专利名称：激光光学确定铸坯导辊的高度的探头、系统及应用与方法
技术领域：
本发明涉及一种适合于对圆柱形棍(cylindrical roller)(例如单流连铸机的铸坯导架(strand guide)中的辊、或者冷轧机或热轧机的辊道或带钢加工设备(strip processing installation)的棍道中的棍)的圆周表面进行采样的测量接触探头(measuring touch probe)。采样被理解为通过接触对至少一个点进行感测,其中测量接触探头的接触表面接触所述圆周表面上的点。此外，本发明还涉及一种适合于对圆柱形辊的高度进行激光光学测量的测量系统。另外，本发明涉及一种用于借助于测量系统对铸坯导架中的铸坯导辊的实际高度Hiktual进行激光光学确定的方法。铸坯导辊的高度对于单流连铸机的无故障运行而言是重要的，因为部分被固化的钢绞线(strand)尤其是只能经受住低水平的机械负荷。例如由于不正确地被调节的铸坯导辊而引起的过度的机械负荷可以导致不可接受得高的弯曲应力，该弯曲应力可以导致钢绞线中的裂缝，乃至可以导致薄坯壳(strand shell)的漏钢。最后，本发明涉及根据权利要求8至9中的任一权利要求所述的测量系统的用于执行根据权利要求10至14中的任一权利要求所述的方法的应用。
背景技术：
公知的实践是对单流连铸机的铸坯导架中的辊(也称为铸坯导辊)在所谓的水平台(leveling stand)上进行整平。通常在这种情况下，铸坯导轨的部分(例如铸坯导架段的内框架或外框架)被夹在水平台上，并且通过测量装置(例如通过钢绞线测微计(strandmicrometer))来确定铸坯导辊相对于钢尺的实际距离。根据铸坯导架的安装几何形状，可能限定在尺与辊之间的设定点距离，使得可以精确地调节铸坯导辊的高度，例如通过垫片来调节。由于钢尺的弯曲，对铸坯导辊的高度的确定是不精确的，并且由于大量的手动测量，所以这非�：氖薄Ａ硗獾娜钡阍谟冢庑└叨炔⑽醋远乇桓胁夂捅患锹肌＞」艽蛹屏垦У募际趿煊蛟蛏瞎私柚诓饬拷哟ヌ酵范远韵蠼屑す夤庋д剑怯捎谠诨⌒蔚闹鞯技芏蔚牟煌墓踔涞母叨炔钕喽源螅韵钟械母招允迪值牟饬拷哟ヌ酵啡圆皇屎嫌诰返厍铱焖俚厝范ǜ檬导矢叨�。
发明内容
本发明的目标是克服现有技术的缺点，并且是描述一种用于确定铸坯导架中的铸坯导辊的实际高度的方法，借助于测量接触探头和方法可以
-快速地，即在用于测量和评估的短时间内，
-利用尽可能简单的装置，
-在不需要精细的评估的情况下，以及 -以高精确度地，
确定铸坯导辊的实际高度。
该目标是通过一种用于对圆柱形辊的圆周表面进行采样的测量接触探头来实现的，该测量接触探头具有
-至少一个包括接触表面的接触探头；
-垂直导引成型件(guide profile),所述垂直导引成型件刚性地被连接到所述接触探头;
-激光接收单元，所述激光接收单元包括探测器试场(detector field)和距离评估单元，其中所述激光接收单元在导引成型件上沿垂直方向是可移位的，所述探测器试场被实现用于探测激光束，并且所述距离评估单元可以确定所述激光束相对于所述激光接收单元的第一垂直距离VA1;以及
-移位测量装置，用于确定所述接触探头与所述激光接收单元之间的第二垂直距离
VA2。在这种情况下，可以通过至少一个包括接触表面的接触探头来对圆柱形辊的圆周表面上的点进行采样。根据该圆周表面上的一个点(或者也可能多个点)，可能在考虑到几何形状(例如基于已知的辊直径)的情况下，可能推出辊的高度。接触探头自身刚性地被连接到测量接触探头的垂直导引成型件，其中所述导引成型件可以具有例如圆形或多边形的断面。测量接触探头具有包括探测器试场的激光接收单元，其中所述探测器试场被实现来感测激光束的高度。在这种情况下的激光接收单元在导引成型件上是可移位的，使得可以感测到大于所述探测器试场的纵向扩展的高度。所述探测器试场主要地包括多个分立的探测器，所述多个分立的探测器例如成列地或以包括多个列的矩阵而被布置。所述探测器试场自身被连接到距离评估单元，其中所述距离评估单元可以确定所述激光束相对于所述激光接收单元的第一垂直距离。由于可以借助于移位测量装置来确定所述激光接收单元相对于所述接触探头的距离，所以所述激光束距所述接触探头的第二垂直距离由此也可以充分地被确定。在这种情况下的所述移位测量装置可被集成在例如所述导引成型件中，或者可被布置在所述导引成型件的外部。所有的接触移位测量装置(例如电位器)或无需接触地进行操作的移位测量装置(例如磁致伸缩的、感应式的、电容性的、或光学的移位测量装置)可以被用于移位测量。为了确保测量接触探头在长期使用中的精确性，有利的是将该接触探头实现来以便是可更换的。为了保持测量接触探头相对简单、稳健和轻便，有利的是测量接触探头具有用于通过信息技术装置连接到评估单元的通信模块，其中所述通信�？楸涣拥剿鲆莆徊饬孔爸煤捅涣拥剿鼍嗬肫拦赖ピ�。结果，来自所述测量接触探头的数据由信息技术装置(例如有线地或无线地)被发送到评估单元，例如被发送到个人计算机，其中所述评估单元确定所述辊的高度，并且如果需要的话，计算所述高度的设定点/实际偏差。例如，所述通信�？楸皇迪治堆阑騑LAN接口。可替换地，所述测量接触探头同样可能具有评估单元，其中所述评估单元被连接到所述移位测量装置和所述距离评估单元。在这种情况下，所述评估单元被实现为例如微控制器，所述微控制器被集成到所述测量接触探头中。在这种情况下，所述测量接触探头还可能具有指示器单元(例如显示器)，使得不仅可以在所述测量接触探头上评估所述高度，而且可以在所述测量接触探头上输出所述高度。
为了启动测量,有益的是通过信号技术装置将操作控制部(operating control)连接到所述通信�？榛蛄拥剿銎拦赖ピ�。如果该操作控制部被布置在所述测量接触探头上，则可能进行简单的操作。如果接触探头在所有情况下都被布置在翼部(limb)上，则所述测量接触探头可能被可靠地放置到所述铸坯导辊上，其中两个翼部围成角度45° 〈 a < 135°。如果测量接触探头的几何形状、辊的直径和在接触探头与激光接收单元之间的距离是已知的，则可以容易地确定铸坯导辊的高度。如果所述测量接触探头具有至少三个接触探头，则可以以特别简单的方式实现放置，其中两个接触探头被布置在第一平面中，并且一个接触探头被布置在第二平面中，而且所述第一平面与所述第二平面平行地被对准。这可以被实现，例如，因为两个翼部在所有情况下都被串联地布置，使得所述激光接收装置与所述第一平面和所述第二平面平行地被布置，即被布置在垂直于所述辊的纵向轴线的平面中。如果所述接触表面具有弧形的、特别是圆柱形的或球形的轮廓，则可以确保在所述接触探头与所述圆周表面之间的所限定的线接触或点接触。为了防止激光接收单元在测量接触探头已被放置上之后的不期望的移位，有利的是测量接触探头具有闭锁装置(例如夹紧装置或固定螺钉)，用于固定激光接收单元相对于导引成型件的位置，或者测量接触探头具有阻尼器。该阻尼器(例如气体加压阻尼器)例如被布置在导引成型件与激光接收单元之间，使得可能防止由激光接收单元的重力所导致的激光接收单元的不期望的移位。有利的是，测量系统具有 -激光器；
-测量接触探头；
-评估单元，所述评估单元通过信息技术装置被连接到所述测量接触探头；以及 -输出单元，用于输出所述辊的高度。如上面已经陈述的那样，所述评估单元(并且可能地也是所述输出单元)可以在结构上是分离的，或者可以被集成到所述测量接触探头中。优选地，所述激光器被实现为旋转式激光器，其中所述旋转的旋转式激光器跨过光平面。测量接触探头由此可以被设置到不同的位置，而不必重新对准激光器。为了使得能够感测所述测量接触探头的位置，有利的是，所述测量系统包括发射机，并且所述测量接触探头包括位置测量系统的接收机，其中所述接收机通过信号技术装置被连接到所述通信模块或被连接到所述评估单元，使得可以确定所述测量接触探头的位置。所述位置测量系统可以是例如有源RFID测量系统、UWB系统、WLAN系统、红外或超声测量系统，而且可以是GPS或所谓的“差分GPS”测量系统。所述测量接触探头的位置可以被用于对所述辊的实际高度HArtual与可能取决于位置的设定点高度HS6t_t进行自动比较，使得所述评估单元可以自动地确定在设定点高度Hsrtptjint与实际高度HArtual之间的偏差A。此外，使得高度的(取决于位置的)记录成为可能。设定点位置和铸坯导辊的实际高度限定了铸坯导辊必须被定位于其中的立方体的(或长方体的)设定点控制体积。因此，除了实际高度与设定点高度的偏差之外，如果需要的话，还可能确定实际控制体积与设定点控制体积(例如与控制体积的空间重心的距离)的偏差。实际控制体积是从实际位置和实际高度并考虑测量容差而获得的。根据本发明的目标同样通过一种用于借助于测量系统对铸坯导架中的铸坯导辊的实际高度进行激光光学确定的方法来实现，其中所述测量系统包括激光器、根据权利要求I至7中的任一权利要求所述的测量接触探头以及评估单元，所述测量接触探头包括激光接收装置、探测器试场、距离评估单元、接触探头和接触表面，所述评估单元通过信息技术装置被连接到所述测量接触探头，所述方法包括以下方法步骤
-对所述激光器进行定位；
-接通所述激光器；
-借助于所述测量接触探头对所述铸坯导辊进行采样，其中所述测量接触探头的至少一个接触表面接触所述铸坯导辊的圆周表面上的点，并且激光束贯穿所述探测器试�。�
-启动测量；
-借助于所述距离评估单元确定在所述激光束与所述激光接收单元之间的第一垂直距离VA1,以及借助于所述移位测量装置确定在所述接触探头与所述激光接收单元之间的第二垂直距离VA2,
-在所述评估单元中，利用二 VA1 + K為计算所述铸坯导辊的实际高度HAc;tual。优选地，所述激光器执行旋转运动，其中所述激光跨过光平面。有利的是，在步骤“启动测量”之后，
-通过位置测量系统的接收机确定测量接触探头的位置；
-测量接触探头的位置被发送到评估单元；
-评估单元确定在设定点高度Hsrtlroint与实际高度Hiktual之间的差A ;以及 -通过输出单元输出该差A。在铸坯导辊的测量中，设定点高度Hsrtptjint常常被分配到测量接触探头的位置。有益的是根据计算机辅助(CAD)数据推出设定点高度HSrtp()int。有利的是将设定点高度Hsrtptjint、实际高度Hiktual以及差A记录在测量记录中。对于高度精确的测量，有利的是，在步骤“对激光器进行定位”中，将激光器刚性地(但是可拆卸地)连接到铸坯导架的固定框架或连接到底座。由此，激光器伴随地经历与铸坯导架相同的移位(或振动)，使得这些移位并不会对精确性产生负面的影响。有利的是，根据权利要求8至9中的任一权利要求所述的测量系统被用于执行根据权利要求10至14中的任一权利要求所述的方法。
通过下面对非限制性示例性实施例的描述给出了本发明的另外的优点和特征，其中参考以下附图，所述附图示出了以下内容
图1 :测量接触探头的第一实施例的截面表示；
图2 :根据图1的测量接触探头的非截面表示；
图3 :具有两个翼部的测量接触探头的第二实施例；
图4 :测量接触探头的第三实施例；
图5 :测量接触探头的第四实施例；
图6 :根据本发明的对铸坯导辊的高度的确定的表示；图7 :根据本发明的对三个铸坯导辊的高度的确定的表示；
图8 :根据现有技术的对铸还导棍的闻度的确定的表不。
具体实施例方式图1以截面表示示出了测量接触探头I的第一实施例。可以借助于测量接触探头I来对(未示出的)圆柱形辊的圆周表面进行采样，其中接触探头2的球形接触表面3接触所述圆周表面。接触探头2被连接到圆形导引成型件4，其中激光接收单元5可以相对于导引成型件4垂直地被移位，并且激光接收单元5被实现来以便可关于导引成型件4的纵向轴线(被表示为箭头的移位方向)枢转。为了在没有行动的情况下进行导向，导引成型件具有磨削表面(ground surface)，并且激光接收单元5具有环形套管。可以通过被实现为电位器的移位测量装置9来确定在激光接收单元5与接触探头2之间的距离。作为对电位器的替换，该移位测量装置也可以被实现为LVDT测量装置、磁致伸缩测量装置或被实现为具有电接口的量尺。在导引成型件4与激光接收单元5的壳体之间布置有压缩弹簧，该压缩弹簧限定了测量接触探头的中性位置，并确保在接触表面3与辊之间的所限定的接触。
·
图2示出了激光接收装置5的探测器试场6、以及激光束8或光平面35。作为电子电路而被布置在激光接收装置5的上端部处的距离评估单元7被连接到探测器试场6，其中距离评估单元7可以确定激光束8距激光接收单元5的第一垂直距离VA115因此，由于从移位测量装置9已知在接触探头2与激光接收单元5之间的第二垂直距离VA2,并且从距离评估单元7已知在激光接收单元5与激光束8之间的垂直距离VA1，所以测量接触探头I上的评估单元可以确定铸坯导辊的实际高度
H = fr4 + ,即在激光束8、35与接触表面(确切地说，铸坯导辊的顶部边缘)之间的距离。为了使测量接触探头I的操作更符合人体工程学，在测量接触探头上布置操作控制部12。在操作控制部12已被按压之后，垂直距离VA1和VA2被确定，并且在评估单元中计算实际高度HAc;tual。然后借助于被实现为蓝牙接口的通信�？榻檬导矢叨确⑺偷�(在结构上与测量接触探头I相分离的)指示器单元。图3示出了测量接触探头I的第二实施例，该测量接触探头I具有被实现为翼部
13的两个接触探头2。这两个翼部13围成角度《_=90^，使得翼部13的两个接触表面3
同时接触圆柱形辊的圆周表面。因此，根据翼部13的几何形状，并利用铸坯导辊的直径的知识，又可能确定铸坯导辊的高度。此外，测量接触探头I具有所谓的“差分GPS”的接收机14，使得在对铸坯导辊的采样期间可以确定测量接触探头在大厅中的位置。由此可以存储与测量接触探头的不同位置相对应的设定点高度HSrtp()int，使得评估单元可以在所有情况下都确定偏差A = Hsetpoint - HActual。在该实施例的情况下，如在图1中那样，移位测量装置被集成到激光接收装置5中。图4示出了测量接触探头I的第三实施例，然而其中与图3不同，移位测量装置9被布置在激光接收装置5的外部。在这种情况下，移位测量装置被实现为无需接触地进行操作的所谓的磁致伸缩移位测量系统(参见巴鲁夫(Balluff) “微脉冲”)。图5示出了测量接触探头I的第四实施例。与图4不同，该测量接触探头具有两个平行的导引成型件4，使得激光接收单元5没有相对于翼部13旋转的危险。
图6示出了用于确定铸坯导辊20的高度的测量系统。首先，旋转式激光器31被定位在接近于铸坯导辊20的台上，使得该激光器在被接通时作为旋转运动34的结果而产生水平的光平面35。然后，借助于测量接触探头I对铸坯导辊20进行采样，使得被实现为翼部13的两个接触探头2的接触表面3接触铸坯导辊20的圆周表面21。然后，激光接收单元5在圆形导引成型件4上沿着垂直方向移位，使得光平面35的激光束8贯穿探测器试场6。在该移位之后，通过在激光接收装置与导引成型件之间作用的夹紧(或闭锁)装置来锁住激光接收装置的垂直位置，使得重力并不会导致激光接收装置5的降低。然后启动测量，因为测量装置I上的操作控制部12被按压。在启动测量之后，测量接触探头I中的距离评估单元确定在激光束8与激光接收单元5的下边缘之间的第一垂直距离VA115移位测量装置确定在接触探头2与激光接收单元5的下边缘之间的第二垂直距离VA2。然而，通过HActual = VAj + K4，因此确定铸坯导辊20的实际高度，其中在空间上位于激光接收装置5的内部的评估单元中计算该实际高度，并通过输出单元32显示该实际高度。在激光器的调节中，该过程可以是例如如下首先，固定激光器。然后，通过测量装置确定该段的通常为四个的基准支撑点(在其中该段被支撑在所述台上的那些点)的位置，其中初始地测量所有四个点。根据这四个点，确定基准测量平面，其中一个点(例如所谓的第四点，因为(如公知的那样)三个点跨过平面)被适配到基准测量平面，如果需要的话通过“垫补”来适配。如果需要的话，在对所述高度的实际测量中，使用第二激光接收机，该第二激光接收机确保激光平面的(不一定是水平的)对准。图7示出了针对三个铸坯导辊20的实际高度的确定，其中所述辊被定位在不同的水平。在这种情况下可以看出的是，激光接收单元5在所有情况下必须在导引成型件4上垂直地被移位，以便使激光束8、35贯穿探测器试场6。相对于中间的表示，在左侧的表示中的激光接收单元5已被向下移位，而在右侧的表示中被向上移位。在右侧和左侧的表示的情况下，通过虚线来指示激光接收单元5相对于中央的表示的未移位的位置。激光接收装置5的持续移位能力的优点是，可以借助于一个测量接触探头来覆盖大的垂直高度范围。此外，不需要借助于可连接的或拧上的适配板或适配杆来使刚性的测量接触探头适配于不同的高度。显然，特别有利的是，测量接触探头I具有位置测量系统的接收机、例如“差分GPS”接收机，使得设定点高度在所有情况下被分配给铸坯导辊的不同位置。因此，测量接触探头上的评估单元可以已确定偏差A = Hsetpoint，并在测量接触探头上的输出单元上直接输出该偏差。图8示出了借助于钢绞线测微计对铸坯导辊20的实际高度的确定。在进行单流连铸安装作业或冷轧厂或热轧厂中的辊床的作业的过程中，有利的是使用根据本发明的测量接触探头，或根据本发明的测量系统，或者是在整备作业中应用根据本发明的方法。尽管已经基于优选的示例性实施例更详细地图示和描述了本发明，但是本发明并不限于所公开的例子，并且本领域的技术人员可以从中导出其它变型，而不背离本发明的保护范围。附图标记列表
I测量接触探头2接触探头3接触表面4导引成型件5激光接收单元6探测器试场8激光束9移位测量装置11通信�？�12操作控制部13翼部
14位置测量系统的接收机15闭锁装置20铸坯导辊21圆周表面30评估单元31旋转式激光器32输出单元33发射机34旋转运动35光平面40铸坯导架段
41框架
VA1第一垂直距离VA2第二垂直距离a角度
权利要求
1.ー种用于对圆柱形辊(20)的圆周表面(21)进行采样的测量接触探头(1)，所述测量接触探头(I)具有 -至少ー个接触探头(2)，所述至少ー个接触探头(2)包括接触表面(3)； -刚性地连接到所述接触探头(2)的垂直导引成型件(4)； -激光接收单元(5 )，所述激光接收单元(5 )包括探測器试场(6 )和距离评估単元(7 )，其中所述激光接收单元(5)能够在所述导引成型件(4)上沿着垂直方向被移位，所述探测器试场(6)被实现用于探测激光束(8)，并且所述距离评估单元(7)能够确定所述激光束(8)相对于所述激光接收单元(5)的第一垂直距离VA1 ;以及 -移位測量装置(9 )，用于确定在所述接触探头(2 )与所述激光接收单元(5 )之间的第ニ垂直距离VA2。
2.根据权利要求1所述的测量接触探头，其特征在于，所述测量接触探头(I)具有通信�？�(11)，用于通过信息技术装置连接到评估单元(30)，其中所述通信�？�(11)被连接到所述移位測量装置(9 )和被连接到所述距离评估单元(7 )。
3.根据权利要求1所述的测量接触探头，其特征在于，所述测量接触探头(I)具有评估単元(30 )，其中所述评估単元(30 )被连接到所述移位測量装置(9 )和所述距离评估单元(7)。
4.根据权利要求2或3所述的测量接触探头，其特征在干，操作控制部(12)通过信号技术装置被连接到通信�？�(11)或被连接到评估单元(30)，其中所述操作控制部(12)优选地被布置在所述测量接触探头(I)上。
5.根据权利要求1所述的测量接触探头，其特征在于，在所有情况下，接触探头(2)被布置在所述测量接触探头(I)的翼部(13)上，其中两个翼部(13)围成角度45° 〈 a <135。。
6.根据权利要求5所述的测量接触探头，其特征在于，所述测量接触探头具有至少三个接触探头，其中两个接触探头被布置在第一平面中，并且ー个接触探头被布置在第二平面中，而且所述第一平面与所述第二平面平行地被对准。
7.根据权利要求1所述的测量接触探头，其特征在于，所述测量接触探头(I)具有用于相对于所述导引成型件(4)而固定所述激光接收单元(5)的位置的闭锁装置(15)，或者所述测量接触探头(I)具有阻尼器。
8.ー种用于对圆柱形辊(20)的高度进行激光光学测量的測量系统，其具有 -激光器(31); -根据权利要求1至7中的任ー权利要求所述的测量接触探头(I)； -评估单元(30)，所述评估単元(30)通过信息技术装置被连接到所述测量接触探头(I);以及 -输出单元(32)，用于输出辊(20)的高度。
9.根据权利要求8所述的测量系统，其特征在于，所述测量系统包括发射机(33)，并且所述测量接触探头(I)包括位置測量系统的接收机(14)，其中所述接收机(14)通过信号技术装置被连接到通信�？�(11)或被连接到评估单元(30 )，使得能够确定所述测量接触探头(I)的位置。
10.一种用于借助于测量系统对铸坯导架中的铸坯导辊(20)的实际高度/^进行激光光学确定的方法，所述测量系统包括激光器(31)、根据权利要求1至7中的任一权利要求所述的测量接触探头(I)以及评估単元(30)，所述测量接触探头(I)包括激光接收装置(5)、探測器试场(6)、距离评估単元(7)、接触探头(2)和接触表面(3)，所述评估単元(30)通过信息技术装置被连接到所述测量接触探头(I )，所述方法包括以下方法步骤 -对所述激光器(31)进行定位； -接通所述激光器(31); -借助于所述測量接触探头(I)对所述铸坯导辊(20)进行采样，其中所述测量接触探头(I)的至少ー个接触表面(3)接触所述铸坯导辊(20)的圆周表面(21)上的点，并且激光束(35)贯穿所述探测器试场(6)； -启动测量； -借助于所述距离评估単元(7)确定在所述激光束(35)与所述激光接收单元(5)之间的第一垂直距离VA1，并借助于所述移位測量装置(9)确定在所述接触探头(2)与所述激光接收单元(5)之间的第二垂直距离VA2 ； -在所述评估単元(30)中利用巧ニ VAj + K4计算铸坯导辊的实际高度HAetual。
11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，在步骤“启动测量”之后， -通过位置測量系统(14)的接收机确定所述測量接触探头(I)的位置； -所述测量接触探头(I)的位置被发送到所述评估単元(30)； -所述评估単元(30)确定在设定点高度Hsrtptjint与所述实际高度HArtual之间的差J ニHSetpoint ^Actual 以及 -通过输出単元(32)输出所述差A。
12.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，所述设定点高度Hsrtptjint是从计算机辅助设计数据导出的。
13.根据权利要求11所述的方法，其特征在于，所述设定点高度Hsrtptjint、所述实际高度HActual以及所述差」被记录在測量记录中。
14.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，在步骤“对所述激光器进行定位”中，所述激光器(31)被刚性地连接到铸坯导架(40)的固定框架(41)，或被刚性地连接到底座。
15.根据权利要求8至9中的任ー权利要求所述的测量系统的用于执行根据权利要求10至14中的任ー权利要求所述的方法的应用。
全文摘要
本发明涉及激光光学确定铸坯导辊的高度的探头、系统及应用与方法。本发明涉及对圆柱形辊的圆周表面进行采样的测量接触探头和借助于测量系统对铸坯导架中的铸坯导辊的实际高度的激光光学确定的方法。本发明的目标是描述可快速地以高精确度和简单装置确定铸坯导辊的实际高度的测量接触探头和方法。该目标通过测量接触探头实现，其具有接触探头；连接到接触探头的垂直导引成型件；包括探测器试场和距离评估单元的激光接收单元，其中激光接收单元可在导引成型件上沿垂直方向移位，探测器试场被用于探测激光束，并且距离评估单元确定激光束相对于激光接收单元的第一垂直距离；以及移位测量装置，用于确定接触探头与激光接收单元之间的第二垂直距离。
文档编号G01B11/02GK103033136SQ20121037054
公开日2013年4月10日 申请日期2012年9月29日 优先权日2011年9月30日
发明者T.菲恩哈默, J.古滕布鲁纳, W.豪斯莱特纳, C.欣特雷特, M.迈尔霍费尔, J.佩恩, P.普兰克, M.施塔雷迈尔 申请人:西门子 Vai 金属科技有限责任公司
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