专利名称：光纤接口检测塞规及检测方法
技术领域：
本发明涉及一种光纤接口检测装置，特别涉及一种光纤接口检测塞规及检测方法。
背景技术：
光纤连接器是光纤与光纤之间进行可拆卸/活动连接的器件，它通过将光纤的两个端面精密对接起来，使发射光纤输出的光能量能最大限度地耦合到接收光纤中去，同时使由于其介入光链路而对系统造成的影响减到最�。籐C型光纤跳线是光纤连接器的一种，通过光纤接口将LC型光纤跳线连接SFP�？榈牧悠鳎捎昧瞬僮鞣奖愕哪？榛蹇�(RJ)闩锁机理制成，由于采用的插针和套筒尺寸较�。岣吡斯庀伺湎呒苤泄庀肆悠鞯拿芏龋诘ツFF方面，LC类型的连接器实际已经占据了主导地位，在多模方面的应用也增长迅速。
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如果光纤接口出现尺寸超差，可能导致光纤跳线插入光�？楣庀私涌谑背鱿植灏卫训奈侍猓梦侍庠谙钟械闹疃嗖分新怕懦鱿郑苯佑跋旃庀肆悠鞯墓獯湎低晨煽啃院透飨钚阅堋Ｅ卸瞎庀私涌谑欠窈细瘢峭ü庀颂卟迦牒桶纬瞿？楣庀私涌诘淖畲罅κ欠癯辏碝SA标准该力为FS 19. 6N,目前检测方法是直接使用光纤跳线插拔�？槎杂涌冢绻灏嗡吵团卸ㄎ细瘢裨蛭缓细�。光纤跳线直接检验的弊端在于
I、光纤跳线本身具有公差，同一个�？樯嫌貌煌墓┯ι烫峁┑奶呒觳馐蓖鱿忠桓霾灏嗡吵桓霾灏卫训南窒螅辜煅楸匦敕祷氐浇涌诔叽绲牟饬可侠矗贸叽缬捎诠罱闲�(±0. 05)，再加上仪器和人为因素，测量结果精度不高且效率极为低下。2、光纤跳线作为直接检验工具经过频繁插拔，容易出现磨损，断裂等问题，以致影响检验准确性。3、从功能上而言，光纤跳线尺寸只适用于装配，不具备检验功能；而自制塞规为控制对应接口尺寸，须做到极限偏差，以保证通过检测的�？槭视糜谌魏喂庀颂�。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术中所存在的使用光纤跳线对光纤接口进行插拔来检测结果精度不高、效率较低的上述不足，提供一种光纤接口检测塞规以及用于光纤接口检测塞规的检测方法。为了实现上述发明目的，本发明提供了以下技术方案
一种光纤接口检测塞规，包括手柄，以及连接于手柄上的并与待检测光�？榈墓庀私涌谙嗍逝涞募觳馔罚觳馔纺谏栌杏氪觳夤饽？槟诘墓馄骷涌谙喽杂Φ墓庀送钒沧翱祝鍪直图觳馔肺即挪牧希黾觳馔酚胧直渫ü辽僖桓龃盘浜狭樱沂沟么盘谒鍪直退黾觳馔分洳拇帕π∮诘扔�19. 6N。检测头外形与待检测光�？楣庀私涌谖嗤巫唇峁梗员隳芟嗷ヅ浜辖屑觳猓还庀送飞斐黾觳馔返囊欢耸怯糜诩觳夤馄骷谀？榻峁怪械耐岫龋耘卸鲜欠癜沧暗轿�。如同轴度不满足要求，光纤头将很难甚至无法插入光器件接口。通过磁铁来实现手柄和检测头的连接，相比螺钉连接装配更快速、便捷。根据MSA标准，并通过实际设计计算和实验保证手柄端与磁铁的磁力F = 19. 6N,最大允许插拔力19. 6N为时最佳检测磁力,但不局限于严格意义上的19. 6N，实际该塞规在误差范围内可取较佳值为18-20N之间的中某
一数值。优选地，所述检测头与手柄相连接端分别为检测头连接端和手柄配合端；所述检测头连接端与磁铁相互过盈配合，所述手柄配合端与磁铁相互间隙配合，或所述检测头连接端与磁铁相互间隙配合，所述手柄配合端与磁铁相互过盈配合。检测头连接端与磁铁通过过盈配合，是为了使检测头与磁铁能连接成一体，防止磁铁在该塞规拔出时丢失；而手柄配合端与磁铁通过间隙配合，是为了磁铁来实现磁力控制拔出力，同时方便装配。
优选地，所述检测头内设有可安装光纤头的卡箍。通过在检测头内部设卡箍与光纤头一端相互连接，在拆卸和更换光纤头时更为方便。优选地，所述卡箍表面设有开口槽。优选地，所述卡箍上开口槽为单边贯通式开口槽。采用线切割在卡箍上加工单边贯通式开口槽，使卡箍具有弹性，从而实现卡箍与光纤头的“弹性紧配合”，相比没有该开口槽的卡箍与光纤头之间的紧配合而言，除了能保证光纤头与卡箍可靠连接的同时还有很好的可拆卸性，方便光纤头损坏后的更换，还降低了卡箍的加工难度。优选地，所述检测头表面设有插入深度标尺。在检测头表面设插入深度标尺，可以为判断检测头是否插入光纤接口到位，提供了快速直观的参照。优选地，所述手柄成柱形状，表面设有防滑槽，且手柄两端部截面尺寸大于手柄中部截面尺寸。手柄表面设有防滑槽，增大了拔出时的手持摩擦力，更为省力；手柄两端截面积大于中部截面积，手柄末端能挡住在拔出时手产生的滑动，拔出更为容易。优选地，所述手柄配合端设有至少一个拆卸让位槽。手柄配合端设有的至少一个拆卸让位槽，是为了光纤头损坏后，手指可以通过拆卸让位槽来克服磁力，从而方便地将手柄和检测头分离开，进行光纤头的更换。优选地，所述手柄和检测头为模具钢。检测头和手柄都采用的模具钢，具有良好的磁导性，能更好的被磁铁所吸附，并且模具钢有足够的硬度和耐磨性，可以保证长时间使用而不降低其检测精度。优选地，所述光纤接口为LC、SC、FC、ST等插拔型光纤接口。对于不同的光�？楣庀私涌冢钊鏛C、SC、FC、ST型光纤接口，只需修改检测头的外形尺寸，与其相应的光�？楣庀私涌谙嗥ヅ浜螅涂梢杂霉饽？榧觳馊娼屑觳饬�。一种光纤接口检测塞规的检测方法，包括以下步骤
步骤一、将光纤接口检测塞规上的所述检测头插入被检测光�？楣庀私涌� ；
步骤二、通过检测头表面所述深度标尺判断检测头的插入深度，并将检测头插入到位；
步骤三、将所述手柄朝检测头插入的相反方向外拔，若手柄和检测头一起拔出，则光�？楣庀私涌诔叽绯詈细瘢蝗羰直图觳馔烦鱿址掷耄词直纬龆觳馔肺幢话纬觯蚩膳卸ü饽？楣庀私涌诔叽绯畈缓细�。在上述步骤二中，检测头插入光�？楣庀私涌谏疃人婀饽？槔嘈投谋洌赐止饽？椴迦肷疃认嗤煌饽？椴迦肷疃炔煌耆谎Ｓ胂钟屑际跸啾龋痉⒚鞯挠幸嫘Ч�
本发明根据MSA标准，通过设计磁铁产生的磁力(最佳设计磁力为19. 6N)，来检测光纤接口检测塞规在拔出光纤接口时手柄和检测头是否分离，实现判断光纤接口是否存在加工尺寸超差，即若光纤接口检测塞规拔出时检测头与手柄一起，光纤接口尺寸合格，若光纤接口检测塞规拔出时检测头与手柄，则光纤接口尺寸存在超差，该装置拆装简便快捷、检测快速有效；检测头深度标尺的设计，判断检测头插入光纤接口直观准确；手柄表面的防滑槽 和端部的大于中部的尺寸，使用更加简单、轻松；只需要改变检测头的外形与待检测光�？楣庀私涌谙嗥ヅ洌湍苁视Χ嘀止庀私涌诘募觳夤ぷ鳌�
图I为本发明所述光纤接口检测塞规示意图。图2为本发明所述光纤接口检测塞规结构分解示意图。图3为本发明所述手柄、检测头与磁铁的配合分解示意图。图4为本发明所述光纤头和卡箍配合分解示意图。图5为本发明所述光纤接口检测塞规纵剖面图。图6为所述检测头和光模块配合局部结构放大示意图。图7为本发明所述光纤接口检测塞规与光�？榕浜鲜疽� 图8为图7中的局部结构放大示意图。图中标记
01、光�？�,02、光器件,1、手柄,2、检测头，3、光纤头,4、卡箍,5、磁铁,6、检测头连接端，7、手柄配合端，8、拆卸让位槽，9、深度标尺，10、开口槽，11、紧定螺栓。
具体实施例方式下面结合试验例及具体实施方式
对本发明作进一步的详细描述。但不应将此理解为本发明上述主题的范围仅限于以下的实施例，凡基于本发明内容所实现的技术均属于本发明的范围。如图1-8所示，一种光纤接口检测塞规，包括手柄I和连接在手柄I上的检测头2，检测头2外形与待检测光模块01光纤接口为相同形状结构，以便能相互配合进行检测，检测头2内部中空并设有光纤头3和卡箍4 ;光纤头3 —端与卡箍4相互连接，紧定螺栓11再通过检测头2和卡箍4上的螺纹孔将检测头2和卡箍4相互固定；光纤头3另一端伸出检测头2且能与待检测光�？�01内的光器件02接口配合，光纤头3伸出检测头2 —端是为了检测光器件02在光模块01内的同轴度，以判断光器件02是否安装到位，如同轴度不满足要求，光纤头3将很难甚至无法插入光器件02接口 ；手柄I和检测头2为导磁材料，检测头2端部的检测头连接端6与手柄I端部的手柄配合端7通过至少一个磁铁5相互配合连接，且使得磁铁5在手柄I和检测头2之间产生的磁力小于等于19. 6N。其中手柄I和检测头2为S136模具钢，具有良好的导磁性，能更好的被磁铁5所吸附，另一方面还具有较高的硬度和耐磨性，可以保证手柄I和检测头2长时间使用而不降低其检测精度。如图3所示，本发明中检测头连接端6与磁铁5采用过盈配合，手柄配合端7与磁铁5采用间隙配合。原因在于检测头连接端6与磁铁5通过过盈配合，能使检测头2与磁铁5连接成一体，防止磁铁5在该塞规拔出时丢失；而手柄配合端7与磁铁5通过间隙配合，是为了磁铁5来实现磁力控制拔出力，通过磁铁来实现手柄I和检测头2的连接，相比螺钉连接装配更快速、便捷。根据MSA标准，并通过实际设计计算和实验保证检测头连接端6、手柄配合端7与磁铁5的磁力F = 19. 6N时为最佳检测磁力，但不局限于19. 6N,经实验表明可取18-20N之间的较佳范围数值。如图4所示，卡箍4表面设有开口槽10，进一步的采用线切割在卡箍4上加工单边·贯通式开口槽10，卡箍4会具有弹性，从而实现卡箍4与光纤头3的“弹性紧配合”，相比没有该开口槽10的卡箍4与光纤头3之间的紧配合而言，除了能保证光纤头3与卡箍4可靠连接的同时还有很好的可拆卸性外，方便光纤头3损坏后的更换，还降低了卡箍4的加工难度。为了更好的使用本发明所述光纤头检测塞规，在检测头2表面还设有插入深度标尺9，如图8所示，该深度标尺9可以为判断检测头2是否插入光�？�01光纤接口到位，提供了快速直观的参照，如图6所示。手柄I做成柱形状，且表面设有防滑槽，增大了拔出时的手持摩擦力，更为省力；手柄I两端截面积大于中部截面积，手柄I末端能挡住在拔出时手产生的滑动，拔出更为容易。在手柄配合端7还设有至少一个拆卸让位槽8，本实施例的手柄配合端设有两个拆卸让位槽8，在该塞规使用过程中若出现光纤头3损坏，手指可以通过拆卸让位槽8来克服磁力，从而方便地将手柄I和检测头2分离开，进行光纤头3的更换。需要说明的是，光�？�01光纤接口可以为LC、SC、FC、ST等插拔型光纤接口。对于不同的光�？�01光纤接口，只需修改检测头2的外形尺寸，与其相应的光�？�01光纤接口相匹配后，就可以用光纤接口检测塞规进行检测了。图7、8为本发明所述光纤接口检测塞规与光�？�01配合检测的示意图，使用该光纤接口检测塞规的检测方法，包括以下步骤
步骤一、将光纤接口检测塞规上的检测头2插入被检测光�？�01光纤接口 ；
步骤二、通过检测头2表面所述深度标尺9判断检测头2的插入深度，并将检测头2插入到位；
步骤三、将手柄I朝检测头插入的相反方向外拔，若手柄I和检测头2 —起拔出，则光丰旲块01光纤接口尺寸合格；右手柄I和检测头2出现分尚，即手柄I拔出而检测头2未被拔出，则可判定光�？�01光纤接口尺寸超差不合格。其中，在上述步骤二中，检测头2插入光�？�01光纤接口深度随光�？�01类型而改变，即同种光�？�01插入深度相同，不同光�？�01插入深度不完全一样。
权利要求
1.一种光纤接口检测塞规，其特征在于，包括手柄(I)，以及连接于手柄(I)上的并与待检测光�？�(Ol)的光纤接口相适配的检测头(2)，所述检测头(2)内设有与待检测光�？�(01)内的光器件(02)接口相对应的光纤头(3)安装孔，所述手柄(I)和检测头(2)为导磁材料，所述检测头(2)与手柄(I)之间通过至少一个磁铁(5)配合连接，且使得磁铁(5)在所述手柄(I)和所述检测头(2)之间产生的磁力小于或等于19. 6N。
2.根据权利要求I所述的光纤接口检测塞规，其特征在于，所述检测头(2)与手柄(I)相连接端分别为检测头连接端(6)和手柄配合端(7);所述检测头连接端(6)与磁铁(5)相互过盈配合，所述手柄配合端(7)与磁铁(5)相互间隙配合，或所述检测头连接端(6)与磁铁(5)相互间隙配合，所述手柄配合端(7)与磁铁(5)相互过盈配合。
3.根据权利要求I所述的光纤接口检测塞规，其特征在于，所述检测头(2)内设有可安装光纤头⑶的卡箍⑷。
4.根据权利要求1-3任一所述的光纤接口检测塞规，其特征在于，所述卡箍(4)表面设有开口槽(10)。
5.根据权利要求4所述的光纤接口检测塞规，其特征在于，所述卡箍(4)上开口槽(10)为单边贯通式开口槽。
6.根据权利要求I所述的光纤接口检测塞规，其特征在于，所述检测头(2)表面设有插入深度标尺(9)。
7.根据权利要求I所述的光纤接口检测塞规，其特征在于，所述手柄(I)成柱形状，且表面设有防滑槽。
8.根据权利要求I所述的光纤接口检测塞规，其特征在于，所述手柄配合端(7)设有至少一个拆卸让位槽(8)。
9.根据权利要求I所述的LC光纤接口检测塞规，其特征在于，所述手柄(I)和检测头(2)为模具钢。
10.根据权利要求1-9任一所述的光纤接口检测塞规，其特征在于，所述光纤接口为LC、SC、FC、ST等插拔型光纤接口。
11.一种光纤接口检测塞规的检测方法，其特征在于，包括以下步骤 步骤一、将光纤接口检测塞规上的所述检测头(2)插入被检测光模块(01)光纤接口 ； 步骤二、通过检测头⑵表面所述深度标尺(9)判断检测头(2)的插入深度，并将检测头⑵插入到位； 步骤三、将所述手柄⑴朝检测头⑵插入的相反方向外拔，若手柄⑴和检测头(2)一起拔出，则光�？�(01)光纤接口尺寸超差合格；若手柄(I)和检测头(2)出现分离，即手柄(I)拔出而检测头(2)未被拔出，则可判定光�？�(01)光纤接口尺寸超差不合格。
全文摘要
本发明公开了一种光纤接口检测塞规，包括手柄，以及连接于手柄上的并与待检测光�？榈墓庀私涌谙嗍逝涞募觳馔罚觳馔纺苡氪觳夤饽？楣庀私涌谙嗷ヅ浜希觳馔纺诓恐锌詹⑸栌泄庀送泛涂ü浚还庀送芬欢擞肟ü肯嗷チ樱庀送妨硪欢松斐黾觳馔非矣氪觳夤饽？槟诘墓馄骷浜希皇直图觳馔肺即挪牧希觳馔酚胧直渫ü辽僖桓龃盘浜狭樱沂沟么盘谒鍪直退黾觳馔分洳拇帕π∮诨虻扔�19.6N；检测时，只需从光模块光纤接口拔出塞规，通过手柄和检测头分离与否来判断光纤接口是否存在加工尺寸超差。本发明所述光纤接口检测塞规，拆装简便快捷、检测快速有效，能适应多种光�？楣庀私涌诶嘈偷募觳夤ぷ�。
文档编号G01B5/18GK102889847SQ20121042977
公开日2013年1月23日 申请日期2012年10月31日 优先权日2012年10月31日
发明者张绍友, 王自力, 王洪宾 申请人:索尔思光电(成都)有限公司
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