专利名称：光纤光栅应变片的制作方法
技术领域：
本发明属于传感技术领域，特别涉及一种薄塑料片封装的光纤光栅应变传感器。
背景技术：
光纤光栅传感器属于波长调制型非线性作用的光纤传感器。通过待测量调制入射光束的波长，测量反射光的波长变化进行检测。由于波长是一个绝对参数，不受总体光强水平、连续光纤及耦合器处的损耗或光源能量的影响，因此比其他光调制方式更加稳定。光纤光栅传感器除了有光纤传感器本身不带电、体积小、质量轻、易弯曲、灵敏度 高、抗电磁干扰、抗辐射性能好的优点外，还具有以下优点如测量精度高，抗干扰能力强，可在同一根光纤上制作多个光栅实现分布式测量，测量范围大，稳定性、重复性好，非传导性材料，耐腐蚀等特点，适合运用于恶劣环境中，并且波长移动与应变的比例因子是恒定的，没有零点漂移的问题，能进行长时期测量。目前，现有的光纤光栅应变传感器多为金属封装，由于金属的强度高、弹性模量大，而存在对被测对象本身的物理特性造成影响、不能准确反应被测对象的真实应变值等缺点。这种现象当被测物体尺寸较小或者材料强度较低时尤为突出。而且金属封装的传感器加工困难、成本高昂。
发明内容本实用新型的目的是为克服以上现有光纤光栅应变传感器的局限性，提供一种成本低、精度高尤其是能适用于小尺寸、低强度物体应变测量的光纤光栅应变传感器。本实用新型的技术特征是它包括两片矩形薄塑料片和光纤光栅，在作为基底的矩形薄塑料片上均匀涂上一层胶粘剂，将光纤光栅牢固的粘贴在基底塑料片中央，再在上面覆盖一层矩形薄塑料片，即基底薄塑料片、光纤光栅和覆盖薄塑料片三者用胶粘剂粘结成整体，使其形成一个整体同时起到保护光纤光栅的作用。将光纤光栅应变片粘贴于被测物体表面，当被测对象发生变形时，应变传递到薄塑料片上再传递至光纤光栅，通过检测光纤光栅反射波长的变化来测量被测物体的应变。本实用新型的有益效果是对被测对象本身物理特性影响较小，能够用于小尺寸或者低强度结构构件的高精度应变测量，且具有结构简单、使用方便、应用广泛、成本低、灵敏度高、抗电磁干扰以及与被测对象相容性好等优点。
附图为本实用新型构造示意图。图中I.基底薄塑料片，2.光纤光栅，3.覆盖薄塑料片。本图为构造示意图，实际结构中基底薄塑料片、光纤光栅和覆盖薄塑料片三者是粘结为一个整体的。
具体实施方式
以下结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。见图，本实用新型由基底薄塑料片I、光纤光栅2和覆盖薄塑料片3用胶粘剂牢固的粘结成一个整体。光纤光栅位于两塑料片的中间，两端通过带护套的传输光缆连接至光纤光栅解调设备。使用时，先将被测物体测点处打磨并清洁，然后在光纤光栅应变片基底面均匀的涂上胶水，再将光纤光栅应变片粘贴于测点上。最后还应在光纤光栅应变片引出光纤端涂抹树脂胶等以保护传输光缆不会在引出端断裂破坏。测量时，当被测物体发生变形时，应变 传递到薄塑料片上再传递至光纤光栅，通过光纤光栅解调仪检测光纤光栅反射波长的变化来测量被测物体的应变值。
权利要求1.ー种光纤光栅应变片，它包括作为基底的薄塑料片(I)、光纤光栅(2)和上层覆盖的薄塑料片(3);其特征在于光纤光栅(2)位于基底薄塑料片(I)和覆盖薄塑料片(3)夹层的中间，三者构成ー个整体。
2.根据权利要求I所述的光纤光栅应变片，其特征在于基底薄塑料片(I)和覆盖薄塑料片(3)为矩形薄塑料片。
3.根据权利要求I所述的光纤光栅应变片，其特征在于基底薄塑料片(I)、光纤光栅(2)和覆盖薄塑料片(3)三者用胶粘剂粘结成整体。
专利摘要一种光纤光栅应变片，它包括作为基底的薄塑料片(1)、光纤光栅(2)和上层覆盖的薄塑料片(3)，光纤光栅(2)位于基底薄塑料片(1)和覆盖薄塑料片(3)中间，三者用胶粘剂粘结成一个整体。本实用新型的有益效果是对被测对象本身物理特性影响较�。芄挥糜谛〕叽缁蛘叩颓慷冉峁构辜母呔扔Ρ洳饬浚揖哂薪峁辜虻�、使用方便、应用广泛、成本低、灵敏度高、抗电磁干扰以及与被测对象相容性好等优点。
文档编号G01B11/16GK202630922SQ20122023688
公开日2012年12月26日 申请日期2012年5月24日 优先权日2012年5月24日
发明者王晓光, 杨君琦, 占茜 申请人:王晓光, 杨君琦, 占茜
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