专利名称：探棒及其辅助测试治具的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种探棒及其辅助测试治具。
背景技术：
在电子产品的测试过程中，一般来说都会通过示波器来测量各电子元器件的电气特性，以检测所测量的结果是否符合规格书的规范。在示波器测试时，一般会选用最短地线测量法，即通过连接于示波器的探棒，利用探棒上的正极插针接触待测点，利用绕在探棒上的负极线圈去接触在待测点周围一个尽可能靠近的接地点。然而，该方法在测量时，需将探棒接触于待测点，如此可能造成探棒无法远离磁性组件干扰而致使信号及波形失真，给测量时带来不便。
发明内容
鉴于以上内容，有必要提供一种可方便测量的探棒及其辅助测试治具。—种探棒,包括一主体及一辅助测量治具,所述主体包括一插针、一本体及一导线，所述插针设置于所述本体上且与所述本体非电连接，所述辅助测量治具包括一外壳、一与所述外壳连接的插针及第一、第二输入线，所述插针固定于所述外壳的一端，一插孔开设于所述外壳的另一端，所述插针与所述插孔电连接，所述插针及所述插孔与所述外壳均非电性相连，所述第一及第二输入线的一端分别与所述插针及外壳电性相连。一种探棒辅助测试治具，包括一外壳、一与所述外壳连接的插针及第一、第二输入线，所述插针固定于所述外壳的一端，一插孔开设于所述外壳的另一端，所述插针与所述插孔电连接，所述插针及所述插孔与所述外壳均非电性相连，所述第一及第二输入线的一端分别与所述插针及外壳电性相连，所述插孔用以容置探棒主体的插针。本发明探棒通过将第一及第二输入线分别接触待测点及一尽可能靠近所述待测点的接地点，而不必用探棒接触所述待测点，从而使探棒可以远离磁性组件的干扰，提高了测量的准确度，增加了探棒在测量时的移动性。
图I为本发明探棒较佳实施方式的分体图，该探棒包括一主体及一辅助测试治具。图2为图I中辅助测试治具的立体图。图3为本发明探棒的使用状态图。主要元件符号说明 _
主体_10_
插针_ 100、202
本体_102_
104
mi量治具ho
权利要求
1.一种探棒，包括一主体及一辅助测试治具，所述主体包括一插针、一本体及一导线，所述插针设置于所述本体上且与所述本体非电连接，所述辅助测试治具包括一外壳、一与所述外壳连接的插针及第一、第二输入线，所述插针固定于所述外壳的一端，一插孔开设于所述外壳的另一端，所述插针与所述插孔电连接，所述插针及所述插孔与所述外壳均非电性相连，所述第一及第二输入线的一端分别与所述插针及外壳电性相连，所述主体的插针用于插入所述辅助测试治具的插孔内。
2.如权利要求I所述的探棒，其特征在于所述探棒还包括一热缩套管，在主体插针插入辅助测试治具的插孔内时，套设在主体及辅助测试治具的结合处。
3.如权利要求I所述的探棒，其特征在于所述外壳呈管状。
4.一种探棒辅助测试治具，包括一外壳、一与所述外壳连接的插针及第一、第二输入线，所述插针固定于所述外壳的一端，一插孔开设于所述外壳的另一端，所述插针与所述插孔电连接，所述插针及所述插孔与所述外壳均非电性相连，所述第一及第二输入线的一端分别与所述插针及外壳电性相连，所述插孔用以容置探棒主体的插针。
5.如权利要求4所述的探棒辅助测试治具，所述外壳呈管状。
全文摘要
一种探棒，包括一主体及一辅助测量治具，所述主体包括一插针、一本体及一导线。所述插针设置于所述本体上且与所述本体非电连接，所述辅助测量治具包括一外壳、一与所述外壳连接的插针及第一、第二输入线，所述插针固定于所述外壳的一端，一插孔开设于所述外壳的另一端，所述插针与所述插孔电连接，所述插针及所述插孔与所述外壳均非电性相连，所述第一及第二输入线的一端分别与所述插针及外壳电性相连，所述主体的插针用于插入所述辅助测试治具的插孔内。本发明探棒通过将第一及第二输入线分别接触待测点及一尽可能靠近所述待测点的接地点，而不必用探棒接触所述待测点，从而使探棒可以远离磁性组件的干扰，提高了测量的准确度，增加了探棒在测量时移动性。
文档编号G01R1/06GK102798740SQ20111013976
公开日2012年11月28日 申请日期2011年5月27日 优先权日2011年5月27日
发明者王致闵 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司
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