专利名称：专用精密光栅单色仪的制作方法
技术领域：
本实用新型属于一种光谱类测试设备。
背景技术：
目前国内用以进行分光的仪器都是逐条谱线进行扫描且没有斩波功能。这样，使仪器的制造成本增高，测量时浪费大量的时间，且浪费待测物质，达不到测量的目的。
发明内容
本实用新提供一种专用精密光栅单色仪，解决了现有技术浪费时间、浪费待测物质，达不到测量目的的问题。本实用新型采取的具体技术方案是聚光镜1、光源2和样品池3分别与支撑架4固定连接，该支撑架与主机固定连接，该主机内有接收器5，入射狭缝6和出射狭缝8分别固定连接在主机7上。
本实用新型的优点在于操作方便，制造成本低，节约测量时间，节省被测样品，具有斩波功能。对于元素的各种波长都可测量。
图1为本实用新型结构示意图；图2为图1的俯视图。
具体实施方式
实施例聚光镜1、光源2和样品池3分别与支撑架4固定连接，该支撑架与主机固定连接，该主机内有接收器5，入射狭缝6和出射狭缝8分别固定连接在主机7上。
权利要求1.一种专用精密光栅单色仪，其特征在于聚光镜(1)、光源(2)和样品池(3)分别与支撑架(4)固定连接，该支撑架与主机固定连接，该主机内有接收器(5)，入射狭缝(6)和出射狭缝(8)分别固定连接在主机(7)上。
专利摘要本实用新型涉及一种专用精密光栅单色仪，属于一种光谱类测试设备。聚光镜1、光源2和样品池3分别与支撑架4固定连接，该支撑架与主机固定连接，该主机内有接收器5，入射狭缝6和出射狭缝8分别固定连接在主机7上。优点在于操作方便，制造成本低，节约测量时间，节省被测样品，具有斩波功能，对于元素的各种波长都可测量。
文档编号G01J3/12GK2629012SQ0325177
公开日2004年7月28日 申请日期2003年6月26日 优先权日2003年6月26日
发明者侯玉飞 申请人:长春第一光学有限公司
专业数控铣床产品供应商
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