，提出通过直流发生器、微安表、连接导线和屏蔽环等装置搭建一套单片悬式绝缘子直流泄漏电流测试系统，通过直流泄漏电流的测试，实现对劣化单片悬式绝缘子的识别与判定的方法。本发明的目的是通过如下技术方案实现的。一种测试直流泄漏电流评估单片悬式绝缘子内绝缘性能劣化的方法，其按以下步骤进行
(1)搭建绝缘子直流泄漏电流测试系统利用直流发生器作为试验电源利用连接导线将直流高压加到绝缘子两端，系统中串入测量用的微安表；
(2)采取屏蔽措施屏蔽绝缘子表面泄漏电流将屏蔽环置于被试绝缘子的绝缘材料上， 并不与绝缘子的金属碗头有任何接触；将等电位的屏蔽线接到屏蔽环上；加压后绝缘子表面泄漏电流通过屏蔽环短接，不流过微安表；
(3)升压测试升高直流发生器电压，由接入系统的微安表读数得到绝缘子内部泄漏电流大�。背鱿执蟮男孤┑缌魇保卸ň底哟嬖谀诰等毕�。本发明的原理是直流高压U下流过绝缘子的电流i可视为由三部分构成山电容电流、i2吸收电流、i3泄漏电流i=ii+i2+i3。I1和i2经过一段时间后趋于零，此时i趋近于 i3，而绝缘电阻就是加于试品的直流电压与流过试品的泄漏电流之比即R=U/i3，因此通过测试i3即可反映绝缘子的绝缘性能。
流过绝缘子的泄漏电流i3包含表面电流和体积电流，而体积泄漏电流才能真正反映绝缘子内绝缘性能，因此将表面泄漏电流进行屏蔽消除。
本发明的有益效果是实现了对单片悬式绝缘子内绝缘性能的定量评估，由于试验方法简单实用，灵敏度高，測量重复性好，因此无论对运行后的绝缘子内绝缘的检测，还是新绝缘子的验收，直流泄漏试验应可以作为ー项有效的辅助检测手段而加予利用。目前尚无应用此类方法评估单片悬式绝缘子的绝缘性能。本发明方法简单实用，灵敏度高，測量重复性好，因此无论对运行后的绝缘子内绝缘的检測，还是新绝缘子的验收，直流泄漏试验应可以作为ー项有效的辅助检测手段而加予利用。
图1是单片悬式绝缘子直流泄漏电流测试系统图； 图2为被试绝缘子俯视图。图中，1-直流发生器，2-微安表，3-屏蔽环，4-绝缘子，5-连接导线，6-屏蔽线， 7-绝缘子碗头，8-绝缘子球头，9-地。
具体实施例方式一种测试直流泄漏电流评估单片悬式绝缘子内绝缘性能的方法，方法步骤如下
(1)搭建直流泄漏电流测试系统利用直流发生器作为试验电源，利用连接导线将直流高压加到绝缘子两端，系统中串入測量用的微安表；
(2)采取屏蔽措施屏蔽绝缘子表面泄漏电流将屏蔽环置于被试绝缘子的绝缘材料上， 并不与绝缘子的金属碗头有任何接触；将等电位的屏蔽线接到屏蔽环上；加压后绝缘子表面泄漏电流通过屏蔽环短接，不流过微安表；
(3)升压测试升高直流发生器电压，由接入系统的微安表读数得到绝缘子内部泄漏电流大�。背鱿执蟮男孤┑缌鲄迹卸ň底哟嬖谀诰等毕�。见图1，图2，绝缘子直流泄漏电流测试系统搭建测试系统由直流发生器1、微安表2、屏蔽环3、被试绝缘子4、连接导线5、屏蔽线6、地9构成。利用连接导线5将直流发生器的高压端与被试绝缘子金属碗头7相连；将屏蔽环3置于被试绝缘子4的绝缘材料上，并不与绝缘子的金属碗头7有任何接触；将等电位的屏蔽线6接到屏蔽环3上；利用连接导线将直流发生器接地极以及被试绝缘子球头分别与地相连。升高直流发生器电压，在绝缘子上形成两条电流通路ー是从直流发生器1通过微安表2、绝缘子碗头7、绝缘子球头9到地9，即流过绝缘子内部；另一条是从直流发生器 1通过屏蔽线6到屏蔽环3、绝缘子表面、绝缘子金属球头8到地9，即不通过微安表直接将绝缘子表面电流屏蔽。由微安表可测得相应电压下流过绝缘子内部的直流泄漏电流，若出现较大泄漏电流值则判断绝缘子存在内绝缘缺陷。本发明通过直流发生器产生直流高电压，并将高电压作用于被试单片悬式绝缘子上，同时利用屏蔽环将绝缘子表面泄漏电流直接短接，使之不流过接入系统的微安表。从而直接从微安表测得到绝缘子体积泄漏电流，并据此判定绝缘子内绝缘性能。本方法实现了对单片悬式绝缘子内绝缘性能的评估，方法具有简单易行、灵敏度高，测量重复性好的优点，可作为检验悬式绝缘子绝缘性能的基本检测方法之一。
权利要求
1. 一种测试直流泄漏电流评估单片悬式绝缘子内绝缘性能的方法，其特征是，按以下步骤进行(1)搭建直流泄漏电流测试系统利用直流发生器作为试验电源，利用连接导线将直流高压加到绝缘子两端，系统中串入測量用的微安表；(2)采取屏蔽措施屏蔽绝缘子表面泄漏电流将屏蔽环置于被试绝缘子的绝缘材料上，并不与绝缘子的金属碗头有任何接触；将等电位的屏蔽线接到屏蔽环上；加压后绝缘子表面泄漏电流通过屏蔽环短接，不流过微安表；(3)升压测试升高直流发生器电压，由接入系统的微安表读数得到绝缘子内部泄漏电流大�。背鱿执蟮男孤┑缌鲄迹卸ň底哟嬖谀诰等毕�。
全文摘要
一种测试直流泄漏电流评估单片悬式绝缘子内绝缘性能的方法，步骤是先搭建直流泄漏电流测试系统利用直流发生器作为试验电源，利用连接导线将直流高压加到绝缘子两端，系统中串入测量用的微安表；再采取屏蔽措施屏蔽绝缘子表面泄漏电流将屏蔽环置于被试绝缘子的绝缘材料上，并不与绝缘子的金属碗头有任何接触；将等电位的屏蔽线接到屏蔽环上；加压后绝缘子表面泄漏电流通过屏蔽环短接，不流过微安表；然后升压测试升高直流发生器电压，由接入系统的微安表读数得到绝缘子内部泄漏电流大�。背鱿执蟮男孤┑缌魇保卸ň底哟嬖谀诰等毕�。本发明可实现对单片悬式绝缘子内绝缘性能的评估，方法具有简单易行、灵敏度高，测量重复性好的优点，可作为检验悬式绝缘子绝缘性能的基本检测方法之一。
文档编号G01R31/00GK102539979SQ20121002636
公开日2012年7月4日 申请日期2012年2月7日 优先权日2012年2月7日
发明者丁薇, 孙伟忠, 徐肖伟, 李小建, 赵现平, 钟剑明, 黄龙 申请人:云南电力试验研究院(集团)有限公司电力研究院
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