专利名称：深孔内环槽测量装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于新结构内环槽测量装置，尤其是涉及一种用于深孔内环槽直径的测量。
背景技术：
深孔内环槽直径的测量，由于内环槽在深孔内，无高精度的测量手段。以前采用内卡规，内卡规是两爪定位导致使用者无法准确测量，手段粗糙。新结构内环槽测量装置采用 螺旋推进的原理，利用三个测爪定位测量，通过千分表读数。使测量方便、快捷、准确、提高测量效率2 3倍，提高测量准确度5倍。
发明内容本实用新型的目的是提供一种可以方便、快捷、准确的测量装置，对深孔内环槽直径进行高精度测量。本实用新型的技术方案是一种深孔内环槽测量装置，其包括基套，双锥杆，测爪，固定套，千分表，其中，所述双锥杆位于基套的内部通过螺纹连接，且在其顶部设置有测力机构，固定套与基套以紧固螺钉连接为一体，使千分表的测头与双锥杆的顶端有效接触，且双锥杆的小圆锥圆周上有三个测爪。所述测力机构包括弹簧、棘爪弹柱、棘轮、棘轮限位套、棘爪套，所述弹簧、棘爪弹柱、棘轮、限位套、棘爪套均套接在双锥杆上，且棘轮限位套、棘爪套位于弹簧、棘爪弹柱、棘轮的两端，以进行限位固定。所述三个测爪结构，测爪一端为5^48"斜面，另一端为圆弧面，其中，圆弧面为测量面与被测零件接触，53°7y48〃斜面与双锥杆的小锥面接触。双锥杆有两个锥度相同均为5^7/48'直径不同的圆锥，测爪的5^7^8"斜面与之配合。3个测爪上设置有环形收缩簧。基套与双锥杆采用螺纹连接。千分表靠紧固螺钉固定于千分表固定套的通孔内，并使千分表的测头与双锥杆的后端面有效接触。本实用新型的优点是本实用新型属于新结构内环槽测量装置在使用时，利用三个测爪定位进行比较测量，通过千分表读数。其测量方便、快捷、准确。改变了原粗糙的测量方法。提高测量效率2 3倍，提高测量准确度5倍。
图I是本实用新型新结构内环槽测量装置外形结构示意图；图2是本实用新型新结构内环槽测量装置剖面的结构示意图。其中，基套-1，双锥杆-2，测爪-3，千分表固定套_4，千分表-5，弹簧_6，棘爪弹柱-7，棘轮_8，棘轮限位套_9，收缩簧-10、棘爪套11。
具体实施方式
下面对本实用新型做进一步详细说明。请参见图1，其是本实用新型新结构内环槽测量装置外形结构示意图；图2，其是本实用新型新结构内环槽测量装置剖面的结构示意图。所述新结构内环槽测量装置包括基套1，双锥杆2，测爪3，固定套4，千分表5，弹簧6、棘爪弹柱7、棘轮8、棘轮限位套9、收缩簧
10、棘爪套11。双锥杆2位于基套I的内部通过螺纹连接 ，且在其顶部有由弹簧6、棘爪弹柱7、棘轮8、棘轮限位套9、棘爪套11组成的普通测力机构，千分表固定套4与基套I以紧固螺钉连接为一体，利用千分表固定套4使千分表5的测头与双锥杆2的顶端接触，在双锥杆2的小圆锥圆周上有三个测爪3。本实用新型新结构内环槽测量装置利用三个测爪定位，通过标准件进行比较测量，利用千分表读数。使用时，先根据被测内环槽尺寸选取标准环规，将三个测爪3放入标准环规内转动基套I使三测爪3与被测面相接触，再旋转棘轮8，并轻微摆动基套I使测爪3与被测面有效接触，调整千分表5表盘读取示值。再将三个测爪3放入被测内环槽转动基套I使三测爪3与被测面相接触，再旋转棘轮8，并轻微摆动基套I使测爪3与被测面有效接触，不调整千分表5表盘直接读取数值。第二次读取数值减第一次读取数值即为被测内环槽的误差。另外，针对本实用新型新结构内环槽测量装置再做如下补充说明(I)三个测爪3结构外形如图2中测爪3所示，测爪一端为5^48"斜面，另一端为圆弧面。圆弧面为测量面与被测零件接触，53°7/48〃斜面与双锥杆2的小锥面接触。(2)双锥杆2有两个锥度相同均为直径不同的圆锥，测爪3的53°7748〃斜面与之配合，将测爪3的径向位移等量的转换为双锥杆2的轴向位移。位移量由千分表5读取。(3)收缩簧10为环形，起到使测爪均匀复位的作用。(4)基套I与双锥杆2采用螺纹连接，保证双锥杆2轴向移动时平稳灵活。(5)千分表5靠紧固螺钉固定于千分表固定套4的通孔内，并使千分表5的测头与双锥杆2的后端面有效接触。这样双锥杆2的轴向位移可由千分表5读数。(6)测力机构由弹簧6、棘爪弹柱7、棘轮8、棘轮限位套9、棘爪套11组成普通测力机构。旋转测力机构使双锥杆2产生轴向位移，推动测爪3产生径向位移，(由于双锥杆2的两个锥面锥度为53°7/48〃，三个测头3与双锥杆2接触面也为经过计算的锥度可保证双锥杆的轴向位移量等于三个测爪的径向位移量)对零件内环槽直径进行测量。双锥杆的轴向位移带动千分表测杆压缩或伸长，从而在千分表上准确读数。(7)新结构内环槽测量装置利用三个测爪3定位，与标准件进行比较测量，通过千分表读数，达到高精度的测量。本实用新型新结构内环槽测量装置在使用时，利用三个测爪定位进行比较测量，测力机构保证稳定测力，通过千分表读数。其测量方法可靠、方便、快捷、准确。改变了原粗糙的测量方法。提高测量效率2 3倍，提高测量准确度5倍。
权利要求1.一种深孔内环槽测量装置，其特征在于包括基套[1]，双锥杆[2]，测爪[3]，固定套[4]，千分表[5]，其中，所述双锥杆[2]位于基套[I]的内部通过螺纹连接，且在其顶部设置有测力机构，固定套[4]与基套[I]以紧固螺钉连接为一体，使千分表[5]的测头与双锥杆[2]的顶端有效接触，且双锥杆[2]的小圆锥圆周上有三个测爪[3]。
2.根据权利要求I所述的深孔内环槽测量装置，其特征在于所述测力机构包括弹簧[6]、棘爪弹柱[7]、棘轮[8]、棘轮限位套[9]、棘爪套[11]，所述弹簧[6]、棘爪弹柱[7]、棘轮[8]、限位套[9]、棘爪套[11]均套接在双锥杆[2]上，且棘轮限位套[9]、棘爪套[11]位于弹簧[6]、棘爪弹柱[7]、棘轮[8]的两端，以进行限位固定。
3.根据权利要求2所述的深孔内环槽测量装置，其特征在于所述三个测爪[3]结构，测爪一端为53°7/48〃斜面，另一端为圆弧面，其中，圆弧面为测量面与被测零件接触，斜面与双锥杆[2]的小锥面接触。
4.根据权利要求3所述的深孔内环槽测量装置，其特征在于双锥杆[2]有两个锥度相同均为直径不同的圆锥，测爪3的53°7/48〃斜面与之配合。
5.根据权利要求I至4任一项所述的深孔内环槽测量装置，其特征在于3个测爪上设置有环形收缩簧[10]。
6.根据权利要求5所述的深孔内环槽测量装置，其特征在于基套[I]与双锥杆[2]采用螺纹连接。
7.根据权利要求6所述的深孔内环槽测量装置，其特征在于千分表[5]靠紧固螺钉固定于千分表固定套[4]的通孔内，并使千分表[5]的测头与双锥杆[2]的后端面有效接触。
专利摘要本实用新型属于新结构内环槽测量装置，尤其是涉及一种用于深孔内环槽直径的测量。所述深孔内环槽测量装置包括基套，双锥杆，测爪，固定套，千分表。其中，所述双锥杆位于基套的内部通过螺纹连接，且在其顶部设置有测力机构，固定套与基套以紧固螺钉连接为一体，使千分表的测头与双锥杆的顶端有效接触，且双锥杆的小圆锥圆周上有三个测爪。本实用新型利用三个测爪定位进行比较测量，通过千分表读数，使测量方便、快捷、准确、提高测量效率2～3倍，提高测量准确度5倍。
文档编号G01B5/08GK202793265SQ20122045937
公开日2013年3月13日 申请日期2012年9月10日 优先权日2012年9月10日
发明者范学江, 韩敏, 晏效锋, 邓秀峰, 赵晓琴 申请人:中国航空工业第六一八研究所
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